CN108780104A - 自动分析装置 - Google Patents

自动分析装置 Download PDF

Info

Publication number
CN108780104A
CN108780104A CN201780017240.4A CN201780017240A CN108780104A CN 108780104 A CN108780104 A CN 108780104A CN 201780017240 A CN201780017240 A CN 201780017240A CN 108780104 A CN108780104 A CN 108780104A
Authority
CN
China
Prior art keywords
rack
consumables
assembly unit
frame
supporting part
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201780017240.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN108780104B (zh
Inventor
野田和广
福垣达也
熊谷孝宏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Publication of CN108780104A publication Critical patent/CN108780104A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN108780104B publication Critical patent/CN108780104B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04Details of the conveyor system
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G59/00De-stacking of articles
    • B65G59/02De-stacking from the top of the stack
    • B65G59/026De-stacking from the top of the stack with a stepwise upward movement of the stack
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G59/00De-stacking of articles
    • B65G59/10De-stacking nested articles
    • B65G59/101De-stacking nested articles by means of oscillating escapement-like mechanisms
    • B65G59/103De-stacking nested articles by means of oscillating escapement-like mechanisms comprising lifting or gripping means
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G60/00Simultaneously or alternatively stacking and de-stacking of articles
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/0099Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor comprising robots or similar manipulators
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G2201/00Indexing codes relating to handling devices, e.g. conveyors, characterised by the type of product or load being conveyed or handled
    • B65G2201/02Articles
    • B65G2201/0235Containers
    • B65G2201/0258Trays, totes or bins
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N2035/00178Special arrangements of analysers
    • G01N2035/00277Special precautions to avoid contamination (e.g. enclosures, glove- boxes, sealed sample carriers, disposal of contaminated material)
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04Details of the conveyor system
    • G01N2035/0401Sample carriers, cuvettes or reaction vessels
    • G01N2035/0412Block or rack elements with a single row of samples
    • G01N2035/0417Block or rack elements with a single row of samples forming an endless chain in a vertical plane
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04Details of the conveyor system
    • G01N2035/0401Sample carriers, cuvettes or reaction vessels
    • G01N2035/0418Plate elements with several rows of samples
    • G01N2035/042Plate elements with several rows of samples moved independently, e.g. by fork manipulator
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04Details of the conveyor system
    • G01N2035/0401Sample carriers, cuvettes or reaction vessels
    • G01N2035/0418Plate elements with several rows of samples
    • G01N2035/0425Stacks, magazines or elevators for plates
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04Details of the conveyor system
    • G01N2035/0401Sample carriers, cuvettes or reaction vessels
    • G01N2035/0429Sample carriers adapted for special purposes
    • G01N2035/0434Sample carriers adapted for special purposes in the form of a syringe or pipette tip

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Robotics (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

本发明的目的在于提供自动分析装置及自动检体处理系统,其具有供给机构,在该供给机构中,将一次性部件搭载于部件架,从堆积有多个的部件架的状态起,仅使堆积的最上层的部件架与其它部件架分离,并向自动分析装置、或自动检体处理系统供给,该供给机构具备部件架分离机构,避免了由于受到因其中堆积的部件架的堆积状态以及部件架与分离机构的非对称性等所引起的位置偏移的影响而使部件架不可分离的问题,并能够稳定地供给部件架。具体而言,在自动分析装置及自动检体处理系统中,具有供给机构,该供给机构具备分离机构,该分离机构从堆积有多个的部件架的状态起,仅使堆积的最上层的部件架与其它部件架分离,特征在于,分离机构具备:可动机构,其具有能够使堆积的部件架的最上层与第二层之间分离的一对下降阻止构件;修正机构,其具有能够不受堆积的部件架的位置偏移影响地修正部件架的位置偏移的一对修正构件。

