CN107912028B - 用于在轮胎构建工艺中控制半成品的挤出的方法和设备 - Google Patents

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Abstract

一种用于在轮胎构建工艺中控制半成品的挤出的方法，所述方法包括：在挤出组件(2)的出口处提供半成品(1)，所述半成品(1)至少包括：由至少一种第一材料制成的第一部件(11)；由不同于所述第一材料的至少一种第二材料制成的第二部件(12)；所述半成品(1)在所述挤出组件(2)中进行挤出的过程中具有积聚的热量；执行第一验证以验证以下至少一项：所述第二部件(12)的存在和所述第二部件(12)相对于所述第一部件(11)的布置，其中，所述第一验证包括：在所述半成品(1)释放所述积聚的热量的同时检测表征从所述半成品(1)发射的热量的第一电磁辐射(R1)；基于检测到的所述第一电磁辐射(R1)，确定表征所述第二部件(12)的存在和/或所述第二部件(12)相对于所述第一部件(11)的布置中的至少一者的第一检测参数(DP1)；根据所述第一检测参数(DP1)生成第一通知信号(NS1)。还描述了一种用于在轮胎构建工艺中控制半成品的挤出的设备(100)。

Description

用于在轮胎构建工艺中控制半成品的挤出的方法和设备
技术领域
本发明涉及用于在轮胎构建工艺中控制半成品的挤出的方法。
本发明还涉及用于在轮胎构建工艺中控制半成品的挤出的设备。
背景技术
用于车辆车轮的轮胎通常包括胎体结构，所述胎体结构包括至少一个胎体帘布层，所述至少一个胎体帘布层具有与相应的环形锚固结构接合的相应地相对的端部翼片，所述环形锚固结构通常被称为“胎圈芯”，所述胎圈芯集成在通常被称为“胎圈”的区域中，所述胎圈的内径基本上与轮胎的所谓“装配直径”匹配，以便将其装配到相应的轮辋上。轮胎还包括胎冠结构，所述胎冠结构包括具有位于相对于胎体帘布层的径向外部位置中的至少一个带束条的带束结构以及位于带束条的径向外部的胎面带。在胎面带和带束条之间可以插入弹性体材料的所谓的“底层”，所述底层的特性适于确保带束条与胎面带之间的稳定连接。另外，弹性体材料的相应的侧壁被施加到胎体结构的侧表面，每个侧壁从胎面带的一个侧边缘几乎延伸到相应的环形胎圈锚固结构。在“无内胎”类型的轮胎中，胎体帘布层内部涂覆有弹性体材料的层，所述弹性体材料优选为基于丁基的弹性体材料，所述弹性体材料的层通常被称为“衬里”，所述衬里具有最佳的气密性并且从一个胎圈延伸到另一个胎圈。
术语“扁平形状”是指在剖视图中具有比其宽度的1/3更短的高度的形状。
半成品的“顶”和“底”表面是基本上平行于地面的表面，分别是最靠近和最远离地面的那些表面，在挤出半成品的同时挤出机在所述表面上工作。
胎面带通过挤出呈连续条带形式的半成品而制成，所述连续条带随后被切割成具有预定长度的节段，每一个节段随后可以在制造工艺的构建步骤的过程中与轮胎的其它部件相联，在所述制造工艺的构建步骤的过程中，所有组成轮胎的半成品在环境温度下组装在一起。
例如，胎面带节段被施加到先前在辅助鼓上构建的带束结构上，使得在将胎面带与等待在不同的成形鼓上的胎体结构组装的步骤期间，胎面带的相对侧边缘将接合轮胎的侧壁的径向外部和轴向内部的端部翼片。根据设计选择，这样的端部翼片以使得被包封在胎体帘布层与胎面带的相对侧边缘之间的方式被施加到胎体帘布层上，或者它们可以直接叠置在胎面带的相对侧边缘上。
通常，胎面带与导电插入件相联，所述导电插入件的作用是将由其上已经安装有轮胎的车辆积聚的静电排放到地上；在具有高二氧化硅含量和低“炭黑”含量的复合物的轮胎中，导电插入件是特别必要的。
EP0868911A1描述了用于制造车辆轮胎的胎面带的挤出方法和设备，其中，可以在胎面带层中的一个的共挤出同时形成导电插入件。
GB2296335A描述了用于验证轮胎的结构完整性的方法。这种方法包括：通过施加具有谐波调制强度的外部低强度能量源来加热待检查的轮胎区域的表面；通过热像仪显示受热区域，以检测从表面发射的热红外辐射；将发射的热辐射与施加的低强度能量进行比较以显示轮胎表面的热图像；确定如此获得的热图像中的任何不连续性，以检测结构中的任何材料缺失或其它缺陷。
WO2011/159280A2描述了轮胎表面异常检测系统和方法。WO2011/159280A2中描述的技术将热能施加到轮胎的表面，并且监测轮胎表面处的红外能量以生成表征轮胎表面的一个或多个红外图像。红外图像由图像处理系统处理，以确定和定位轮胎表面上的热梯度。根据WO2011/159280A2，在红外图像中存在热梯度通常表示在轮胎表面中存在异常。
申请人已经注意到，EP0868911A1中描述的工艺不包括对轮胎或其部件的完整性的检查。
申请人还已经观察到，GB2296335A和WO2011/159280A2中描述的检查基本上在制造工艺结束时(即，轮胎已经完全组装时)在轮胎上进行。
