CN108646127A - 触摸屏短路位置检测结构及检测方法 - Google Patents

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Abstract

一种触摸屏生产技术领域的触摸屏短路位置检测结构及检测方法，包括设置于ITO膜上的数个短路检测参考点；每个所述参考点指示有短路位置，所述参考点的数值对应于所述短路位置与相邻ITO通道之间的短路电阻值。本发明分段划分触摸屏的短路检查位置，能够快速缩小短路位置的检查范围，以便进一步确定短路位置，提高了工作效率。

Description

触摸屏短路位置检测结构及检测方法
技术领域
本发明涉及的是一种触摸屏生产领域的技术，具体是一种触摸屏短路位置检测结构及检测方法。
背景技术
目前电容式触摸屏通过通道线路进行信号传输，通道线路一般通过银浆、ITO(Indium tin oxide，氧化铟锡)等材料形成，激光、蚀刻、印刷线路等过程中均可能导致短路。采用万用表或电测机测试PIN脚过程中遇到短路，须找到短路位置并修复。而寻找短路位置非常麻烦，需要借助显微镜按部就班地从引脚到ITO通道逐个检查，在ITO导电膜贴合后，除了引脚裸露外ITO整面均覆有OCA光学胶，检查难度大；另一方面对于大尺寸结构，例如98吋电容式触摸屏的情况，上述检查的工作量极大。
发明内容
本发明针对现有技术存在的上述不足，提出了一种触摸屏短路位置检测结构及检测方法，分段划分触摸屏的短路检查位置，能够快速缩小短路位置的检查范围，以便进一步确定短路位置，提高了工作效率。
本发明是通过以下技术方案实现的：
本发明包括设置于ITO膜上的数个短路检测参考点；每个所述参考点指示有短路位置，所述参考点的数值对应于所述短路位置与相邻ITO通道之间的短路电阻值。
所述参考点等间距排列。
所述参考点的数值依据相邻两个通道间的短路电阻划定。
所述相邻两个通道为：
地线与靠近地线的第一通道；
或靠近地线的第一通道和第二通道。
根据上述相邻两个通道的电阻阻值可以计算得到参考点对应的其他通道形成通路的电阻阻值。
所述参考点附有短路位置检测编号，短路位置检测编号对应相应参考点指示的电阻值。
所述参考点设置于所述ITO膜引线区域中地线的外侧。
所述ITO膜包括ITO上膜和ITO下膜，所述ITO上膜和/或ITO下膜上设有所述参考点。
一种基于上述结构进行短路位置检测的方法，
测得ITO膜的短路电阻值；
根据测得的短路电阻数值，确定对应的两个参考点；所述测得的短路电阻值在所述两个参考点对应的短路电阻值之间；
通过放大设备在两个参考点对应的ITO通道范围内寻找到短路位置。
技术效果
与现有技术相比，本发明分段划分触摸屏的短路检查位置，能够快速缩小短路位置的检查范围，以便进一步确定短路位置，提高了工作效率。
附图说明
图1A为实施例1与ITO上膜、柔性线路板的整体结构示意图；
图1B为实施例1与ITO下膜、柔性线路板的整体结构示意图；
图2为图1B中局部结构示意图；
图中：参考点1、ITO上膜2、ITO下膜3、引脚4、地线5、第一通道线路6、第二通道线路7。
具体实施方式
下面结合附图及具体实施方式对本发明进行详细描述。
实施例1
图2所示，本实施例包括依次设置于ITO膜上的数个短路检测参考点1；每个所述参考点1指示有短路位置，所述参考点1的数值对应于所述短路位置与相邻ITO通道之间的短路电阻值。
所述各参考点1等间距排列，便于短路检测；所述各参考点1的数值依据相邻两个通道间的整体短路电阻值划定。
优选地，本申请的相邻参考点间的电阻为50～150Ω。
所述相邻两个通道为：
地线5与靠近地线5的第一通道；
或靠近地线5的第一通道和第二通道。
所述各参考点1附有短路位置检测编号，短路位置检测编号对应相应参考点1指示的电阻值；一个短路位置检测编号对应不同通道具有相应通道在该位置处的电阻值；根据上述相邻两个通道的电阻阻值可以计算得到参考点1对应的其他通道形成通路的电阻阻值。
如图1A和图1B所示，所述参考点1设置于触摸屏中ITO上膜2和/或ITO下膜3引线区域中地线外侧，优选地，所述参考点1与地线5连接。
如图2所示，优选地，所述的参考点1包括一尖角以及与尖角底部相连的矩形，所述尖角的角平分线垂直于地线。该尖角可为三角形，三角尖同步可以实现静电释放，增加产品抗静电能力。
优选地，所述尖角的角度为10度～70度；所述矩形的长度为5mm，宽度为0.5～3mm。
本实施例优选基于第一通道和第二通道形成通路的电阻作为参考点1的划分基准；因材料方阻确定且各自通道内宽度一致，故可根据R＝R方阻*L/W，其中，L为通道长度，W为通道宽度，得到电阻与通道长度的位置关系，以此划分设置参考点1；
也可采用导电物体按压通道使通道短路的方式设置参考点，如采用导电物体按压第一通道线路6(地线5与第一通道分隔线)和第二通道线路7(第一通道与第二通道分隔线)，以50Ω的电阻作为间隔设置参考点1，并对各参考点1依次编号；
采用上述任一方法得到各参考点1在其他通道上相应位置的短路电阻数值，进行记录，以便后续测试进行。
本实施例通过测试柔性电路板引脚4的电阻值得到ITO膜的短路电阻值，根据测得的短路电阻数值，确定对应的两个参考点；所述测得的短路电阻值在所述两个参考点对应的短路电阻值之间；通过显微镜观察在两个参考点对应的ITO通道范围内寻找到短路位置。
需要强调的是：以上仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (10)

1.一种ITO膜短路位置检测结构，其特征是，包括设置于ITO膜上的数个短路检测参考点；每个所述参考点指示有短路位置，所述参考点的数值对应于所述短路位置与相邻ITO通道之间的短路电阻值。
2.根据权利要求1所述的触摸屏短路位置检测结构，其特征是，所述参考点等间距排列。
3.根据权利要求1所述的触摸屏短路位置检测结构，其特征是，所述参考点的数值依据相邻两个通道间的短路电阻划定。
4.根据权利要求1所述的触摸屏短路位置检测结构，其特征是，所述参考点设置于所述ITO膜引线区域中地线的外侧。
5.根据权利要求1所述的触摸屏短路位置检测结构，其特征是，所述ITO膜包括ITO上膜和ITO下膜，所述ITO上膜和/或ITO下膜上设有所述参考点。
6.根据权利要求3所述的触摸屏短路位置检测结构，其特征是，所述相邻两个通道为：
地线与靠近地线的第一通道；
或靠近地线的第一通道和第二通道。
7.根据权利要求1所述的触摸屏短路位置检测结构，其特征是，所述参考点包括一尖角，所述尖角的角平分线垂直于地线。
8.根据权利要求7所述的触摸屏短路位置检测结构，其特征是，所述尖角的角度为10度～70度。
9.根据权利要求8所述的触摸屏短路位置检测结构，其特征是，所述参考点在尖角底部设为矩形，所述矩形的长度不超过5mm，宽度为0.5～3mm。
10.一种基于上述任一项权利要求所述结构进行触摸屏短路位置检测的方法，其特征在于，
测得ITO膜的短路电阻值；
根据测得的短路电阻数值，确定对应的两个参考点；所述测得的短路电阻值在所述两个参考点对应的短路电阻值之间；
在两个参考点对应的ITO通道范围内寻找到短路位置。
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