CN108020745B - 光模块老化测试上下料装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种光模块老化测试上下料装置,该装置包括:工作台、用于装载待测试光模块的物料盘、用于将物料盘运送至预设位置的物料盘输送机构、夹持机构、机械手、重定位机构、加电老化测试板;其中,物料盘放置于工作台上,物料盘输送机构、加电老化测试板均安装于工作台上;夹持机构安装于机械手上,机械手用于带动夹持机构将位于预设位置的物料盘中的待测试光模块取出放置到重定位机构重新定位,并将重新定位后的待测试光模块移动至加电老化测试板进行老化测试。相对于现有技术,本发明提高了光模块老化测试效率和安全性。
Description
技术领域
本发明涉及光模块生产技术领域,尤其涉及一种光模块老化测试上下料装置。
背景技术
目前,SFP和SFP+封装等光模块产品在生产制造过程的加电老化工序中,光模块从加电老化测试电路板上插入和取出的所有动作均由人工操作完成。人工操作方式具有如下缺陷:
1、光模块封装完成后,其外壳含有许多合金小零件,存在划伤操作人员的皮肤的风险。
2、光模块从加电老化测试电路板上插入和取出,简单重复的动作易使作业人员疲劳,费时费力且效率低。
3、人工的将光模块从加电老化测试电路板上插入和取出,其精度低,容易损伤光模块金手指涂层和加电老化测试电路板上的元器件。
4、人工取放过程中光模块易掉落,导致光模块内部的金属器件变形或元器件损伤。
发明内容
本发明提出一种光模块老化测试上下料装置,旨在提高光模块老化测试效率和测试安全性。
为实现上述目的,本发明是这样实现的,本发明提供一种光模块老化测试上下料装置,该光模块老化测试上下料装置包括:
工作台、用于装载待测试光模块的物料盘、用于将所述物料盘运送至预设位置的物料盘输送机构、夹持机构、机械手、重定位机构、加电老化测试板;其中,所述物料盘放置于所述工作台上,所述物料盘输送机构、加电老化测试板均安装于所述工作台上;
所述夹持机构安装于所述机械手上,所述机械手用于带动所述夹持机构将位于所述预设位置的物料盘中的待测试光模块取出放置到所述重定位机构重新定位,并将重新定位后的待测试光模块移动至所述加电老化测试板进行老化测试。
优选地,所述加电老化测试板包括安装于所述工作台上的加电老化测试板底座、安装于所述加电老化测试板底座上的加电老化测试电路板、以及安装于所述加电老化测试电路板上的光模块限位导向座。
优选地,所述重定位机构包括安装于所述工作台上的重定位机构底座、安装于所述重定位机构底座上的若干组重定位单元,其中,每组重定位单元包括光模块承载夹具、安装于所述重定位机构底座上的气缸、与所述气缸连接的卡盘;
所述机械手还用于带动所述夹持机构将位于所述预设位置的物料盘中的待测试光模块取出放置到所述光模块承载夹具中;
所述若干组重定位单元中每组重定位单元包括两个卡盘,所述两个卡盘分别设置于所述光模块承载夹具的两侧,当所述气缸带动所述两个卡盘相对于所述光模块承载夹具运动时,对装载于所述光模块承载夹具中的待测试光模块进行重定位。
优选地,所述气缸为夹爪气缸,所述光模块老化测试上下料装置还包括控制器、电磁阀,所述电磁阀分别与所述控制器、夹爪气缸连接。
优选地,所述物料盘输送机构包括X轴丝杠模组、Z轴丝杠模组、中载导轨、手指气缸、固定夹具和物料盘夹;其中,
所述中载导轨为两条,所述X轴丝杠模组和两条中载导轨分别安装于所述工作台上,所述两条中载导轨分别安装于所述X轴丝杠模组的两侧;所述固定夹具滑动设置于所述X轴丝杠模组和所述两条中载导轨上,所述手指气缸及Z轴丝杠模组安装于所述固定夹具上,所述物料盘安装于所述手指气缸上。
优选地,所述光模块老化测试上下料装置还包括CNC编程器、步进电机,所述步进电机分别与所述CNC编程器、X轴丝杠模组、Z轴丝杠模组连接;所述电磁阀还与所述手指气缸连接。
优选地,所述光模块老化测试上下料装置还包括安装于所述工作台上的物料盘底座,所述物料盘放置于所述物料盘底座上。
优选地,所述机械手为六轴机械手。
本发明光模块老化测试上下料装置的有益效果是:
1、本发明光模块老化测试上下料装置采用六轴机械手、CNC编程器和PLC联动的方式,使整个装置逻辑判断更加严谨。
2、本发明光模块老化测试上下料装置实现使用大量机械装置代替人工操作,移除了光模块外壳含有许多合金小零件,划伤操作人员的皮肤的风险。
3、本发明光模块老化测试上下料装置采用大量机械装置代替人工操作,增加了自动化程度,大大提升了工作效率。
4、本发明光模块老化测试上下料装置采用六轴机械手的精度极高,在光模块从加电老化测试板上插入和取出的过程中有效保护了光模块金手指涂层和加电老化测试电路板上的元器件,延长了光模块和测试板的使用寿命。
附图说明
图1是本发明光模块老化测试上下料装置的整体结构示意图;
图2是本发明光模块老化测试上下料装置中机械手的结构示意图;
图3是本发明光模块老化测试上下料装置中加电老化测试板的结构示意图;
