CN108263843A - 双进料测试处理系统 - Google Patents

双进料测试处理系统 Download PDF

Info

Publication number
CN108263843A
CN108263843A CN201711419809.8A CN201711419809A CN108263843A CN 108263843 A CN108263843 A CN 108263843A CN 201711419809 A CN201711419809 A CN 201711419809A CN 108263843 A CN108263843 A CN 108263843A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
electronic unit
turret
revolving
input station
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
CN201711419809.8A
Other languages
English (en)
Inventor
张祖轁
郑志华
刘启峰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ASMPT Singapore Pte Ltd
Original Assignee
ASM Technology Singapore Pte Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ASM Technology Singapore Pte Ltd filed Critical ASM Technology Singapore Pte Ltd
Publication of CN108263843A publication Critical patent/CN108263843A/zh
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2893—Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G47/00—Article or material-handling devices associated with conveyors; Methods employing such devices
    • B65G47/74—Feeding, transfer, or discharging devices of particular kinds or types
    • B65G47/80—Turntables carrying articles or materials to be transferred, e.g. combined with ploughs or scrapers
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G47/00—Article or material-handling devices associated with conveyors; Methods employing such devices
    • B65G47/74—Feeding, transfer, or discharging devices of particular kinds or types
    • B65G47/90—Devices for picking-up and depositing articles or materials
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G2201/00—Indexing codes relating to handling devices, e.g. conveyors, characterised by the type of product or load being conveyed or handled
    • B65G2201/02—Articles
    • B65G2201/0214—Articles of special size, shape or weigh

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

一种用于测试电子部件的测试处理机包括：用于传送电子部件的旋转转台以及第一输入站和第二输入站，每个输入站可操作以分别将电子部件送入到传送电子部件的所述旋转转台。仅从所述第一输入站送入的电子部件在包括多个第一测试平台的第一组测试站进行测试，仅从所述第二输入站送入的电子部件在包括多个第二测试平台的第二组第二测试站进行测试。为了从所述旋转转台移出电子部件，第一卸载站接收仅从第一输入站送入的电子部件，第二卸载站接收仅从第二输入站送入的电子部件。

Description

双进料测试处理系统
技术领域
本发明涉及用于测试电子部件的测试处理系统，具体涉及用于将电子部件传送到各个测试站进行测试的高速旋转转台。
背景技术
图1是测试电子部件的常规测试处理机100的平面视图。图2是图1所示的常规测试处理机100的等距视图。测试处理机100通常包括高速旋转转台102，其具有多个拾取头以选出通过输入站104送入的电子部件。输入站104可包括震动碗式进料机或其他自动进料设备。
旋转转台102上的拾取头单独拾取电子部件。随后，在成为合格的可使用的电子元件之前，它们被传送到不同功能测试站108以进行一次或多次测试。功能测试站108可包括不同测试，例如电子和/或光学测试。测试之后，通常在卸载站106卸载通过上述测试的电子部件，然后打包到承载带（或其他诸如塑料管或塑料箱的存储介质）上运输。
图3是测试处理机100的功能测试站108和用于将电子部件112放置于功能测试站108进行测试的拾取头110的等距视图。拾取头110沿着旋转转台102的圆周设置，当每个拾取头110随着旋转转台102的旋转而移动时，拾取头它可操作以拾取和运送单个电子部件112。
当电子部件112被传送到功能测试站108之上的位置时，电子部件112被放入包含于功能测试站108的测试平台114中。当电子部件112牢固地容纳于测试平台114上时，对其进行测试。测试平台114可向上移动以从拾取头110收集电子部件112，或拾取头110可向下移动以将电子部件112放入测试平台114。
完成电子部件112的测试后，被测试的电子部件112再次被拾取头110拾取并且通过旋转转台102的旋转逐步传送到卸载站106以从测试处理机100移出。
很明显，测试处理机100的测试周期包括将电子部件112从输入站104转移到功能测试站108花费的时间（或将电子部件112从功能测试站108转移到卸载站106花费的时间）以及测试电子部件所花费的时间。因为操作处理步骤是按顺序进行的，所以不论旋转转台102旋转多快或将电子部件112转移到不同位置或将其从不同位置转移所花费的时间减少多少，测试每个电子部件112需要的时间实质上相同，不会明显减少。因此，测试所需时间造成了限制进一步减少常规测试处理机100操作周期时间的瓶颈。
为了在不改变测试每个电子部件112所需的时间的条件下显著增加系统的吞吐量，有必要对常规测试处理机100进行重新配置。特别地，如果能以在不改变测试每个电子部件112所需的时间的条件下显著增加吞吐量的方式重新设置常规测试处理机100的旋转转台102上装载或卸载电子部件112的转移机构，这将是有益的。
发明内容
由此，本发明的一个目的是提供一种即使测试每个电子部件需要的时间相对固定也能增加系统吞吐量的重新配置的测试处理机。
因此，本发明提供了一种用于测试电子部件的测试处理机，包括：用于传送电子部件的旋转转台；第一输入站和第二输入站，每个输入站可操作以分别将电子部件送入用于传送电子部件的所述旋转转台；第一组测试站，其包括多个用于测试仅从所述第一输入站送入的电子部件的第一测试平台，和第二组测试站，其包括多个用于测试仅从所述第二输入站送入的电子部件的第二测试平台；以及第一卸载站，其可操作以接收仅从所述第一输入站送入的电子部件，和第二卸载站，其可操作以接收仅从所述第二输入站送入的电子部件，所述第一卸载站和所述第二卸载站用于将所述电子部件从所述旋转转台移出。
为方便起见，下文将参考附图详细描述本发明。所述附图描述了本发明的优选实施例。附图和相关说明的特殊性不应理解为替代由权利要求所限定的本发明的广泛定义的普遍性。
附图说明
现在参考如下附图对本发明的测试处理系统的示例进行说明。
图1是常规测试处理机的平面视图。
图2是图1所示的常规测试处理机的等距视图。
图3是测试处理机的功能测试站和用于将电子部件放在功能测试站进行测试的拾取头的等距视图。
图4是根据本发明优选实施例的测试处理机的平面视图。
图5是图4所示的测试处理机的等距视图。
具体实施方式
图4是根据本发明优选实施例的测试处理机10的平面视图。图5是图4所示的测试处理机10的等距视图。
测试处理机10包括具有多个拾取头以拾取电子部件112的高速旋转转台12。测试处理机10还包括第一输入站14和第二输入站16，以及第一卸载站18和第二卸载站20。第一输入站14位于一端，第一卸载站18和第二输入站16位于另一端，该另一端大致位于旋转转台12相对的另一侧。相似地，第二输入站16和第二卸载站20大致位于旋转转台12相对的两侧。
并且，测试处理机10的功能测试站被分为位于测试处理机10一侧的第一组功能站22和位于测试处理机10的另一侧的第二组功能测试站24。 位于旋转转台12上的拾取头110通常接收和容纳从第一输入站14和第二输入站16送入的电子部件112，并且将被测试的电子部件传送到第一卸载站18和第二卸载站20。
使用时，电子部件12分别从第一输入站14和第二输入站16被同时送入到旋转转台12的拾取头110。仅从第一输入站14送入的电子部件112通过旋转转台12从第一组功能测试站22被传送以在测试平台114上进行测试。在被第一组功能测试站22测试后，电子部件112被传送到第一卸载站18以从测试处理机10移出。
另一方面，仅从第二输入站16送入的电子部件112通过旋转转台12从第二组功能测试站24被传送以在测试平台114进行测试。在被第二组功能测试站24测试后，电子部件112被传送到第二卸载站20以从测试处理机10移出。
因此，测试处理机10实际上被分为两半，其中旋转转台12的一半由第一输入站14、第一卸载站18和第一组功能测试站22服务；旋转转台12的另一半由第二输入站16、第二卸载站20和第二组功能测试站24服务。
在前述设置中，第一输入站14、第一卸载站18和第一组功能测试站22大致沿旋转转台12的第一半设置。第二输入站16、第二卸载站20和第二组功能测试站24大致沿不和旋转转台12的第一半重叠的旋转转台12的另一半设置。虽然使用同一旋转转台12，但是这种设置可以使两组电子部件112平行地被送入到第一功能测试站22和第二组功能测试站24，并在其上进行测试。
通过采用根据本发明优选实施例的测试处理机的设置，相比常规测试处理机，在电子部件的测试时间保持不变的情况下，吞吐量可以加倍。不需要使用两个单独的测试处理机，就可以实现这种效果。而且，因为仅需要一个旋转转台系统，所以，节约了成本。
除了上述具体描述，还可轻易对本发明作各种变化、修改和/或增加。应该理解，所有这类变化、修改和/或增加都落入本发明所描述的精神和范围之内。

Claims (9)

1.一种用于测试电子部件的测试处理机，其特征在于，包括：
旋转转台，用于传送电子部件；
第一输入站和第二输入站，每个输入站可操作以分别将所述电子部件送入到用于传送所述电子部件的所述旋转转台；
第一组测试站和第二组第二测试站，所述第一组测试站包括多个第一测试平台，所述第一测试平台用于测试仅从所述第一输入站送入的电子部件，所述第二组第二测试站包括多个第二测试平台，所述第二测试平台用于测试仅从所述第二输入站送入的电子部件；和
第一卸载站和第二卸载站，所述第一卸载站可操作以接收仅从所述第一输入站送入的电子部件，所述第二卸载站可操作以接收仅从所述第二输入站送入的电子部件，所述第一卸载站和所述第二卸载站用于从所述旋转转台移出所述电子部件。
2.根据权利要求1所述的测试处理机，其特征在于，还包括位于所述旋转转台上的多个拾取头，所述拾取头可操作以从所述第一输入站和所述第二输入站接收和传送所述电子部件并且将被测试的电子部件传送到所述第一卸载站和所述第二卸载站。
3.根据权利要求1所述的测试处理机，其特征在于，所述第一输入站和所述第二输入站大致位于所述旋转转台的相对的两侧。
4.根据权利要求3所述的测试处理机，其特征在于，所述第一卸载站和所述第二卸载站大致位于所述旋转转台的相对的两侧。
5.根据权利要求3所述的测试处理机，其特征在于，所述第一输入站和所述第一卸载站大致位于所述旋转转台的相对的两侧。
6.根据权利要求3所述的测试处理机，其特征在于，所述第二输入站和所述第二卸载站大致位于所述旋转转台的相对的两侧。
7.根据权利要求3所述的测试处理机，其特征在于，所述第一测试平台大致沿所述旋转转台的第一半设置并且所述第二测试平台大致沿所述旋转转台的另一半设置，所述旋转转台的另一半不和所述旋转转台的第一半重叠。
8.根据权利要求1所述的测试处理机，其特征在于，所述旋转转台的一半由所述第一输入站、所述第一测试平台和所述第一卸载站服务；所述旋转转台的另一半由所述第二输入站、所述第二测试平台和所述第二卸载站服务。
9.根据权利要求1所述的测试处理机，其特征在于，在从所述第一输入站送入的电子部件在所述第一组测试站进行测试的同时，从所述第二输入站送入的电子部件在所述第二组测试站进行测试。
CN201711419809.8A 2016-12-30 2017-12-25 双进料测试处理系统 Withdrawn CN108263843A (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US15/395,061 2016-12-30
US15/395,061 US20180188318A1 (en) 2016-12-30 2016-12-30 Dual-feed test handling system

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN108263843A true CN108263843A (zh) 2018-07-10

Family

ID=62711600

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201711419809.8A Withdrawn CN108263843A (zh) 2016-12-30 2017-12-25 双进料测试处理系统

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20180188318A1 (zh)
CN (1) CN108263843A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111842221A (zh) * 2019-04-29 2020-10-30 先进科技新加坡有限公司 具有多个测试扇区的测试处理机

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2895341Y (zh) * 2006-01-24 2007-05-02 杭州嘉大精密机械有限公司 每一分割具有两支吸嘴的转盘
CN103508185A (zh) * 2012-05-24 2014-01-15 艾希思科技有限公司 一种与转塔型测试装置结合的半导体元件传送系统
CN104801496A (zh) * 2014-01-23 2015-07-29 先进科技新加坡有限公司 拾取电子器件进行测试的测试分选机及其方位改变装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2259027B1 (en) * 2009-06-04 2012-12-05 Sensirion AG Method and apparatus for processing individual sensor devices
US9594111B2 (en) * 2013-02-27 2017-03-14 Infineon Technologies Ag Turret handlers and methods of operations thereof

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2895341Y (zh) * 2006-01-24 2007-05-02 杭州嘉大精密机械有限公司 每一分割具有两支吸嘴的转盘
CN103508185A (zh) * 2012-05-24 2014-01-15 艾希思科技有限公司 一种与转塔型测试装置结合的半导体元件传送系统
CN104801496A (zh) * 2014-01-23 2015-07-29 先进科技新加坡有限公司 拾取电子器件进行测试的测试分选机及其方位改变装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111842221A (zh) * 2019-04-29 2020-10-30 先进科技新加坡有限公司 具有多个测试扇区的测试处理机

Also Published As

Publication number Publication date
US20180188318A1 (en) 2018-07-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9933454B2 (en) Universal test floor system
CN102648442B (zh) 改进的拾取和放置
CN103286076B (zh) 用于测试电子元件的分选系统
TWI597798B (zh) 使用於半導體晶圓處理系統中之自動化介面裝置及方法
KR101334766B1 (ko) 반도체 소자 핸들링 시스템
JP5502602B2 (ja) 個々のセンサデバイスを処理する方法及び装置
CN1221112A (zh) 测试及老化装置,使用该装置的串联系统,及测试方法
CN101234382A (zh) 用于对封装芯片分类的系统和用于对封装芯片分类的方法
JP2007033426A (ja) 電子部品テストシステム
CN114714333B (zh) 用于更换夹持器设备上的工具的系统
JP2010281820A5 (zh)
KR20140144121A (ko) 소자핸들러
CN110510405A (zh) 一种物料传输方法、传输装置、传输系统及可读存储介质
CN103137526A (zh) 用于安装半导体芯片的设备
CN105983538B (zh) 一种高产能的测试分选机系统
CN108263843A (zh) 双进料测试处理系统
KR20200095799A (ko) 검사 시스템
TWI546883B (zh) Semiconductor manufacturing device
CN112875291A (zh) 检测设备的控制方法、检测设备及计算机可读存储介质
CN210359929U (zh) 一种电容组装机
WO2008142752A1 (ja) トレイ格納装置及び電子部品試験装置
US20170292873A1 (en) Vibration testing tool
US7501809B2 (en) Electronic component handling and testing apparatus and method for electronic component handling and testing
CN103713219A (zh) 一种电子元件检测设备及其检测方法
TW200944807A (en) System and method for the sorting of IC units

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WW01 Invention patent application withdrawn after publication
WW01 Invention patent application withdrawn after publication

Application publication date: 20180710