CN108648639A - 一种cog段码显示基板及其制作方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种COG段码显示基板,包括玻璃基板,玻璃基板上设有第一ITO测试层,第一ITO测试层上还设有第二ITO线路层,第二ITO线路层上还设有第三ITO图案层,第一ITO测试层与第二ITO线路层之间设有第一OC绝缘层,第二ITO线路层与第三ITO图案层之间设有第二OC绝缘层,第二ITO线路层与第一ITO测试层之间通过过孔方式导通,第三ITO图案层与第二ITO线路层之间通过过孔方式导通。本发明通过在玻璃基板和第二ITO线路层之间设置第一ITO测试层,通过镀膜工艺将第二ITO线路层里的每段线路均引出一个测试PIN出来,通过过孔的方式连接至第一ITO测试层上,然后第一ITO测试层再将导电线路引出形成金手指,方便用户对其整个产品进行检测,从而提高产品的良率。
Description
技术领域
本发明涉及电子纸技术领域,特别涉及一种COG段码显示基板及其制作方法。
背景技术
段码电子纸显示基板有别于点阵电子纸显示基板,其只能显示一些固定的字符、图标、条码、以及七段数字。通常的COG段码显示基板是在一块玻璃基板上镀一层ITO线路层和一层ITO图案层,其中层与层之间通过OC绝缘层进行隔离。ITO线路层会将导电线路曝光显影出来,多出的部分进行蚀刻掉,导电线路最终连接至IC位置。而目前使用的IC均比较小,所以其设置的导电线路比较细,线宽和线距均在0.01mm左右,传统的治具不能够直接测量COG段码显示基板。现有技术中,是将玻璃基板拿过来,直接在上面做成成品再测试,这样会浪费IC、电子纸及FPC等资源,导致测试成本大大的增加,而玻璃基板的不过几毛钱。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是:提供一种COG段码显示基板及其制作方法,能够方便对基板进行测试,操作简单,降低测试成本,从而提高生产良率。
本发明解决上述问题所采用的技术方案为:一种COG段码显示基板,包括玻璃基板,所述玻璃基板上设有第一ITO测试层,所述第一ITO测试层上还设有第二ITO线路层,所述第二ITO线路层上还设有第三ITO图案层,所述第一ITO测试层与所述第二ITO线路层之间设有第一OC绝缘层,所述第二ITO线路层与所述第三ITO图案层之间设有第二OC绝缘层,所述第二ITO线路层与所述第一ITO测试层之间通过过孔方式导通,所述第三ITO图案层与所述第二ITO线路层之间通过过孔方式导通。
优选的,所述第一OC绝缘层与所述第二OC绝缘层的绝缘系数小于3.6。这样,保证OC绝缘层能够将各层的电路隔绝开来,保证不会短路。
优选的,所述第一OC绝缘层与所述第二OC绝缘层的厚度大于1.5μm。这样,通过控制其厚度进一步的提高其绝缘效果。
优选的,所述第二ITO线路层与所述第一ITO测试层、所述第三ITO图案层与所述第二ITO线路层之间的过孔位置一一对应。这样,将过孔一一对应,不有偏差,能够保证各个过孔排列的整齐性,也容易设置其导电线路。
优选的,所述第三ITO图案层上还设有一TOP层。这样,TOP层能够对其线路具有一定的保护作用,同时也能够防止第三ITO图案层的字符不被腐蚀掉。
采用上述结构,本发明的优点在于:通过多设置第一ITO测试层,将第二ITO线路层里的线路引到第一ITO测试层上,便于对其整个产品的测量,检验其产品是否合格。
本发明的另一种技术解决方案是:一种COG段码显示基板的制造方法,它包括以下步骤:
S1、在玻璃基板上镀一层第一ITO测试层,进行曝光显影,蚀刻出导电线条和电极;
S2、在所述第一ITO测试层上覆盖一第一OC绝缘层,所述第一OC绝缘层上设有与所述第一ITO测试层控制IC对应的第一通孔;
