CN108845702B - 触控显示面板及其测试方法、触控显示装置 - Google Patents

触控显示面板及其测试方法、触控显示装置 Download PDF

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Abstract

本申请公开一种触控显示面板及其测试方法、触控显示装置。所述触控显示面板包括驱动IC、触控检测电路、以及位于非显示区的扇出走线，所述触控检测电路和驱动IC分别与扇出走线连接，且所述触控检测电路和驱动IC在触控显示面板上的投影至少部分重叠。基于此，本申请能够有利于在驱动IC焊接之前检测到扇出走线的断线现象，避免驱动IC及其焊接制程的浪费。

Description

触控显示面板及其测试方法、触控显示装置
技术领域
本申请涉及显示以及触控技术领域，具体而言涉及一种触控显示面板及其测试方法、触控显示装置。
背景技术
触控显示面板是一种即可以实现显示又可以实现触控的面板，其通常包括显示面板和触控面板，根据这两个面板的相对位置关系，触控显示面板可划分为内置式和外挂式(Out-cell)两大类，其中，内置式触控显示面板又可以划分为内置面内式(In-cell)触控显示面板和内置面上式(On-cell)触控显示面板，由于In-cell触控显示面板便于产品的轻薄化设计与制造，已被广泛研究和应用。在产品生产过程中，需要对触控显示面板设置触控检测电路，以检测触控功能是否正常。
在当前的结构设计中，如图1所示，触控检测电路11位于触控显示面板10的非显示区12，且位于扇出走线13所在区域(又称扇出区域)的上方，所述扇出走线连接驱动IC 14。由于触控检测电路11位于扇出走线13的前部，无法对扇出走线13的(例如断线、过孔接触不良等)断线现象进行检测，只有在焊接驱动IC 14之后才能发现，而此时发现则无疑会造成驱动IC 14及其焊接制程的浪费。
发明内容
有鉴于此，本申请提供一种触控显示面板及其测试方法、触控显示装置，能够有利于在驱动IC焊接之前检测到扇出走线的断线现象，避免驱动IC及其焊接制程的浪费。
本申请一实施例的触控显示面板，包括驱动IC、触控检测电路、以及位于所述触控显示面板的非显示区的扇出走线，所述触控检测电路和驱动IC分别与所述扇出走线连接，且所述触控检测电路和驱动IC在所述触控显示面板上的投影至少部分重叠。
本申请一实施例的触控显示面板的测试方法，包括：
提供一触控显示面板，所述触控显示面板包括驱动IC、触控检测电路以及位于所述触控显示面板的非显示区的扇出走线，所述驱动IC和触控检测电路分别与所述扇出走线连接，且所述触控检测电路和驱动IC在所述触控显示面板上的投影至少部分重叠；
向所述触控检测电路输入使能信号，并接收所述触控检测电路在所述触控显示面板被触控操作时产生的触控检测信号，以根据所述触控检测信号检测所述触控显示面板的触控功能是否正常；
在所述触控功能异常时判定所述扇出走线存在断线现象。
本申请一实施例的触控显示装置，包括上述触控显示面板。
有益效果：本申请设计触控检测电路与扇出走线的输出端连接，能够有利于在驱动IC焊接之前检测出扇出走线的断线现象，避免驱动IC及其焊接制程的浪费，另外，触控检测电路和驱动IC在触控显示面板上的投影至少部分重叠，能够有利于触控显示面板的窄边框设计。
附图说明
图1是现有技术的触控显示面板的结构示意图；
图2是本申请一实施例的触控显示面板的结构示意图；
图3是图2所示的触控检测电路一实施例的电路等效示意图；
图4是本申请一实施例的使能信号的波形示意图；
图5是本申请另一实施例的使能信号的波形示意图；
图6是本申请触控显示面板的测试方法一实施例的流程示意图；
图7是本申请一实施例的触控显示装置的结构示意图。
具体实施方式
本申请的首要目的是：在In-cell触控显示面板内，设计触控检测电路和驱动IC分别与扇出走线连接，且所述触控检测电路和驱动IC在触控显示面板上的投影至少部分重叠，于此，所述触控检测电路与扇出走线的输出端连接，以此有利于在驱动IC焊接之前检测出扇出走线的断线现象，避免驱动IC及其焊接制程的浪费，另外，所述触控检测电路和驱动IC至少部分重叠，有利于触控显示面板的窄边框设计。
