CN108152702B - 适用于扩充电路板中ngff插槽的测试系统 - Google Patents

适用于扩充电路板中ngff插槽的测试系统 Download PDF

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    • G01R31/2844—Fault-finding or characterising using test interfaces, e.g. adapters, test boxes, switches, PIN drivers

Abstract

本发明公开一种适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统，通过模拟电路板模拟主机板，将具有扩充板NGFF插槽的扩充电路板插接于模拟电路板上，再将测试电路板插接于扩充电路板的扩充板NGFF插槽，藉由快速外设组件互连标准交换模块以及测试模块以对NGFF插槽进行各种对应的测试，藉此可以达成提供低成本NGFF接口测试且提高测试覆盖率的技术功效。

Description

适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统
技术领域
本发明涉及一种测试系统，尤其是指一种通过快速外设组件互连标准交换模块以及测试模块对NGFF插槽进行各种对应测试的适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统。
背景技术
NGFF接口是发展以替换串行SCSI(Serial Attached SCSI，SAS)接口，NGFF接口的特征即是采用快速外设组件互连标准(Peripheral Component Interconnect Express，PCI-E)接口，藉以提供与具有快速外设组件互连标准接口的固态硬盘(Solid StateDrive，SSD)直接连接。
然而对于扩充电路板上的NGFF接口的测试过程，除了需要通过外接固态硬盘来进行测试之外，还需要将扩充电路板插接于主机板，且使用固态硬盘来对待测试电路板上的NGFF接口进行测试的测试成本较高且未能提供较高的测试覆盖率。
综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在现有NGFF接口测试具有测试成本较高且未能提供较高的测试覆盖率的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此一问题。
发明内容
有鉴于现有技术存在现有NGFF接口测试具有测试成本较高且未能提供较高的测试覆盖率的问题，本发明遂揭露一种适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统，其中：
本发明所揭露第一实施态样的适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统，其包含：扩充电路板、模拟电路板、测试电路板以及测试控制器，扩充电路板更包含：扩充板接口以及多个扩充板NGFF(Next Generation Form Factor)插槽；模拟电路板更包含：模拟板插槽、模拟板快速外设组件互连标准(Peripheral Component Interconnect Express，PCI-E)交换(Switch)模块、时脉器以及模拟板控制接口；测试电路板更包含：多个测试板NGFF接口、至少一测试板快速外设组件互连标准交换模块、测试模块以及测试板控制接口。
其中，扩充电路板的扩充板NGFF插槽电性连接于扩充板接口；模拟电路板是用以模拟主机板；模拟电路板的模拟板插槽是用以插接扩充板接口；模拟电路板的模拟板快速外设组件互连标准交换模块与模拟板插槽电性连接；模拟电路板的时脉器与快速外设组件互连标准交换模块电性连接，并产生时脉信号；及模拟电路板的模拟板控制接口是与模拟板快速外设组件互连标准交换模块电性连接；测试电路板的多个测试板NGFF接口分别插接于扩充板NGFF插槽；测试电路板的至少一测试板快速外设组件互连标准交换模块分为二逻辑单元，每一个逻辑单元包含虚拟快速外设组件互连标准交换模块以及非透明桥接(Non-Transparent Bridge，NT Bridge)模块，非透明桥接模块包含非透明连接(NT Link)模块以及非透明虚拟(NT