Description

自动分析装置
技术领域
本发明涉及临床检查中的生化分析、免疫分析等化学分析所使用的自动分析装置、以及在检查室中检查血液、尿等检体时自动地进行检体的处理的检体处理系统。
背景技术
为了防止样本间的交叉污染,可以使与样本接触的喷嘴尖头、反应容器等为一次性部件(以下称为消耗品)。
专利文献1公开了一种自动分析装置,其使用一次性的喷嘴尖头、反应容器等部件来进行样本的分析检查,在该自动分析装置中,能够通过紧凑的装置结构来进行:供给未使用的部件的未使用部件架的供给;使用完毕部件架的回收。具体而言,保持有未使用部件的部件架通过供给用升降机从最大下降位置上升到架分离站,进行分离而仅使堆积于最上层的部件架留在架分离站上。分离的部件架被移动至部件取出站,在此利用可动把持部将部件架上的部件逐个取出。在部件使用后,打开部件取出站的底部,从而使用完毕的部件架会落下,并被回收到回收用升降机的升降台上。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本专利第4454904号
发明内容
发明所要解决的课题
就专利文献1所示的部件架供给机构而言,利用具有钩挂消耗品架的一部分的爪的分离机构,仅使位于最上层的部件架与其它部件架分离。但是,在堆积的部件架的层数多的情况下,部件架的列会相对于层叠方向倾斜,有可能发生位置偏移。另外,在部件架的分离机构与堆积的部件架的对称性无法保持的情况下,也有可能发生位置偏移。若发生位置偏移,则分离机构的爪无法左右均等地钩挂并保持部件架,有可能发生最上层的部件架无法分离或是落下,甚至是无法向装置供给喷嘴尖头、反应容器等消耗品,从而由于分析结果的延迟、停止而导致分析以及检体处理所使用的检体样本的损失。
因此,本发明的目的在于提供一种自动分析装置及自动检体处理系统,其具备能够不受堆积的部件架的位置偏移的影响且稳定地仅使最上层的部件架与其它部件架分离并向分析部供给的部件架的分离机构。
用于解决课题的方案
针对上述课题,本发明的特征如下。即,一种自动分析装置,其具备供给消耗品架的消耗品供给装置,该消耗品架具有保持消耗品的上表面和设于下方的凸缘部,所述自动分析装置的特征在于,具备:台,其能够将所述消耗品架以堆积多个的状态保持;驱动部,其使以水平状态保持所述消耗品架的台在垂直方向上移动;控制部,其控制所述驱动部的动作;以及一对分离机构,其以在水平方向上间隔恒定距离的状态配置,并从堆积状态的所述消耗品架分离最上层的消耗品架,所述一对分离机构分别具有:可动式的支承部,其与所述凸缘部的下表面抵接并支承消耗品架;以及固定式的修正部,其与所述凸缘部的侧面抵接并对消耗品架的位置进行修正。
发明效果
根据本发明,能够提供一种自动分析装置及自动检体处理系统,其具备能够不受堆积的部件架的位置偏移的影响且稳定地仅使最上层的部件架与其它部件架分离并向分析部供给的部件架的分离机构。通过附图和以下对本发明实施例的记载可对本发明的其它目的、特征及优点更加明了。
附图说明
图1是表示自动分析装置的各结构的俯视图。
图2是表示升降室中设置的消耗品供给装置的各结构的立体图。
图3是表示本发明的部件架分离机构部的结构的立体图。
图4是表示本发明的分离机构的结构的立体图。
图5是表示本发明的分离机构的动作的剖视图。
图6是表示部件架分离机构部上不存在部件架的状态的剖视图。
图7是表示向部件架分离机构部供给部件架的状态的剖视图。
图8是表示最上层的部件架的分离前状态的剖视图。
图9是表示最上层的部件架的分离后状态的剖视图。
具体实施方式
以下参照附图对本发明的实施方式进行说明。此外,在各图中对相同构件标记相同符号并适宜地省略重复的说明。
以下参照附图对本发明基于适用的实施例进行说明。作为实施例以自动分析装置的使用例进行说明。自动分析装置接触样本并进行分注,使用对每个样本进行更换的一次性部件(以下也称为消耗品)来进行样本的分析操作。虽然在该例中作为消耗品对使用喷嘴尖头及反应容器的情况进行了说明,但是这两个部件并非必须都使用,也可以仅使用其中之一。另外,也可以构成为使用喷嘴尖头及反应容器以外的消耗品。消耗品在部件架上以二维状态保持,在升降台上将部件架彼此以堆积状态放置并供给。
图1是表示本发明的自动分析装置的俯视图的图。自动分析装置对血浆、血清、尿等生物体样本以各种试剂进行处理、测定,从而能够在生化分析项目、免疫分析项目、或基因分析项目等的多种分析项目中获得有益的测定信息。例如,在免疫分析等中,向包含测定对象物的试样混合包含磁性粒子、标识物质的标识抗体、以及使磁性粒子与测定对象物结合的抗体,引起抗原抗体反应,以磁性分离单元捕捉由测定对象物、磁性粒子及标识物质结合而成的反应生成物,向捕捉得到的反应生成物施加电压,并计量其发光量,由此使测定对象物定量化。并且在自动检体处理系统中,能够使集中于检查室的各患者检体的血浆、血清、尿等生物体样本以对应于检查内容的容量自动地进行生物体样本的小分量分注处理,使得在进入自动分析装置之前的检体处理过程的效率提高。