S3、在所述第一OC绝缘层上通过镀膜工艺制作一层第二ITO线路层,将第二ITO线路层里的每段线路均引出一个测试点,通过第一通孔进行过孔连接至所述第一ITO测试层,使两者导通;
S4、在所述第二ITO线路层上覆盖一第二OC绝缘层,所述第二OC绝缘层上设有与所述第二ITO线路层控制IC对应的第二通孔;
S5、在所述第二OC绝缘层上制作一层第三ITO图案层,所述第三ITO图案层与所述第二ITO线路层之间通过第二通孔进行过孔连接,使两者导通;
S6、在所述第三ITO图案层上覆盖一TOP层。
优选的,在步骤S3中,第二ITO线路层包括由下至上依次设置的多层线路层,所述每个测试点通过第一通孔进行过孔连接至所述第一ITO测试层,是指每层线路层的测试点均在第一通孔内通过过孔与所述第一ITO测试层连接;在步骤S5中,所述第三ITO图案层与所述第二ITO线路层之间通过第二通孔进行过孔连接,是指所述第三ITO图案层在第二通孔内通过过孔与每层线路层均连接。这样,通过多层设置,能够使走线进一步的加宽,线路阻抗进一步降低,产品良率提高。
优选的,在步骤S4中,在所述第二ITO线路层上覆盖一第二OC绝缘层,指的是在每层线路层上均覆盖一第二OC绝缘层。这样,可以保证每层的线路不至于显露出来,同时也能保证各线路层之间具有良好的绝缘性。
优选的,所述第一ITO测试层上的导电线条与电极引出形成金手指。这样,便于测量检验产品。
优选的,所述第二ITO线路层上的导电线条引出形成IC区。这样,引出集成IC区,便于连接到控制电路上。
采用上述方法,本发明的优点在于:在第二ITO线路层与玻璃基板之间还设置第一ITO测试层,这样能够便于对其整个产品的测量,检验其产品是否合格;通过镀膜工艺将第二ITO线路层里的每段线路均引出一个测试PIN出来,避开IC位置,将这些线路通过过孔的方式连接至第一ITO测试层上,然后第一ITO测试层再将导电线路引出到IC的对面位置进行测量,方便用户检验产品,从而提高产品的良率。
附图说明
图1本发明COG段码显示基板结构截面图;
图2本发明COG段码显示基板结构透视图。
图中标号说明:1、玻璃基板,2、第一ITO测试层,21、金手指,3、第一OC绝缘层,4、第二ITO线路层,41、IC区,5、第二OC绝缘层,6、第三ITO图案层,7、TOP层。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的实施例作进一步描述。
实施例一:
如图1所示,本实施例涉及一种COG段码显示基板,包括玻璃基板1,玻璃基板1上设有第一ITO测试层2,第一ITO测试层2上还设有第二ITO线路层4,第二ITO线路层4上还设有第三ITO图案层6,第一ITO测试层2与第二ITO线路层4之间设有第一OC绝缘层3,第二ITO线路层4与第三ITO图案层6之间设有第二OC绝缘层5,第二ITO线路层4与第一ITO测试层2之间通过过孔方式导通,第三ITO图案层6与第二ITO线路层4之间通过过孔方式导通。
本发明主要通过在第二ITO线路层4与玻璃基板1之间设置第一ITO测试层2,来对第二ITO线路层4里的导电线路进行检测,是否存在断路或者短路现象。在本实施例中,第二ITO线路层4与第三ITO图案层6分开设置。第二ITO线路层4可以设置成多层结构,这样能够是各个导电线路的走线加宽一些,从而降低阻抗,提高产品良率。
其中,第一OC绝缘层3和第二OC绝缘层5的材料为:乙酸丙二醇单甲基醚酯、光起始剂、亚克力树脂、亚克力单脂或二乙二醇甲乙醚。其绝缘系数均小于3.6,同时其厚度均大于1.5μm。绝缘层的设置一方面是为了保证各个线路层之间具有良好的绝缘性,防止水汽进入到第二ITO线路层内,导致导电线路被腐蚀;另一方面是为了保证每层的线路不至于线路出来,使整个电路美观。
在本实施例中,第二ITO线路层4与第一ITO测试层2、第三ITO图案层6与第二ITO线路层4之间的过孔位置一一对应。这样,将过孔一一对应,不能有偏差,能够保证各个过孔排列的整齐性,也容易引出各条导电线路。
在实际生产过程中,第三ITO图案层6上还设有一TOP层7。这样,TOP层7能够保护第三ITO图案层6。由于第三ITO图案层6与电子纸膜直接接触易腐蚀,增加TOP层7能够是第三ITO图案层6里的图案字符不被轻易的腐蚀。
实施例二:
与实施例一基本相同,区别在于第一ITO测试层2设置于第二ITO线路层4与第三ITO图案层6之间。
实施例三:
一种COG段码显示基板的制造方法,它包括以下步骤:
S1、在玻璃基板1上镀一层第一ITO测试层2,进行曝光显影,蚀刻出导电线条和电极。
S2、在第一ITO测试层2上覆盖一第一OC绝缘层3,第一OC绝缘层3上设有与第一ITO测试层2控制IC对应的第一通孔。
S3、在第一OC绝缘层上通过镀膜工艺制作一层第二ITO线路层,将第二ITO线路层里的每段线路均引出一个测试点,通过第一通孔进行过孔连接至第一ITO测试层,使两者导通。
其中,在步骤S3中,第二ITO线路层4包括由下至上依次设置的多层线路层,每个测试点通过第一通孔进行过孔连接至第一ITO测试层2,是指每层线路层的测试点均在第一通孔内通过过孔与第一ITO测试层2连接。镀膜工艺采用现有的工艺,直接使用镀膜机进行镀膜。
S4、在第二ITO线路层4上覆盖一第二OC绝缘层5,第二OC绝缘层5上设有与第二ITO线路层4控制IC对应的第二通孔。
在步骤S4中,在第二ITO线路层4上覆盖一第二OC绝缘层5,指的是在每层线路层上均覆盖一第二OC绝缘层5。
S5、在第二OC绝缘层5上制作一层第三ITO图案层6,第三ITO图案层6与第二ITO线路层4之间通过第二通孔进行过孔连接,使两者导通。
在步骤S5中,第三ITO图案层6与第二ITO线路层4之间通过第二通孔进行过孔连接,是指第三ITO图案层6在第二通孔内通过过孔与每层线路层均连接。
S6、在第三ITO图案层6上覆盖一TOP层7。
第一ITO测试层2上的导电线条与电极引出形成金手指21。这样,便于测量检验产品。
第二ITO线路层4上的导电线条也引出形成IC区41。这样,引出集成IC区,便于连接到控制电路上。
本发明的有益效果为:在第二ITO线路层与玻璃基板之间还设置第一ITO测试层,这样能够便于对其整个产品的测量,检验其产品是否合格;通过镀膜工艺将第二ITO线路层里的每段线路均引出一个测试PIN出来,避开IC位置,将这些线路通过过孔的方式连接至第一ITO测试层上,然后第一ITO测试层再将导电线路引出到IC的对面位置进行测量,方便用户检验产品,从而提高产品的良率。
上述说明示出并描述了本发明的若干优选实施例,但如前所述,应当理解本发明并非局限于本文所披露的形式,不应看作是对其他实施例的排除,而可用于各种其他组合、修改和环境,并能够在本文所述发明构想范围内,通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离本发明的精神和范围,则都应在本发明所附权利要求的保护范围内。
Claims (10)
1.一种COG段码显示基板,包括玻璃基板(1),其特征在于:所述玻璃基板(1)上设有第一ITO测试层(2),所述第一ITO测试层(2)上还设有第二ITO线路层(4),所述第二ITO线路层(4)上还设有第三ITO图案层(6),所述第一ITO测试层(2)与所述第二ITO线路层(4)之间设有第一OC绝缘层(3),所述第二ITO线路层(4)与所述第三ITO图案层(6)之间设有第二OC绝缘层(5),所述第二ITO线路层(4)与所述第一ITO测试层(2)之间通过过孔方式导通,所述第三ITO图案层(6)与所述第二ITO线路层(4)之间通过过孔方式导通。
2.根据权利要求1所述的COG段码显示基板,其特征在于:所述第一OC绝缘层(3)与所述第二OC绝缘层(5)的绝缘系数小于3.6。
3.根据权利要求1所述的COG段码显示基板,其特征在于:所述第一OC绝缘层(3)与所述第二OC绝缘层(5)的厚度大于1.5μm。
4.根据权利要求1所述的COG段码显示基板,其特征在于:所述第二ITO线路层(4)与所述第一ITO测试层(2)、所述第三ITO图案层(6)与所述第二ITO线路层(4)之间的过孔位置一一对应。
5.根据权利要求1所述的COG段码显示基板,其特征在于:所述第三ITO图案层(6)上还设有一TOP层(7)。
6.一种COG段码显示基板的制造方法,其特征在于:它包括以下步骤:
S1、在玻璃基板(1)上镀一层第一ITO测试层(2),进行曝光显影,蚀刻出导电线条和电极;
S2、在所述第一ITO测试层(2)上覆盖一第一OC绝缘层(3),所述第一OC绝缘层(3)上设有与所述第一ITO测试层(2)控制IC对应的第一通孔;
S3、在所述第一OC绝缘层(3)上通过镀膜工艺制作一层第二ITO线路层(4),将第二ITO线路层(4)里的每段线路均引出一个测试点,每个测试点通过第一通孔进行过孔连接至所述第一ITO测试层(2),使两者导通;
S4、在所述第二ITO线路层(4)上覆盖一第二OC绝缘层(5),所述第二OC绝缘层(5)上设有与所述第二ITO线路层(4)控制IC对应的第二通孔;
S5、在所述第二OC绝缘层(5)上制作一层第三ITO图案层(6),所述第三ITO图案层(6)与所述第二ITO线路层(4)之间通过第二通孔进行过孔连接,使两者导通;
S6、在所述第三ITO图案层(6)上覆盖一TOP层(7)。
7.根据权利要求6所述的COG段码显示基板的制作方法,其特征在于:在步骤S3中,第二ITO线路层(4)包括由下至上依次设置的多层线路层,所述每个测试点通过第一通孔进行过孔连接至所述第一ITO测试层(2),是指每层线路层的每个测试点均在第一通孔内通过过孔与所述第一ITO测试层(2)连接;在步骤S5中,所述第三ITO图案层(6)与所述第二ITO线路层(4)之间通过第二通孔进行过孔连接,是指所述第三ITO图案层(6)在第二通孔内通过过孔与每层线路层均连接。
8.根据权利要求7所述的COG段码显示基板的制作方法,其特征在于:在步骤S4中,在所述第二ITO线路层(4)上覆盖一第二OC绝缘层(5),指的是在每层线路层上均覆盖一第二OC绝缘层(5)。
9.根据权利要求6所述的COG段码显示基板的制作方法,其特征在于:所述第一ITO测试层(2)上的导电线条与电极引出形成金手指(21)。
10.根据权利要求6所述的COG段码显示基板的制作方法,其特征在于:所述第二ITO线路层(4)上的导电线条引出形成IC区(41)。
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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CB02 | Change of applicant information | ||
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Address after: 343000 in Jizhou Industrial Park, Ji'an City, Jiangxi Province Applicant after: Jiangxi Xingtai Technology Co.,Ltd. Address before: 343000 in Jizhou Industrial Park, Ji'an City, Jiangxi Province Applicant before: JIANGXI XINGTAI TECHNOLOGY Co.,Ltd. |