Virtual)模块，虚拟快速外设组件互连标准交换模块与测试板NGFF接口其中之一以及非透明虚拟模块电性连接，非透明连接模块与另一测试板NGFF接口电性连接；及测试电路板的测试模块是分别与测试板NGFF接口、测试板虚拟快速外设组件互连标准交换模块以及非透明虚拟电性连接，用以通过测试板NGFF接口以及测试板快速外设组件互连标准交换模块对扩充板NGFF插槽进行快速外设组件互连标准信号的测试、电源供应测试、辅助信号输入端口(Auxiliary，AUX)测试以及系统管理总线(System Management Bus，SMBus)测试；及测试电路板的测试板控制接口，与测试模块电性连接；及测试控制器分别与模拟板控制接口以及测试板控制接口电性连接，用以控制测试模块的测试流程以及获得与显示测试结果。
本发明所揭露第二实施态样的适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统，其包含：扩充电路板、模拟电路板、多个测试电路板以及测试控制器，扩充电路板更包含：扩充板接口以及多个扩充板NGFF插槽；模拟电路板更包含：模拟板插槽、模拟板快速外设组件互连标准交换模块、时脉器以及模拟板控制接口；测试电路板更包含：测试板NGFF接口、快速外设组件互连标准重定时器(Retimer)、测试模块以及测试板控制接口。
扩充电路板的扩充板NGFF插槽电性连接于扩充板接口，且扩充板NGFF插槽彼此之间形成串联；模拟电路板是用以模拟主机板，模拟电路板的模拟板插槽是用以插接扩充板接口；及模拟电路板的模拟板快速外设组件互连标准交换模块包含虚拟快速外设组件互连标准交换模块以及非透明桥接模块，非透明桥接模块包含非透明连接模块以及非透明虚拟模块，虚拟快速外设组件互连标准交换模块与扩充板NGFF插槽其中之一电性连接，非透明连接模块与另一扩充板NGFF插槽电性连接；模拟电路板的时脉器与快速外设组件互连标准交换模块电性连接，并产生时脉信号；及模拟电路板的模拟板控制接口与模拟板快速外设组件互连标准交换模块电性连接；测试电路板的测试板NGFF接口是用以插接于扩充板NGFF插槽其中之一；测试电路板的快速外设组件互连标准重定时器与测试板NGFF接口电性连接，用以提供快速外设组件互连标准信号的转发和信号处理；测试电路板的测试模块与测试板NGFF接口电性连接，用以通过测试板NGFF接口对扩充板NGFF插槽进行快速外设组件互连标准信号的测试、电源供应测试、辅助信号输入接口测试以及系统管理总线测试；及测试电路板的测试板控制接口与相邻的测试电路板的测试板控制接口电性连接，以串联测试电路板，且测试板控制接口与测试模块电性连接；及测试控制器分别与模拟板控制接口以及测试板控制接口电性连接，用以控制测试模块的测试流程以及获得与显示测试结果。
本发明所揭露的系统及方法如上，与现有技术之间的差异在于本发明通过模拟电路板模拟主机板，将具有扩充板NGFF插槽的扩充电路板插接于模拟电路板上，再将测试电路板插接于扩充电路板的扩充板NGFF插槽，以进行快速外设组件互连标准信号的测试、电源供应测试、辅助信号输入接口测试以及系统管理总线测试。
通过上述的技术手段，本发明可以达成提供低成本NGFF接口测试且提高测试覆盖率的技术功效。
附图说明
图1绘示为本发明适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统的第一实施态样系统方块图。
图2绘示为本发明适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统的第二实施态样系统方块图。
【符号说明】
10 扩充电路板
11 扩充板接口
121 第一扩充板NGFF插槽
122 第二扩充板NGFF插槽
123 第三扩充板NGFF插槽
124 第四扩充板NGFF插槽
20 模拟电路板
21 模拟板插槽
22 模拟板快速外设组件互连标准交换模块
221 虚拟快速外设组件互连标准交换模块
222 非透明桥接模块
2221 非透明连接模块
2222 非透明虚拟模块
23 时脉器
24 模拟板控制接口
30 测试电路板
301 第一测试电路板
302 第二测试电路板
303 第三测试电路板
304 第四测试电路板
311 第一测试板NGFF接口
312 第二测试板NGFF接口
313 第三测试板NGFF接口
314 第四测试板NGFF接口
32 测试板快速外设组件互连标准交换模块
321 第一逻辑单元
3211 第一虚拟快速外设组件互连标准交换模块
3212 第一非透明桥接模块
32121 第一非透明连接模块
32122 第一非透明虚拟模块
322 第二逻辑单元
3221 第二虚拟快速外设组件互连标准交换模块
3222 第二非透明桥接模块
32221 第二非透明连接模块
32222 第二非透明虚拟模块
33 测试模块
331 第一测试模块
332 第二测试模块
333 第三测试模块
334 第四测试模块
34 测试板控制接口
341 第一测试板控制接口
342 第二测试板控制接口
343 第三测试板控制接口
344 第四测试板控制接口
351 第一快速外设组件互连标准重定时器
352 第二快速外设组件互连标准重定时器
353 第三快速外设组件互连标准重定时器
354 第四快速外设组件互连标准重定时器
40 测试控制器
具体实施方式
以下将配合图式及实施例来详细说明本发明的实施方式，藉此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。
以下首先要说明本发明所揭露第一实施态样的适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统，并请参考「图1」所示，「图1」绘示为本发明适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统的第一实施态样系统方块图。
本发明所揭露第一实施态样的适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统，其包含：扩充电路板10、模拟电路板20、测试电路板30以及测试控制器40，扩充电路板10更包含：扩充板接口11以及多个扩充板NGFF(Next Generation Form Factor)插槽；模拟电路板20更包含：模拟板插槽21、模拟板快速外设组件互连标准(Peripheral ComponentInterconnect Express，PCI-E)交换(Switch)模块22、时脉器23以及模拟板控制接口24；测试电路板30更包含：多个测试板NGFF接口31、至少一测试板快速外设组件互连标准交换模块32、测试模块33以及测试板控制接口34。
扩充电路板10是用以提供扩充主机板功能的用途，在第一实施态样中，扩充电路板10具有第一扩充板NGFF插槽121至第四扩充板NGFF插槽124且电性连接于扩充电路板10的扩充板接口11，扩充板NGFF插槽是采用快速外设组件互连标准插槽，上述扩充板NGFF插槽的数量仅为举例说明，并不以此局限本发明的应用范畴，扩充电路板10的扩充板接口11包含快速外设组件互连标准接口、系统总线(System Bus)…等，在此仅为举例说明，并不以此局限本发明的应用范畴，扩充电路板10即为需要被测试的待测试电路板。
由于扩充电路板10是需要插接于主机板上，故在测试时则需要将扩充电路板10插接于模拟电路板20上，模拟电路板20即是模拟主机板的作用，模拟电路板20是藉由模拟电路板20的模拟板插槽21以插接扩充电路板10的扩充板接口11，即模拟电路板20的模拟板插槽21亦包含快速外设组件互连标准接口、系统总线…等，并与扩充电路板10的扩充板接口11相互对应，在此仅为举例说明，并不以此局限本发明的应用范畴。
模拟电路板20的模拟板快速外设组件互连标准交换模块22与模拟电路板20的模拟板插槽21电性连接，模拟电路板20的时脉器23与模拟电路板20的模拟板快速外设组件互连标准交换模块22电性连接，模拟电路板20的时脉器23是用以产生时脉信号，模拟电路板20的模拟板控制接口24与模拟电路板20的模拟板快速外设组件互连标准交换模块22电性连接，除此之外，模拟电路板20更包含驱动扩充电路板10执行工作的驱动电路。
测试电路板30的第一测试板NGFF接口311至第四测试板NGFF接口314分别插接于扩充电路板10的第一扩充板NGFF插槽121至第四扩充板NGFF插槽124。
测试电路板30的测试板快速外设组件互连标准交换模块32分为第一逻辑单元321以及第二逻辑单元322，第一逻辑单元321包含第一虚拟快速外设组件互连标准交换模块3211以及第一非透明桥接(Non-Transparent Bridge，NT Bridge)模块3212，第一非透明桥接模块3212包含第一非透明连接(NT Link)模块32121以及第一非透明虚拟(NT Virtual)模块32122。
第二逻辑单元322包含第二虚拟快速外设组件互连标准交换模块3221以及第二非透明桥接(Non-Transparent Bridge，NT Bridge)模块3222，第二非透明桥接模块3222包含第二非透明连接(NT Link)模块32221以及第二非透明虚拟(NT Virtual)模块32222。
第一虚拟快速外设组件互连标准交换模块3211与第一测试板NGFF接口311电性连接，第一非透明连接模块32121与第二测试板NGFF接口312电性连接，第二非透明连接模块32221与第三测试板NGFF接口313电性连接，以及第二虚拟快速外设组件互连标准交换模块3221与第四测试板NGFF接口314电性连接。
测试电路板30的测试模块33是分别与第一测试板NGFF接口311至第四测试板NGFF接口314、第一虚拟快速外设组件互连标准交换模块3211、第一非透明连接模块32121、第二虚拟快速外设组件互连标准交换模块3221以及第二非透明连接模块32221电性连接，测试电路板30的测试模块33是以微控制器(Microcontroller Unit，MCU)以及逻辑电路的组合通过第一测试板NGFF接口311至第四测试板NGFF接口314以及测试板快速外设组件互连标准交换模块32对第一扩充板NGFF插槽121至第四扩充板NGFF插槽124进行快速外设组件互连标准信号的测试、电源供应测试、辅助信号输入接口(Auxiliary，AUX)测试以及系统管理总线(System Management Bus，SMBus)测试。
测试电路板30的测试板控制接口34与测试电路板30的测试模块33电性连接，测试电路板30的测试板控制接口34以及模拟电路板20的模拟板控制接口24是分别与测试控制器40电性连接，测试控制器40是通过内部集成电路总线(Inter-Integrated Circuit Bus)传输协议或是通用异步接收器/发送器(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter，UART)协议分别与测试电路板30的测试板控制接口34以及模拟电路板20的模拟板控制接口24电性连接以进行数据传输，藉以控制测试电路板30的测试模块33的测试流程以及获得与显示测试结果。
以下接着要说明本发明所揭露第二实施态样的适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统，并请参考「图2」所示，「图2」绘示为本发明适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统的第二实施态样系统方块图。
本发明所揭露第二实施态样的适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统，其包含：扩充电路板10、模拟电路板20、多个测试电路板30以及测试控制器40，扩充电路板10更包含：扩充板接口11以及多个扩充板NGFF插槽12；模拟电路板20更包含：模拟板插槽21、模拟板快速外设组件互连标准交换模块22、时脉器23以及模拟板控制接口24；测试电路板30更包含：测试板NGFF接口31、快速外设组件互连标准重定时器(Retimer)、测试模块33以及测试板控制接口34。
扩充电路板10是用以提供扩充主机板功能的用途，在第二实施态样中，扩充电路板10具有第一扩充板NGFF插槽121至第四扩充板NGFF插槽124且电性连接于扩充电路板10的扩充板接口11，扩充板NGFF插槽是采用快速外设组件互连标准插槽，第一扩充板NGFF插槽121至第四扩充板NGFF插槽124彼此之间形成串联，上述扩充板NGFF插槽的数量仅为举例说明，并不以此局限本发明的应用范畴，扩充电路板10的扩充板接口11包含快速外设组件互连标准接口、系统总线(System Bus)…等，在此仅为举例说明，并不以此局限本发明的应用范畴，扩充电路板10即为需要被测试的待测试电路板。
由于扩充电路板10是需要插接于主机板上，故在测试时则需要将扩充电路板10插接于模拟电路板20上，模拟电路板20即是模拟主机板的作用，模拟电路板20是藉由模拟电路板20的模拟板插槽21以插接扩充电路板10的扩充板接口11，即模拟电路板20的模拟板插槽21亦包含快速外设组件互连标准接口、系统总线…等，并与扩充电路板10的扩充板接口11相互对应，在此仅为举例说明，并不以此局限本发明的应用范畴。
模拟电路板20的模拟板快速外设组件互连标准交换模块22包含虚拟快速外设组件互连标准交换模块221以及非透明桥接模块222，非透明桥接模块222包含非透明连接模块2221以及非透明虚拟模块2222，虚拟快速外设组件互连标准交换模块221与第一扩充板NGFF插槽121电性连接，非透明连接模块2221与第四扩充板NGFF插槽124电性连接。
模拟电路板20的时脉器23与模拟电路板20的模拟板快速外设组件互连标准交换模块22电性连接，模拟电路板20的时脉器23是用以产生时脉信号，模拟电路板20的模拟板控制接口24与模拟电路板20的模拟板快速外设组件互连标准交换模块22电性连接，除此之外，模拟电路板20更包含驱动扩充电路板10执行工作的驱动电路。
在第二实施态样中具有第一测试电路板301至第四测试电路板304，第一测试电路板301通过第一测试板NGFF接口311插接于扩充电路板10的第一扩充板NGFF插槽121，第二测试电路板302通过第二测试板NGFF接口312插接于扩充电路板10的第二扩充板NGFF插槽122，第三测试电路板303通过第三测试板NGFF接口313插接于扩充电路板10的第三扩充板NGFF插槽123，第四测试电路板304通过第四测试板NGFF接口314插接于扩充电路板10的第四扩充板NGFF插槽124。
第一快速外设组件互连标准重定时器351与第一测试板NGFF接口311电性连接，第二快速外设组件互连标准重定时器352与第二测试板NGFF接口312电性连接，第三快速外设组件互连标准重定时器353与第三测试板NGFF端口313电性连接，第四快速外围组件互连重定时器354与第四测试板NGFF连接端口314电性连接，第一快速外设组件互连标准重定时器351至第四快速外设组件互连标准重定时器354是用以提供快速外设组件互连标准信号的转发和信号处理。
第一测试模块331与第一快速外设组件互连标准重定时器351电性连接，第二测试模块332与第二快速外设组件互连标准重定时器352电性连接，第三测试模块333与第三快速外设组件互连标准重定时器353电性连接，第四测试模块334与第四快速外设组件互连标准重定时器354电性连接，第一测试模块331至第四测试模块334是是以微控制器(Microcontroller Unit，MCU)以及逻辑电路的组合通过对应测试板NGFF接口对对应的扩充板NGFF插槽进行快速外设组件互连标准信号的测试、电源供应测试、辅助信号输入接口(Auxiliary，AUX)测试以及系统管理总线(System Management Bus，SMBus)测试。
第一测试板控制接口341与第一测试模块331电性连接，第二测试板控制接口342与第二测试模块332电性连接，第三测试板控制接口343与第三测试模块333电性连接，第四测试板控制接口344与第四测试模块334电性连接。
第一测试板控制接口341与相邻的第二测试板控制接口342电性连接，第二测试板控制接口342与相邻的第三测试板控制接口343电性连接，第三测试板控制接口343与相邻的第四测试板控制接口344电性连接，以串联第一测试电路板301至第四测试电路板304。
第四测试电路板304的第四测试板控制接口344以及模拟电路板20的模拟板控制接口24是分别与测试控制器40电性连接，测试控制器40是通过内部集成电路总线(Inter-Integrated Circuit Bus)传输协议或是通用异步接收器/发送器(UniversalAsynchronous Receiver/Transmitter，UART)协议分别与第四测试电路板304的第四测试板控制接口344以及模拟电路板20的模拟板控制接口24电性连接以进行数据传输，藉以依据第四测试电路板304至第一测试电路板301的串联顺序控制对应的测试模块的测试流程以及获得与显示测试结果。
综上所述，可知本发明与现有技术之间的差异在于本发明通过模拟电路板模拟主机板，将具有扩充板NGFF插槽的扩充电路板插接于模拟电路板上，再将测试电路板插接于扩充电路板的扩充板NGFF插槽，以进行快速外设组件互连标准信号的测试、电源供应测试、辅助信号输入端口测试以及系统管理总线测试。
藉由此一技术手段可以来解决现有技术所存在现有NGFF接口测试具有测试成本较高且未能提供较高的测试覆盖率的问题，进而达成提供低成本NGFF接口测试且提高测试覆盖率的技术功效。
虽然本发明所揭露的实施方式如上，惟所述的内容并非用以直接限定本发明的专利保护范围。任何本发明所属技术领域中的技术人员，在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式上及细节上作些许的更动。本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定者为准。

Claims (9)

1.一种适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统，其特征在于，包含：
一扩充电路板，所述扩充电路板更包含：
一扩充电路板接口；及
多个扩充电路板NGFF插槽，所述扩充电路板NGFF插槽电性连接于所述扩充电路板接口；
一模拟电路板，所述模拟电路板用以模拟主机板，所述模拟电路板更包含：
一模拟电路板插槽，用以插接所述扩充电路板接口；
一模拟电路板快速外设组件互连标准交换模块，所述模拟电路板快速外设组件互连标准交换模块与所述模拟电路板插槽电性连接；
一时脉器，与所述快速外设组件互连标准交换模块电性连接，并产生时脉信号；及
一模拟电路板控制接口，与所述模拟电路板快速外设组件互连标准交换模块电性连接；一测试电路板，所述测试电路板更包含：
多个测试电路板NGFF接口，每一个NGFF接口分别插接于所述扩充电路板NGFF插槽；
至少一测试电路板快速外设组件互连标准交换模块，所述测试电路板快速外设组件互连标准交换模块分为二逻辑单元，每一个逻辑单元包含一虚拟快速外设组件互连标准交换模块以及一非透明桥接模块，所述非透明桥接模块包含一非透明连接模块以及一非透明虚拟模块，所述虚拟快速外设组件互连标准交换模块与所述测试电路板NGFF接口其中之一以及所述非透明虚拟模块电性连接，所述非透明连接模块与另一所述测试电路板NGFF接口电性连接；及
一测试模块，所述测试模块分别与所述测试电路板NGFF接口、所述测试电路板虚拟快速外设组件互连标准交换模块以及所述非透明虚拟电性连接，用以通过所述测试电路板NGFF接口以及所述测试电路板快速外设组件互连标准交换模块对所述扩充电路板NGFF插槽进行快速外设组件互连标准信号的测试、电源供应测试、辅助信号输入端口测试以及系统管理总线测试；及
一测试电路板控制接口，与所述测试模块电性连接；及
一测试控制器，所述测试控制器分别与所述模拟电路板控制接口以及所述测试电路板控制接口电性连接，用以控制所述测试模块的测试流程以及获得与显示测试结果。
2.如权利要求1所述的适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统，其特征在于，所述模拟电路板更包含驱动所述扩充电路板执行工作的驱动电路。
3.如权利要求1所述的适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统，其特征在于，所述测试控制器是通过内部集成电路总线传输协议或是通用异步接收器/发送器协议分别与所述模拟电路板控制接口以及所述测试电路板控制接口电性连接以进行数据传输。
4.如权利要求1所述的适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统，其特征在于，所述测试模块是以微控制器以及逻辑电路的组合以对所述扩充电路板NGFF插槽进行快速外设组件互连标准的测试、电源供应测试、辅助信号输入接口测试以及系统管理总线测试。
5.一种适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统，其特征在于，包含：
一扩充电路板，所述扩充电路板更包含：
一扩充电路板接口；及
多个扩充电路板NGFF插槽，所述扩充电路板NGFF插槽电性连接于所述扩充电路板接口，且所述扩充电路板NGFF插槽彼此之间形成串联；
一模拟电路板，所述模拟电路板用以模拟主机板，所述模拟电路板更包含：
一模拟电路板插槽，用以插接所述扩充电路板接口；
一模拟电路板快速外设组件互连标准交换模块，所述模拟电路板快速外设组件互连标准交换模块包含一虚拟快速外设组件互连标准交换模块以及一非透明桥接模块，所述非透明桥接模块包含一非透明连接模块以及一非透明虚拟模块，所述虚拟快速外设组件互连标准交换模块与所述扩充电路板NGFF插槽其中之一电性连接，所述非透明连接模块与另一所述扩充电路板NGFF插槽电性连接；
一时脉器，与所述快速外设组件互连标准交换模块电性连接，并产生时脉信号；及
一模拟电路板控制接口，与所述模拟电路板快速外设组件互连标准交换模块电性连接；
多个测试电路板，所述测试电路板更包含：
一测试电路板NGFF接口，用以插接于所述扩充电路板NGFF插槽其中之一；
一快速外设组件互连标准重定时器，与所述测试电路板NGFF接口电性连接，用以提供快速外设组件互连标准信号的转发和信号处理；
一测试模块，所述测试模块与所述测试电路板NGFF接口电性连接，用以通过所述测试电路板NGFF接口对所述扩充电路板NGFF插槽进行快速外设组件互连标准信号的测试、电源供应测试、辅助信号输入接口测试以及系统管理总线测试；及
一测试电路板控制接口，每一个测试电路板控制接口与相邻的所述测试电路板的所述测试电路板控制接口电性连接，以串联所述测试电路板，且所述测试电路板控制接口与所述测试模块电性连接；及
一测试控制器，所述测试控制器分别与所述模拟电路板控制接口以及所述测试电路板控制接口电性连接，用以控制所述测试模块的测试流程以及获得与显示测试结果。
6.如权利要求5所述的适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统，其特征在于，所述模拟电路板更包含驱动所述扩充电路板执行工作的驱动电路。
7.如权利要求5所述的适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统，其特征在于，所述测试控制器是通过内部集成电路总线传输协议或是通用异步接收器/发送器协议分别与所述模拟电路板控制接口以及所述测试电路板控制接口电性连接以进行数据传输。
8.如权利要求5所述的适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统，其特征在于，所述测试模块是以微控制器以及逻辑电路的组合以对所述扩充电路板NGFF插槽进行快速外围组件互连信号的测试、电源供应测试、辅助信号输入接口测试以及系统管理总线测试。
9.如权利要求5所述的适用于扩充电路板中NGFF插槽的测试系统，其特征在于，所述测试控制器是依据所述测试电路板的串联顺序控制所述测试模块的测试流程以及获得与显示测试结果。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1349329A (zh) * 2000-10-18 2002-05-15 深圳市中兴通讯股份有限公司上海第二研究所 用户板通用测试设备
JP3595305B2 (ja) * 2002-01-23 2004-12-02 株式会社エスケーエレクトロニクス 実装前試験用プローブ
CN103678081A (zh) * 2012-09-18 2014-03-26 英业达科技有限公司 用于快捷外设互联标准插槽的检测系统及其方法
CN104678279A (zh) * 2013-11-29 2015-06-03 英业达科技有限公司 使用测试向量测试连接插槽的系统及其方法
CN104885067A (zh) * 2012-10-29 2015-09-02 高通股份有限公司 在基于pci的接口上操作基于m-phy的通信、以及相关电缆、连接器、系统和方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102346702B (zh) * 2010-08-03 2013-10-09 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 Ieee1394接口测试装置
CN102681532B (zh) * 2012-05-11 2014-07-16 杭州速玛科技有限公司 一种bcm的仿真测试系统
US8882522B2 (en) * 2013-04-09 2014-11-11 Concraft Holdings Co., Ltd. Electrical connector
CN105701044A (zh) * 2014-11-28 2016-06-22 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 电子装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1349329A (zh) * 2000-10-18 2002-05-15 深圳市中兴通讯股份有限公司上海第二研究所 用户板通用测试设备
JP3595305B2 (ja) * 2002-01-23 2004-12-02 株式会社エスケーエレクトロニクス 実装前試験用プローブ
CN103678081A (zh) * 2012-09-18 2014-03-26 英业达科技有限公司 用于快捷外设互联标准插槽的检测系统及其方法
CN104885067A (zh) * 2012-10-29 2015-09-02 高通股份有限公司 在基于pci的接口上操作基于m-phy的通信、以及相关电缆、连接器、系统和方法
CN104678279A (zh) * 2013-11-29 2015-06-03 英业达科技有限公司 使用测试向量测试连接插槽的系统及其方法

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