自动分析装置1的各构成机构部分通过控制装置2来进行动作控制。自动分析装置1具有:检体架的搬送系统,其具有检体投入部3、检体搬送线4及检体收纳部5;分析测定系统,其具有反应盘6、试剂盘7及测定部8;消耗品处理系统,其具有消耗品供给装置9及部件搬运装置10。作为分析测定对象的样本被收容于样本容器11,在各检体架12上装填有多个样本容器11。在一个检体架12上保持多个(也可以为单个)样本容器。利用自动分析装置1进行分析测定的样本是血浆、血清、尿等生物体样本。样本容器11内的样本的相关信息及分析项目的委托信息预先经由控制装置的输入部而被输入。各分析项目的分析条件存储于控制装置2。
在各样本容器11的外壁设有条形码等检体识别信息介质,在各检体架12上设有条形码等载体识别信息介质。上述介质不限于条形码,例如也可以是RFID标签、IC芯片、二维码。装填有检体容器的状态的检体架12由操作者放置于检体投入部3。检体投入部3的一端与检体搬送线4连接,逐步地将检体架12推出并向检体搬送线输送。
接收了检体架12的检体搬送线4将检体架搬送到样本采取位置S。此外,作为使检体架移动的方式,可以是传送带的驱动、架搬送臂的移动等,对方式没有进行限定。在向样本采取位置搬送之前,利用条形码读取装置等识别信息读取器(未图示)读取各检体架的载体识别信息及各样本容器的检体识别信息,并将该信息向控制装置2传递。控制装置2基于读取信息来控制:检体采样机构13、试剂盘7、试剂分注机构14、反应盘6、测定部8等的动作。在样本采取位置S接受了样本采取处理的检体架12通过检体搬送线4被搬送到检体收纳部5并收纳于此。
在消耗品处理系统中,消耗品供给装置9提供为了避免样本间的携带残留或交叉污染而使用的喷嘴尖头29及反应容器30。使这些消耗品以在部件架15上呈二维状(阵列状)保持的状态在消耗品供给装置9内移动。部件搬运装置10从位于消耗品取出机构部B的部件架15上抓取一个作为消耗品的反应容器并搬出,放置到反应盘6上。接下来,从同一部件架上抓取一个作为消耗品的喷嘴尖头并搬出,放置到尖头装设位置16。检体采样机构13的尖头结合用喷嘴在尖头装设位置16结合喷嘴尖头,然后检体采样机构13执行样本采取动作。
消耗品供给装置9具备:部件架分离机构部A及消耗品取出机构部B。如后述那样,在部件架分离机构部A的下方配置未使用的部件架15的供给用升降台17,在消耗品取出机构部B的下方配置使用完毕的部件架15的回收用升降台18。
接下来,参照图2对消耗品供给装置9的结构进行说明。
在消耗品供给装置9中设有:部件架分离机构部A、消耗品取出机构部B、以及部件架废弃机构部。在部件架分离机构部A的下方配置供给用升降机19,在消耗品取出机构部B的下方配置回收用升降机20。这些升降机19、20收纳在消耗品供给装置9的架升降室21(参照图1)内。另外,这些升降机安装于可动式的台22。由此,用户能够从架升降室21(参照图1)连同台22一起以拉出到前面侧的状态,将新的部件架15放置于供给用升降台17,进而能够从回收用的台18上将使用完毕的部件架15除去。在架升降室21(参照图1)的里侧,以位于图1的部件废弃位置23下方的方式,配置有能取下的两个废弃部件回收箱24a、24b。通过将拉出的台22推入预定位置,升降机19、20如初始那样落位于台17、18能够升降的位置。
在位于消耗品供给装置9的架供给部上方的部件架分离机构部A中具备:仅将通过供给用升降机19而被朝向部件架废弃机构部抬向上方的堆积状态的多个部件架中的最上层的部件架15以留在部件架废弃机构部上的方式与其它部件架15分离并保持的分离机构25;使通过升降台17的下降而与其它部件架分离的最上层的部件架15从部件架分离机构部A向消耗品取出机构部B移动的架移送装置26;通过在多个部位对送到消耗品取出机构部B的部件架进行推压而使其以下落于预定位置的方式进行定位的架定位装置27;以及在回收用升降机的台18从部件取出站接收部件架时,在消耗品取出机构部B使载置有部件架的底部(可开闭构件)打开并在其后关闭底部的底部开闭装置28等。
接下来,参照图3对消耗品供给装置9的部件架分离机构部A的结构及部件架进行说明。
部件架分离机构部A在部件架15的两侧相对地配置有一对分离机构25。分离机构25呈左右対称,且两侧面为相同结构。分离机构25的目的在于使堆积的部件架15中的最上层的部件架与第二层以下的部件架分离。
