CN108121097A - 显示面板 - Google Patents

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Abstract

一种显示面板，包括：多个触摸块，所述多个触摸块矩阵地布置并且每个触摸块都与多个像素区域中的两个或更多个相邻像素区域对应；和第一到第四测试信号线，自动探测单元通过所述第一到第四测试信号线提供第一到第四测试信号。因此，通过使用第一到第四测试信号，在模块化工艺之前不仅能够检查图像输出功能中的缺陷，而且还能够检查触摸感测功能中的缺陷。

Description

显示面板
技术领域
本发明涉及一种显示面板，尤其涉及一种具有触摸感测功能的显示面板。
背景技术
平板显示装置应用于诸如TV、移动电话、膝上型电脑和平板之类的各种电子装置。为此，已进行了对薄、轻和低功耗显示装置的研发。
平板显示装置通常包括液晶显示装置(LCD)、等离子显示面板装置(PDP)、场发射显示装置(FED)、电致发光显示装置(ELD)、电润湿显示装置(EWD)和有机发光显示装置(OLED)。
一般的平板显示装置包括彼此面对结合的一对基板以及布置在该对基板之间并且包括偏光材料或发光材料的显示面板。
在一示例中，液晶显示装置包括使用液晶材料作为偏光材料的液晶显示面板。液晶显示面板包括彼此面对结合的一对基板和布置在该对基板之间并且包括将光偏振的液晶材料的液晶层。
液晶显示面板在用于显示图像的显示区域中定义的多个像素区域的每一个的像素电极与公共电极之间产生电场。由于液晶层的液晶材料的倾角通过电场改变，所以每个像素区域的光透射率被调整。如此，液晶显示面板可通过调整每个像素区域的光透射率而在显示区域中显示图像。
优点在于实现薄、轻和低功耗显示装置的液晶显示装置已用于各种电子装置，诸如膝上型电脑、监视器、自动化设备和便携式通讯设备。
为了提高用户的便利性，具有包括触摸感测功能的结构的显示装置已被开发并商业化。触摸感测功能是感测被人的手指或物体接触的显示区域中的位置的功能，这可用作直观地接收用户指令的输入的装置。
例如，在显示装置中包括触摸感测功能的方法可包括在显示面板上贴附用于触摸感测功能的单独触摸面板的外挂型(add-on type)和使用显示面板的图像输出功能的至少一个元件实现触摸感测功能的内嵌型(in-cell type)。
在外挂型中，因为单独设置触摸面板，所以图像输出功能和触摸感测功能可单独执行而没有相互影响，因而可很容易检查触摸面板中的缺陷。换句话说，在外挂型中，因为可在将触摸面板贴附至显示面板之前检查触摸面板中的缺陷，所以显示面板的缺陷率可与触摸感测功能中的缺陷无关。然而，根据外挂型，由于增加单独的触摸面板，所以在使显示装置轻薄方面存在限制，并且因为从液晶显示面板发射的光由于触摸面板而稍微损耗，所以显示特性劣化。
相反，与外挂型相比，因为显示装置不包括单独的触摸面板，所以内嵌型优点在于使显示装置轻薄。然而，由于图像输出功能和触摸感测功能共用元件，所以以时分方法执行图像输出功能和触摸感测功能，因而显示面板的缺陷率受触摸感测功能中的缺陷影响。
一般来说，在制造内嵌型显示面板之后，可通过使用利用自动探测单元的自动探头检查方法检查显示面板。
根据常规的自动探头检查方法，在自动探测单元和显示面板经由设置在显示面板中的测试焊盘彼此连接之后，通过使用自动探测单元给显示面板的多个子像素提供相同的像素信号和相同的公共信号。因而，可通过检查子像素的亮度是否均匀地产生来检查图像输出功能中的缺陷。然而，当使用常规的自动探测单元时，因为给子像素提供相同的公共信号，所以仅可检查图像输出功能中的缺陷，但不会检查触摸感测功能中的缺陷。
因此，一般在将驱动单元连接至显示面板的模块化工艺之后通过使用驱动单元检查内嵌型显示面板的触摸感测功能中的缺陷。换句话说，因为在模块化工艺之后检查显示面板的触摸感测功能中的缺陷，所以显示装置的产量降低并且在降低显示装置的制造成本方面存在限制。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种显示面板，其中通过使用自动探测单元不仅可检查图像输出功能中的缺陷，而且还可检查触摸感测功能中的缺陷。
