CN108020185A - 量测待煎烤食物厚度的方法 - Google Patents

Abstract

一种量测待煎烤食物厚度的方法，适用于搭配一个煎烤装置及一个检测装置来量测一个食物厚度，并包含以下步骤。使该检测装置的一个能量测温度的探针插入一个煎烤空间。使该煎烤装置对位于该煎烤空间内的食物进行煎烤，并开始计时一个加热时间。使该检测装置于该加热时间计时至一个第一检测时点的期间，从该探针测得一个第一升温值，并分析出该食物厚度。本发明通过将该探针插入食物，并在煎烤过程中，通过侦测探针的温度来判断出食物的厚度，进而根据判断出的食物厚度来估算出适当的煎烤所需时间，借此能煎烤出熟成程度适当的食物。

Description

量测待煎烤食物厚度的方法

技术领域

本发明涉及一种量测方法，特别是涉及一种量测待煎烤食物厚度的方法。

背景技术

现有的煎烤装置在煎烤食物时都必须通过使用者自行设定煎烤所需时间，而该煎烤所需时间通常与食物的厚度及熟度有关，一般的使用者必须花费相当多的时间与心力来熟记或记录各种食物所需的煎烤所需时间，一旦对该煎烤装置的使用经验不足，往往会输入不适当的煎烤所需时间，而导致该煎烤装置煎烤出熟成程度不适当的食物，例如过度熟成或烤焦，如此一来不仅会造成食物的浪费，也会造成电能的虚耗，因此现有的煎烤方法仍有待改善。

发明内容

本发明的目的在于提供一种能量测待煎烤食物厚度的方法。

本发明的量测待煎烤食物厚度的方法，适用于搭配一个煎烤装置及一个检测装置来量测一个食物厚度，该量测待煎烤食物厚度的方法包含以下步骤(A)使该检测装置的一个能量测温度的探针插入一个煎烤空间。(B)使该煎烤装置，对位于该煎烤空间内的食物进行煎烤，并开始计时一个加热时间；及(C)使该检测装置于该加热时间计时至一个第一检测时点的期间，从该探针测得一个第一升温值，并分析出该食物厚度。

本发明所述的量测待煎烤食物厚度的方法，步骤(A)会先使该探针预热至一个预热温度，再使该探针插入该煎烤空间，并计时一个确认时间，该量测待煎烤食物厚度的方法还包含在步骤(A)后的一个步骤(D)使该检测装置于该确认时间的期间从该探针所测得一个降温值，判断该煎烤空间是否有待煎烤的该食物。

本发明所述的量测待煎烤食物厚度的方法，步骤(D)是使该检测装置在该降温值小于一个判断值时，判断该煎烤空间没有待煎烤的该食物；在该降温值大于或等于该判断值时，判断该煎烤空间有待煎烤的该食物，并接续执行步骤(B)。

本发明所述的量测待煎烤食物厚度的方法，步骤(C)是使该检测装置于该第一升温值大于或等于一个第一检测值时，判断该食物厚度为一个第一厚度。

本发明所述的量测待煎烤食物厚度的方法，步骤(C)还使该检测装置于该第一升温值小于该第一检测值时，判断该食物厚度为一个大于该第一厚度的第二厚度。

本发明所述的量测待煎烤食物厚度的方法，该量测待煎烤食物厚度的方法，还包含一个步骤(E)在该第一升温值小于该第一检测值时，使该检测装置于该加热时间计时至一个大于该第一检测时点的第二检测时点的期间，从该探针测得一个第二升温值，并使检测装置于该第二升温值大于一个第二检测值时，判断该食物厚度为一个大于该第一厚度的第二厚度。

本发明所述的量测待煎烤食物厚度的方法，步骤(E)还使该检测装置于该第二升温值小于该第二检测值时，判断该食物厚度为一个大于该第二厚度的第三厚度。

本发明的量测待煎烤食物厚度的方法，适用于搭配一个煎烤装置及一个检测装置来量测食物厚度，该量测待煎烤食物厚度的方法还包含以下步骤。(A)使该检测装置的一个能量测温度的探针插入一个煎烤空间。(B)使该煎烤装置对位于该煎烤空间内的食物进行煎烤，并开始计时一个加热时间。(C)使该检测装置于该加热时间计时至一个第三检测时点时，根据该探针之不同部位所分别测得的一个第一温度值与一个第二温度值，分析出该食物厚度。

本发明所述的量测待煎烤食物厚度的方法，步骤(A)会先使该探针预热至一个预热温度，再使该探针插入该煎烤空间，并计时一个确认时间，该量测待煎烤食物厚度的方法还包含在步骤(A)后的一个步骤(D)使该检测装置根据该探针于该确认时间的期间所测得的一个降温值，判断该煎烤空间是否有待煎烤的该食物。

本发明所述的量测待煎烤食物厚度的方法，步骤(D)是使该检测装置在该降温值小于一个判断值时，判断该煎烤空间没有待煎烤的该食物；在该降温值大于或等于该判断值时，判断该煎烤空间有待煎烤的该食物，并接续执行步骤(B)。

本发明所述的量测待煎烤食物厚度的方法，步骤(A)是使该探针插入该煎烤空间内，并使该探针于该煎烤空间高度小于一个第一厚度时，能够穿入该煎烤装置的一个凹槽；步骤(C)是使该检测装置从该探针的一个未位于该凹槽内的第一感测点测得该第一温度值，并从该探针的一个位于该凹槽内的第二感测点测得该第二温度值，并使该检测装置于该第二温度值减去该第一温度值的差值大于或等于该第三检测值时，判断该食物厚度为该第一厚度。

本发明所述的量测待煎烤食物厚度的方法，步骤(C)还使该检测装置于该第二温度值减去该第一温度值的差值小于该第三检测值时，判断该食物厚度为一个大于该第一厚度的第二厚度。

本发明所述的量测待煎烤食物厚度的方法，该量测待煎烤食物厚度的方法，还包含一个步骤(E)在该第二温度值减去该第一温度值的差值小于该第三检测值时，使该检测装置于该加热时间计时至一个大于该第三检测时点的第四检测时点时，从该第一感测点测得一个第三温度值，并从第二感测点测得一个第四温度值，并使该检测装置于该第三温度值减去该第四温度值的差值小于一个第四检测值，判断该食物厚度为一个大于该第一厚度的第二厚度。

本发明所述的量测待煎烤食物厚度的方法，步骤(E)还使该检测装置于该第三温度值减去该第四温度值的差值大于该第四检测值时，判断该食物厚度为一个大于该第二厚度的第三厚度。

本发明的有益效果在于：通过将该探针插入食物，并在煎烤过程中，通过侦测探针的温度来判断出食物的厚度，进而根据判断出的食物厚度来估算出适当的煎烤所需时间，借此能煎烤出熟成程度适当的食物。

附图说明

本发明的其他的特征及功效，将于参照图式的实施方式中清楚地呈现，其中：

图1是一个立体图，说明本发明量测待煎烤食物厚度的方法的第一实施例搭配的一个煎烤装置及一个检测装置；

图2是一个不完整的剖视侧视图，说明该第一实施例量测一个厚度为第一厚度的食物；

图3是一个步骤流程图，说明该第一实施例；

图4是一个步骤流程图，说明该第一实施例的一个进行煎烤的步骤；

图5是一个不完整的剖视侧视图，说明该第一实施例量测一个厚度为第二厚度的食物；

图6是一个不完整的剖视侧视图，说明该第一实施例量测一个厚度为第三厚度的食物；

图7是一个立体示意图，说明该第一实施例搭配之另一种实施态样的一个煎烤装置及一个检测装置。

图8是一个不完整的剖视侧视图，说明本发明量测待煎烤食物厚度的方法的第二实施例量测一个厚度为第一厚度的食物；

图9是一个不完整的剖视侧视图，说明该第二实施例量测一个厚度为第二厚度的食物；

图10是一个不完整的剖视侧视图，说明该第二实施例量测一个厚度为第三厚度的食物。

具体实施方式

在本发明被详细描述前，应当注意在以下的说明内容中，类似的元件是以相同的编号来表示。

参阅图1与图2，本发明量测待煎烤食物厚度的方法第一实施例，用于搭配一个煎烤装置1，及一个检测装置33来量测一个待煎烤食物900的厚度，所述待煎烤食物900例如：牛排、猪排或鸡排，在此先介绍该煎烤装置1的结构，该煎烤装置1包含一个第一煎烤模块2，及一个与该第一煎烤模块2能枢转地结合的第二煎烤模块3，该第一煎烤模块2与该第二煎烤模块3上下相配合界定出一个用于容纳该食物900的煎烤空间4。在一般使用状态下，该第一煎烤模块2摆放在桌面上并能供食物900摆放，而该第二煎烤模块3能相对于该第一煎烤模块2在一个盖合位置及一个打开位置间转换。