申请人已经证实，当制造导电插入件时，由于导电插入件不在顶表面处露出(例如，因为共挤流之间的干涉造成)，所以在半成品中可能出现问题。在这种情况下，插入物将保持埋覆在其它复合物中，而不会到达顶表面，因此不会给予成品以所需的导电性能。GB2296335A和WO2011/159280A2中描述的检查不能在半成品的制造过程中检测这种缺陷，因为它们只能通知成品轮胎中存在问题。
申请人已经进一步证实，同样在其中导电插入件通过专用的挤出螺杆挤出然后被布置在胎面带的中心位置中以便跨过胎面带的中心位置从底表面到顶表面的情况下，GB2296335A和WO2011/159280A2中描述的检查将显示相同的限制。
事实上，申请人已经观察到，参照用于制造导电插入件的该第二种技术，在胎面带的底表面或径向内表面处以及在胎面带的顶表面或径向外表面处都可能出现露出问题和由此导致的低导电性能。GB2296335A和WO2011/159280A2中描述的控制技术将仅允许在整个轮胎制造工艺结束时采取任何行动。
在这种情况下，申请人已经注意到，导电插入件由与胎面带的其它部件不同的材料制成。申请人还已经注意到，这种差异可能对导电插入件的热行为和半成品的其余结构的热行为具有显著的影响。
更一般地，申请人已经注意到，在提供半成品的设备的出口处，在半成品中使用的材料具有比环境温度更高的温度，并且不同材料的热行为的差异在一定程度上更加明显。
因此，申请人已经认识到，可以有利地使用这种差异来验证特定部件的存在和/或一些部件相对于其它部件的正确布置。
然后，申请人已经发现，通过适当地检测表征由半成品释放的热量的辐射，可以确定是否存在给定的部件(例如，导电插入件)并且确定给定的部件是否已经根据需要布置。
发明内容
根据第一方面，本发明涉及用于在轮胎构建工艺中控制半成品的挤出的方法。
优选地，在挤出组件的出口处提供半成品。
所述半成品优选地包括由至少一种第一材料制成的至少一个第一部件。
优选地，所述半成品包括由不同于所述第一材料的至少一种第二材料制成的至少一个第二部件。
优选地，所述半成品在所述挤出组件中进行挤出的过程中具有积聚的热量。
优选地，执行第一验证。
优选地，执行所述第一验证以验证所述第二部件的存在。
优选地，执行所述第一验证以验证所述第二部件相对于所述第一部件的布置。
优选地，所述第一验证包括在所述半成品释放所述积聚的热量的同时检测表征从所述半成品发射的热量的第一电磁辐射。
优选地，所述第一验证包括基于检测到的所述第一辐射确定第一检测参数。
优选地，所述第一检测参数表征所述第二部件的存在。
优选地，所述第一检测参数表征所述第二部件相对于所述第一部件的布置。
申请人认为，因此可以基本实时地检测关于导电插入件的存在和/或布置的任何错误和/或不准确性。通过一旦检测到异常就中断半成品的制造，可以节省大量的材料，否则在缺乏基于本发明的控制工艺的情况下，所述材料将会用于制造随后将必须被丢弃的半成品或者甚至整个轮胎。
根据第二方面，本发明涉及用于在轮胎构建工艺中控制半成品的挤出的设备。
优选地，在挤出组件的出口处提供半成品。
所述半成品优选地包括由至少一种第一材料制成的至少一个第一部件。
优选地，所述半成品包括由不同于所述第一材料的至少一种第二材料制成的至少一个第二部件。
优选地，所述半成品在所述挤出组件中进行挤出的过程中具有积聚的热量。
优选地，所述设备适于执行第一验证。
优选地，执行所述第一验证以验证所述第二部件的存在。
优选地，执行所述第一验证以验证所述第二部件相对于所述第一部件的布置。
优选地，所述设备包括至少一个第一检测装置，所述至少一个第一检测装置适于在所述半成品释放所述积聚的热量的同时检测表征从所述半成品发射的热量的第一电磁辐射。
优选地，所述设备包括与所述至少一个第一检测装置相联的处理单元。
优选地，所述处理单元构造成用于基于检测到的所述第一辐射确定第一检测参数。
优选地，所述第一检测参数表征所述第二部件的存在。
优选地，所述第一检测参数表征所述第二部件相对于所述第一部件的布置。
申请人认为，这使得可以在半成品的制造过程中快速地且有效地检测任何缺陷，从而避免了制造随后将必须被丢弃的半成品和成品轮胎。
在以上方面的至少一个中，本发明可以具有以下优选特征中的一个或多个。
优选地，根据所述第一检测参数生成第一通知信号。
优选地，确定所述第一检测参数包括基于检测到的所述第一辐射来验证所述半成品是否具有对应于所述第一部件并且具有第一温度的至少一个第一部分。
优选地，确定所述第一检测参数包括基于检测到的所述第一辐射来验证所述半成品是否具有对应于所述第二部件并且具有第二温度的至少一个第二部分。
优选地，确定所述第一检测参数包括验证所述第一温度和所述第二温度之间的差值是否大于第一阈值。
优选地，确定所述第一检测参数包括生成表征在先前步骤中执行的验证的第一操作参数。
优选地，所述第一检测参数包括所述第一操作参数。
申请人认为，因此将可以快速地且有效地至少验证所述半成品的第二部件的存在。