图4是本发明光模块老化测试上下料装置中重定位机构的结构示意图;
图5是本发明光模块老化测试上下料装置中物料盘输送机构的结构示意图。
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。
具体实施方式
应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
请参照图1至图5,本发明光模块老化测试上下料装置较佳实施例包括工作台1、用于装载待测试光模块的物料盘6、用于将物料盘6运送至预设位置的物料盘输送机构5、夹持机构3、机械手2、重定位机构8以及加电老化测试板4。
其中,物料盘6放置于工作台1上,物料盘输送机构5、加电老化测试板4均安装于工作台1上。具体实施时,可以通过螺丝或者其它连接方式将物料盘输送机构5以及加电老化测试板4安装于工作台1上。
夹持机构3安装于机械手2上,机械手2用于带动夹持机构3将位于预设位置的物料盘6中的待测试光模块取出放置到重定位机构8重新定位,并将重新定位后的待测试光模块移动至加电老化测试板4进行老化测试。
本实施例中,机械手2可以采用六轴机械手。
为了提高测试效率,可以在工作台1上通过螺丝固定安装物料盘底座7,对应的,可以选用更多个物料盘6,再将该多个物料盘6放置于物料盘底座7上。其中,可以通过螺丝固定安装多个物料盘底座7,例如固定安装三个物料盘底座7,并且将多个物料盘底座7中的一个安装于预设位置,以便于物料盘输送机构5快速将物料盘6运送至预设位置,从而提高测试效率。
请参照图3,加电老化测试板4包括安装于工作台1上的加电老化测试板底座41、安装于加电老化测试板底座41上的加电老化测试电路板42、以及安装于加电老化测试电路板42上的光模块限位导向座43。
具体的,可以通过螺丝将加电老化测试电路板42固定安装在加电老化测试板底座41中,通过螺丝将光模块限位导向座43固定安装在加电老化测试电路板42上。
加电老化测试电路板42用于给光模块提供电压电流,使其工作在正常状态;光模块限位导向座43防止由于机械故障导致光模块插入过度,损坏加电老化测试电路板42;加电老化测试板底座41则将加电老化测试电路板42固定在工作台1上,防止装置运行时,加电老化测试电路板42发生移位或晃动。
请参照图4,本实施例中,重定位机构8包括安装于工作台1上的重定位机构底座81、安装于重定位机构底座81上的若干重定位单元,其中,每组重定位单元包括光模块承载夹具82、安装于重定位机构底座81上的气缸、与气缸连接的卡盘84。作为一种实施方式,本实施例中,可以采用夹爪气缸83。
具体实施时,可以通过螺丝将重定位机构底座81固定安装于工作台1上,通过螺丝将气缸固定安装于重定位机构底座81上,也可以通过螺丝将卡盘84和光模块承载夹具82安装于气缸上。
其中,机械手2还用于带动夹持机构3将位于预设位置的物料盘6中的待测试光模块取出放置到光模块承载夹具82中。
本实施例中,每组重定位单元中包括两个卡盘84,两个卡盘84分别设置于光模块承载夹具82的两侧,当气缸带动两个卡盘84相对于光模块承载夹具82运动时,对装载于光模块承载夹具82中的待测试光模块进行重定位。此外,为了提高光模块老化测试的效率,本实施例在重定位机构底座81上安装有两组重定位单元,在其他实施例中,也可以根据实际需要安装更多组重定位单元,本发明对此不作限定。
本实施例中,光模块老化测试上下料装置还包括控制器、电磁阀,其中,该控制器可以采用PLC控制器,所电磁阀分别与控制器、夹爪气缸83连接。
机械手2带动夹持机构3将待测试的光模块从物料盘6中取出后,放置在光模块承载夹具82中后,控制器控制电磁阀驱动气缸带动卡盘84将光模块重新定位,以便后续搬运动作,提升整个装置运作的精度。
请参照图5,本实施例中,物料盘输送机构5包括X轴丝杠模组51、Z轴丝杠模组52、中载导轨53、手指气缸54、固定夹具55和物料盘夹56。
其中,中载导轨53为两条,X轴丝杠模组51和两条中载导轨53分别安装于工作台1上,两条中载导轨53分别安装于X轴丝杠模组51的两侧;固定夹具55滑动设置于X轴丝杠模组51和两条中载导轨53上,手指气缸54及Z轴丝杠模组52安装于固定夹具55上,物料盘6安装于手指气缸54上。
此外,本实施例中,光模块老化测试上下料装置还包括CNC编程器以及步进电机,步进电机分别与CNC编程器、X轴丝杠模组51、Z轴丝杠模组52连接;电磁阀还与手指气缸54连接。
本实施例通过CNC编程器驱动步进电机调整X轴丝杠模组51和Z轴丝杠模组52的位置,将手指气缸54和物料盘夹56移动到物料盘6上。通过PLC驱动电磁阀控制手指气缸54运动,使物料盘夹56夹持物料盘6,再调整X轴丝杠模组51和Z轴丝杠模组52的位置,实现物料盘6在各个位置的物料盘底座7之间搬运的操作。中载导轨53的主要作用是:承载Z轴丝杠模组52、手指气缸54、固定夹具55、物料盘夹56和物料盘6的重量,防止损坏X轴丝杠模组51。
本发明光模块老化测试上下料装置的有益效果是:
1、本发明光模块老化测试上下料装置采用六轴机械手、CNC编程器和PLC联动的方式,使整个装置逻辑判断更加严谨。
2、本发明光模块老化测试上下料装置实现使用大量机械装置代替人工操作,移除了光模块外壳含有许多合金小零件,划伤操作人员的皮肤的风险。
3、本发明光模块老化测试上下料装置采用大量机械装置代替人工操作,增加了自动化程度,大大提升了工作效率。
4、本发明光模块老化测试上下料装置采用六轴机械手的精度极高,在光模块从加电老化测试板上插入和取出的过程中有效保护了光模块金手指涂层和加电老化测试电路板上的元器件,延长了光模块和测试板的使用寿命。
以上所述仅为本发明的优选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或流程变换,或直接或间接运用在其它相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (5)
1.一种光模块老化测试上下料装置,其特征在于,包括:
工作台、用于装载待测试光模块的物料盘、用于将所述物料盘运送至预设位置的物料盘输送机构、夹持机构、机械手、重定位机构、加电老化测试板;其中,所述物料盘放置于所述工作台上,所述物料盘输送机构、加电老化测试板均安装于所述工作台上;
所述夹持机构安装于所述机械手上,所述机械手用于带动所述夹持机构将位于所述预设位置的物料盘中的待测试光模块取出放置到所述重定位机构重新定位,并将重新定位后的待测试光模块移动至所述加电老化测试板进行老化测试;
所述加电老化测试板包括安装于所述工作台上的加电老化测试板底座、安装于所述加电老化测试板底座上的加电老化测试电路板、以及安装于所述加电老化测试电路板上的光模块限位导向座;
所述重定位机构包括安装于所述工作台上的重定位机构底座、安装于所述重定位机构底座上的若干组重定位单元,其中,每组重定位单元包括光模块承载夹具、安装于所述重定位机构底座上的气缸、与所述气缸连接的卡盘;
所述机械手还用于带动所述夹持机构将位于所述预设位置的物料盘中的待测试光模块取出放置到所述光模块承载夹具中;
所述若干组重定位单元中每组重定位单元包括两个卡盘,所述两个卡盘分别设置于所述光模块承载夹具的两侧,当所述气缸带动所述两个卡盘相对于所述光模块承载夹具运动时,对装载于所述光模块承载夹具中的待测试光模块进行重定位;
所述光模块老化测试上下料装置还包括安装于所述工作台上的物料盘底座,所述物料盘放置于所述物料盘底座上。
2.根据权利要求1所述的光模块老化测试上下料装置,其特征在于,所述气缸为夹爪气缸,所述光模块老化测试上下料装置还包括控制器、电磁阀,所述电磁阀分别与所述控制器、夹爪气缸连接。
3.根据权利要求2所述的光模块老化测试上下料装置,其特征在于,所述物料盘输送机构包括X轴丝杠模组、Z轴丝杠模组、中载导轨、手指气缸、固定夹具和物料盘夹;其中,
所述中载导轨为两条,所述X轴丝杠模组和两条中载导轨分别安装于所述工作台上,所述两条中载导轨分别安装于所述X轴丝杠模组的两侧;所述固定夹具滑动设置于所述X轴丝杠模组和所述两条中载导轨上,所述手指气缸及Z轴丝杠模组安装于所述固定夹具上,所述物料盘安装于所述手指气缸上。
4.根据权利要求3所述的光模块老化测试上下料装置,其特征在于,所述光模块老化测试上下料装置还包括CNC编程器、步进电机,所述步进电机分别与所述CNC编程器、X轴丝杠模组、Z轴丝杠模组连接;所述电磁阀还与所述手指气缸连接。
5.根据权利要求1—4任意一项所述的光模块老化测试上下料装置,其特征在于,所述机械手为六轴机械手。
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Address after: 518000 809, 810, 811, block B, building 6, Shenzhen International Innovation Valley, Dali community, Xili street, Nanshan District, Shenzhen City, Guangdong Province Applicant after: SHENZHEN HI-OPTEL TECHNOLOGY Co.,Ltd. Address before: Hengbaotong building, No.2 building, Longjing Gaofa Science Park, Nanshan District, Shenzhen, Guangdong 518000 Applicant before: SHENZHEN HI-OPTEL TECHNOLOGY Co.,Ltd. |
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CB02 | Change of applicant information | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |