CN207051874U - 具可视化测试点的电容式触控基板、触摸屏及显示装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种具有可视化测试点的电容式触控基板、触控屏及显示装置。其中电容式触控基板包括ITO膜和形成于所述ITO膜上的ITO电极通道；其中，至少一个所述ITO电极通道的顶端区域内设有可视化测试点。本实用新型结构通过在透明ITO膜上增加可视化测试点，据此可快速定位进行通道电阻的测试，减少了测试时间，避免了将探测针扎在可视区。
Description
技术领域
本实用新型属于触控领域，具体涉及一种具可视化测试点的电容式触控基板、触摸屏及显示装置。
背景技术
目前市场上电容式触摸屏的主要制作工艺材料有OGS触摸屏，Metal mesh触摸屏、铜网触摸屏、纳米银触摸屏。
基于透明导电膜的电容式触摸屏包括ITO膜，银浆线路，以及在ITO膜上蚀刻出的ITO线路(ITO电极通道)。为验证其质量，需要对通道电阻进行测试。但由于ITO膜是透明的，因此测试通道电阻时，会无法看清通道，造成测试困难，花费时间长，以及探测针扎到可视区造成可视区外观不良的问题。尤其在大尺寸电容式触摸屏上，由于通道更多，上述问题更为明显。
实用新型内容
本实用新型的一个目的在于提供一种具有可视化测试点的电容式触控基板、触摸屏及显示装置，以解决现有技术中通道电阻测试困难，花费时间长且容易扎到可视区的问题。
为了实现上述目的，本实用新型一方面提供了一种具有可视化测试点的电容式触控基板，所述电容式触控基板包括ITO膜、形成于所述ITO膜上的ITO电极通道，至少一个所述ITO电极通道的顶端区域内设有可视化测试点。
优选的，所述可视化测试点与对应的ITO电极通道的上侧线的距离为0.3～1mm。
优选的，所述可视化测试点与对应的ITO电极通道的两侧线的距离分别独立的选自0.5～1.5mm。
优选的，所述可视化测试点的宽度为0.3～1mm。
优选的，至少一个ITO电极通道设有至少一条对应的隔离线，所述隔离线位于所述可视化测试点与对应ITO电极通道的上侧线之间。
优选的，隔离线为至少两条，且所述隔离线之间的间距为单条所述隔离线宽度的0.5-1倍。
优选的，所述隔离线通过激光在所述ITO膜上蚀刻形成。
优选的，所述可视化测试点为银浆测试点。
优选的，每个所述ITO电极通道对应一个可视化测试点和一条隔离线，且相邻的隔离线首尾相接。
优选的，银浆线路角落垂直线交叉点与至少三个可视化测试点组成上膜与下膜贴合的靶标
本新型另一方面还提供了一种电容式触摸屏，包括如上所述的具有可视化测试点的电容式触控基板。
本新型再一方面还提供了一种显示装置，包括显示屏和如上所述的触摸屏。
本实用新型有益效果：
本实用新型结构通过在透明ITO膜上增加可视化测试点，据此可快速定位进行通道电阻的测试，减少了测试时间，避免了将探测针扎在可视区。
进一步的，通过增加隔离线，避免可视化测试点的材料渗透到ITO电极通道的上侧线上，避免了短路风险。
附图说明
构成本实用新型的一部分的说明书附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。
图1为本实用新型上膜结构图；
图2为图1中A处放大图；
图3为本实用新型电极通道与隔离线结构图；
图4为本实用新型下膜结构图；
图5为本实用新型下膜ITO蚀刻前结构图；
图6为本实用新型上膜与下膜贴合后结构图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本实用新型保护的范围。
需要说明的是，本实用新型的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“上”、“下”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本实用新型的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
本实用新型提供一种具有可视化测试点的电容式触控基板，所述电容式触控基板包括现有触控基板的结构，如ITO膜、形成于所述ITO膜上的ITO电极通道等。本实用新型在现有结构的基础上，在至少一个所述ITO电极通道的顶端区域内设有可视化测试点。该可视化测试点用于为ITO电极通道的电阻测试提供参考点。在进行电阻测试时，可以根据可视化测试点确定电极通道的位置，从而将探测针扎在准确位置，避免扎在可视区造成外观不良的问题。
本实用新型实施例中，每一个ITO电极通道对应一个可视化测试点，为每一个通道测试提供参考。
如图1、4所示，为电容式触控基板的上膜和下膜。其中上膜/下膜均包括形成于基板上的ITO膜、银浆线路7以及激光蚀刻ITO膜形成的电极通道8。其中区域5位可视区域。如图，上膜的电极通道8沿竖直方向，下膜的电极通道8沿水平方向。在每一个电极通道8的上端区域内对应一个可视化测试点6，因此，上膜的可视化测试点6沿水平方向排列，下膜的可视化测试点6沿竖直方向排列。该可视化测试点6可以是规则形状，也可以是不规则形状。为便于识别，可将其设为规则形状，如圆形、正方形。在同一膜上，可视化测试点可以选用不同形状。
需要说明的是，在本实用新型的一个实施例中，在制作上膜时，可以只对上膜电极通道设置可视化测试点，在制作下膜时，可以只对下膜电极通道设置可视化测试点。图1、4所示的可视化测试点的设置与将可视化测试点同时作为靶标有关，下文将详细叙述。
对于规则图形，可视化测试点的宽度或直径b为0.3～1mm，优选为0.4～1mm；可视化测试点距离对应的ITO电极通道上侧线1，即图2所示的距离c为0.3～1mm，优选的为0.3～0.5mm；测试点距离对应的ITO电极通道的两侧的侧边线11距离f/g各自独立的大于等于0.5mm，优选的,该距离为0.5～1.5mm；可视化测试点距离可视区上边缘的距离a大于等于0.5mm。
本实用新型中，可视化测试点选用导电材料，具体的可选用银浆，形成银浆测试点。
为了避免银浆油墨渗透到ITO电极通道的激光线造成短路，本实用新型在每个银浆测试点上侧加隔离线。如图各测试点对应的隔离线连接在一起。具体隔离线可以是一条或多条。图1、2、3所示位两条隔离线如银浆激光线(图2、3所示的线2，3)，两条隔离线间距为其中一条隔离线宽的1/2到1倍距离。
本实用新型中隔离线均位于所述可视化测试点与对应ITO电极通道的上侧线之间或最上侧的隔离线与ITO电极通道的上侧线(线1)重合。
本新型另一方面还提供了一种电容式触摸屏，包括如上所述的具有可视化测试点的电容式触控基板。
本新型再一方面还提供了一种显示装置，包括显示屏和如上所述的触摸屏。
本实用新型中，上膜/下膜的ITO电极通道的激光蚀刻以及上膜和下膜的贴合需要对标的过程。本实用新型另一实施例中，可视化测试点被同时作为靶标使用。
以下膜为例，首先在基板上丝网印刷带有可视化测试点区域以及部分银浆线路的ITO膜，如图5所示。可视化测试点沿竖直方向排列。其中的部分可视化测试点作为靶标，如图所示的靶标1、靶标2。为方便后续对标，同时印刷靶标3和靶标4。其中，边角位置的可视化测试点作为靶标1、靶标2、靶标3，下膜银浆角落垂直线交叉点位置作为靶标4。之后根据靶标位置，计算出整个银浆中心位置，将银浆中心位置与激光图案中心位置吻合，基于此进行激光蚀刻。
上膜与下膜过程类似。
之后是上膜与下膜使用OCA胶进行贴合，为了使上膜和下膜位置对应，需要同时抓取上膜和下膜对应的靶标，进行贴合，一般抓取任意2个靶标即可，基于此即可进行靶标对位贴合，贴合后的结构如图6所示。
此结构触控基板，通过在透明ITO膜上增加可视化测试点，方便电极通道的测试，依55寸产品计算，万用表测量上线1pcs用时786s，更改设计后测量上线1pcs用时693s，测量1pcs产品节省用时93s，效率提升93/786*100％＝11.8％。
另外通过增加银浆隔离线，避免短路风险。通过将可视化测试点作为靶标，省略了原来对标过程中需要单独设置靶标的步骤。
需要注意的是，具体实施方式仅仅是对本实用新型技术方案的解释说明，不应将其理解为对本实用新型技术方案的限定，任何采用本实用新型实质实用新型内容而仅作局部改变的，仍应落入本实用新型的保护范围内。
Claims (11)
1.一种具有可视化测试点的电容式触控基板，其特征在于，所述电容式触控基板包括ITO膜和形成于所述ITO膜上的ITO电极通道；
其中，至少一个所述ITO电极通道的顶端区域内设有可视化测试点。
2.如权利要求1所述的具有可视化测试点的电容式触控基板，其特征在于，所述可视化测试点与对应的ITO电极通道的上侧线的距离c为0.3～1mm。
3.如权利要求1所述的具有可视化测试点的电容式触控基板，其特征在于，所述可视化测试点与对应的ITO电极通道的两侧线的距离分别独立的选自0.5～1.5mm。
4.如权利要求3所述的具有可视化测试点的电容式触控基板，其特征在于，所述可视化测试点的宽度为0.3～1mm。
5.如权利要求1所述的具有可视化测试点的电容式触控基板，其特征在于，至少一个ITO电极通道设有至少一条对应的隔离线，所述隔离线位于所述可视化测试点与对应ITO电极通道的上侧线之间。
6.如权利要求5所述的具有可视化测试点的电容式触控基板，其特征在于，所述隔离线通过激光在所述ITO膜上蚀刻形成。
7.如权利要求5所述的具有可视化测试点的电容式触控基板，其特征在于，隔离线为至少两条，且所述隔离线之间的间距为单条所述隔离线宽度的0.5-1倍。
8.如权利要求1所述的具有可视化测试点的电容式触控基板，其特征在于，所述可视化测试点为银浆测试点。
9.如权利要求1所述的具有可视化测试点的电容式触控基板，其特征在于，所述ITO膜上的ITO电极通道外围为银浆线路区域，所述银浆线路区域外缘垂直线交叉点与至少三个可视化测试点组成上膜与下膜贴合的靶标。
10.一种电容式触摸屏，其特征在于，包括如权利要求1-8任一项所述的具有可视化测试点的电容式触控基板。
11.一种显示装置，其特征在于，包括显示屏和如权利要求9所述的触摸屏。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201720955011.4U CN207051874U (zh) | 2017-08-02 | 2017-08-02 | 具可视化测试点的电容式触控基板、触摸屏及显示装置 |
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| CN201720955011.4U CN207051874U (zh) | 2017-08-02 | 2017-08-02 | 具可视化测试点的电容式触控基板、触摸屏及显示装置 |
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| CN201720955011.4U Active CN207051874U (zh) | 2017-08-02 | 2017-08-02 | 具可视化测试点的电容式触控基板、触摸屏及显示装置 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN207051874U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108646127A (zh) * | 2018-04-19 | 2018-10-12 | 张家港康得新光电材料有限公司 | 触摸屏短路位置检测结构及检测方法 |
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2017
- 2017-08-02 CN CN201720955011.4U patent/CN207051874U/zh active Active
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