本发明的目的不限于上述目的，本领域技术人员通过下面的描述可理解到其他目的和优点。此外，将很容易理解到，可通过所附权利要求中所述的手段及其组合实现本发明的目的和优点。
根据本发明的一个方面，一种显示面板包括：多个触摸块，所述多个触摸块矩阵地布置并且每个触摸块都与多个像素区域中的两个或更多个相邻像素区域对应；和第一到第四测试信号线，自动探测单元通过所述第一到第四测试信号线提供第一到第四测试信号。
与所述多个触摸块中在第一方向上彼此相邻的四个触摸块对应的四条布线可连接至彼此相同的第一到第四测试信号线。与所述多个触摸块中的、在与所述第一方向交叉的第二方向上彼此相邻的四个触摸块对应的四条布线可连接至彼此不同的第一到第四测试信号线。
被顺序选择的第一到第四测试信号中的任意一个可以以第一电压电平提供，并且除被选择的测试信号之外的第一到第四测试信号中的其他测试信号可以以与所述第一电压电平不同的第二电压电平提供。
附图说明
图1图解了根据本发明一实施方式的显示面板；
图2图解了图1的触摸块、布线、第一到第四测试信号线和开关单元；
图3到6图解了根据本发明一实施方式的显示面板的检查方法；
图7到9图解了在图3的工艺中检查触摸感测功能中的缺陷的示例；
图10图解了根据本发明另一实施方式的显示面板。
具体实施方式
上述目的、特征和优点将从参照附图的详细描述变得显而易见。足够详细地描述实施方式是为了使本领域技术人员容易实施本发明的技术构思。为了不会不必要地使本发明的精神模糊不清，可省略已知功能或构造的详细描述。下文中，将参照附图详细描述本发明的实施方式。在整个附图中，相似的参考标记表示像素的要素。
首先，将参照图1和2描述根据本发明一实施方式的显示面板。
图1图解了根据本发明一实施方式的显示面板。图2图解了图1的触摸块、布线、第一到第四测试信号线和开关单元。
如图1中所示，根据本发明一实施方式的显示面板100可包括用于根据图像输出功能显示图像的显示区域AA、以及位于显示区域AA外部的非显示区域NA。
显示面板100可包括：定义在显示区域AA中的多个像素区域PA；与像素区域PA之中的两个或更多个相邻像素区域对应的多个触摸块110；第一、第二、第三和第四测试信号线TSL1、TSL2、TSL3和TSL4(130)，自动探测单元200通过第一、第二、第三和第四测试信号线TSL1、TSL2、TSL3和TSL4(130)提供第一、第二、第三和第四测试信号；以及布线140，布线140连接在第一、第二、第三和第四测试信号线TSL1、TSL2、TSL3和TSL4(130)的每一条与每个触摸块110之间。
显示面板100可进一步包括：测试焊盘部120，测试焊盘部120布置在非显示区域NA中的与显示区域AA的一侧相邻的焊盘区域的相对侧处并且包括与自动探测单元200连接的焊盘；和开关单元150，开关单元150包括布置在第一到第四测试信号线TSL1、TSL2、TSL3和TSL4的任意一条与每条布线140之间的多个测试驱动开关。
根据本发明一实施方式的显示面板100包括内嵌型触摸感测功能以及图像输出功能。为此，显示面板100可包括对应于像素区域PA的多个像素电极(未示出)以及每个都与相邻的两个或更多个像素区域PA对应的触摸块110。
像素区域PA对应于多个子像素并且矩阵地布置在显示区域AA中。因此，对应于像素区域PA的像素电极也矩阵地布置在显示区域AA中。
触摸块110矩阵地布置在显示区域AA中。每个触摸块110对应于相邻的两个或更多个像素区域PA。可根据触摸感测功能的灵敏度和精度、以及显示区域AA的尺寸和分辨率确定布置在显示区域AA中的触摸块110的数量。在便携式紧凑型显示面板的示例中，触摸块110可按照18行30列矩阵地布置。
测试焊盘部120布置在焊盘区域中，焊盘区域是非显示区域NA的一部分并且连接至自动探测单元200。
自动探测单元200是在将驱动单元连接至显示面板100的模块化工艺之前提供信号以检测显示面板100的缺陷的装置。
根据本发明一实施方式，自动探测单元200提供对应于像素电极的像素信号、对应于触摸块110的第一到第四测试信号、以及对应于第一到第四测试信号的提供的测试使能信号STE。
