CN108139201A - 使用靶向空间光谱检测的标签读取 - Google Patents

Abstract

一种用于确定光谱的系统，包括接口和处理器。接口被配置成接收针对空间位置阵列和光谱配置集合的强度数据的样本集合。处理器被配置成使用强度数据的样本集合来确定关注区域，以及确定针对关注区域的光谱峰值。

Description

使用靶向空间光谱检测的标签读取

其他申请的交叉引用

本申请要求2015年11月24日提交的题为“TAG READING USING TARGETED SPATIALSPECTRAL DETECTION”的美国临时专利申请No.62/259,244的优先权，该申请出于所有目的而通过引用结合于本文。

背景技术

通常，高光谱成像被用于对象检测，诸如患病的作物、军事目标或地质构造。在这些情况中，一旦检测到对象，则工作完成。所以高光谱立方体中的帧的数量被设置成正好足够来确保检测工作可以完成。然而，对于确定光谱而言，必须实现定位和解码。所以，仅检测并不是足够的。定位和解码比检测需要更大量的数据，从而在读取器的存储和处理能力受到挑战的情况下产生问题。

附图说明

在以下详细描述和附图中公开了本发明的各种实施例。

图1是图示了用于光谱响应检测的光学机构的实施例的示图。

图2是图示了法布里珀罗（Fabry-Perot）干涉仪的实施例的示图。

图3是图示了光谱数据立方体的实施例的示图。

图4是图示了干涉仪透射率的实施例的示图。

图5图示了干涉仪透射峰值波长位置的实施例的示图。

图6A是图示了参数空间中的矢量的实施例的示图。

图6B是图示了作为干涉仪间隙的函数的角度测量结果的实施例的示图。

图7是图示了用于使用靶向空间光谱检测进行光谱读取的过程的实施例的流程图。

图8是图示了用于使用数据的样本集合确定关注区域的过程的实施例的流程图。

图9是图示了用于确定针对关注区域的光谱峰值的过程的实施例的流程图。

具体实施方式

可以以各种方式实现本发明，包括作为过程；装置；系统；物质的组成；体现在计算机可读存储介质上的计算机程序产品；和/或处理器，诸如被配置成执行指令的处理器，该指令被存储于耦合到处理器的存储器上和/或由耦合到处理器的存储器所提供。在本说明书中，这些实现方式或本发明可以采用的任何其他形式可以被称为技术。通常，所公开过程的步骤的顺序可以在本发明的范围内进行变更。除非另行陈述，否则诸如被描述为配置成实行任务的处理器或存储器之类的部件可以被实现为临时配置成在给定时间实行任务的通用部件，或者被制造来实行该任务的专用部件。如本文中所使用的，术语“处理器”指代被配置成处理诸如计算机程序指令之类的数据的一个或多个设备、电路和/或处理核。

下文与图示了本发明原理的附图一起提供了对本发明的一个或多个实施例的详细描述。结合这样的实施例对本发明进行描述，但是本发明不限于任何实施例。本发明的范围仅受权利要求的限制，以及本发明涵盖许多替换方式、修改和等价方式。在以下描述中阐述了许多具体细节，以便提供对本发明的透彻理解。出于示例的目的而提供这些细节，并且可以在没有这些具体细节中的一些或所有的情况下根据权利要求来实践本发明。出于清楚性的目的，尚未详细描述与本发明有关的本技术领域中已知的技术材料，以免不必要地使本发明晦涩难懂。

一种用于确定光谱的系统包括接口和处理器。接口被配置成接收针对空间位置阵列和光谱配置集合的强度数据的样本集合，其中每个光谱配置检测光的不同波长或波长组合。处理器被配置成使用数据的样本集合来确定关注区域，以及确定针对关注区域的光谱峰值。

在一些实施例中，针对光谱解码，既需要找到对象又需要对所反射的光谱进行解码。可以通过对检测和提取/解码的操作进行拆分来节省存储器、时间和/或处理能力。

在一些实施例中，对于确定光谱而言，可以通过在帧出现时处理它们而不保存它们来节省存储器，以使得不必须将对于光谱检测而言所需要的全部帧集合保持在存储器中。例如，可以通过沿着光谱轴在所接收到的强度值的标准偏差中寻找局部最大值来找到对象（例如，标签）。在另一示例中，可以通过在将输入数据进行滤波（例如，运行卷积滤波器—例如，在周围具有抑制的匹配滤波器）之后寻找最大值而寻找峰值来找到对象（例如，标签）。在一些实施例中，按顺序进行滤波和寻找标准偏差中的最大值来标识关注区域。在一些实施例中，按顺序进行滤波和寻找两个频率范围中的峰值来标识关注区域。在这种情况下，每个帧是在指定波长或波长集合下所收集的样本的数字化图像，以及使用不同波长或波长集合来收集不同的帧。为了计算标准偏差，需要帧的和以及帧的平方和。所以当帧出现时，在帧的每个位置中的每个强度值及其平方均被添加到累加器。然后每个帧被下一帧覆写。一旦收集了所有帧，则针对帧中的每个位置对两个累加值（例如，和以及平方和）实行简单操作，以得到在帧的该位置中的值的标准偏差。以这种方式，创建了新的帧（例如，图），其具有与原始帧相同的空间尺寸，但是包含遍及每个点处的帧的标准偏差。然后图中的局部最大值对应于全高光谱立方体上的候选标签的位置。在各种实施例中，当超立方体被捕获时将本方法应用于全超立方体，或者将本方法应用于超立方体的子集。

在一些实施例中，使用沿着光谱轴的滤波来实现光谱检测，假设滤波器核比全光谱轴更短。利用滤波，等于核长度的帧的子集一度被保持在存储器中，而不是仅用于标准偏差的那一帧。这就是我们一直所称的顺序处理。为了确定用于该步骤的核长度，我们通过在滤波方法中隔离光谱特征来找到足以可靠地检测对象的帧的最小数量。例如，在滤波器核被调谐成牢固耦合到具有等于全光谱轴的长度的1/10的光谱宽度的光谱特征的情况下，核长度可能是全光谱轴长度的1/10。或者，其可以通过在标准偏差方法中捕获许多光谱特征的子集来完成。例如，靶向光谱特征可以是光谱中的强峰值或谷值的集合，其用于增加沿着光谱轴的标准偏差。而且，在存储器不是约束的情况下，该步骤中的帧可以被存储在存储器中并且可以在下文的最后步骤中被再次使用。在该情况下，通过不对整个高光谱立方体进行处理来节省处理能力，以及通过在高光谱立方体的捕获仍正在进行的同时计算关注区域来节省时间。在顺序处理的末尾，已经在空间轴上确定了2D阵列，该2D阵列在候选对象呈现之处具有较高值，以及在候选对象没有呈现之处具有较低值。根据该阵列，选择很可能包含对象的关注区域。例如，可以通过搜索2D阵列以得到最大值（下述点：其所有邻域都小于该点自身）来选择关注区域。然后可以以值的降序对最大值进行排序，创建点的列表，其中列表中的第一个最可能对应于标签，列表中的第二个是第二最可能的，等等。然后可以通过将列表中的每个点周围的固定范围的点包括在内来确定关注区域，其中根据对象的预期大小来确定范围的大小。该关注区域则是用于分析的焦点。

在一些实施例中，此时运行全扫描来提取光谱信息，该光谱信息具有足够的帧来提取对象信息的。但是在数据收集期间，仅保存了关注区域中的高光谱信息。这极大地减少了存储器中所保存的数据量。例如，在对象包括读取器视场的1%的情况下，以这种方式可以实现大约99%的数据缩减。

在一些实施例中，所收集的数据不是经计算的光谱，所以有必要进行进一步处理来根据所收集的数据获得光谱。在读取器是基于例如处于低精细度（low_finesse）傅里叶变换模式的法布里珀罗干涉仪的情况下，则从所捕获的数据到光谱的转换需要傅里叶变换。如果仅将关注区域处理成光谱，则对对象的光谱进行解码所需要的计算工作量也进一步减少。一旦获得了来自对象（诸如标签）的光谱，则解码可以继续进行。在一些实施例中，标签包括具有选择性反射的反射器。在各种实施例中，反射器包括以下各项中的一项或多项：褶皱标签、布拉格反射器或者任意其他适当的反射器。在各种实施例中，标签包括以下材料中的一项：硅、二氧化硅、氮化硅、掺杂硅或任意其他适当的材料。在一些实施例中，可以使用绝对或相对光谱测量设备、装置或系统来读取每个标签的唯一光学标记。在一些实施例中，标签包括硅晶片的表面，其被蚀刻成具有通过蚀刻进行编码的光谱码。从被蚀刻的晶片的表面移除薄层并且将其划分成小标签，以及所得标签包含复杂的多孔纳米结构，其在电化学合成期间被规划以显示唯一的反射率光谱。然后通过高温烘烤步骤来将标签氧化，以将结晶的、纳米多孔硅标签转变成非晶的、纳米多孔二氧化硅。该烘烤步骤稳定了纳米多孔的结构以对抗进一步的氧化（因此稳定了光谱标记）并且提供了要被表征为GRAS赋形剂（excipient）的标签。

在一些实施例中，光谱配置通过在检测器中检测到光之前对从对象反射的光进行光谱滤波来检测光的不同波长或波长组合。在各种实施例中，光谱滤波包括法布里珀罗滤波器、干涉滤波器或任意其他适当的光谱滤波器。在一些实施例中，光谱滤波器是可调谐的。在一些实施例中，光谱滤波器是固定滤波器的集合，该固定滤波器处于单独检测器的前面或者在固定检测器的前面被机械地交换或光学地切换。在各种实施例中，法布里珀罗滤波器是机械可调谐的、电光可调谐的（例如，在部分反射镜之间的介质的折射率上的变化）、声光可调谐的或任意其他适当的滤波器。

图1是图示了用于光谱响应检测的光学机构的实施例的示图。图1包括测量区域100，其包括用于产生光学光谱的一个或多个区域（例如，区域102）。由光104照亮测量区域100。反射光106包括由区域102所反射的光。反射光106由透镜108聚焦、穿过滤波器110并且由光学检测器112捕获。滤波器110包括用于在某些频率而不是在其他频率下透射光的滤波器。光学检测器112包括用于检测光学强度的光学检测器。光谱响应检测器控制系统114包括用于与光学检测器112交互的光谱响应检测器控制系统。光谱响应检测器控制系统114向光学检测器112提供控制信息（例如，指示来捕获数据的控制信息），以及从光学检测器112接收光学强度数据。

在一些实施例中，用于产生光学光谱的区域（例如，区域102）包括光学标签（例如，被制定成反射具有可辨认光谱的光的光学标签）。在各种实施例中，光104包括宽带光、窄带光、经滤波的光、来自发光二极管的光、激光或任意其他适当的光。在各种实施例中，光104从单个点、以单个角度、从多个角度入射来测量区域100，或者以任意其他适当的方式入射。在一些实施例中，滤波器110包括可调谐光学滤波器。在一些实施例中，滤波器110包括法布里珀罗干涉仪。在一些实施例中，光学检测器112包括光学检测器像素阵列，以用于检测光学强度阵列。在一些实施例中，光学检测器像素阵列包括x轴和y轴。在一些实施例中，光学检测器像素阵列中的每个像素包括光学检测器集合，每个光学检测器包括颜色滤波器（例如，每个像素包括三个检测器，第一检测器包括红色滤波器，第二检测器包括绿色滤波器，以及第三检测器包括蓝色滤波器）。在一些实施例中，光谱响应检测器控制系统114与滤波器110交互（例如，用以指示可调谐滤波器属性）。在一些实施例中，光谱响应检测器控制系统114与滤波器110交互以指示法布里珀罗干涉仪间隙大小。在一些实施例中，光谱响应检测器控制系统114被配置成接收校准数据。在一些实施例中，校准数据包括针对空间位置阵列和用于单色源的光谱配置的范围的强度数据集合（例如，针对法布里珀罗干涉仪的间隙大小的集合）。

图2是图示了法布里珀罗干涉仪的实施例的示图。在一些实施例中，法布里珀罗干涉仪200包括图1的滤波器110。法布里珀罗干涉仪200包括反射镜202和反射镜204。反射镜202和反射镜204中的每个包括部分反射的反射镜（例如，一些光能够穿过并且一些光被反射）。反射镜202和反射镜204中的每个包括在一侧上的反射镜镀银层（例如，反射镜202包括在其右侧上的反射镜镀银层，如在图2中示出的，以及反射镜204包括在其左侧上的反射镜镀银层，如在图2中示出的）。反射镜202和反射镜204由压电元件206和压电元件208保持在一起。压电元件206和压电元件208包括用于改变大小的压电元件。压电元件206和压电元件208根据所施加的电压来改变大小。当压电元件206和压电元件208改变大小时，反射镜202的反射镜镀银层与反射镜208的反射镜镀银层之间的间隙发生改变。改变反射镜202的反射镜镀银层与反射镜208的反射镜镀银层之间的间隙使法布里珀罗干涉仪200的光学属性（例如，光透射和反射属性）发生改变。以这种方式，法布里珀罗干涉仪200包括可调谐的光学滤波器。

在一些实施例中，反射镜镀银层包括部分反射的金属层（例如，银层、铝层、钛层等等）。在各种实施例中，反射镜202和反射镜204由1个、2个、3个、4个、5个或任意其他适当数量的压电元件保持在一起。在一些实施例中，将反射镜202和反射镜204进行分离的压电元件的空间定位使得能够实现反射镜202与反射镜204之间的角度的调节。

在一些实施例中，将反射镜以固定的距离进行分离，以及反射镜内部的介质（例如，电光地或声光地）改变其折射率，以及替换间隙大小的集合，存在不同的折射率改变的路径长度的集合。

图3是图示了光谱数据立方体的实施例的示图。在一些实施例中，图3的光谱数据立方体300包括表示由光学检测器（例如，图1的光学检测器112）所测量的数据的立方体。光谱数据立方体300包括由光学检测器所记录的数据的立方体。光谱数据立方体300的x轴对应于光学检测器的x轴，以及光谱数据立方体300的y轴对应于光学检测器的y轴。光谱数据立方体300的z轴对应于干涉仪间隙大小（例如，法布里珀罗干涉仪的反射镜间隙大小）。在给定数据位置处示出的数据强度（例如，对应于光学检测器上给定的x和y位置以及给定的干涉仪间隙大小）指示了由光学检测器所接收到的光的强度。

在一些实施例中，干涉仪间隙大小包括图2的法布里珀罗干涉仪200的间隙大小。在各种实施例中，光谱数据立方体300包括具有以下属性中的一个或多个的光谱数据超立方体：包括三个光强度测量结果的每个数据位置、在给定位置处由单独的光学检测器所采集的每个测量结果、与不同的颜色滤波器相关联的每个光学检测器或者任意其他适当的属性。在一些实施例中，在给定的检测器位置处测量与不同的干涉仪间隙大小相关联的多个峰值。

图4是图示了干涉仪透射率的实施例的示图。在一些实施例中，图4的曲线400图示了法布里珀罗干涉仪（例如，图2的法布里珀罗干涉仪200）的光透射率对比光波长。在示出的示例中，图4的曲线400图示了针对给定间隙大小的法布里珀罗干涉仪的光透射率对比光波长。针对给定的间隙大小，看到多个光透射峰值。在曲线400中看到三个光透射峰值。在各种实施例中，看到作为间隙大小的函数的两个光透射峰值、看到作为间隙大小的函数的三个光透射峰值、看到作为间隙大小的函数的四个光透射峰值或者看到作为间隙大小的函数的任意其他适当数量的光透射峰值。

图5是图示了干涉仪透射峰值波长位置的实施例的示图。在一些实施例中，曲线500的集合图示了针对法布里珀罗干涉仪（例如，图2的法布里珀罗干涉仪200）的透射峰值位置的集合。在示出的示例中，曲线500的集合图示了在法布里珀罗干涉仪的干涉仪间隙发生改变时，干涉仪透射峰值位置集合中的每个的位置。在示出的示例中，曲线500的集合包括4条曲线。针对给定的间隙大小（例如，间隙大小g_i），存在不同波长下的透射峰值的集合（例如，如由图4的曲线400示出的）。

图6A是图示了参数空间中的矢量的实施例的示图。在一些实施例中，图6A的矢量是强度矢量的二维表示（例如，包括由第一颜色检测器所测量的第一方向上的第一颜色强度和由第二颜色检测器所测量的第二方向上的第二颜色强度的矢量）。在一些实施例中，在三维空间（例如，三维对应于三个颜色检测器）中计算和显示矢量。在示出的示例中，矢量λ₁和λ₂包括针对法布里珀罗干涉仪（例如，图2的法布里珀罗干涉仪200）的校准矢量。校准矢量集合与法布里珀罗干涉仪的每个间隙大小相关联。校准矢量集合中的每个校准矢量与关联于间隙大小的透射峰值相关联。确定校准矢量包括利用透射峰值波长的单色光照亮法布里珀罗干涉仪，以及记录由形成像素的光学检测器集合中的每个光学检测器（例如，与不同的颜色滤波器相关联的每个光学检测器）所测量的强度。每个光学检测器与参数空间的轴相关联。所测量的强度矢量600包括与光学测量结果相关联的矢量。在一些实施例中，所测量的强度矢量600包括在图3的数据立方体300内的一个点处的数据的表示。角度θ₁和θ₂包括在校准矢量与所测量的强度矢量600之间形成的角度。

在各种实施例中，强度矢量包括：二维参数空间中的强度矢量（例如，表示两个颜色强度）、三维参数空间中的强度矢量（例如，表示三个颜色强度）、五维空间中的强度矢量（例如，表示五个颜色强度）或者任意其他适当的参数空间中的强度矢量。

图6B是图示了作为干涉仪间隙的函数的角度测量结果的实施例的示图。在示出的示例中，随着干涉仪间隙变化对θ₁和θ₂进行标绘。看到θ₂在关注的间隙大小处下降，同时看到θ₁上升，指示所测量的强度矢量朝向校准矢量λ₂摆动。这种摆动指示了所测量的光在与校准矢量λ₂相关联的透射峰值而不是与校准矢量λ₁相关联的透射峰值处穿过法布里珀罗干涉仪。在一些实施例中，θ₁和θ₂包括如在图6A中示出的θ₁和θ₂。

在一些实施例中，在三维中，朝向校准矢量以三维来测量角度。在一些实施例中，当间隙增量或减量时，在角度作为间隙的函数朝向校准矢量之一移位的情况下，确定的是峰值对应于与校准矢量相关联的峰值。

图7是图示了用于使用靶向空间光谱检测进行光谱读取的过程的实施例的流程图。在700中，接收针对空间位置阵列和光谱配置的范围的强度数据的样本集合。在701中，变换空间位置阵列中的数据以用于旋转、平移和/或梯形失真（key stoning）。在702中，使用数据的样本集合来确定关注区域。在704中，确定针对关注区域的光谱峰值。

在一些实施例中，图7的过程由光谱响应检测器控制系统114来执行。在一些实施例中，在702中确定关注区域集合。在一些实施例中，在704中确定针对关注区域集合中的所有关注区域的光谱峰值。在一些实施例中，确定针对关注区域的多于一个光谱峰值。在一些实施例中，确定一个或多个光谱峰值包括将标记进行解码。在一些实施例中，标记包括标签标记。

在一些实施例中，在与一个光谱配置相关联的数据的空间阵列内标识光谱峰值。为了使与另一光谱配置相关联的数据的空间阵列内所标识的峰值与这一峰值相对应，在一些实施例中，校正空间阵列的数据以用于旋转、平移和/或梯形失真（例如，梯形扩缩）。在一些实施例中，在大于关注区域的区域中处理空间阵列数据，以确保与一个光谱配置相关联的峰值可以匹配于与另一光谱配置相关联的峰值。例如，采集与一个光谱配置相关联的数据的第一空间阵列，以及然后在之后的时间采集与另一光谱配置相关联的数据的空间阵列。在两个时间之间，可能的是数据采集设备被旋转、平移和/或倾斜，使得数据的两个对应的空间阵列中的数据利用旋转、平移和/或梯形失真平移而彼此相关。

图8是图示了用于使用数据的样本集合确定关注区域的过程的实施例的流程图。图8的流程图图示了用于使用标准偏差计算确定关注区域的过程的实施例。在800中，接收与光谱配置相关联的数据帧。在801中，变换数据帧以用于旋转、平移和/或梯形失真。例如，为了得到与不同光谱配置相关联的数据的空间阵列之间的对应性，在空间阵列之间实行变换（如果有必要的话），以确保阵列中的数据在空间上彼此相关联。在一些实施例中，数据帧中的基准点被用来确定变换。在802中，将数据帧添加到值累加器。在数据帧包括第一数据帧的情况下，将值累加器置位成数据帧的值。在804中，将数据帧值求平方（例如，将数据帧值的每个值求平方）。在806中，将经平方的数据帧值添加到平方值累加器。在数据帧包括第一数据帧的情况下，平方值累加器被置位成经平方的数据帧的值。在808中，确定是否存在更多数据帧。在存在更多数据帧的情况下，控制传递到800。在不存在更多数据帧的情况下，控制传递到810。在810中，确定标准偏差。确定针对数据帧集合的标准偏差包括：跨越数据帧集合来确定针对数据帧中的每个点的标准偏差。可以通过首先通过将值累加器的值除以所接收到的数据帧的总数确定数据平均值来确定针对数据帧集合的标准偏差。可以通过将平方值累加器的值除以所接收到的数据帧的总数来附加地确定经平方的数据的平均值。然后可以通过确定经平方的数据的平均值与数据平均值的平方之间的差的平方根来确定针对数据帧集合的标准偏差。在812中，通过确定标准偏差数据中的局部最大值（例如，跨越数据帧的局部最大值）来标识一个或多个关注区域。

在一些实施例中，图8的过程实现图7的702。在一些实施例中，数据帧包括数据像素的二维阵列。在一些实施例中，每个数据像素包括三个有颜色的像素，每个有颜色的像素与不同颜色的颜色滤波器相关联。在一些实施例中，除了标准偏差计算之外的一种或多种信号处理技术被用于处理数据立方体的光谱轴（例如，阈值化、滤波、匹配滤波等等）。

图9是图示了用于确定针对关注区域的光谱峰值的实施例的流程图。在一些实施例中，图9的过程实现图7的704。在900中，提供了用以捕获针对一个或多个关注区域的另外的强度数据的指示。在902中，接收针对一个或多个关注区域的另外的强度数据。在904中，将强度数据变换到参数空间（例如，图6A中示出的参数空间）中。在906中，确定参数空间中的强度数据与参数空间中的校准数据之间的差。在908中，确定光谱峰值（例如，通过确定参数空间中的校准数据矢量来确定，其中参数空间中的强度数据朝向该校准数据矢量展现出移动）。

虽然出于理解清楚性的目的已经在一些细节上描述了前述实施例，但是本发明不限于所提供的细节。存在实现本发明的许多替换方式。所公开的实施例是说明性的而非限制性的。

Claims (24)

1.一种用于确定光谱的系统，包括：

接口，被配置成接收针对空间位置阵列和光谱配置集合的强度数据的样本集合；以及

处理器，被配置成：

使用所述强度数据的样本集合来确定关注区域；以及

确定针对所述关注区域的光谱峰值。

2.根据权利要求1所述的系统，其中针对空间位置阵列和光谱配置集合的强度数据的样本集合包括：针对光谱配置集合中的每个光谱配置在空间位置阵列中的每个位置处的成像测量结果。

3.根据权利要求1所述的系统，其中所述强度数据的样本集合包括三个颜色强度数据。

4.根据权利要求1所述的系统，其中所述空间位置阵列包括空间位置的二维阵列。

5.根据权利要求1所述的系统，其中所述光谱配置集合包括法布里珀罗干涉仪间隙大小的集合。

6.根据权利要求1所述的系统，其中所述光谱配置集合包括跨越宽间隙范围的间隙大小的稀疏集合。

7.根据权利要求1所述的系统，其中所述光谱配置集合包括预定的窄间隙范围内的间隙大小的群集。

8.根据权利要求7所述的系统，其中所述预定的窄间隙范围至少部分地基于已知的参考峰值。

9.根据权利要求1所述的系统，其中使用滤波器来确定所述关注区域。

10.根据权利要求1所述的系统，其中使用阈值来确定所述关注区域。

11.根据权利要求1所述的系统，其中使用标准偏差的计算来确定所述关注区域。

12.根据权利要求1所述的系统，其中所述关注区域包括多个关注区域中的一个。

13.根据权利要求1所述的系统，其中所述接口进一步被配置成接收校准数据。

14.根据权利要求13所述的系统，其中所述校准数据包括：针对空间位置的校准阵列和用于单色源的光谱配置的校准集合的强度数据的校准集合。

15.根据权利要求1所述的系统，其中确定针对关注区域的光谱峰值包括提供用以捕获针对所述关注区域的另外的强度数据的指示。

16.根据权利要求1所述的系统，其中确定针对关注区域的光谱峰值包括：接收针对所述关注区域的另外的强度数据。

17.根据权利要求1所述的系统，其中确定针对所述关注区域的光谱峰值包括：

将所述强度数据变换到参数空间中；

确定所述参数空间中的强度数据与所述参数空间中的校准数据之间的差；以及

确定所述光谱峰值。

18.根据权利要求1所述的系统，其中所述关注区域包括关注区域集合中的一个关注区域。

19.根据权利要求18所述的系统，其中所述处理器被进一步配置成确定用于与关注区域集合相对应的光谱峰值集合。

20.根据权利要求1所述的系统，其中所述处理器进一步被配置成确定针对所述关注区域的多于一个光谱峰值。

21.根据权利要求1所述的系统，其中所述处理器被进一步配置成将标记进行解码。

22.根据权利要求21所述的系统，其中所述标记包括标签标记。

23.一种用于确定光谱的方法，包括：

接收针对空间位置阵列和光谱配置集合的强度数据的样本集合；

使用处理器利用所述数据的样本集合来确定关注区域；以及

确定针对所述关注区域的光谱峰值。

24.一种用于确定光谱的计算机程序产品，所述计算机程序产品被体现在非临时性计算机可读存储介质中，并且包括计算机指令，所述计算机指令用于：

接收针对空间位置阵列和光谱配置集合的强度数据的样本集合；

使用数据的样本集合来确定关注区域；以及

确定针对所述关注区域的光谱峰值。