本申请并不限制触控显示面板的类型，例如可以为基于LTPS(Low TemperaturePoly-silicon,低温多晶硅)、PSVA(Polymer-stabilized Vertical Alignment,聚合物稳定垂直配向)、或者MVA(Multi-domain Vertical Alignment,多畴垂直配向)技术的液晶显示面板。
下面以液晶显示面板为例，并结合附图，对本申请所提供的各个示例性的实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。在不冲突的情况下，下述各个实施例以及实施例中的特征可以相互组合。并且，本申请全文所采用的方向性术语，例如“上”、“下”等，均是为了更好的描述各个实施例的技术方案，并非用于限制本申请的保护范围。
图2是本申请一实施例的触控显示面板的结构示意图。请参阅图2，所述触控显示面板20包括显示区(Active Area,AA)21和非显示区22，在非显示区22内，所述触控显示面板20可以设置有驱动IC 23、触控检测电路24、以及扇出走线25，所述扇出走线25与显示区21内的数据线、扫描线以及公共电极走线等驱动走线连接，所述驱动IC 23用于为显示区21的画面显示提供驱动信号，所述触控检测电路24用于对触控显示面板20在显示区21内的触控功能进行测试。
所述扇出走线25的前端接入显示区21，结合图3所示，所述扇出走线25的后端设置有焊盘251，该焊盘251可视为触控显示面板20的内引脚(ILB)。所述触控检测电路24和驱动IC 23分别与扇出走线25的焊盘251连接。
如图3所示，所述触控检测电路24包括多个开关管241，所述开关管241的控制端(栅极)g用于接收使能信号TP-ED，所述开关管241的输入端(源极)s连接所述扇出走线25的焊盘，所述开关管241的输出端(漏极)d用于输出触控检测信号。其中，所述触控检测电路24和驱动IC 23可以共用所述扇出走线25的焊盘251。
与图1所示现有技术不同的是，本申请的触控检测电路24和驱动IC 23在所述触控显示面板20上的投影至少部分重叠，也就是说，触控检测电路24和驱动IC 23可以上下重叠设置。
于此，如图2所示，所述触控检测电路24与扇出走线25的输出端(即前述焊盘251)连接，在测试触控显示面板20的触控功能时，通过检测扇出走线25输出的触控信号是否正常，即可在焊接驱动IC 23之前检测出扇出走线25是否存在断线现象，如果扇出走线25未存在断线现象，则可以将驱动IC 23与扇出走线25的焊盘焊接，而如果扇出走线25出现断线现象，则可以检测扇出走线25出现断线现象的原因及位置，并直至修复后再焊接所述驱动IC23，以此避免驱动IC 23及其焊接制程的浪费。进一步地，所述触控检测电路24和驱动IC 23至少部分重叠，两者占据的面积仅相当于驱动IC 23所占面积，从而能够降低非显示区22的尺寸，有利于触控显示面板20的窄边框设计。
请继续参阅图2，所述触控显示面板20还包括位于非显示区22的控制电路板26以及阵列布线(Wire On Array,WOA)27，所述控制电路板26通过所述阵列布线27连接所述驱动IC 23以及触控检测电路24。所述控制电路板26可以为传统的PCB(Printed CircuitBoard,印刷电路板)，也可以为FPC(Flexible Printed Circuit,柔性电路板)。
对于采用FPC的实施方式中，所述触控检测电路24和驱动IC 23可以均集成于该FPC 26上，并且，该FPC 26可以在弯折后设置于所述触控显示面板20的显示区21的背后，以此进一步降低非显示区22的尺寸，有利于触控显示面板20的窄边框设计。
请结合图2、图3和图4所示，所述触控显示面板20的每帧时间包括显示时段t1和触控时段t2，在焊接驱动IC 23之后，所述触控检测电路24的控制端g连接控制电路板26的负电源引脚VGL，以此接收VGL信号并作为使能信号TP-ED。其中，所述VGL信号在显示时段t1内电压未发生波动，开关管241为断开状态，所述触控检测电路24处于关闭状态，所述VGL信号不会影响触控显示面板20的触控功能。而所述VGL信号在触控阶段t2为电压波动的交流信号，其电压最大值为-2V、电压最小值为-7V，因此本申请需要验证在触控阶段t2的VGL信号是否影响所述触控显示面板20的触控功能。
具体地，本申请可以通过触控检测电路24的控制端g直接输入与所述触控显示面板20在触控时段t2相同的驱动信号，如图5所示，该驱动信号可以为方波信号并作为所述使能信号TP-ED。然后，选取触控显示面板20的显示区21内的三个不同位置A、B、C，并分别检测这三个位置A、B、C在输入(表中“on”一列)所述使能信号TP-ED、以及停止输入(表中“off”一列)所述使能信号TP-ED时的信噪比(SNR)。结合下表1所示，在五次验证中，这三个位置A、B、C的信噪比值均大于50db，信噪比公差ΔSNR均小于或等于4db，并且在同一次验证中这三个位置A、B、C的最大公差ΔSNR均小于或等于4db，表示VGL信号对触控显示面板20的触控功能的影响很小。
Figure BDA0001712090230000051
表1
当然，本申请也可以通过驱动IC 23直接向触控检测电路24输入VGL信号以此作为所述使能信号TP-ED。对于与前述方式相同的三个位置A、B、C，结合下表2所示，在两次验证中，这三个位置A、B、C的信噪比值均大于50db，信噪比公差ΔSNR均小于或等于1db，并且在同一次验证中这三个位置A、B、C的最大公差ΔSNR均小于或等于1db，表示VGL信号对触控显示面板20的触控功能的影响很小。
Figure BDA0001712090230000061
表2
图6是本申请触控显示面板的测试方法一实施例的流程示意图。如图6所示，所述测试方法包括如下步骤S61～S63。
S61：提供一触控显示面板，所述触控显示面板包括驱动IC、触控检测电路以及位于所述触控显示面板的非显示区的扇出走线，所述驱动IC和触控检测电路分别与扇出走线连接，且所述触控检测电路和驱动IC在触控显示面板上的投影至少部分重叠。
S62：向触控检测电路输入使能信号，并接收触控检测电路在触控显示面板被触控操作时产生的触控检测信号，以根据所述触控检测信号检测触控显示面板的触控功能是否正常。
S63：在所述触控功能异常时判定扇出走线存在断线现象。
本实施例的触控显示面板可以采用与前述图2所示触控显示面板20相同的结构设计，因此，所述测试方法也具有与其相同的有益效果。
本申请还提供一种触控显示装置。如图7所示，所述触控显示装置70包括触控显示面板71和用于为触控显示面板71提供背光的背光模组72。所述触控显示面板71可以采用与前述图2所示触控显示面板20相同的结构设计，因此其也具有与前述有益效果。
再次说明，以上所述仅为本申请的实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，例如各实施例之间技术特征的相互结合，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (4)

1.一种触控显示面板的测试方法，其特征在于，所述方法包括：
提供一触控显示面板，所述触控显示面板包括驱动IC、触控检测电路以及位于所述触控显示面板的非显示区的扇出走线，所述驱动IC和触控检测电路分别与所述扇出走线连接，且所述触控检测电路和驱动IC在所述触控显示面板上的投影至少部分重叠，所述驱动IC和所述触控检测电路共用所述扇出走线上的焊盘；
向所述触控检测电路输入使能信号，并接收所述触控检测电路在所述触控显示面板被触控操作时产生的触控检测信号，以根据所述触控检测信号检测所述触控显示面板的触控功能是否正常；
在所述触控功能异常时判定所述扇出走线存在断线现象。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述使能信号与所述触控显示面板在触控时段的驱动信号相同。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，通过所述驱动IC向所述触控检测电路输入所述使能信号。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述驱动IC和触控检测电路共用所述扇出走线上的焊盘。
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