部件架15的侧壁具有以形成为下缘42比设置有部件的上缘41大的方式向下缘扩展的倾斜面,且截面呈梯形状。侧壁的内侧为空洞,在下部无底壁,因此是容易将部件架15彼此上下堆积的箱形。
部件架15的上缘41大致为四边形,以二维状态排列多个能够装填消耗品的孔并在其中分别插入有作为消耗品的部件。在实施例中的一个部件架15上能够分别装填多个作为消耗品的喷嘴尖头29以及多个作为消耗品的反应容器30。在图3的情况下,在部件架15上装填有相同数量的喷嘴尖头29以及反应容器30。
在部件架15的至少相对的两个侧壁的下端形成有具有预定的宽度和长度的凸缘部31a、31b。这一对凸缘部31a、31b由于被后述的分离机构25的支承部32a、32b支承下表面而使部件架之间的分离容易进行。并且在发生了部件架15的相对于层叠方向的位置偏移、由部件架和分离机构的非对称性引起的位置偏移的情况下,通过与分离机构的修正部35a、35b抵接来修正位置偏移。虽然在实施例中采用了具有预定的宽度和长度的凸缘部31a、31b,但是只要构成为与后述的分离机构的具有下降阻止构件的可动机构33a、33b抵接而使部件架之间的分离容易进行,则也可以是通过孔等与下降阻止构件抵接、钩挂的结构。
接下来,参照图4及图5对本发明中的分离机构25的结构进行说明。
分离机构25具有:可动部33a,其具有以与部件架的宽度匹配的间隔隔开的一对支承部(下降阻止构件)32a;以及修正机构34a,其以修正部件架15的位置为目的,且具有以与部件架的宽度匹配的间隔隔开的一对修正部(修正板)35a。可动机构33a与修正机构34a相对于形成有部件架15的凸缘部31a的方向分别成对且交替地配置。此外,可动机构33a与修正机构34a并非必须交替地配置,例如也可以逐个地排列配置。
具有支承部32a的一对可动机构33a以横向长度方向彼此平行的方式安装于旋转轴36a。可动机构33a具有使比较薄的金属(例如不锈钢)折弯而形成的支承部32a和止挡部40a。并且由于是由薄的金属形成而具有一定的弹性。
弹性体39a例如是扭簧,与可动机构33a接触地配置,以朝向盒套突出的方式推压左右配置的一对可动机构33a。止挡部40a以支承部32a的上表面处于最适合保持后述的凸缘部的位置的方式,与固定端37或固定于固定端37的板片接触,使可动机构33a的位置固定。因此,可动机构33a能够以旋转轴36a为中心轴并通过可动机构33a的固定端37和支承部32a的可动端进行转动(参照图5(a)、(b))。在图5(a)的状态下,支承部32a的上表面与凸缘部31a接触,将具有该凸缘部的部件架保持在支承部32a上。在图5(b)的状态下,由于支承部32a后退,因此部件架不会钩挂于支承部32a,而能够沿上下方向移动。
具有修正部35a的修正机构34a与可动机构33a同样地以横向长度方向平行的方式安装。由于与固定端37结合而不会进行转动等动作,而是以一对分离机构25的修正部35a的间隔与部件架的宽度匹配的方式固定。
接下来,参照图6至图9对分离机构的动作进行说明。
图6表示部件架分离机构部A上不存在部件架时的状态。设置为支承部32a、32b的上端与止挡部40a、40b抵接,因此一对搁架部38a、38b前端的间隔L2,比部件架15的一对凸缘部31a、31b的前端部间的距离L窄,并且配设为比部件架15的除凸缘部31a、31b以外的宽度距离L3大。
另外,一对修正机构34a、34b与固定端37结合,其间隔与部件架的宽度相等或固定于略大的恒定的间隔L1。具体而言,在支承部32a、32b的上端与止挡部40a、40b抵接的状态(图5(a)及图6的状态)下,与搁架部38a、38b上端的间隔L1相同,是相比于部件架15的一对凸缘部31a、31b的前端部间的距离L以恒定距离隔开的位置。
图7表示保持有未使用的堆积的消耗品29、30的部件架15通过供给用升降台17上升的状态。此外,以下是部件架从上到下地层叠配置有部件架15a、15b、15c···的状态。当处于最上层的部件架15a在一对搁架部32a、32b之间上升并通过时,凸缘部31a、31b与支承部32a、32b的侧面抵接,使可动部33a、33b被推压扩张并转动。即,从供给用升降机19提供的使部件架15a上升的力克服以推压搁架部的方式作用的弹性体39a、39b的力将支承部32a、32b向外侧推压扩张。
