CN215325534U - 一种测试组件的上下料装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测试组件的上下料装置，包括机架，所述机架上固定安装有顶升机构和夹持机构，以及用于控制机构运动的控制柜；所述顶升机构上叠放有若干料盘，料盘上放置测试组件，所述夹持机构包括机器人，所述机器人末端设有用于夹持料盘的料盘夹爪和用于夹持测试组件的组件夹爪。本实用新型结构简单、自动化程度高，同时具有很高的效率。

Description

一种测试组件的上下料装置

技术领域

本实用新型涉及半导体设备领域，特别是涉及一种测试组件的上下料装置。

背景技术

目前，测试组件的上下料装置还在采取人工搬运安装方式，工作流程对操作工人的重复劳动强度大，工作效率低，安全有效生产不能保证，且搬运过程中容易人为造成遗漏对后道工序品质无法有效保证。因此，针对上述问题，需要一种具有更高的自动化和更高的效率的测试组件的上下料装置。

实用新型内容

针对上述问题，本实用新型提供了一种测试组件的上下料装置，具有更高的自动化和更高的效率。

本实用新型的技术方案是：

一种测试组件的上下料装置，包括机架，所述机架上固定安装有顶升机构、夹持机构和控制机构，所述控制机构设有控制柜；所述顶升机构上叠放有若干用于放置测试组件的料盘，所述夹持机构包括机器人，所述机器人末端设有用于夹持料盘的料盘夹爪和用于夹持测试组件的组件夹爪。

在本技术方案中，在控制柜的控制下，电机通过同步带、同步带轮、螺母固定轴、以及固定在轴上的丝杠螺母带动丝杠进行上下运动，并进一步使料盘作上下运动，料盘上升至指定位置高度时，顶升机构停止，机器人运动至料盘上方，位于机器人末端的料盘夹爪夹持料盘并进行料盘转移，料盘转移至指定位置后，组件夹爪夹持测试组件至指定工位进行下一步的测试，与此同时，由于位于顶升机构最上层料盘被转移，电机工作，丝杠运动，料盘上升，至最上层料盘达至指定高度后，机器人再次工作，如此往复；此外，测试组件包括但不限于晶圆划片后芯片、载片式微组装器件(组件)和倒装工艺器件(组件)等无封装或封装前芯片(器件、组件)。

在进一步的技术方案中，所述顶升机构包括电机和螺母固定轴，所述电机通过相互配合的同步带轮带动螺母固定轴转动，所述顶升机构还包括丝杠和丝杠螺母，所述丝杠螺母固定连接在螺母固定轴上；所述丝杠的四周分布若干有若干光轴，所述丝杠和光轴的下端固定连接有下固定板，丝杠和光轴的上端与托板固定连接。

在本技术方案中，料盘夹爪夹持料盘后转移至料盘回收工位，组件夹爪在回收工位上夹持测试组件至指定工位进行测试，如此，当位于回收工位上料盘所装载的测试组件全部被转移至指定工位测试后，位于回收工位的电机控制顶升机构下移，同时，料盘夹爪夹持上料工位上的料盘，叠放在回收工位最上层料盘上，如此往复。

在进一步的技术方案中，所述顶升机构包括用于料盘上升的上料顶升机构和用于料盘回收的回收顶升机构。

在本技术方案中，设置双顶升机构，一个顶升机构控制料盘的上升，用于料盘上料；另一个顶升机构控制料盘的下降，用于料盘回收。

本技术方案中的上料工位和料盘回收回收工位体现了本实用新型的有益效果，即高自动化和高效率。

在进一步的技术方案中，所述托板的上方设有定位销，所述料盘上设有与定位销相适配的定位孔。

在本技术方案中，料盘上设有与定位销相适配的定位孔有利于料盘转移至指定位置。

本实用新型的有益效果是：

1、相比现有技术，本实用新型具有更高的自动化；

2、相比现有技术，本实用新型具有更高的效率。

附图说明

图1为本实用新型上下料装置的结构示意图1；

图2为本实用新型上下料装置的结构示意图2；

图3为本实用新型上下料装置中顶升机构的结构示意图；

图4为本实用新型上下料装置中料盘的结构示意图。

附图标记说明

1、机架；2、控制柜；3、料盘；4、测试组件；5、机器人；6、料盘夹爪；7、组件夹爪；8、电机；9、螺母固定轴；10、同步带；11、同步带轮；12、丝杠；13、丝杠螺母；14、光轴；15、下固定板；16、托板；17、定位销；18、定位孔。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的实施例作进一步说明。

实施例：

如图1-图4所示，一种测试组件的上下料装置，包括机架1，机架1上固定安装有顶升机构、夹持机构和控制机构，所述控制机构设有控制柜2；顶升机构上叠放有若干用于放置测试组件4的料盘3，夹持机构包括机器人5，机器人5末端设有用于夹持料盘3的料盘夹爪6和用于夹持测试组件4的组件夹爪7。

在本实施例中，使用时，在控制柜2的控制下，电机8通过同步带10、同步带轮11、螺母固定轴9、以及固定在轴上的丝杠螺母13带动丝杠12进行上下运动，并进一步使料盘3作上下运动，料盘3上升至指定位置高度时，顶升机构停止，机器人5运动至料盘上方，位于机器人5末端的料盘夹爪6夹持料盘3并进行料盘3转移，料盘3转移至指定位置后，组件夹爪7夹持测试组件4至指定工位进行下一步的测试，与此同时，由于位于顶升机构最上层料盘3被转移，电机8工作，丝杠12运动，料盘3上升，至最上层料盘3达至指定高度后，机器人5再次工作，如此往复；此外，测试组件4包括但不限于晶圆划片后芯片、载片式微组装器件(组件)和倒装工艺器件(组件)等无封装或封装前芯片(器件、组件)。

在另一个实施例中，如图2-3所示，顶升机构包括电机8和螺母固定轴9，电机8通过相互配合的同步带10、同步带轮11带动螺母固定轴9转动，顶升机构还包括丝杠12和丝杠螺母13，丝杠螺母固定连接在螺母固定轴9上；丝杠的四周分布若干有若干光轴14，丝杠12和光轴14的下端固定连接有下固定板15上，丝杠12和光轴14的上端与托板16固定连接。

在另一个实施例中，如图1-4所示，顶升机构包括用于料盘上升的上料顶升机构和用于料盘3回收的回收顶升机构.

在本实施例中分别为用于料盘3上升的上料工位和料盘3回收回收工位，这样，料盘3的上料和回收均可通过自动工作完成，效率更高。

在另一个实施例中，如图1-4所示，托板16的上方设有定位销17，料盘3上设有与定位销17相适配的定位孔18。

在本实施例中，料盘3上设有与定位销17相适配的定位孔18有利于料盘3转移至指定位置。

在另一个实施例中，定位孔18绕料盘3的中心对称均布，这样，料盘3在摆放在托板16上时，可沿任意方向作90°旋转后仍可准确定位放置。

在本实施例中，如图1-图4所示，为进一步提升工作效率，设置双顶升机构，一个顶升机构控制料盘3的上升，用于料盘3上料；另一个顶升机构控制料盘3的下降，用于料盘3回收。料盘夹爪6夹持料盘3后转移至料盘3回收工位，组件夹爪7在回收工位上夹持测试组件4至指定工位测试后，位于回收工位的电机8控制顶升机构下移，同时，料盘夹爪6夹持上料工位上的料盘3，叠放在回收工位最上层料盘3上，组件夹爪7在回收工位上夹持测试组件4至指定工位进行测试，如此往复。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的具体实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。

Claims (4)

1.一种测试组件的上下料装置，包括机架，其特征在于，所述机架上固定安装有顶升机构、夹持机构和控制机构，所述控制机构设有控制柜；所述顶升机构上叠放有若干用于放置测试组件的料盘，所述夹持机构包括机器人，所述机器人末端设有用于夹持料盘的料盘夹爪和用于夹持测试组件的组件夹爪。

2.根据权利要求1所述的一种测试组件的上下料装置，其特征在于，所述顶升机构包括电机和螺母固定轴，所述电机通过相互配合的同步带和同步带轮带动螺母固定轴转动，所述顶升机构还包括丝杠和丝杠螺母，所述丝杠螺母固定连接在螺母固定轴上；所述丝杠的四周分布有若干光轴，所述丝杠和光轴的下端固定连接有下固定板，丝杠和光轴的上端与托板固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种测试组件的上下料装置，其特征在于，所述顶升机构包括用于料盘上升的上料顶升机构和用于料盘回收的回收顶升机构。

4.根据权利要求2所述的一种测试组件的上下料装置，其特征在于，所述托板的上方设有定位销，所述料盘上设有与定位销相适配的定位孔。

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