优选地，确定所述第一检测参数包括验证所述第二部分是否处于相对于所述第一部分的预定位置中。
优选地，确定所述第一检测参数包括生成相应的第一验证参数。
优选地，所述第一检测参数包括所述第一验证参数。
优选地，确定所述第一检测参数包括验证所述第一部分和所述第二部分中的至少一个是否具有预定尺寸。
优选地，确定所述第一检测参数包括生成相应的第二验证参数。
优选地，所述第一检测参数包括所述第二验证参数。
优选地，所述第一验证包括在所述挤出期间执行的至少一个第一子步骤。
申请人认为，这将允许基本实时地进行分析，以获得对刚刚制成的半成品的质量的基本立即的评估。
优选地，所述第一验证包括在所述挤出已经完成之后执行的第二子步骤。
优选地，所述第二子步骤基本上基于在所述挤出期间检测到的所有第一辐射来执行。
申请人认为，因此可以进行更清楚的分析，例如，基于在半成品制造期间收集的所有数据。
优选地，通过检测所述第一电磁辐射来生成第一图像。
优选地，通过基本上在相同的时间间隔内检测电磁辐射来生成所述第一图像中的每一个。
优选地，所述第一验证包括将相应的第一识别码与每个第一图像相关联。
优选地，针对每个第一图像，生成所述第一通知信号。
优选地，针对每个第一图像，存储与所述第一图像相关联的第一识别码和表征相应的第一通知信号的第一数据。
申请人认为，这将允许以更准确和有效的方式跟踪半成品的每个部分的质量。
优选地，所述半成品具有扁平形状，所述扁平形状由顶表面、底表面和至少两个侧表面限定。
优选地，所述第一电磁辐射基本上从所述顶表面发射。
优选地，当所述半成品释放所述积聚的热量时，表征从所述半成品发射的热量的第二电磁辐射基本上从所述底表面发射。
优选地，执行第二验证。
优选地，执行所述第二验证以验证所述第二部件的存在。
优选地，执行所述第二验证以验证所述第二部件相对于所述第一部件的布置。
优选地，所述第二验证包括检测所述第二电磁辐射。
优选地，所述第二验证包括基于检测到的所述第二辐射确定第二检测参数。
优选地，所述第二检测参数表征所述第二部件的存在。
优选地，所述第二检测参数表征所述第二部件相对于所述第一部件的布置。
优选地，所述第二验证包括根据所述第二检测参数生成第二通知信号。
优选地，确定所述第二检测参数包括基于检测到的所述第二辐射来验证所述半成品是否具有对应于所述第一部件并且具有第三温度的至少一个第三部分。
优选地，确定所述第二检测参数包括基于检测到的所述第二辐射来验证所述半成品是否具有对应于所述第二部件并且具有第四温度的至少一个第四部分。
优选地，确定所述第二检测参数包括验证所述第三温度与所述第四温度之间的差值是否大于第二阈值。
优选地，确定所述第二检测参数包括生成表征在先前步骤中执行的验证的第二操作参数。
优选地，所述第二检测参数包括所述第二操作参数。
申请人认为，这将允许对半成品进行完整的分析，特别是关于第二部件的存在。申请人认为，这种分析在其中第二部件通过专门的挤出螺杆挤出的工艺中可以是特别有利的，因为在半成品的两个表面处都可能发生露出问题。
优选地，确定所述第二检测参数包括验证所述第四部分是否处于相对于所述第三部分的预定位置中。
优选地，确定所述第二检测参数包括生成相应的第三验证参数。
优选地，所述第二检测参数包括所述第三验证参数。
优选地，确定所述第二检测参数包括验证所述第三部分和所述第四部分中的至少一个是否具有预定尺寸。
优选地，确定所述第二检测参数包括生成相应的第四验证参数。
优选地，所述第二检测参数包括所述第四验证参数。
优选地，所述第二验证包括在所述挤出期间执行的至少一个第一子步骤。
优选地，所述第二验证包括在所述挤出已经完成之后执行的第二子步骤。
优选地，所述第二子步骤基本上基于在所述挤出期间接收到的所有第二辐射来执行。
优选地，通过检测所述第二电磁辐射来生成第二图像。
优选地，通过基本上在相同的时间间隔内检测电磁辐射来生成所述第二图像中的每一个。
优选地，所述第二验证包括将相应的第二识别码与每个第二图像相关联。
优选地，针对每个第二图像，生成所述第二通知信号。
优选地，针对每个第二图像，存储与所述第二图像相关联的第二识别码和表征相应的第二通知信号的第二数据。
优选地，所述半成品在切割成适当尺寸时形成多个胎面带。
优选地，所述第二部件是与胎面带相联的导电插入件。
优选地，所述处理单元构造成用于根据所述第一检测参数来生成第一通知信号。
优选地，编码器用于将相应的第一识别码与所述第一组中的每一个相关联。
优选地，所述第一检测装置构造成用于基本上检测从所述顶表面发射的第一电磁辐射。
优选地，所述第一检测装置基本面向所述顶表面。
优选地，所述设备包括第二检测装置，所述第二检测装置构造成用于在所述半成品释放所述积聚的热量的同时检测表征从所述半成品发射的热量的第二电磁辐射，所述第二电磁辐射基本上从所述底表面发射。
优选地，所述第二检测装置基本面向所述底表面。
优选地，所述设备构造成用于执行第二验证。
优选地，执行所述第二验证以验证所述第二部件的存在。
优选地，执行所述第二验证以验证所述第二部件相对于所述第一部件的布置。
优选地，所述处理单元与所述第二检测装置相联。
优选地，所述处理单元构造成用于基于检测到的所述第二辐射确定第二检测参数。
优选地，所述第二检测参数表征所述第二部件的存在。
优选地，所述第二检测参数表征所述第二部件相对于所述第一部件的布置。
优选地，所述处理单元构造成用于根据所述第二检测参数来生成第二通知信号。
优选地，所述编码器构造成用于将相应的第二识别码与第二组中的每一个相关联。
优选地，所述第二检测装置基本面向所述底表面。
附图说明
根据以下对本发明的优选但非限制性实施例的详细描述，另外的特征和优点将变得更加显明。在下面的描述中将参考附图，这些附图也通过说明性而非限制性的示例提供，其中：
图1示意性地示出了根据本发明的设备的一部分；
图2示出了其上可以执行根据本发明的方法的半成品的第一实施例的示意性剖视图；
图3示出了其上可以执行根据本发明的方法的半成品的第二实施例的示意性剖视图；
图4示出了表征根据本发明的设备的框图；
图5-6示意性地示出了在根据本发明的方法和设备中使用的图像；
图5a-6a示意性地示出了在根据本发明的方法和设备中使用的另外的图像。
具体实施方式
参照附图，附图标记1整体表示适用于轮胎构建工艺的半成品。
半成品1至少包括第一部件11和第二部件12。第一部件11由第一材料制成，而第二部件12由不同于所述第一材料的第二材料制成。
优选地，半成品1具有扁平形状，所述扁平形状由顶表面1a、底表面1b和至少两个侧表面1c、1d限定(图2、3)。
作为示例，半成品1可以用于制造轮胎的胎面带。更详细地说，半成品1在切割成适当尺寸时可以形成多个胎面带。
作为示例，第二部件12是与胎面带相联的导电插入件。第一部件11因此可以形成由弹性体材料制成的胎面带结构的其余部分。
以下对半成品1的描述当然可适用于将用来构建轮胎的任何结构部件(而不限于胎面带)的任何半成品(至少包括第一部件和第二部件)。
在挤出组件2的出口处提供半成品1。
在一个实施例中，第一部件11和第二部件12通过单独的挤出螺杆挤出，然后如图2中示意性示出的那样相互联接。在这种情况下，第二部件12基本上仅延伸穿过第一部件11，通过顶表面1a和底表面1b露出。
在另一个实施例中，第一部件11和第二部件12被共挤出，从而形成图3中示意性示出的半成品。在这种情况下，第二部件12沿着半成品的底表面1b延伸并且在基本中心的位置穿过第一部件11，通过同一半成品的顶表面1a露出。
注意，挤出组件2包括制造半成品1所需的整个本身已知的结构。
在挤出组件2中进行挤出工艺的过程中，半成品1积聚热量。
如将在下文中更加显明的那样，在挤出工艺结束时，通过在所述热量释放时检测到的辐射，可以分析半成品1的完整性。
特别地，执行至少第一验证。
第一验证的目的是验证第二部件12的存在。
换句话说，验证第二部件12是否存在并且是否通过半成品1的表面正确地露出。
附加地或作为替代，第一验证旨在验证第二部件12相对于第一部件11的布置。
例如，因此验证第二部件12是否已经沿着半成品1的中间纵向轴线正确地布置。
更详细地说，第一验证包括检测第一电磁辐射R1。
第一辐射R1基本上源于从半成品1发射的在挤出工艺的过程中积聚的热量。
优选地，第一辐射R1是基本上从半成品1的顶表面1a发射的辐射。
优选地，第一辐射R1是红外辐射。
优选地，所述第一辐射R1的检测将随后生成第一图像G1、G2、…、Gn。
优选地，通过基本上在相同的时间间隔内检测辐射来生成所述第一图像G1、G2…中的每一个。
更具体地说，所述第一图像G1、G2、…、Gn中的每一个表征在给定时刻拍摄的热像图像。
换句话说，如将在下文进一步描述的那样，第一辐射R1可以由热像仪(第一检测装置110)检测到。通过检测允许生成热像图像的辐射来生成每个第一图像G1、G2、…、Gn。
优选地，第一辐射R1是以介于10Hz和150Hz之间的频率获取的。
作为示例，图5和5a示意性地示出了对应于第一图像G1、G2、…、Gn中的一个的热像图像。
根据本发明，基于第一辐射R1来确定第一检测参数DP1。
优选地，第一检测参数DP1表征第二部件12的存在。
附加地或作为替代，第一检测参数DP1表征第二部件12相对于第一部件11的布置。
更详细地说，基于第一辐射R1，验证半成品1是否包括具有第一温度T1的至少一个第一部分A和具有第二温度T2的一个第二部分B。然后验证第一温度T1和第二温度T2之间的差值是否超过预定的第一阈值TH1；根据该后面的验证，然后生成第一操作参数OP1。
实际上，第一部分A可以对应于第一部件11，而第二部分B可以对应于第二部件12：如果验证了一定的温差，则意味着存在根据不同的动力学冷却的两种不同材料。这样的不同材料因此可以对应于用于制造第一部件11和第二部件12的材料。
因此，第一操作参数OP1可以表征该分析的结果：如果确定了第二部分B(即，第二部件12)的存在，则第一操作参数OP1将具有一定的值；如果相反地，未检测到第二部分B(即，第二部件12)，则第一操作参数OP1将具有与所述预定值不同的值。
注意，由第一操作参数OP1表征的分析旨在验证第二部件12是否从半成品1的表面正确地露出：因此，第二部分B的“存在”应该被理解为“存在于半成品1的外表面上”。事实上，第二部件12可能实际上存在于半成品1内，但是没有通过其表面露出，在这种情况下，其将不会被正确地检测到。
图5示意性地示出了在基于第一辐射R1的检测获得的热像图像G1、G2、…、Gn中识别的第一部分A和第二部分B，其中，第二部件12已经被正确地检测到。
相反，图5a以类似的方式示出了在基于第一辐射R1的检测获得的热像图像G1、G2、…、Gn中标识的第一部分A和第二部分B，其中，第二部件12没有被正确地检测到，因为它没有恰当地在半成品1的外表面(例如，顶表面1a)上露出。
申请人希望指出，当第二部件12是导电插入件时，第一温度T1和第二温度T2之间的差可以介于约4℃和6℃之间；申请人还希望指出，这样的值远大于商业上可获得的热像仪的公差阈值，因此可以高度可靠地检测这种温差。
申请人还希望指出，由于市场上目前可获得的商业热像仪的特征，热像仪的位置可以基本上任意选择。更具体地说，热像仪可以定位在距半成品1的顶表面/底表面可变的高度处，例如大约30cm至2.5m(该范围是最常用的范围，基本上取决于目前可获得的热像仪和光学器件的技术规格)，或者在半成品1还没有开始经历液体冷却工艺(通常使用水)的情况下，定位在挤出组件2附近或者离其几米的位置。例如，在从挤压出口处开始的空气冷却过程中，第一部件11和第二部件12将根据充分不同的动力学冷却，从而如先前所说明的那样可被检测到，而对于现代热像仪而言没有太多困难。
基于第一辐射R1，还可以验证第二部分B是否处于相对于第一部分A的预定位置中。特别地，在已经识别第一部分A和第二部分B之后，确定它们的相互位置是否对应于预定布置。例如，验证第二部分B是否沿着半成品1的中间纵向轴线布置。根据该验证，然后生成第一验证参数VP1，其值将取决于第二部分B是否相对于第一部分A正确地布置。
可以基于第一辐射R1进行的进一步验证涉及第一部分A的尺寸和/或第二部分B的尺寸：优选地，一旦第一部分A和第二部分B已经被识别，它们的尺寸被确定；然后将这些尺寸与预先存储的数据进行比较，并且根据这种比较生成第二验证参数VP2。
实际上，第二验证参数VP2将取得表征第一部分A和/或第二部分B具有所需尺寸的事实的预设值。
基于所述第一辐射R1，生成第一检测参数DP1。
第一检测参数DP1包括上述第一操作参数OP1、第一验证参数VP1、第二验证参数VP2中的一个或多个。
优选地，第一检测参数DP1包括第一操作参数OP1、第一验证参数VP1以及第二验证参数VP2。
根据第一检测参数DP1生成第一通知信号NS1。
有利地，第一通知信号NS1关于第一部件11和第二部件12的存在、尺寸和/或布置表征半成品1或其至少一部分的可接受性或不可接受性。
例如，第一通知信号NS1可以包括在由于错误/缺陷而应该中断半成品的制造的情况下旨在引起操作员注意的视觉和/或听觉信号。
附加地或者作为替代，第一通知信号NS1可以构造成用于自动地停止半成品1的挤出。
附加地或者作为替代，第一通知信号NS1可以就半成品的部件的存在/布置而言简单地包含关于半成品1的质量的信息。这样的信息可以被存储以用于进一步处理。
如上所述，第一辐射R1的检测产生多个热像图像G1、G2、…、Gn。
有利地，相应的第一识别码ID1与每个第一图像G1、G2、…、Gn相关联。
所述第一识别码ID1便利地用于将热像图像与在其中表征的半成品的部分相关联。
作为示例，第一识别码ID1可以通过编码器130获得，所述编码器的旋转与半成品1在其离开挤出组件2时的前进相关联。因此，第一识别码ID1以渐进的方式获得，使得随着时间的推移按次序获得的热像图像将与以同一次序挤出的半成品1的部分相关联。
优选地，针对每个第一图像G1、G2、…、Gn，生成第一通知信号NS1。以这种方式，对每张热像图像进行分析的结果将是可用的。
有利地，执行存储步骤，在该步骤期间，针对每个第一图像G1、G2、…、Gn，存储以下内容：
第一识别码ID1，和
表征相应的第一通知信号NS1的第一数据D1。
因此，即使在挤出工艺结束之后(例如，当半成品1已经卷绕成卷或切割适当尺寸以用于存放时)，也将可以回顾错误或缺陷。
优选地，半成品1的分析包括第一子步骤，其中，第一通知信号NS1在挤出工艺期间生成。因此，将可以基本上实时地检测与半成品的部件的存在和/或布置有关的任何问题，从而如果必要的话可以中断挤出工艺，以避免制造随后将必须被丢弃的其它半成品。
优选地，半成品1的分析包括在挤出完成之后执行的第二子步骤：该第二分析(也称为“批量”或“离线”分析)可以有利地考虑到在挤出工艺期间获得的所有热像图像，使得与在半成品1被挤出时实时执行的那些验证相比，可以进行更深入和更复杂(统计)的验证。
作为示例，在第二子步骤中，在挤出工艺期间获得的图像被用于通过软件重建所制造的半成品的总图像。更具体地说，在没有任何时间和/或尺寸限制的情况下，每一个制造批次的图像从头到尾重建。在该重建图像中，从制造开始到制造结束地检查第二部件12。特别地，在整个制造工艺中分析连续性和温度变化。这样分析的图像允许验证整个制造批次，并且可以与刚进行的分析一起保存到制造数据收集系统中。
如上所述，第一辐射R1优选为基本上从半成品1的顶表面1a发射的辐射。
在本发明的一个实施例中，例如可适用于其中半成品1具有图3中示意性示出的结构的情况，仅基于第一辐射R1的分析可以足以评估半成品1的结构正确性。
在不同的实施例中，例如可适用于其中半成品1具有图2中示意性示出的结构的情况，可以基于从半成品1的底表面1b发射的辐射以完全类似于上述第一验证的方式执行第二验证。
第二验证旨在验证以下至少一项：
第二部件12的存在；以及
第二部件12相对于第一部件11的布置。
第二验证优选地包括检测基本上从半成品1的底表面1b发射的第二辐射R2。
当半成品1释放在挤出组件2中进行挤出的过程中积聚的热量时，发射这样的第二辐射R2。
优选地，第二辐射R2是红外辐射。
优选地，所述第二辐射R2的检测将随后生成第二图像H1、H2、…、Hn。
优选地，通过基本上在相同的时间间隔内检测辐射来生成所述第二图像H1、H2、…、Hn中的每一个。
优选地，第二辐射R2是以介于10Hz和150Hz之间的频率获取的。
作为示例，图6和6a示意性地示出了对应于第二图像H1、H2、…、Hn中的一个的热像图像。
换句话说，如将在下文进一步描述的那样，第二辐射R2可以由热像仪(第二检测装置140)检测到。每个第二图像H1、H2、…、Hn通过检测允许生成热像图像的辐射来生成。
基于第二辐射R2，生成表征第二部件12的存在和/或第二部件12相对于第一部件11的布置的第二检测参数DP2。
更详细地说，基于第二辐射R2，验证半成品1是否包括具有第三温度T3的至少一个第三部分C和具有第四温度T4的一个第四部分D。然后验证第三温度T3和第四温度T4之间的差值是否大于第二阈值TH2，并且生成相应的第二操作参数OP2。
实际上，第三部分C可以对应于第一部件11，并且第四部分D可以对应于第二部件12。
如果识别了具有上述热特性的第三部分C和第四部分D，则第二操作参数OP2将具有表征第二部件12存在的事实的值。
例如，图6示意性地示出了在基于第二辐射R2的检测获得的热像图像H1、H2、…、Hn中识别的第三部分C和第四部分D，其中，第二部件12已经被正确地检测到。
相反，图6a以类似的方式示出了在基于第二辐射R2的检测获得的热像图像H1、H2、…、Hn中识别的第三部分C和第四部分D，其中，第二部件12没有被正确地检测到，因为它没有完全在半成品1的外表面(例如，底表面1b)上露出。
附加地或作为替代方案，可以基于检测到的第二辐射R2验证第四部分D是否处于相对于第三部分C的预定位置中。然后生成相应的第三验证参数VP3，所述第三验证参数表征该部分的分析的结果。
还可以基于检测到的第二辐射R2验证第三部分C和/或第四部分D是否具有预定尺寸。在该部分的分析之后，生成相应的第四验证参数VP4。
有利地，上述第二检测参数DP2包括第二操作参数OP2、第三验证参数VP3和第四验证参数VP4中的一个或多个。
优选地，第二检测参数DP2包括第二操作参数OP2、第三验证参数VP3以及第四验证参数VP4。
根据第二检测参数DP2，生成第二通知信号NS2，其意义完全类似于上述的第一通知信号NS1的意义，但是它涉及半成品1的底表面1b。
如上所述，第二辐射R2的检测产生多个热像图像H1、H2、…、Hn。
有利地，相应的第二识别码ID2与每个第二图像H1、H2、…、Hn相关联。
所述第二识别码ID2便利地用于将热像图像与在其中表征的半成品1的部分相关联。
作为示例，第二识别码ID2可以与第一识别码ID1一样通过上述编码器130获得。
优选地，针对每个第二图像H1、H2、…、Hn，生成第二通知信号NS2。以这种方式，对每张热像图像进行分析的结果将是可用的。
有利地，执行存储步骤，在该步骤期间，针对每个第二图像H1、H2、…、Hn，存储以下内容：
第二识别码ID2，和
表征相应的第二通知信号NS2的第二数据D2。
优选地，第二验证包括第一子步骤，其中，第二通知信号NS2在挤出工艺期间生成。
优选地，第二验证包括在挤出完成之后执行的第二子步骤：该第二分析(也称为“批量”或“离线”分析)可以有利地考虑到在挤出工艺期间获得的所有热像图像，使得与在半成品1被挤出时实时执行的那些验证相比，可以进行更深入和更复杂(统计)的验证。
根据本发明的方法可以有利地通过图4中示意性示出的设备100来实施。
首先，设备100至少包括用于检测第一电磁辐射R1的上述第一检测装置110。
优选地，第一检测装置110基本面向半成品1的顶表面1a，并且检测从所述顶表面1a发射的第一电磁辐射R1。
优选地，设备100还包括第二检测装置140。
优选地，第二检测装置140基本面向半成品1的底表面1b，并且检测从所述底表面1b发射的第二辐射R2。
设备100还包括处理单元120，所述处理单元与第一检测装置110相联，并且优选地与第二检测装置140相联。
处理单元120构造成用于基于第一辐射R1确定第一检测参数DP1，并且优选地基于第二辐射R2确定第二检测参数DP2。
特别地，处理单元120构造成用于确定以下参数中的一个或多个：
第一操作参数OP1；
第一验证参数VP1；
第二验证参数VP2。
优选地，处理单元120构造成用于确定第一操作参数OP1、第一验证参数VP1以及第二验证参数VP2。
特别地，处理单元120构造成用于确定以下参数中的一个或多个：
第二操作参数OP2；
第三验证参数VP3；
第四验证参数VP4。
优选地，处理单元120构造成用于确定第二操作参数OP2、第三验证参数VP3以及第四验证参数VP4。
处理单元120优选地构造成用于基于第一检测参数DP1来生成所述第一通知信号NS1。
处理单元120优选地构造成用于基于第二检测参数DP2来生成所述第二通知信号NS2。
优选地，设备100还包括编码器130。
编码器130与挤出组件2相关联，使得编码器130的旋转将与离开挤出组件2的半成品1的前进相关联。
通过编码器130，可以将相应的第一识别码ID1与每个第一图像G1、G2、…、Gn相关联以及优选地将相应的第二识别码ID2与每个第二图像H1、H2、…、Hn相关联。
优选地，设备100与存储介质150相联，所述存储介质可以被集成到设备100中或连接到所述设备。
存储介质150可以有利地存储针对每个第一图像G1、G2、…、Gn的第一识别码ID1和相应的第一数据D1。
存储介质150可以有利地存储针对每个第二图像H1、H2、…、Hn的第二识别码ID2和相应的第二数据D2。

Claims (24)

1.一种用于在轮胎构建工艺中控制半成品的挤出的方法，所述方法包括：
在挤出组件(2)的出口处提供半成品(1)，所述半成品(1)至少包括：
由至少一种第一材料制成的第一部件(11)，
由不同于所述第一材料的至少一种第二材料制成的第二部件(12)；
所述半成品(1)在所述挤出组件(2)中进行挤出的过程中具有积聚的热量；
执行第一验证以验证以下至少一项：
所述第二部件(12)的存在，
所述第二部件(12)相对于所述第一部件(11)的布置；
其中，所述第一验证包括：
在所述半成品(1)释放所述积聚的热量的同时检测表征从所述半成品(1)发射的热量的第一电磁辐射(R1)；
基于检测到的所述第一电磁辐射(R1)，确定表征所述第二部件(12)的存在和所述第二部件(12)相对于所述第一部件(11)的布置中的至少一者的第一检测参数(DP1)。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，根据所述第一检测参数(DP1)生成第一通知信号(NS1)。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，确定所述第一检测参数(DP1)包括：
基于检测到的所述第一电磁辐射(R1)：
验证所述半成品(1)是否具有对应于所述第一部件(11)并且具有第一温度(T1)的至少一个第一部分(A)，
验证所述半成品(1)是否具有对应于所述第二部件(12)并且具有第二温度(T2)的至少一个第二部分(B)；
验证所述第一温度(T1)与所述第二温度(T2)之间的差值是否大于第一阈值(TH1)；
生成表征在先前步骤中执行的验证的第一操作参数(OP1)；
所述第一检测参数(DP1)包括所述第一操作参数(OP1)。
4.根据权利要求3所述的方法，其中，确定所述第一检测参数(DP1)包括：验证所述第二部分(B)是否处于相对于所述第一部分(A)的预定位置中，并且生成相应的第一验证参数(VP1)，所述第一检测参数(DP1)包括所述第一验证参数(VP1)。
5.根据权利要求3或4所述的方法，其中，确定所述第一检测参数(DP1)包括：
验证所述第一部分(A)和所述第二部分(B)中的至少一个是否具有预定尺寸，并且生成相应的第二验证参数(VP2)，所述第一检测参数(DP1)包括所述第二验证参数(VP2)。
6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第一验证包括在所述挤出期间执行的至少一个子步骤。
7.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第一验证包括在所述挤出已经完成之后执行的第二子步骤。
8.根据权利要求1所述的方法，其中，通过所述第一电磁辐射(R1)的所述检测生成第一图像(G1，G2，…，Gn)，通过基本上在相同的时间间隔内检测电磁辐射来生成所述第一图像(G1，G2，…，Gn)中的每一个。
9.根据权利要求8所述的方法，其中，所述第一验证包括将相应的第一识别码(ID1)与每个第一图像(G1，G2，…，Gn)相关联。
10.根据权利要求9所述的方法，其中，根据所述第一检测参数(DP1)生成第一通知信号(NS1)，并且针对每个第一图像(G1，G2，…，Gn)生成所述第一通知信号(NS1)，所述方法包括针对每个第一图像(G1，G2，…，Gn)存储与所述第一图像相关联的第一识别码(ID1)和表征相应的第一通知信号(NS1)的第一数据(D1)。
11.根据权利要求1所述的方法，其中，所述半成品(1)具有扁平形状，所述扁平形状由顶表面(1a)、底表面(1b)和至少两个侧表面(1c，1d)限定。
12.根据权利要求11所述的方法，其中，所述第一电磁辐射(R1)基本上从所述顶表面(1a)发射。
13.根据权利要求11或12所述的方法，其中，当所述半成品(1)释放所述积聚的热量时，表征从所述半成品(1)发射的热量的第二电磁辐射(R2)基本上从所述底表面(1b)发射。
14.根据权利要求13所述的方法，其中，执行第二验证以验证以下至少一项：
所述第二部件(12)的存在，
所述第二部件(12)相对于所述第一部件(11)的布置；
其中，所述第二验证包括：
检测所述第二电磁辐射(R2)；
基于检测到的所述第二电磁辐射(R2)，确定表征所述第二部件(12)的存在和所述第二部件(12)相对于所述第一部件(11)的布置中的至少一者的第二检测参数(DP2)。
15.根据权利要求1所述的方法，其中，所述半成品(1)在切割成适当尺寸时形成多个胎面带。
16.根据权利要求15所述的方法，其中，所述第二部件(12)是与胎面带相联的导电插入件。
17.一种用于在轮胎构建工艺中控制半成品的挤出的设备，其中，在挤出组件(2)的出口处的半成品(1)至少包括：
由至少一种第一材料制成的第一部件(11)，
由不同于所述第一材料的至少一种第二材料制成的第二部件(12)；
所述半成品(1)在所述挤出组件(2)中进行挤出的过程中具有积聚的热量；
所述设备(100)适于执行第一验证，以验证以下至少一项：
所述第二部件(12)的存在，
所述第二部件(12)相对于所述第一部件(11)的布置；
所述设备(100)包括：
至少一个第一检测装置(110)，所述至少一个第一检测装置适于在所述半成品(1)释放所述积聚的热量的同时检测表征从所述半成品(1)发射的热量的第一电磁辐射(R1)；
处理单元(120)，所述处理单元与所述至少一个第一检测装置(110)相联并且构造成用于：
基于检测到的所述第一电磁辐射(R1)，确定表征所述第二部件(12)的存在和所述第二部件(12)相对于所述第一部件(11)的布置中的至少一者的第一检测参数(DP1)。
18.根据权利要求17所述的设备，其中，所述处理单元(120)构造成用于根据所述第一检测参数(DP1)来生成第一通知信号(NS1)。
19.根据权利要求17所述的设备，其中，检测到的所述第一电磁辐射(R1)生成第一图像(G1，G2，…，Gn)，通过基本上在相同的时间间隔内检测的辐射来生成所述第一图像(G1，G2，…，Gn)中的每一个。
20.根据权利要求19所述的设备，包括编码器(130)，所述编码器构造成用于将相应的第一识别码(ID1)与所述第一图像(G1，G2，…，Gn)中的每一个相关联。
21.根据权利要求17-20中任一项所述的设备，其中，所述半成品(1)具有扁平形状，所述扁平形状由顶表面(1a)、底表面(1b)和至少两个侧表面(1c，1d)限定。
22.根据权利要求21所述的设备，其中，所述第一检测装置(110)构造成用于检测从所述顶表面(1a)发射的所述第一电磁辐射(R1)，所述第一检测装置(110)基本上面向所述顶表面(1a)。
23.根据权利要求21所述的设备，其中，包括第二检测装置(140)，所述第二检测装置构造成用于在所述半成品(1)释放所述积聚的热量的同时检测表征从所述半成品(1)发射的热量的第二电磁辐射(R2)，所述第二电磁辐射从所述底表面(1b)发射，所述第二检测装置(140)基本上面向所述底表面(1b)。
24.根据权利要求23所述的设备，其中，所述设备(100)构造成用于执行第二验证，以验证以下至少一项：
所述第二部件(12)的存在，
所述第二部件(12)相对于所述第一部件(11)的布置；
其中，所述处理单元(120)与所述第二检测装置(140)相联并且构造成用于：
基于检测到的所述第二电磁辐射(R2)，确定表征所述第二部件(12)的存在和所述第二部件(12)相对于所述第一部件(11)的布置中的至少一者的第二检测参数(DP2)。
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