由此,支承部32a、32b被推压扩张,一对支承部32a、32b的前端部间的距离,是与抵接的凸缘部31a、31b相同的宽度L2’(=L)。进而,由于与支承部32a、32b一体地以旋转轴36a、36b为中心转动,因此搁架部38a、38b上端的间隔L1’是比部件架分离机构部A上不存在部件架时(图6)的部件架15的一对凸缘部31a、31b的前端部间L的距离大的距离L1’(>L1>L)。
此外,即使在发生了堆积的部件架的位置偏移、变形的情况下,也能够通过修正部35a、35b与凸缘部31a、31b的侧面接触来修正位置偏移及变形。由此,若发生堆积的多个部件架15a的位置偏移,则仅部件架15a的凸缘部的一方与支承部32a、32b接触,从而一对可动机构33a、33b无法均等地转动,结果是,能够防止无法切实地分离最上层的部件架的情况、部件架掉落等。
图8表示供给用升降台17进一步上升而最上层的部件架15a的凸缘部31a、31b通过了支承部32a、32b的状态。通过使推压扩张支承部32a、32b的部件架15a的凸缘部与搁架部的接触解除,从而使搁架部再次被弹性体39a、39b推压,成为一对搁架部38a、38b的前端部间的间隔L2’(=L2<L)。
该情况下,虽然最上层的部件架15a被保持在支承部32上,但是第二层以下的部件架15b的凸缘部不与支承部32a、32b接触。因此,保持可动机构33a、33b关闭的状态。在该状态下修正机构34a、34b的存在就很重要。在不存在修正机构34a、34b的情况下,可以认为:虽然保持了可动机构33a、33b关闭的状态,但是在发生了堆积的部件架的位置偏移的状态下,部件架15a的凸缘部31a、31b与支承部32a、32b上方的位置单侧接触,能够转动的可动机构33a、33b在意外的状态下推压扩张下降阻止构件32a、32b,在其后的动作中无法与部件架均等地接触。因此,由于具备修正机构34a、34b,从而与最上层的部件架15a的凸缘部31a、31b抵接而抑制位置偏移,有助于其后的支承部32a、32b与部件架的均等的接触。
图9表示供给用升降台17下降的状态。此时,一对支承部32a、32b的前端部的间隔L2比部件架15a的凸缘部31a、31b的前端部间的距离L窄(L2<L),因此部件架15a无法随着供给用升降台17的下降而下降。另一方面,比支承部32a、32b靠下方的部件架15b、15c、…等随着供给用升降台17的下降动作而因自重下降。由此,最上层的部件架15a成为凸缘部31a、31b跨到搁架部38a、38b上的状态,并且通过修正部35a、35b抑制部件架15的位置偏移,成为搁架部38a、38b与部件架的凸缘部31a、31b均等地接触的状态而不会下降。由此,实现最上层的部件架15a与其它部件架15b、15c、…的稳定的分离。
此外,虽然在该实施例中,对自动分析装置进行了说明,但是基于使用部件架来供给禁止重复使用的消耗品的观点,自动检体处理系统中所搭载的消耗品供给装置也能够通过同等的结构实现。
根据本发明,即使在发生了因多个堆积的部件架的层叠状态以及部件架与分离机构的非对称性等而引起的位置偏移的情况下,也不会受位置偏移的影响,而能够稳定地仅将最上层的部件架与其它部件架分离并向分析部供给,因此有助于稳定的分析性能及动作性能。
另外,通常是由使用者(用户等)来进行部件架的各种消耗品向装置本体的供给,因此必须考虑以下风险,即部件架的层叠容易因层叠方式而在层叠方向上位置不定,在进行供给时的层叠时成为负担,但是在本发明中,能够抑制因多个堆积的部件架的层叠状态及部件架与分离机构的非对称性等引起的位置偏移,因此能够降低因进行供给时的层叠而对使用者的造成负担的风险。
另外,本发明内容适用于与部件架无关地进行堆积并进行使最上层与第二层之间分离的动作,且具有分离中所使用的一对以上的凸缘、孔等钩挂部的容器等结构件,关于向自动分析装置及自动检体处理系统的安装也具有通用性。
符号说明
1-自动分析装置;2-控制装置;3-检体投入部;4-检体搬送线;5-检体收纳部;6-反应盘;7-试剂盘;8-测定部;9-消耗品供给装置;10-部件搬运装置;11-样本容器;12-检体架;13-检体采样机构;14-试剂分注机构;15、15a、15b、15c-部件架;16-尖头装设位置;17、18-台;19、20-升降机;21-架升降室;22-台;23-部件废弃位置;24a、24b-废弃部件回收箱;25-分离机构;26-架移送装置;27-架定位装置;28-底部开闭装置;29-喷嘴尖头;30-反应容器;31a、31b-凸缘部;32a、32b-支承部;33a、33b-可动机构;34a、34b-修正机构;35a、35b:修正部;36a、36b-旋转轴;37-固定端;38a、38b-搁架部;39a、39b-弹性体;40a、40b-止挡部;A-部件架分离机构部;B-消耗品取出机构部;S-样本采取位置。