该第一煎烤模块2包括一个供食物900摆放的下烤盘21，及一个安装于该下烤盘21的下加热单元(图未示)。该下烤盘21具有一个朝上的第一煎烤面211，以及一个由该下煎烤面211往下凹设的凹槽212。该第一煎烤面211具有数个间隔设置的下突肋部213。

该第二煎烤模块3包括一个上烤盘31、一个将该上烤盘31能枢摆地安装在该下烤盘21上的把手32，及一个安装于该上烤盘31的上加热单元(图未示)。该上烤盘31具有一个在该盖合位置时面向该第一煎烤面211的第二煎烤面311。该第二煎烤面311具有数个间隔设置且齐平的上突肋部312，所述上突肋部312与所述下突肋部213对应，并在该盖合位置时与所述下突肋部213一同夹持食物900。

该检测装置33安装于该第二煎烤模块3，并具有一个探针331，及一个微处理器332。该探针331具有一个由其中一个上突肋部312穿出该第二煎烤面311的针体333，及一个安装于该针体333距离该第二煎烤面311一个感测距离H的温度侦测件334。在该盖合位置时，该针体333能够对应插入该下烤盘21的该凹槽212内。该温度侦测件334讯号连接该微处理器332，且实施上能为正温度系数(Positive Temperature Coefficient,PTC)热敏电阻，或负温度系数(Negative Temperature Coefficient,NTC)热敏电阻等电子元件。

该微处理器332能根据该温度侦测件334所量测的温度进行分析，并控制该上加热单元与该下加热单元的加热时间与温度。该上加热单元与该下加热单元皆为数个加热管，并能受到该微处理器332驱动来进行加热，以对该食物900进行煎烤，由于该煎烤装置1进行煎烤的构造已为现有技术，非为本发明的重点，所以在此不再详述。

参阅图1、图2与图3，本发明量测待煎烤食物厚度的方法的实施例，准备要煎烤食物900前，使用者先连接电源并启动该煎烤装置1，再于该煎烤装置1设定所需的熟度，例如三分熟、五分熟、七分熟或全熟，接着，启动该煎烤装置1进行煎烤，包含以下步骤：

步骤51：插入探针。使该煎烤装置1启动该上加热单元与该下加热单元，来将该上烤盘31、该下烤盘21与该探针331预热至一个预热温度。接着，使用者将该食物900摆放于该下烤盘21上方，并将该第二煎烤模块3转换至该盖合位置，同时使该探针331插入位于该煎烤空间4内的该待煎烤的食物900，并使该煎烤装置开始计时一个确认时间，在本实施例中，该确认时间为5s。一般来说，食物900的厚度规格能分成一个第一厚度D1(0.5英吋)、一个大于该第一厚度D1的第三厚度D3(1.5英吋)和一个介于该第一厚度D1与该第三厚度D3之间的第二厚度D2(1英吋)，而该感测距离H必须设计为小于第一厚度D1，而使该探针331插入该食物900时，不管是第一厚度D1、第二厚度D2或第三厚度D3的食物900，该温度侦测件334都能位于该食物900内。

步骤52：确认是否有食物。使该煎烤装置1于该确认时间的计时期间从探针331下降的温度分析出一个的降温值，由于食物900的温度较低，当该探针331插入该待煎烤的食物900时，会因为热传导而温度下降，本实施例的降温值是指在该确认时间计时期间的温度下降速率，但实施上，该降温值也可是在该确认时间开始到该确认时间结束的温度下降值。接着，使该煎烤装置1根据该降温值与一个判断值的大小关系判断该煎烤空间4是否有该待煎烤的食物900，在本实施例中该判断值为5℃。

具体来说：若该降温值小于该判断值时，代表该探针331并未插入该食物900，而使该探针331未大幅降温，借此能判断出该煎烤空间4内没有该待煎烤的食物900；相反地，若该降温值大于或等于该判断值时，代表该探针331有插入该食物900，而使该探针331大幅降温，借此能判断出该煎烤空间4内摆放有该待煎烤的食物900。若该煎烤装置1判断该煎烤空间4无该待煎烤的食物900时，会执行步骤53，不进行煎烤。相反地，若确认该煎烤空间4有该待煎烤的食物900时，会接续执行步骤54。

步骤54：进行煎烤。在步骤54中，使该煎烤装置1驱动该上加热单元与该下加热单元加热，进而热传导该上烤盘31与该下烤盘21对该待煎烤的食物900进行煎烤，并开始计时一个加热时间，而在进行煎烤过程中，会分成数个子步骤541～545(见图4)。

参阅图2、图4、图5与图6，子步骤541：判断是否为第一厚度。使该煎烤装置1于该加热时间计时至一个第一检测时点的期间，从探针331上升的温度分析出一个第一升温值，由于进行煎烤期间，该食物900温度会上升，该第一升温值是指该探针331从开始进行煎烤到第一检测时点结束时的温度上升值，例如该煎烤装置1可于开始进行煎烤时从该探针331的温度侦侧出一个初始温度，并于计时至该第一检测时点时，再从该探针331的温度侦侧出一个变化温度，再将该变化温度减去初始温度就能得到温度上升值，但实施上亦可为温度上升的速率，不以此为限。接着，使该煎烤装置1根据该第一升温值与一个第一检测值的大小关系分析出该食物900的厚度，在本实施例中该第一检测时点为40s，该第一检测值为10℃。

具体来说，若该第一升温值大于等于该第一检测值时，代表该食物900的厚度较薄，而受到加热时上升的温度较快，因此上升的温度较高，借此能判断出该食物900的厚度为该第一厚度D1。相反地，若该第一升温值小于一个第一检测值时，代表该食物900的厚度较厚，而受到加热时上升的温度较慢，因此上升的温度不高，借此能判断出该食物900的厚度大于该第一厚度D1。若判断食物900的厚度为第一厚度D1时，会执行子步骤542，若判断食物900的厚度大于第一厚度D1时，会接续执行子步骤543。

子步骤542：使该煎烤装置1根据事先设定的熟度，分析出对应该第一厚度D1所需的煎烤所需时间，并根据该煎烤时间驱动该上加热单元与该下加热单元继续进行加热。

子步骤543：判断是否为第二厚度。使该煎烤装置1于该加热时间计时至一个大于该第一检测时点的第二检测时点的期间，从探针331上升的温度分析出一个第二升温值，该第二升温值是指该探针331从开始进行煎烤到第二检测时点期间的温度上升值，但实施上亦可为温度上升的速率，不以此为限。接着，使该煎烤装置1根据该第二升温值与一个第二检测值的大小关系分析出该食物900的厚度，在本实施例中，该第二检测时点为90s，该第二检测值为10℃。

具体来说：由于在步骤54已去除该食物900厚度为第一厚度D1的可能性，该食物900厚度只会是第二厚度D2或者第三厚度D3。因此若该第二升温值大于等于该第二检测值时，能判断出该食物900为厚度较薄的第二厚度D2。相反地，若该第二升温值小于该第二检测值时，能判断出该食物900为厚度较厚的第三厚度D3。若判断食物900的厚度为第二厚度D2时，会执行子步骤544，若判断食物900的厚度为第三厚度D3时，会执行子步骤545。

子步骤544：该煎烤装置1根据事先设定的熟度，分析出对应该第二厚度D2所需的煎烤所需时间，并根据该煎烤所需时间驱动该上加热单元与该下加热单元继续进行煎烤。

子步骤545：该煎烤装置1根据事先设定的熟度，分析出对应该第三厚度D3所需的煎烤所需时间，并根据该煎烤所需时间驱动该上加热单元与该下加热单元继续进行煎烤。

实施上，该煎烤装置1能通过厚度、熟度与煎烤所需时间的换算公式来分析出所需的煎烤所需时间。或者，通过内建的厚度、熟度与煎烤所需时间的对应资料表来查询出所需的煎烤所需时间，如表1所示，表1是以牛排为例所建立之对应厚度与熟度的煎烤所需时间的资料表，T＝煎烤所需时间，且煎烤所需时间包含有该加热时间。

	三分熟	五分熟	七分熟	全熟
					第一厚度D1	T＝60s	T＝80s	T＝90s	T＝120s
第二厚度D2	T＝120s	T＝150s	T＝180s	T＝210s
					第三厚度D3	T＝180s	T＝210s	T＝240s	T＝270s

由于本发明量测待煎烤食物厚度的方法是在煎烤过程中量测厚度，因此不需另外花费时间来量测食物900的厚度，也就是说，该煎烤装置1能在进行煎烤的同时，通过食物900升温的大小差异来分析得到食物900的厚度，进而分析出适当的煎烤所需时间，再继续煎烤剩余的煎烤所需时间，例如量测出该食物900为第一厚度D1时，在子步骤542继续煎烤减去该第一检测时点后所剩余的煎烤所需时间，或量测出该食物900为第二厚度D2时，在子步骤544后继续煎烤减去该第二检测时点后所剩余的煎烤所需时间。

需要说明的是，本实施例是应用于有三种厚度规格的食物900，但实施上，在本发明的其它实施态样中也可只有两种厚度规格的其他食物900，例如第一厚度D1与第二厚度D2，该量测待煎烤食物厚度的方法则能省略子步骤543，并在子步骤541中，若该第一升温值小于一个第一检测值时，判断出该食物900的厚度为该第二厚度D2，而另一实施态样中，也能应用于四种厚度规格的其他食物900，该量测待煎烤食物厚度的方法则能于子步骤543后增加另一个判断的子步骤，以量测出该食物900的厚度，不以本实施例为限。

参阅图7，需要说明的是，该煎烤装置1与该检测装置33可为另一种实施态样，该探针331为可分离的设计，此时，该第二煎烤模块3可具有一个上下贯穿的贯孔34，该探针331可经由该贯孔34穿入该煎烤空间，亦可达到本发明检测食物厚度的功能，另外，在本发明的其他实施态样中，该检测装置33亦可独立出来，而与该煎烤装置1分开设计，并可供有需求的使用者加购，以利于销售贩卖，因此该煎烤装置1与该检测装置33的结构，不以本实施例为限。综上所述，本发明量测待煎烤食物厚度的方法，通过将该探针331插入食物900，并在煎烤过程中，通过侦测探针331的温度来判断出食物900的厚度，进而根据判断出的厚度来估算出适当的煎烤所需时间，借此能煎烤出熟成程度适当的食物900，进而节省电能。另外，通过步骤52还能避免使用者在未放入食物900的情况下，进行煎烤，所以确实能达成本发明的目的。

参阅图3、图8、图9与图10，本发明量测待煎烤食物厚度的方法的第二实施例，该第二实施例所搭配的煎烤装置1与该第一实施例的搭配的煎烤装置1不同处在于：该探针331的针体333由该第二煎烤面311向下延伸的长度必须大于该第一厚度D1，且接近该第二厚度D2，且该探针331具有两个分别位于不同高度的温度侦测件334，其中一个温度侦测件334位于该针体333的顶端部，作为该探针331的一个第一感测点335，其中另一个温度侦测件334位于该针体333的底端部，作为该探针331的一个第二感测点336。

该实施例与该第一实施例的各步骤的不同处在于：在步骤52中，会使该煎烤装置1于计时该确认时间的期间，从该第一感测点335下降的温度与时间分析出一个代表温度下降速率的降温值，并根据该降温值与一个判断值的大小关系判断该煎烤空间4是否有该待煎烤的食物900。

参阅图4、图8、图9与图10，在子步骤541中，会使该煎烤装置1于该加热时间计时至一个第三检测时点时，从该第一感测点335测得一个第一温度值，并从第二感测点336测得一个第二温度值，接着，比较该第一温度值与该第二温度值的大小关系。该煎烤装置1会在该第二温度值减去该第一温度值的差值大于或等于一个第三检测值时，判断该食物900的厚度为该第一厚度D1。在本实施例中，该第三检测时点为15s，该第三检测值为20℃。相反地，若该第二温度值减去该第一温度值的差值小于该第三检测值时，判断食物900的厚度大于第一厚度D1。这是因为，当食物900厚度为第一厚度D1时，该探针331会穿过该食物900而使得该第二感测点336穿入该凹槽212，而该第一感测点335则是位于食物900内，在加热时，该下烤盘21为金属材质因此温度上升速度较快，食物900温度上升的速度较慢，而使该煎烤装置1从该第二感测点336感测的温度会大于从该第一感测点335感测的温度。在子步骤543中，会使该煎烤装置1于该加热时间计时至一个大于该第三检测时点的第四检测时点时，从该第一感测点335测得一个第三温度值，并从第二感测点336测得一个第四温度值，接着，使该煎烤装置1比较该第三温度值与该第四温度值的大小关系。该煎烤装置1会在该第三温度值减去该第四温度值的差值小于一个第四检测值时，判断该食物900的厚度为该第二厚度D2，在本实施例中，该第四检测时点为90s，该第四检测值为25℃。相反地，若该第三温度值减去该第四温度值的差值大于或等于一个第四检测值时，判断食物900的厚度为第三厚度D3。当然，实施上该第二实施例也能如同第一实施例以食物900的厚度规格来增减判断步骤。

这是因为在加热时，食物900上下两侧靠近该上烤盘31与该下烤盘21所以温度上升的速度较快，相反地，食物900中间温度上升的速度会较慢，因此，若食物900的厚度为第三厚度D3时，该探针331的该第一感测点335会接近于食物900的上侧，该第二感测点336会接近于食物900的中间，而使得该煎烤装置1从该第一感测点335感测的温度会大于从该第二感测点336感测的温度。若食物900厚度为第二厚度D2时，该探针331的该第一感测点335与该第二感测点336会分别接近于食物900的上侧与下侧，而使得该煎烤装置1从该第一感测点335感测的温度与该第二感测点336感测的温度相近。

补充说明的，实施上，该探针331的伸出方向亦可相反设计，也就是该探针331由该下烤盘21往该上烤盘31突伸，而该凹槽212设置于该上烤盘31，而位于该针体333底端部的温度侦测件334为该探针的第一感测点335；位于该针体333顶端部的温度侦测件334为该探针的第二感测点336，不以本实施例为限。所述温度侦测件334亦可为三或四以上，且分别上下间隔分布于该针体333，该煎烤装置1透过分析所述温度侦测件334所量测的温度分布情况，亦可判断出该食物900的厚度，不以本实施例为限。

总结，本发明量测待煎烤食物厚度的方法，是一种创新的厚度量测方法，使用者只要启动该煎烤装置1并放入食物900，该煎烤装置1就能根据上述步骤自动侦测食物900的厚度并进行煎烤，相当地方便且人性化，所以确实能达成本发明的目的。

以上所述者，仅为本发明的实施例而已，当不能以此限定本发明实施的范围，即凡依本发明权利要求书及说明书内容所作的简单的等效变化与修饰，皆仍属本发明的范围。

Claims (14)

1.一种量测待煎烤食物厚度的方法，适用于搭配一个煎烤装置及一个检测装置来量测一个食物厚度，其特征在于：该量测待煎烤食物厚度的方法包含以下步骤：(A)使该检测装置的一个能量测温度的探针插入一个煎烤空间；(B)使该煎烤装置对位于该煎烤空间内的食物进行煎烤，并开始计时一个加热时间；及(C)使该检测装置于该加热时间计时至一个第一检测时点的期间，从该探针测得一个第一升温值，并以该第一升温值分析出该食物厚度。

2.如权利要求1所述的量测待煎烤食物厚度的方法，其特征在于：步骤(A)会先使该探针预热至一个预热温度，再使该探针插入该煎烤空间，并计时一个确认时间，该量测待煎烤食物厚度的方法还包含在步骤(A)后的一个步骤(D)使该检测装置于计时该确认时间的期间从该探针所测得一个降温值，并以该降温值判断该煎烤空间是否有待煎烤的该食物。

3.如权利要求2所述的量测待煎烤食物厚度的方法，其特征在于：步骤(D)是使该检测装置在该降温值小于一个判断值时，判断该煎烤空间没有待煎烤的该食物；在该降温值大于或等于该判断值时，判断该煎烤空间有待煎烤的该食物，并接续执行步骤(B)。

4.如权利要求1所述的量测待煎烤食物厚度的方法，其特征在于：步骤(C)是使该检测装置于该第一升温值大于或等于一个第一检测值时，判断该食物厚度为一个第一厚度。

5.如权利要求4所述的量测待煎烤食物厚度的方法，其特征在于：步骤(C)还于该第一升温值小于该第一检测值时，判断该食物厚度为一个大于该第一厚度的第二厚度。

6.如权利要求4所述的量测待煎烤食物厚度的方法，其特征在于：该量测待煎烤食物厚度的方法，还包含一个步骤(E)在该第一升温值小于该第一检测值时，于该加热时间计时至一个大于该第一检测时点的第二检测时点的期间，从该探针测得一个第二升温值，并于该第二升温值大于或等于一个第二检测值时，判断该食物厚度为一个大于该第一厚度的第二厚度。

7.如权利要求6所述的量测待煎烤食物厚度的方法，其特征在于：步骤(E)还使该检测装置于该第二升温值小于该第二检测值时，判断该食物厚度为一个大于该第二厚度的第三厚度。

8.一种量测待煎烤食物厚度的方法，适用于搭配一个煎烤装置及一个检测装置来量测食物厚度，其特征在于：该量测待煎烤食物厚度的方法包含以下步骤：(A)使该检测装置的一个能量测温度的探针插入一个煎烤空间；及(B)使该煎烤装置对位于该煎烤空间内的食物进行煎烤，并开始计时一个加热时间；及(C)使该检测装置于该加热时间计时至一个第三检测时点时，根据该探针之不同部位所分别测得的一个第一温度值与一个第二温度值，分析出该食物厚度。

9.如权利要求8所述的量测待煎烤食物厚度的方法，其特征在于：步骤(A)会先使该探针预热至一个预热温度，再使该探针插入该煎烤空间，并计时一个确认时间，该量测待煎烤食物厚度的方法还包含在步骤(A)后的一个步骤(D)使该检测装置根据该探针于该确认时间的计时期间所测得的一个降温值，判断该煎烤空间是否有待煎烤的该食物。

10.如权利要求9所述的量测待煎烤食物厚度的方法，其特征在于：步骤(D)是使该检测装置在该降温值小于一个判断值时，判断该煎烤空间没有待煎烤的该食物；在该降温值大于或等于该判断值时，判断该煎烤空间有待煎烤的该食物，并接续执行步骤(B)。

11.如权利要求8所述的量测待煎烤食物厚度的方法，其特征在于：步骤(A)是使该探针插入该煎烤空间内，并使该探针于该煎烤空间高度小于一个第一厚度时，能够穿入该煎烤装置的一个凹槽；步骤(C)是使该检测装置从该探针的一个未位于该凹槽内的第一感测点测得该第一温度值，并从该探针的一个位于该凹槽内的第二感测点测得该第二温度值，并使该检测装置于该第二温度值减去该第一温度值的差值大于或等于该第三检测值时，判断该食物厚度为该第一厚度。

12.如权利要求11所述的量测待煎烤食物厚度的方法，其特征在于：步骤(C)还使该检测装置于该第二温度值减去该第一温度值的差值小于该第三检测值时，判断该食物厚度为一个大于该第一厚度的第二厚度。

13.如权利要求11所述的量测待煎烤食物厚度的方法，其特征在于：该量测待煎烤食物厚度的方法，还包含一个步骤(E)在该第二温度值减去该第一温度值的差值小于该第三检测值时，使该检测装置于该加热时间计时至一个大于该第三检测时点的第四检测时点时，从该第一感测点测得一个第三温度值，并从第二感测点测得一个第四温度值，并使该检测装置于该第三温度值减去该第四温度值的差值小于一个第四检测值时，判断该食物厚度为一个大于该第一厚度的第二厚度。

14.如权利要求13所述的量测待煎烤食物厚度的方法，其特征在于：步骤(E)还使该检测装置于该第三温度值减去该第四温度值的差值大于或等于该第四检测值时，判断该食物厚度为一个大于该第二厚度的第三厚度。