CN108955735A - 光电编码器 - Google Patents

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Abstract

提供了一种光电编码器，其可以通过减少杂散光而在保持可靠性的同时实现更高的精度。编码器(1)是光电编码器，其包括发射平行光的光源装置(2)、具有沿着测量方向设置的标度(C)的标尺(3)以及接收从光源装置(2)发射并透过标尺(3)的光的光接收单元(4)。编码器(1)包括防止由在标尺(3)上反射而产生的杂散光进入光接收单元(4)的抗反射构件(30)。因为编码器(1)包括抗反射构件(30)，所以编码器(1)可以通过减少进入光接收单元(4)的杂散光而在保持可靠性的同时实现更高的精度。

Description

光电编码器
技术领域
本发明涉及一种光电编码器。
背景技术
常规已知的光电编码器包括具有标度的标尺，以及包括光源装置和光接收单元的头部，其配置为沿着标尺进行相对移动。光电编码器配置为检测标尺和头部之间的相对移动量。例如，日本特开平10-132612号公报中记载的光学位移检测装置(光电编码器)具有配置为发出平行光的光发射单元(光源装置)、光发射单元的平行光所发射到的主标尺(标尺)、以及配置为经由主标尺接收光的光接收单元。
图13是表示常规的光发射单元的截面图。
如图13所示，用于该光学位移检测装置的光发射单元100包括发光二极管(LED)101、包括与LED 101的光轴L正交的平面102的透明树脂103、包括垂直于平面102的垂直平面104的透镜构件105、覆盖透镜构件105的表面的反射膜106、附接到垂直平面104的反射板107以及发射由反射膜106反射的平行光(实线箭头)至光发射单元100的外部的发射面108。此外，在光发射单元100中，角部200由平面102和竖直平面104形成。例如，光发射单元100通过将透明树脂注入模具等而一体成型。
透镜构件105具有的曲面具有通过将近似半球体进一步对分而获得的形状。该曲面涂覆有反射膜106以用作凹面镜。通过将LED 101设置在垂直平面104的延长线上，并利用发射到透镜构件105的反射膜106上的来自LED 101的光，光发射单元100获得由实线箭头指示的平行光。
通过采用通过将近似半球体进一步对分而获得的形状，作为透镜构件105的形状，与使用近似半球体的情况相比，光发射单元100得以小型化。
发明内容
本发明要解决的问题
然而，在这种光发射单元100中，如果光发射到角部200上，则角部200变成光的散射点，并且从发射面108发射相对于光接收单元的光接收面倾斜的光(虚线箭头)到光发射单元100的外部。另外，由于尺寸减小，光发射单元100易受由未对准引起的角度变化的影响，并且即使光发射单元100的角度变化很小，也难以垂直于光接收单元的光接收面发射平行光。换句话说，由于未对准，光发射单元100发射相对于光接收单元的光接收面倾斜的平行光。平行光通过在标尺上反射而变成杂散光。
通过在标尺上反射而产生的杂散光破坏狭窄范围精度并导致光电编码器检测效率的降低。因此，光电编码器具有由于杂散光而不能充分维持检测精度和可靠性的问题。
本发明的目的是提供一种光电编码器，其通过减少杂散光而可以在保持可靠性的同时实现更高的精度。
解决问题的手段
本发明的光电编码器是这样一种光电编码器，其包括配置为发射光(平行光)的光源装置、具有沿测量方向设置的标度的标尺以及配置为接收从光源装置发射并透过标尺的光(平行光)的光接收单元，并且包括配置为防止由在标尺上反射而产生的杂散光进入光接收单元的抗反射构件。
这里，抗反射构件是指可以吸收或物理遮蔽光的构件。换句话说，抗反射构件可以防止光(杂散光)的反射。
根据如上所述的本发明，由于光电编码器包括配置为防止由在标尺上反射而产生的杂散光进入光接收单元的抗反射构件，因此可以防止在光电编码器内产生的杂散光进入光接收单元。另外，光电编码器可以使用杂散光受到抑制的平行光进行测量。
因此，光电编码器可以通过减少杂散光而在保持可靠性的同时实现更高的精度。
此时，标度优选地包括抗反射构件。
这里，设置在标尺上的标度有时由金属比如Cu(铜)和Cr(铬)形成。如果标度由金属形成，则平行光在设置有标度的标尺的一个表面上反射，并且存在产生杂散光的问题。
然而，根据本发明，因为标度包括抗反射构件，所以可以防止由在设置有标度的标尺的一个表面上反射而产生杂散光。
此时，优选的是，光源装置包括供应电力的引线框，并且引线框包括抗反射构件。
这里，包括在光源装置中的引线框由金属比如Cu(铜)和Cr(铬)形成。另外，如上所述，光源装置由透明树脂形成。因此，由在标尺上反射而产生的杂散光有时朝向引线框发射。存在这样的问题：引线框进一步将反射的杂散光朝向标尺反射，并且反射的光通过在标尺上反射而进一步变为杂散光。
然而，根据本发明，因为引线框包括抗反射构件，所以可以防止由在标尺上反射而产生的杂散光在引线框上反射并进入光接收单元。
此时，优选的是，所述标尺在一个表面上包括抗反射构件，并且所述抗反射构件抑制反射的光进入抗反射构件并在标尺的一个表面上反射。
这里，进入标尺的光被分成在标尺内被折射并传播的透射光，以及在标尺的一个表面上反射的反射光。在标尺的一个表面上反射的反射光有时朝向引线框等反射。存在这样的问题：引线框等进一步将反射的杂散光朝向标尺反射，并且反射的光通过在标尺上反射而进一步变为杂散光。
然而，根据本发明，因为标尺在一个表面上包括抗反射构件，并且抗反射构件抑制反射的光进入抗反射构件并在标尺的一个表面上反射，所以可以防止由在标尺上反射而产生的杂散光进入光接收单元。
此时，优选的是，光接收单元包括用作基座的基部和设置在基部上的光接收部，并且将接收到的光转换成电信号，并且基部包括在除了光接收部以外的位置的抗反射构件。
这里，除了光接收部之外，光接收单元的基部还包括金属部分，比如多根金属线。因此，朝向光接收单元进入的平行光有时朝向包括在光接收单元中的金属部分进入，并且包括在基部中的金属部分有时将反射的平行光朝向标尺反射。因此，存在这样的问题，朝向标尺反射的平行光通过在标尺上反射而变成杂散光。
然而，根据本发明，由于光接收单元的基部在光接收单元以外的位置包括抗反射构件，所以可以防止杂散光由在包含于基部中的金属部分上反射而产生并进一步在标尺上反射。
此时，优选标尺的一个表面是光源装置侧的表面，该标尺还包括在与光源装置侧的表面相对的光接收单元侧的一个表面上的抗反射构件，而且光接收单元侧的一个表面上的抗反射构件不干涉光发射穿透标尺，并抑制反射光进入抗反射构件并在标尺的光接收单元侧的一个表面上反射。
这里，如上所述，从标尺在光源装置侧的一个表面进入的光被分成在标尺内折射并行进的透射光，以及在标尺的光源侧的一个表面上反射的反射光。接着，透射光从标尺的在光接收单元侧的一个表面朝向光接收单元发射。从光接收单元侧的一个表面发射的并朝向光接收单元进入的透射光(平行光)进入包括在光接收单元内的光接收部。然而，光接收部没有吸收全部所进入的平行光，而且光接收部有时朝向标尺反射进入的平行光。因此，就存在这样的问题：朝向标尺反射的平行光通过被反射在标尺上而变成杂散光。
然而，根据本发明，由于标尺在光源装置侧的一个表面以及在光接收单元侧的一个表面上都包括抗反射构件，因此光接收单元侧的一个表面上的抗反射构件不干涉光发射穿透标尺和抑制反射光进入抗反射构件并在标尺的光接收单元侧的一个表面上反射，因此不能够防止由在标尺上的反射而产生的杂散光进入光接收单元。
附图说明
图1是表示根据本发明第一实施例的编码器的透视图；
图2A是表示根据本发明第一实施例的光源装置的侧视图；图2B是表示根据本发明第一实施例的光源装置的俯视图；图2C是表示根据本发明第一实施例的光源装置的仰视图。
图3是表示常规编码器的杂散光的光路的图；
图4是表示根据本发明第一实施例的编码器的平行光的光路的图；
图5是表示常规编码器的杂散光的光路的图；
图6A是表示根据本发明第二实施例的光源装置的侧视图；图6B是表示根据本发明第二实施例的光源装置的俯视图；图6C是表示本发明第二实施例的光源装置的仰视图；
图7是表示本发明第二实施例的编码器的平行光的光路的图；
图8是表示常规编码器的杂散光的光路的图；
图9是表示根据本发明第三实施例的编码器的透视图；
图10是表示根据本发明第三实施例的编码器的平行光的光路的图；
图11是表示常规编码器的杂散光的光路的图；
图12是表示根据本发明第四实施例的编码器的平行光的光路的图；以及
图13是表示常规光发射单元的截面图。
具体实施方式
[第一实施例]
下面将基于附图描述本发明的第一实施例。
图1是表示根据本发明第一实施例的编码器的透视图。
如图1所示，编码器1是光电编码器，其包括发射平行光的光源装置2、具有沿测量方向设置的标度C的标尺3、接收从光源装置2发射且透过标尺3的平行光的光接收单元4、以及包括光源装置2和光接收单元4且沿着标尺3相对移动的头部(未示出)。
编码器1检测标尺3与头部之间的相对移动量。
在下面的描述中，在一些情况下，标尺3的纵向方向以及光源装置2和头部(光源装置2和光接收单元4)的移动方向被描述为X方向，将与X方向正交的标尺3的宽度方向描述为Y方向，将与X和Y方向正交的上下方向描述为Z方向。
标尺3由玻璃等透光性材料形成为细长形状，并且包括沿着作为标尺3的测量方向的纵向方向(X方向)交替地包括透射部和非透射部(标度C)的标尺图案，以及设置在面向光源装置2的+Z方向侧上的一个表面上的抗反射涂层30(AR涂层)。
标度C主要由诸如铬(Cr)的金属形成。
AR涂层30是抑制反射光进入AR涂层30并反射在面向光源装置2的标尺3的一个表面上的抗反射构件。AR涂层30的细节将在后面描述。
透过标尺3的平行光在光接收单元4上产生与标尺图案具有相同周期的干涉条纹。
光接收单元4包括用作基座的基部40和设置在基部40上的光接收部41，并且将接收到的光转换为电信号。
基部40形成为大致矩形形状，并且光接收部41设置在面向标尺3的表面上。除了光接收部41之外，基部40还包括诸如金属线的金属部分。
光接收部41检测由透过标尺3而产生的干涉条纹，并将干涉条纹转换为电信号。编码器1计算由光接收部41获得的电信号，以检测标尺3与头部之间的相对移动量。
图2A至2C分别是根据本发明第一实施例的光源装置的侧视图、俯视图和仰视图。更具体地，图2A是光源装置2的侧视图，图2B是光源装置2的俯视图，图2C是光源装置2的仰视图。
如图2A至2C所示，光源装置2具有发射光的光发射单元5和将光发射单元5容纳在其中的透光构件10，并且使从光发射单元5发射的光成为平行光。
例如，使用LED作为光发射单元5。
透光构件10包括：光轴面11，其位于光发射单元5的光路上且与光发射单元5的光轴L平行；正交面12，其与光轴面11的光发射单元5侧(-Z方向侧)上的端部连接而形成，位于光发射单元5的光路上且与光发射单元5的光轴L正交；抛物面13，其与朝向正交面12的相反侧(+Y方向侧)的光轴面11的光发射单元5相反侧(+Z方向侧)上的端部连接而形成，使来自光发射单元5的光变成平行光；角部14，其通过垂直连接光轴面11和正交面12而形成；以及用于电源的引线框15，用于连接光源装置2和电源(未示出)。
透光构件10例如通过将透明树脂注入模具等中而一体成型。另外，容纳在透光构件10内部的光发射单元5设置在光轴面11的延长线上。
引线框15将光发射单元5等支撑并固定在透光构件10内部，并且通过蚀刻等加工由金属材料比如铜(Cu)构成的薄板而形成。引线框15向光发射单元5供电。
图3是表示常规的编码器的杂散光的光路的图。
这里，将描述通过在标尺3上反射而产生的杂散光的光路。
实线箭头表示由光源装置2的未对准而产生的倾斜平行光。虚线箭头表示由标尺3上反射而产生的杂散光。另外，虚线箭头A表示在包括在光源装置2中的平行光的发射面上反射的杂散光的光路，虚线箭头B表示在引线框15上反射的杂散光的光路。
如图3所示，杂散光(虚线箭头A和B)有时通过在面向光源装置2的标尺3的一个表面上反射而产生。杂散光被反射朝向光源装置2。被反射朝向光源装置2的杂散光在包含于光源装置2(虚线箭头A)、引线框15(虚线箭头B)等中的平行光的发射表面上被进一步反射，以进入标尺3。进入标尺3的杂散光进入光接收单元4，破坏由光接收部41检测到的干涉条纹的狭窄范围精度，并导致检测效率下降。
图4是表示根据本发明第一实施例的编码器的平行光的光路的图。
如图4所示，作为抗反射构件的AR涂层30是透明薄膜。进入标尺3的光被分成在标尺3内折射并传播的透射光以及在标尺3的面向光源装置2的一个表面上反射的反射光。通过在标尺3的面向光源装置2的一个表面上形成薄膜，由于光的干涉，AR涂层30可以消除进入AR涂层30并在标尺3的一个表面上反射的反射光。因此，由于AR涂层30使得在标尺3的一个表面上反射的反射光(杂散光)不会朝向光源装置2发射，所以可以抑制杂散光。
根据如上所述的本实施例，可以实现以下功能和效果。
(1)由于编码器1包括作为抗反射构件的AR涂层30(其配置为防止由在标尺3上反射而产生的杂散光进入光接收单元4)，所以能够防止编码器1内产生的杂散光进入光接收单元4。另外，编码器1能够使用杂散光受到抑制的平行光进行测量。
因此，编码器1可以通过减少杂散光而在保持可靠性的同时实现更高的精度。
(2)因为标尺3包括作为抗反射构件的AR涂层30，在面向光源装置2的一个表面上，并且AR涂层30抑制进入AR涂层30并在标尺3的一个表面上反射的反射光，所以能够防止由在标尺3上反射而产生的杂散光进入光接收单元4。
[第二实施例]
下面将基于附图描述本发明的第二实施例。
在以下描述中，已经描述的部分被赋予相同的符号，并且将省略其描述。
图5是表示常规的编码器的杂散光的光路的图。
这里，将描述由在与图3不同的标尺3上反射而产生的杂散光的光路。实线箭头表示由光源装置2的未对准而产生的倾斜平行光。虚线箭头表示通过进入标尺3并在设置有标度C的标尺3的一个表面上反射而产生的杂散光。虚线箭头A表示在包含于光源装置2中的平行光的发射面上反射的杂散光的光路，虚线箭头B表示在引线框15上反射的杂散光的光路。
如图5所示，倾斜平行光(实线箭头)有时通过进入标尺3并在设置有标度C的一个表面上反射而产生杂散光(虚线箭头A和B)。杂散光从面向光源装置2的标尺3的一个表面朝向光源装置2发射。发射的杂散光在包含于光源装置2(虚线箭头A)或引线框15(虚线箭头B)中的平行光的发射面上进一步反射，以进入标尺3。进入标尺3的杂散光进入光接收单元4，破坏由光接收部41检测到的干涉条纹的狭窄范围精度，并导致检测效率下降。
图6A至图6C分别是根据本发明第二实施例的光源装置的侧视图、俯视图和仰视图。更具体地，图6A是光源装置2A的侧视图，图6B是光源装置2A的俯视图，图6C是光源装置2A的仰视图。
包括在上述第一实施例的光源装置2中的引线框15由金属材料比如Cu形成。与此相反，在本实施例中，如图6A至6C所示，包括在光源装置2A中的引线框15A与上述第一实施例的不同之处在于包括抗反射构件6。
更具体地，包括在引线框15A中的抗反射构件6是黑色或类似的绝缘涂层，具有吸收光的黑色或类似的涂料，等等。
图7是表示根据本发明第二实施例的编码器的平行光的光路的图。
包括在上述第一实施例的标尺3中的标度C由金属材料比如Cu形成。与此相反，在本实施例中，如图7所示，包括在标尺3A中的标度C2与上述第一实施例的不同之处在于，抗反射构件7包括在面向光源装置2A的一个表面上以及在面向光接收单元4的一个表面上。更具体地，包括在标度C2中的抗反射构件7是氧化铬(CrO)，黑色或类似的涂料等。另外，抗反射构件7可以仅设置在标度C2的面向光源装置2A的一个表面上。
如图7所示，由进入标尺3A并在设置有标度C2的一个表面上反射而产生的杂散光(参照图5)被包括在标度C2中的抗反射构件7吸收和屏蔽。另外，通过在设置有标度C2的标尺3A的一个表面上反射而产生的杂散光(虚线箭头)从标尺3A朝向引线框15A发射，并且被包括在引线框15A中的抗反射构件6吸收。因此，由于杂散光不会进入光接收单元4，所以只有平行光能够进入光接收单元4。
同样在如上所述的本实施例中，除了与上述第一实施例中的(1)至(2)类似的功能和效果之外，还可以实现以下功能和效果。
(3)由于编码器1A包括配置为防止由在标尺3A上反射而产生的杂散光进入光接收单元4的抗反射构件6和7，所以可以防止编码器1A内部产生的杂散光进入光接收单元4。另外，编码器1A可以使用杂散光受到抑制的平行光进行测量。
因此，编码器1A可以通过减少杂散光而在保持可靠性的同时实现更高的精度。
(4)因为引线框15A包括抗反射构件6，所以可以防止由在标尺3A上反射而产生的杂散光在引线框15A上反射并进入光接收单元4。
(5)因为标度C2包括抗反射构件7，所以可以防止杂散光由在设置有标度C2的标尺3A的一个表面上反射来产生。
[第三实施例]
下面基于附图描述本发明的第三实施例。
在以下描述中，已经描述的部分被赋予相同的符号，并且将省略其描述。
图8是表示常规编码器的杂散光的光路的图。
这里，将描述由在与图3和5不同的标尺3上反射而产生的杂散光的光路。实线箭头表示由光源装置2的未对准而产生的倾斜平行光。另外，虚线箭头表示通过在标尺上进一步反射在光接收单元4的基部40的金属部分上反射的光而产生的杂散光。
如图8所示，倾斜平行光(实线箭头)有时透过标尺3，并在包含于光接收单元4的基部40中的金属部分(未示出)上反射。杂散光朝向标尺3的面向光接收单元4的一个表面反射，且进一步在标尺3上反射，从而成为杂散光(虚线箭头)且朝向光接收单元4入射。进入光接收单元4的杂散光破坏由光接收部41检测到的干涉条纹的狭窄范围精度，并导致检测效率下降。
图9是表示根据本发明第三实施例的编码器的透视图。
上述第二实施例的编码器1A的光接收单元4不包括抗反射构件。与此相反，如图9所示，本实施例的编码器1B的光接收单元4B的基部40B与上述的第一和第二实施例的不同之处在于，抗反射构件8包括在光接收部41以外的位置。
更具体地，抗反射构件8是黑色或类似的涂料或黑色或类似的绝缘材料比如橡胶以及树脂。另外，抗反射构件8可以是AR涂层。
图10是表示根据本发明第三实施例的编码器的平行光的光路的图。
如图10所示，透过标尺3A的杂散光被包含在光接收单元4B的基部40B中的抗反射构件8吸收。因此，抗反射构件8能够防止杂散光由朝向标尺3A的面向光接收单元4B的一个表面反射而产生且在标尺3A上进一步反射。
同样在如上所述的本实施例中，除了与上述第一和第二实施例类似的功能和效果之外，还可以实现以下功能和效果。
(6)因为编码器1B包括配置为防止由在标尺3A上反射而产生的杂散光进入光接收单元4B的抗反射构件8，所以能够防止编码器1B内产生的杂散光进入光接收单元4B。另外，编码器1B可以使用杂散光受到抑制的平行光进行测量。
因此，编码器1B可以通过减少杂散光而在保持可靠性的同时实现更高的精度。
(7)由于光接收单元4B的基部40B在光接收部41以外的位置包括抗反射构件8，所以能够防止杂散光由在包括在基部40中的金属部分上反射而产生且在标尺3A上被进一步反射。
[第四实施例]
下面基于附图描述本发明的第四实施例。
在以下描述中，已经描述的部分被赋予相同的符号，并且将省略其描述。
图11是表示常规编码器的杂散光的光路的图。
这里，将描述由在与图3、5和8不同的标尺3上反射而产生的杂散光的光路。实线箭头表示由光源装置2的未对准而产生的倾斜平行光。另外，虚线箭头表示通过在标尺3上进一步反射在光接收单元4的光接收部41上反射的光而产生的杂散光。
如图11所示，倾斜平行光(实线箭头)透过标尺3，并从标尺3的面对光接收单元4的一个表面发射，并进入光接收部41。光接收部41没有吸收全部所进入的平行光，而是朝向标尺3的面向光接收单元4的一个表面反射一部分进入的平行光。接着，在光接收部41上反射的光通过在标尺3的面向光接收单元4的一个表面上反射并再次朝向光接收单元4进入而变成杂散光(虚线箭头)。杂散光破坏由光接收部41检测到的干涉条纹的狭窄范围精度，并导致检测效率下降。
图12是表示根据本发明第四实施例的编码器的平行光的光路的图。
上述实施例中的编码器1、1A或1B的标尺3或3A在面向光源装置2或2A的+Z方向侧(光源装置2或2A侧)的一个表面上包括AR涂层30，该AR涂层是抗反射构件。
如图12所示，本实施例的编码器1C的标尺3C与上述的实施例的不同之处在于，作为抗反射构件的AR涂层31设置在面向光接收单元4B侧的-Z方向侧(光接收单元4B侧)的一个表面上。
作为抗反射构件的AR涂层31是类似于AR涂层30的透明薄膜。通过在标尺3C的在光接收单元4B侧的一个表面上形成薄膜，由于光的干涉，AR涂层31可以抵消进入AR涂层31并在光接收单元4B侧的一个表面上反射的反射光。因此，由于AR涂层31抑制了在光接收部41上反射的光被进一步在标尺3C的光接收单元4B侧的一个表面上反射，从而变成杂散光。此外，即使包括在光接收单元4B的基部40B中的抗反射构件8不能吸收朝向除了光接收部41之外的构件发射的平行光而且平行光朝向标尺3C的在光接收单元4B侧的一个表面上反射，但由于标尺3C包括AR涂层31，可防止由于在标尺3C的光接收单元4B的一个表面上的反射而产生的杂散光。
此外在上述的本实施例中，除了上述实施例中的功能和效果之外，还能带来如下功能和效果。
(8)由于在标尺3C的光接收单元4B侧的一个表面上的AR涂层31不干涉光发射穿透标尺3C，并抑制反射光进入AR涂层31并在标尺3C的在光接收单元4B侧的一个表面上的反射，因此可防止由标尺3C上的反射所产生的杂散光进入光接收单元4B。
[实施例的变形]
本发明不限于上述实施例，并且落入能够实现本发明的目的的范围内的修改、变更等包括在本发明中。
例如，在上述第一实施例中，标尺3包括作为抗反射构件的AR涂层30，在上述第二实施例中，标度C2和引线框15A包括抗反射构件6和7，并且在上述第三实施例中，光接收单元4B的基部40B包括抗反射构件8。然而，抗反射构件可以设置在编码器中的另一区域中。
在第一实施例到第三实施例中，标尺3、3A在面对光源装置2、2A(光源装置2、2A侧)的一个表面上提供AR涂层30。然而，标尺可在标尺的在光接收单元侧的一个表面上包括AR涂层。换句话说，编码器仅需要包括防止由在标尺上反射而产生的杂散光进入光接收单元的抗反射构件。
在上述实施例中，光源装置2、2A包括具有通过将近似半球体进一步对分而获得的形状的透光构件10。然而，光源装置可以具有任何构造，前提是要包括LED等。
在实施例中，标尺3和3A在面向光接收单元4和4B的表面上包括标度C和C2。然而，标度C和C2不需要包括在面向光接收单元4和4B的表面上。换句话说，标尺只需要包括标度，并且可以在标尺内包括在面向光源装置的表面上的标度等。
工业适用性
如上所述，本发明可以优选用于可以通过减少杂散光而在保持可靠性的同时实现更高精度的光电编码器。

Claims (6)

1.一种光电编码器，包括：光源装置，其配置为发射光；标尺，其具有沿测量方向设置的标度；以及光接收单元，其配置为接收从所述光源装置发射并透过所述标尺的光，
其中，包括配置为防止由在所述标尺上反射而产生的杂散光进入所述光接收单元的抗反射构件。
2.根据权利要求1所述的光电编码器，
其中，所述标度包括所述抗反射构件。
3.根据权利要求1或2所述的光电编码器，
其中，所述光源装置包括供应电力的引线框，并且
其中，所述引线框包括所述抗反射构件。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的光电编码器，
其中，所述标尺在一个表面上包括所述抗反射构件，并且
其中，所述抗反射构件抑制反射的光进入所述抗反射构件和在所述标尺的一个表面上反射。
5.根据权利要求4所述的光电编码器，
其中标尺的一个表面是在光源装置侧的表面，
标尺还包括在与光源装置侧上的所述表面相对的在光接收单元侧的一个表面上的抗反射构件，以及
在光接收单元侧的一个表面上的抗反射构件不干涉光发射穿透标尺，并抑制反射光进入抗反射构件并在光接收单元侧的标尺的一个表面上反射。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的光电编码器，
其中，所述光接收单元包括：
基部，其用作基座；和
光接收部，其设置在所述基部上，并且将接收的光转换成电信号；并且
其中，所述基部包括在除了所述光接收部以外的位置的抗反射构件。
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