Claims (8)

1.一种自动分析装置,其具备供给消耗品架的消耗品供给装置,该消耗品架具有保持消耗品的上表面和设于下方的凸缘部,
所述自动分析装置的特征在于,具备:
台,其能够将所述消耗品架以堆积多个的状态保持;
驱动部,其使以水平状态保持所述消耗品架的台在垂直方向上移动;
控制部,其控制所述驱动部的动作;以及
一对分离机构,其以在水平方向上间隔恒定距离的状态配置,并从堆积状态的所述消耗品架分离最上层的消耗品架,
所述一对分离机构分别具有:可动式的支承部,其与所述凸缘部的下表面抵接并支承消耗品架;以及固定式的修正部,其与所述凸缘部的侧面抵接并对消耗品架的位置进行修正。
2.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述控制部,以最上层的消耗品架的凸缘部比所述支承部靠上方,且位于所述最上层的消耗品架之下的消耗品架的凸缘部比所述支承部靠下方的方式,使所述台上升第一距离,之后使所述台下降比所述第一距离短的第二距离。
3.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述支承部与所述修正部交替地配置。
4.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述一对分离机构具有弹性体,该弹性体朝向所述消耗品架对所述支承部施力。
5.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述支承部与所述修正部相邻地配置。
6.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述支承部能够在能够支承所述消耗品架的第一位置和所述消耗品能够通过所述支承部之间的第二位置之间移动,
在所述支承部处于第一位置的状态下,所述凸缘部的前端的间隔L比所述支承部之间的距离L2大,并且比所述保持部之间的距离L1小。
7.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述支承部能够在能够支承所述消耗品架的第一位置和所述消耗品能够通过所述支承部之间的第二位置之间移动,
在所述支承部处于第二位置的状态下,所述凸缘部的前端的间隔L与所述支承部之间的距离L2大致相同。
8.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述消耗品是尖头、容器,或是双方。
CN201780017240.4A 2016-03-23 2017-01-30 自动分析装置 Active CN108780104B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016-057821 2016-03-23
JP2016057821 2016-03-23
PCT/JP2017/003086 WO2017163607A1 (ja) 2016-03-23 2017-01-30 自動分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN108780104A true CN108780104A (zh) 2018-11-09
CN108780104B CN108780104B (zh) 2021-12-17

Family

ID=59900214

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201780017240.4A Active CN108780104B (zh) 2016-03-23 2017-01-30 自动分析装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US11041872B2 (zh)
EP (1) EP3435091B1 (zh)
JP (1) JP6619080B2 (zh)
CN (1) CN108780104B (zh)
WO (1) WO2017163607A1 (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111902723A (zh) * 2018-03-29 2020-11-06 希森美康株式会社 样本测定系统、架的运送方法
CN115583508A (zh) * 2022-09-08 2023-01-10 合肥哈工龙延智能装备有限公司 基于全自动开装封箱码垛一体机的拆盘机构

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT201600130628A1 (it) * 2016-12-23 2018-06-23 Inpeco Holding Ltd Apparato per la gestione di liquidi
JP7029334B2 (ja) * 2018-03-29 2022-03-03 シスメックス株式会社 検体測定システム、ラックの搬送方法
JP7221997B2 (ja) * 2018-06-29 2023-02-14 エフ. ホフマン-ラ ロシュ エージー. 自動分析器
WO2020044790A1 (ja) * 2018-08-29 2020-03-05 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
CN110510311A (zh) * 2019-08-23 2019-11-29 中南大学湘雅医院 一种标本盒分发回收装置
JP7022855B2 (ja) * 2021-03-05 2022-02-18 株式会社日立ハイテク 自動分析装置、消耗品供給装置および消耗品供給方法
CN113791233B (zh) * 2021-09-16 2024-04-05 丰都县江北医院 一种泌尿外科检测用尿液分析辅助装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE29713840U1 (de) * 1997-07-15 1997-10-09 Langguth Gmbh & Co Vorrichtung zum Vereinzeln leerer Eimer
WO2001069263A1 (fr) * 2000-03-15 2001-09-20 Hitachi, Ltd. Analyseur automatique et dispositif d'alimentation en pieces servant a l'analyseur
CN104108603A (zh) * 2013-04-16 2014-10-22 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 一种杯盒抓取机构及方法
CN204624286U (zh) * 2015-03-17 2015-09-09 陈乃华 一种可调式取杯器
CN204737074U (zh) * 2015-05-15 2015-11-04 楚天科技股份有限公司 叠盒机
CN205076103U (zh) * 2015-09-24 2016-03-09 上海固好包装机械有限公司 盒子码垛包装机构