自动探测单元200提供的像素信号经由连接在测试焊盘部120与每个像素电极之间的像素信号线Ldata提供至对应于像素区域PA的像素电极。自动探测单元200可包括与显示面板100的测试焊盘部120连接的单位焊盘部210。
自动探测单元200将测试使能信号STE提供至连接在测试焊盘部120与开关单元150之间的测试使能信号线LSTE。
自动探测单元200将第一到第四测试信号提供至连接在测试焊盘部120与开关单元150之间的第一到第四测试信号线TSL1、TSL2、TSL3和TSL4(130)。
第一到第四测试信号线TSL1、TSL2、TSL3和TSL4通过开关单元150连接至布置在显示区域AA中的布线140。
布线140连接在与第一到第四测试信号线TSL1、TSL2、TSL3和TSL4(130)连接的开关单元150与触摸块110之间。换句话说，每条布线140连接在第一到第四测试信号线TSL1、TSL2、TSL3和TSL4的任意一条与每个触摸块110之间。
布线140与测试信号线130之间的连接由开关单元150控制。因此，当布线140通过开关单元150连接至测试信号线130时，执行通过使用经由第一到第四测试信号线TSL1、TSL2、TSL3和TSL4提供的第一到第四测试信号来检测显示面板100的缺陷的检查。相反，当布线140和测试信号线130通过开关单元150彼此断开时，布线140将从与焊盘部(未示出)连接的驱动单元(未示出)提供的触摸驱动信号提供至触摸块110。
如图2中所示，开关单元150可包括布置在第一到第四测试信号线TSL1、TSL2、TSL3和TSL4的任意一条与每条布线140之间的测试驱动开关。
在这种情况下，基于图1的自动探测单元200提供的测试使能信号STE导通或关断测试驱动开关。
与触摸块110之中的、在第一方向，即图2的水平方向上彼此相邻的四个触摸块TB(1，1)、TB(1，2)、TB(1，3)和TB(1，4)对应的四条布线140经由开关单元150的测试驱动开关连接至彼此相同的第一到第四测试信号线TSL1、TSL2、TSL3和TSL4。
此外，与触摸块110之中的、在第二方向，即图2的垂直方向上彼此相邻的四个触摸块TB(1，1)、TB(2，1)、TB(3，1)和TB(4，1)对应的四条布线140经由开关单元150的测试驱动开关连接至彼此不同的第一到第四测试信号线TSL1、TSL2、TSL3和TSL4。
在如上配置的显示面板100中，为了检查图像输出功能中的缺陷和触摸感测功能中的缺陷，自动探测单元200的单位焊盘部210和显示面板100的测试焊盘部120彼此连接。
自动探测单元200经由连接至像素电极的像素信号线Ldata给像素电极提供相同的像素信号。在这种情况下，自动探测单元200以第一电压电平提供施加至第一到第四测试信号线TSL1、TSL2、TSL3和TSL4的第一到第四测试信号的任意一个(测试信号被按顺序选择)，并且以与第一电压电平不同的第二电压电平提供其他测试信号。
第一电压电平的测试信号是使像素区域PA响应于经由像素信号线Ldata提供的像素信号而发光的公共信号。相反，当提供第二电压电平的测试信号时，像素区域PA处于不发光的黑色状态。
换句话说，与被提供第一电压电平的测试信号的触摸块110对应的像素区域PA以特定亮度发光。相反，与被提供第二电压电平的测试信号的触摸块110对应的像素区域PA处于不发光的黑色状态。
此外，根据本发明一实施方式，第一到第四测试信号线TSL1、TSL2、TSL3和TSL4(130)连接至触摸块110之中的、在第一方向上彼此相邻且彼此不同的四个触摸块110。彼此不同的第一到第四测试信号线TSL1、TSL2、TSL3和TSL4(130)连接至在第二方向上彼此相邻的四个触摸块110。此外，在检查周期期间，提供至第一到第四测试信号线TSL1、TSL2、TSL3和TSL4(130)的第一到第四测试信号中的仅一个信号(测试信号被按顺序选择)具有第一电压电平，而其他测试信号具有第二电压电平。
因此，当第一电压电平的测试信号提供至触摸块110之一时，相对于被提供第一电压电平的测试信号的触摸块110来说，第二电压电平的测试信号提供至在第一方向上彼此相邻的三个触摸块110的每一个并提供至在第二方向上彼此相邻的三个触摸块110的每一个。
换句话说，由于相对于被提供第一电压电平的测试信号的触摸块110来说，第二电压电平的测试信号提供至触摸块110之中的在第一和第二方向上相邻的触摸块110，所以可检测相邻触摸块110之间的短路缺陷以及触摸块110和不与之对应的布线140之间的短路缺陷。
由于以按4×4布置的十六个触摸块为单位按顺序给四个触摸块提供第一电压电平的测试信号，所以可检测触摸块110和与之对应的布线140之间的断路缺陷(opendefect)。
此外，因为通过使用提供至第一到第四测试信号线TSL1、TSL2、TSL3和TSL4(130)的第一到第四测试信号检测触摸块110的短路缺陷和断路缺陷，所以与测试信号线的数量相比，可提高检测缺陷的准确性。
换句话说，当仅使用两个测试信号时，两个不同的测试信号在第一和第二方向的每一个上以两个触摸块为单位提供至触摸块。因此，尽管可仅检测两个相邻触摸块之间的短路缺陷，但不会检测触摸块110和不与之对应的布线140之间的短路缺陷。换句话说，即使当由于布线140而产生触摸块110之间的短路缺陷时，因为相同电压电平的测试信号可提供至由于布线140而具有短路缺陷的触摸块110，所以不可能确定是否产生短路缺陷。
相反，根据本发明一实施方式，因为第一电压电平的测试信号仅提供至相邻四个触摸块110中的一个，所以可检测由于布线140导致的相邻四个触摸块110中的触摸块110之间的短路缺陷。因而，当使用四个测试信号时，与使用两个测试信号的情形相比，检测缺陷的准确性可提高大约两倍。
接下来，在根据本发明一实施方式的显示面板100中，下面描述检查图像输出功能中的缺陷和触摸感测功能中的缺陷的方法。
图3到6图解了根据本发明一实施方式的显示面板的检查方法。
如上所述，在根据本发明一实施方式的显示面板100中，在第一方向上彼此相邻的四个触摸块110连接至彼此相同的第一到第四测试信号线TSL1、TSL2、TSL3和TSL4，在第二方向上彼此相邻的四个触摸块110连接至彼此不同的第一到第四测试信号线TSL1、TSL2、TSL3和TSL4。
根据本发明一实施方式，通过使用自动探测单元200检查显示面板100的方法可包括：在以第一电压电平提供第一测试信号的同时以第二电压电平提供第二、第三和第四测试信号；在以第一电压电平提供第二测试信号的同时以第二电压电平提供第一、第三和第四测试信号；在以第一电压电平提供第三测试信号的同时以第二电压电平提供第一、第二和第四测试信号；以及在以第一电压电平提供第四测试信号的同时以第二电压电平提供第一、第二和第三测试信号。
作为示例，如图3中所示，布置在第(4i+1)水平行R(4i+1)(包括第一和第五水平行R(1)和R(5))且第(4j+1)垂直列C(4j+1)(包括第一和第五垂直列C(1)和C(5))中的触摸块、以及在右上对角线方向上与每个触摸块相邻的触摸块可在检查周期期间经由开关单元150连接至第一测试信号线TSL1，其中i是等于或大于0的整数，j是等于或大于0的整数。
因此，在以第一电压电平提供第一测试信号的步骤110a中，与布置在第(4i+1)水平行R(4i+1)中的第(4j+1)垂直列C(4j+1)中的触摸块、以及在右上对角线方向上与每个触摸块相邻的触摸块对应的子像素可被驱动以发光，而其他子像素可处于黑色状态。
如图4中所示，布置在第(4i+1)水平行R(4i+1)中的第(4j+2)垂直列C(4j+2)(包括第二垂直列C(2))中的触摸块、以及在右上对角线方向上与每个触摸块相邻的触摸块可在检查周期期间经由开关单元150连接至第二测试信号线TSL2。
因此，在以第一电压电平提供第二测试信号的步骤110b中，与布置在第(4i+1)水平行R(4i+1)中的第(4j+2)垂直列C(4j+2)中的触摸块、以及在右上对角线方向上与每个触摸块相邻的触摸块对应的子像素可被驱动以发光，而其他子像素可处于黑色状态。
如图5中所示，布置在第(4i+1)水平行R(4i+1)中的第(4j+3)垂直列C(4j+3)(包括第三垂直列C(3))中的触摸块、以及在右上对角线方向上与每个触摸块相邻的触摸块可在检查周期期间经由开关单元150连接至第三测试信号线TSL3。
因此，在以第一电压电平提供第三测试信号的步骤110c中，与布置在第(4i+1)水平行R(4i+1)中的第(4j+3)垂直列C(4j+3)中的触摸块、以及在右上对角线方向上与每个触摸块相邻的触摸块对应的子像素可被驱动以发光，而其他子像素可处于黑色状态。
如图6中所示，布置在第(4i+1)水平行R(4i+1)中的第(4j+4)垂直列C(4j+4)(包括第四垂直列C(4))中的触摸块、以及在右上对角线方向上与每个触摸块相邻的触摸块可在检查周期期间经由开关单元150连接至第四测试信号线TSL4。
因此，在以第一电压电平提供第四测试信号的步骤110d中，与布置在第(4i+1)水平行R(4i+1)中的第(4j+4)垂直列C(4j+4)中的触摸块、以及在右上对角线方向上与每个触摸块相邻的触摸块对应的子像素可被驱动以发光，而其他子像素可处于黑色状态。
在步骤110a、110b、110c和110d的每一个中，当对应于每个触摸块的子像素的亮度不与第一到第四测试信号匹配时，可检测到是有缺陷的。
例如，如图3中所示，在以第一电压电平提供第一测试信号的步骤110a中，描述了其中在触摸块110中产生短路缺陷或断路缺陷的情形。
图7到9图解了在图3的工艺中检查触摸感测功能中的缺陷的示例。
如图7中所示，布置在第五水平行的第五垂直列中的触摸块(R(5)、C(5))连接至第一测试信号线TSL1，但与连接至第一测试信号线TSL1的其他触摸块不同，其处于黑色状态。在该情形中，布置在第五水平行的第五垂直列中的触摸块(R(5)、C(5))可被检测为与布线140具有断路缺陷。
如图8中所示，布置在第四水平行的第五垂直列中的触摸块(R(4)、C(5))是连接至第二测试信号线TSL2的触摸块(见图4)。尽管以第二电压电平提供第二测试信号，但布置在第四水平行的第五垂直列中的触摸块(R(4)、C(5))被驱动以发光。在该情形中，布置在第四水平行的第五垂直列中的触摸块(R(4)、C(5))可被检测为与布置在第五垂直列上的其他相邻触摸块或布线140具有短路缺陷。
同样，如图9中所示，布置在第四水平行的第三垂直列中的触摸块(R(4)、C(3))是连接至第四测试信号线TSL4的触摸块(见图6)。尽管以第二电压电平提供第四测试信号，但布置在第四水平行的第三垂直列中的触摸块(R(4)、C(3))被驱动以发光。在该情形中，布置在第四水平行的第三垂直列中的触摸块(R(4)、C(3))可被检测为与布置在第三垂直列上的其他相邻触摸块或布线140具有短路缺陷。
根据本发明一实施方式，与自动探测单元200连接的测试焊盘部120布置在焊盘区域的相对侧处，焊盘区域是非显示区域NA的一部分。在这种情况下，布置在焊盘区域的相对侧处的两个测试焊盘部120的每一个可包括连接至第一、第二、第三和第四测试信号线TSL1、TSL2、TSL3和TSL4的四个焊盘。换句话说，两个测试焊盘部120的每一个可包括对应于四个测试信号的四个焊盘。
如此，由于焊盘的数量与测试信号的数量成比例增加，所以在减小显示面板100的边框宽度方面存在限制。
因此，在本发明另一实施方式中，提供了一种显示面板，其可减小与测试信号的数量成比例增加的显示面板100的边框宽度。
图10图解了根据本发明另一实施方式的显示面板。
如图10中所示，因为除第一测试焊盘部121和第二测试焊盘部122包括与两条不同的测试信号线130’对应的焊盘并且每条测试信号线130’具有围绕显示区域AA的外周的闭环形状之外，根据本发明另一实施方式的显示面板100’大致与图1到9中描述的实施方式相同，所以下面省略重复的描述。
根据本发明另一实施方式的显示面板100’可包括第一测试焊盘部121和第二测试焊盘部122，第一测试焊盘部121和第二测试焊盘部122布置在非显示区域NA中的与显示区域AA的一侧相邻的焊盘区域的相对侧处并且包括与自动探测单元200连接的焊盘。
换句话说，第一测试焊盘部121可布置在与图10的显示区域AA的左侧对应的焊盘区域的一侧处，第二测试焊盘部122可布置在与图10的显示区域AA的右侧对应的焊盘区域的另一侧处。
第一测试焊盘部121和第二测试焊盘部122中的任意一个可包括与第一到第四测试信号线130’中的任意两条连接的焊盘，并且第一测试焊盘部121和第二测试焊盘部122中的另一个可包括与第一到第四测试信号线130’中的其他两条连接的焊盘。
例如，第一测试焊盘部121可包括连接至第一和第二测试信号线TSL1’和TSL2’的两个焊盘。
第二测试焊盘部122可包括连接至第三和第四测试信号线TSL3’和TSL4’的两个焊盘。
此外，第一到第四测试信号线TSL1’、TSL2’、TSL3’和TSL4’的每一条以闭环形状形成在非显示区域NA中并且连接至开关单元150。
如此，由于第一到第四测试信号线TSL1’、TSL2’、TSL3’和TSL4’的每一条是闭环形状，所以对应于第一到第四测试信号线TSL1’、TSL2’、TSL3’和TSL4’的焊盘可不布置在第一测试焊盘部121和第二测试焊盘部122二者中，而是可布置在第一测试焊盘部121和第二测试焊盘部122的任意一个中。
因此，因为防止了显示面板100’的边框宽度与测试信号的数量成比例增加，所以可减小边框宽度。
如上所述，根据本发明上述实施方式的显示面板包括提供第一到第四测试信号的第一到第四测试信号线。因此，可通过使用第一到第四测试信号检查多个触摸块中的缺陷。换句话说，因为在模块化工艺之前不仅能够检查图像输出功能中的缺陷，而且还能够检查触摸感测功能中的缺陷，所以可提高包括显示面板的显示装置的产量，并且可降低显示装置的制造成本。
在不背离本发明的范围和精神的情况下，本发明所属领域的技术人员可不同地替换、变更和修改上述本发明。因此，本发明不限于上述示例性实施方式和附图。

Claims (9)

1.一种显示面板，包括：
定义在显示区域中并且矩阵地布置的多个像素区域，所述多个像素区域对应于多个子像素；
多个触摸块，所述多个触摸块矩阵地布置并且每个触摸块都与所述多个像素区域中的两个或更多个相邻像素区域对应；
第一到第四测试信号线，自动探测单元通过所述第一到第四测试信号线提供第一到第四测试信号；和
布线，所述布线连接在所述第一到第四测试信号线中的任意一条与所述多个触摸块中的每一个触摸块之间。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其中与所述多个触摸块中在第一方向上彼此相邻的四个触摸块对应的四条布线连接至彼此相同的第一到第四测试信号线。
3.根据权利要求2所述的显示面板，其中与所述多个触摸块中在与所述第一方向交叉的第二方向上彼此相邻的四个触摸块对应的四条布线连接至彼此不同的第一到第四测试信号线。
4.根据权利要求3所述的显示面板，其中按顺序选择的第一到第四测试信号中的任意一个是以第一电压电平提供的，第一到第四测试信号中除被选择的测试信号之外的其他测试信号是以与所述第一电压电平不同的第二电压电平提供的。
5.根据权利要求4所述的显示面板，其中相同的像素信号提供至与所述多个像素区域对应的多个像素电极，而所述自动探测单元将所述第一到第四测试信号提供至所述多个触摸块。
6.根据权利要求1所述的显示面板，进一步包括开关单元，所述开关单元布置在所述第一到第四测试信号线的任意一条与每条布线之间并且包括多个测试驱动开关，所述多个测试驱动开关基于由所述自动探测单元提供的测试使能信号而导通，
其中所述第一到第四测试信号的任意一个通过导通的测试驱动开关而提供至所述多个触摸块的每一个。
7.根据权利要求1所述的显示面板，进一步包括第一测试焊盘部和第二测试焊盘部，所述第一测试焊盘部和所述第二测试焊盘部在设置于所述显示区域外部的非显示区域中布置在与所述显示区域的一侧相邻的焊盘区域的相对侧处，所述第一测试焊盘部和所述第二测试焊盘部中的每一个包括与所述自动探测单元连接的焊盘。
8.根据权利要求7所述的显示面板，其中所述第一测试焊盘部布置在所述焊盘区域的一侧处并且包括与所述第一到第四测试信号线中的任意两条连接的焊盘，
所述第二测试焊盘部布置在所述焊盘区域的另一侧处并且包括与所述第一到第四测试信号线中的其他两条连接的焊盘。
9.根据权利要求8所述的显示面板，其中所述第一到第四测试信号线中的每一条布置在所述非显示区域中并且具有围绕所述显示区域的外周的闭环形状。
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