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE9421735U1 (de) * 1994-09-08 1996-07-11 Steinbrenner Bernd Dr Vorrichtung zur Bereitstellung einer Vielzahl von Gegenständen auf einem Träger
JP4096893B2 (ja) 2004-03-05 2008-06-04 松下電器産業株式会社 マイクロプレートの供給収納装置およびマイクロプレートの供給方法ならびに収納方法
JP3873983B2 (ja) 2004-03-05 2007-01-31 松下電器産業株式会社 マイクロプレートの供給装置
US7954624B2 (en) * 2006-05-16 2011-06-07 Rorze Corporation Shuttle type conveying device, microplate feeding and collecting device, pickup device for microplate, cassette for microplate, and shelf for containing microplate
EP2363712B1 (en) * 2010-03-04 2013-05-22 F.Hoffmann-La Roche Ag Workflow timing
JP5703072B2 (ja) * 2011-03-08 2015-04-15 富士フイルム株式会社 生化学分析用カートリッジおよび生化学分析装置
EP2623204A1 (en) 2012-02-03 2013-08-07 F. Hoffmann-La Roche AG Sample handling system
JP5868916B2 (ja) 2013-09-06 2016-02-24 株式会社ユニバーサルエンターテインメント 遊技機
CN104020309B (zh) 2014-06-25 2015-12-30 长春迪瑞医疗科技股份有限公司 全自动化学发光免疫分析仪的消耗品托盘自动加载装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE29713840U1 (de) * 1997-07-15 1997-10-09 Langguth Gmbh & Co Vorrichtung zum Vereinzeln leerer Eimer
WO2001069263A1 (fr) * 2000-03-15 2001-09-20 Hitachi, Ltd. Analyseur automatique et dispositif d'alimentation en pieces servant a l'analyseur
CN104108603A (zh) * 2013-04-16 2014-10-22 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 一种杯盒抓取机构及方法
CN204624286U (zh) * 2015-03-17 2015-09-09 陈乃华 一种可调式取杯器
CN204737074U (zh) * 2015-05-15 2015-11-04 楚天科技股份有限公司 叠盒机
CN205076103U (zh) * 2015-09-24 2016-03-09 上海固好包装机械有限公司 盒子码垛包装机构

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111902723A (zh) * 2018-03-29 2020-11-06 希森美康株式会社 样本测定系统、架的运送方法
CN115583508A (zh) * 2022-09-08 2023-01-10 合肥哈工龙延智能装备有限公司 基于全自动开装封箱码垛一体机的拆盘机构

Also Published As

Publication number Publication date
WO2017163607A1 (ja) 2017-09-28
US20190094250A1 (en) 2019-03-28
JPWO2017163607A1 (ja) 2018-12-20
EP3435091A4 (en) 2019-11-27
JP6619080B2 (ja) 2019-12-11
US11041872B2 (en) 2021-06-22
CN108780104B (zh) 2021-12-17
EP3435091A1 (en) 2019-01-30
EP3435091B1 (en) 2021-04-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108780104A (zh) 自动分析装置
JP6743204B2 (ja) 容器ホルダの保管および供給
JP3873039B2 (ja) 自動分析装置
JP6689352B2 (ja) 自動分析装置
JP6230915B2 (ja) 検体移戴装置及びシステム
WO2001069263A1 (fr) Analyseur automatique et dispositif d'alimentation en pieces servant a l'analyseur
JP2007309675A (ja) サンプルラック供給回収装置
US9823261B2 (en) Multi-well wedge-shaped reagent container with auto-open capability
JP4582157B2 (ja) 自動分析装置及びラック搬送方法
JP6651380B2 (ja) 臨床検査装置
JP2011158263A (ja) 自動分析装置
JP2007303882A (ja) 自動分析装置
JP2006337386A (ja) 自動分析装置
JP5178891B2 (ja) 自動分析装置
JP7316763B2 (ja) 分析、特に医学分析の自動実行のための自動デバイス
JP4968368B2 (ja) 自動分析装置及びラック搬送方法
WO2018221220A1 (ja) 自動分析装置
JP6886837B2 (ja) 自動分析装置
JP5839987B2 (ja) 自動分析装置
JP6210891B2 (ja) 自動分析装置
CN111902723A (zh) 样本测定系统、架的运送方法
WO2020085272A1 (ja) オートサンプラ、自動分析装置、サンプリング方法、及び、自動検査方法
JP2012032191A (ja) 自動分析装置
WO2020085271A1 (ja) オートサンプラ、自動分析装置、サンプリング方法、及び、自動検査方法
CN112313516A (zh) 自动分析仪

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant