CN107860530A - 一种气密性检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种气密性检测装置。该气密性检测装置包括：承载半成品的下盖，在所述下盖上设有第一密封件；上盖，在所述上盖上设有第二密封件；第一传动件，所述第一传动件被配置为能带动所述上盖移动至与所述下盖盖接共同围成收纳半成品的容纳腔，并且使所述第一密封件和第二密封件分别密封半成品上的开口和通孔。本发明要解决的一个技术问题是不易在产品半成品状态下进行气密性检测。

Description

一种气密性检测装置

技术领域

本发明涉及气密性检测技术领域，更具体地，本发明涉及一种气密性检测装置。

背景技术

目前，智能手表、智能手环等电子产品深受大众追捧，各大公司不断推出新型产品。此类产品需要在产品半成品状态进行气密性检测，以提前筛选出不良品。

对半成品进行气密性检测能在半成品状态分析易泄露位置、泄露影响因素等。方便在进行整机气密性检测的时候，排除掉半成品状态泄露因素的影响。方便寻找泄露点，针对泄露点进行产品的优化和改善，提高出货成功率。

半成品气密性检测有如下难点：

产品半成品状态，有一开口(与产品另一部分的结合处)需要密封，此开口有可能形状规则，也可能形状不规则，密封难度大。

产品半成品状态因缺失部分部件或者产品本身需要，会有一些通孔。在进行气密性检测时，这些通孔需要密封。对这些通孔的现有密封方法一般为手动或者自动贴膜，费时、费力、费钱，而且密封效果差。

产品半成品状态的通孔和开口位置均需要密封。目前对半成品上的通孔和开口实行分别密封，操作程序繁琐、复杂，效率极低。

此外，为保证每个产品的测试准确率、避免重复检测，还需要对产品进行扫码标识。半成品的被检测所处位置和被扫码所处位置可能不同，导致半成品需要在两个位置之间进行流转，加大检测难度。

因此，有必要设计一种气密性检测装置，以在产品半成品状态下进行气密性检测。

发明内容

本发明的一个目的是提供一种气密性检测装置的新技术方案。

根据本发明的第一方面，提供了一种气密性检测装置。该气密性检测装置包括：承载半成品的下盖，在所述下盖上设有第一密封件；上盖，在所述上盖上设有第二密封件；第一传动件，所述第一传动件被配置为能带动所述上盖移动至与所述下盖盖接共同围成收纳半成品的容纳腔，并且使所述第一密封件和第二密封件分别密封半成品上的开口和通孔。

可选地，还包括气密性检测仪，所述第二密封件包括设置于所述上盖上的凸台，在所述上盖上还设有第二通道，所述第二通道将所述容纳腔与所述气密性检测仪接通。

可选地，所述上盖组装有安装板，所述第二密封件组装于所述安装板上；或者，所述第二密封件一体设置于所述上盖上。

可选地，在所述下盖上设有定位槽，所述第一密封件包括安装于所述定位槽内的第一密封圈，所述第一密封圈被配置为在所述上盖与所述下盖盖接时能密封隔离所述容纳腔与半成品的开口；在所述下盖上还设有第一通道，所述第一通道被配置为能使半成品的开口与外界导通。

可选地，在所述第一密封圈的表面设置有突起，所述凸起沿所述第一密封圈的周向间隔分布。

可选地，所述第一传动件被配置为能带动所述第二密封件压紧半成品，并且使半成品压紧第一密封件。

可选地，在所述下盖上设有限定半成品放置位置的定位件。

可选地，在所述上盖和下盖上分别设有多组相匹配的定位轴和定位孔。

可选地，在所述下盖与所述上盖之间设有密封所述容纳腔的第二密封圈。

可选地，还包括导轨、扫描模组和带动所述下盖沿导轨往复移动的第二传动件；所述第二传动件被配置为能带动所述下盖移动至扫码位置；所述扫描模组被配置为能对位于所述扫码位置的半成品进行扫码；所述第二传动件被配置为在所述扫描模组扫码成功后才能带动所述下盖移动至检测位置；所述第一传动件被配置为能带动所述上盖移动至与位于所述检测位置的下盖盖接。

本发明的发明人发现，在产品半成品状态，半成品上的通孔和开口均需要密封。其密封方法为手动或者自动贴膜等，效率低、密封效果差。通孔和开口分别被密封，需要经过多次翻转或者流转程序，流程繁琐、复杂，效率极低。因此，本发明所要实现的技术任务或者所要解决的技术问题是本领域技术人员从未想到的或者没有预期到的，故本发明是一种新的技术方案。

根据本公开的一个实施例，半成品承载于下盖，第一传动件能带动上盖移动至与下盖盖接共同围成收纳半成品的容纳腔。通过上盖与下盖之间的自动盖接，第一密封件和第二密封件能分别自动密封半成品上的开口和通孔。容纳腔与开口、通孔之间不会导通，以进行气密性检测。密封效果佳。检测效率高。

通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述，本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。

附图说明

被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的实施例，并且连同其说明一起用于解释本发明的原理。

图1是本发明一种实施例中提供的气密性检测装置的结构示意图；

图2是本发明一种实施例中提供的气密性检测装置的结构示意图；

图3是本发明一种实施例中提供的下盖的结构示意图；

图4是本发明一种实施例中提供的上盖的结构示意图；

图5是本发明一种实施例中提供的气密性检测装置的结构示意图；

图6是本发明一种实施例中提供的第一密封圈的示意图。

其中，10：底座；100：容纳腔；101：第一通道；11：导轨；12：下盖；13：第一传动件；14：扫描模组；15：第二传动件；16：上盖；160：第一安装孔；161：第二安装孔；17：止挡气缸组件；18：缓冲件；19：止挡件；20：定位件；21：第一密封圈；22：第二密封圈；23：定位孔；24：定位轴；25：安装板；250：第二通道；251：第三安装孔；26：凸台；27：支架组件；28：防护罩；29：过滤阀；30：电控模组。

具体实施方式

现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。

以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。

对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。

在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

根据本发明的一个实施例，提供了一种气密性检测装置。产品半成品状态下，具有开口和通孔。参考图1至图4，该气密性检测装置能够自动密封半成品上的开口和通孔，以进行气密性检测。该半成品气密性检测装置包括下盖12、上盖16和第一传动件13。所述下盖12用于承载半成品。在所述下盖12上设有第一密封件。在所述上盖16上设有第二密封件。

所述第一传动件13能带动所述上盖16移动至与所述下盖12盖接并且共同围成收纳半成品的容纳腔100。通过所述上盖16与所述下盖12之间的盖接，还能够使所述第一密封件和第二密封件分别密封半成品上的开口和通孔。所述容纳孔不会与半成品上的开口和通孔导通，便于进行气密性检测。

一个具体实施方式中，参考图1至图4，首先将半成品承载于所述下盖12上。然后，启动第一传动件13，第一传动件13带动上盖16移动至与下盖12盖接并且围成容纳孔。此时，半成品收纳在容纳孔内部，第一密封件和第二密封件分别密封半成品上的开口和通孔。

本公开中，所述第一传动件13能带动所述上盖16移动至与所述下盖12盖接并且共同围成收纳半成品的容纳腔100。通过所述上盖16与下盖12之间的自动盖接，所述第一密封件和第二密封件能分别自动密封半成品上的开口和通孔。所述容纳腔100与半成品上的开口、通孔之间不导通，以便进行气密性检测。密封效果佳。检测效率高。

所述第一密封件、第二密封件的任意一个可以密封半成品上的开口。所述第一密封件、第二密封件的另外一个密封半成品上的通孔。

可选地，参考图1至图4，所述第一密封件密封半成品上的开口，以使所述容纳腔100与半成品上的开口之间密封隔离。第二密封件密封半成品上的通孔，以使所述容纳腔100与半成品上的通孔之间密封隔离。

进一步地，参考图1、图4，所述第二密封件包括设置于所述上盖16上的凸台26。所述凸台26与半成品上的通孔位置相对应。在所述上盖16与所述下盖12盖接时，所述凸台26封堵住半成品上的通孔。

为进行气密性检测，参考图1、图4，所述气密性检测装置还包括气密性检测仪。在所述上盖16上可设有第二通道250。在所述上盖16与所述下盖12盖接后，所述容纳腔100与所述第二通道250的一端连通。在将所述气密性检测仪与所述第二通道250接通后，所述容纳腔100通过所述第二通道250与所述气密性检测仪接通。例如，所述气密性检测仪可以是检漏仪，所述第二通道250可通过管接头与所述检漏仪上的充气孔接通。例如，所述气密性检测装置还可以包括过滤阀29，所述过滤阀29能对气源进行过滤。

所述第二通道250的具体结构可根据所述气密性检测仪的具体位置来设置。

所述凸台26从所述上盖16向外凸起以密封半成品上的通孔。所述第二通道250能与所述容纳腔100导通。所述凸台26的具体形成方式可以有多种。

一个例子中，参考图4，在所述上盖16上组装有安装板25。在所述上盖16上设有第二安装孔161，所述安装板25定位安装于所述第二安装孔161内。例如，所述安装板25可螺纹连接于所述上盖16上。

在所述安装板25上设有第三安装孔251，所述第二密封件安装于所述第三安装孔251内。例如，所述安装孔251可为阶梯孔，所述第二密封件为对应的阶梯型结构，能防止所述第二密封件从所述安装孔251内脱落。所述第二通道250设置于所述安装板25上。图4为各部件装配好后的视图，在将所述第二密封件安装于所述第三安装孔251内之后，所述第三安装孔251实际上是看不到的。

另外一个例子中，所述第二密封件也可以一体设置于所述上盖16上。

可选地，参考图1、图3，所述第一密封件包括设置于所述下盖12上的第一密封圈21。在所述上盖16与所述下盖12盖接时，所述第一密封圈21能密封隔离所述容纳腔100与半成品的开口。

在所述下盖12上还设有第一通道101。所述第一通道101能使得半成品的开口与外界导通。具体地，在将半成品放置于所述下盖12上时，所述第一通道101的一端与半成品的开口位置对应。例如，为便于与外界导通，所述第一通道101可为折形。

在将所述上盖16与所述下盖12盖接在一起时，所述第一密封圈21隔离密封所述容纳腔100与半成品的开口，所述第一通道101与半成品的开口导通。

进一步地，参考图1，所述第一传动件13可带动所述上盖16上的第二密封件压紧半成品。半成品在所述第二密封件的预紧作用下，压紧所述第一密封件。这样，所述第一密封件被挤压变形在所述下盖12与半成品之间，能密封半成品的开口。所述第二密封件被挤压变形在半成品与所述上盖16之间，能密封半成品的通孔。

所述第二密封件需具备一定硬度以能压紧半成品。例如，所述凸台26可采用肖氏A55-A60的硬度的防静电硅胶制成，其理论压缩量设计约为0.35mm，能够压紧半成品。

所述第一密封件能对半成品起到支撑作用，需具备一定硬度。例如，所述第一密封圈21可采用肖氏A30-A35的硬度的防静电硅胶制成，其理论压缩量设计约为0.45mm。

进一步地，在所述下盖12上可设有与所述第一密封圈21形状相匹配的定位槽。所述第一密封圈21安装于所述定位槽内。

在将半成品安装于所述定位槽后，所述第一通道101与半成品上的开口位置相对应。

所述第一密封圈21具有弹性易变形，不易与所述定位槽配合，导致所述第一密封圈21容易脱离所述定位槽。更进一步地，参考图6，在所述第一密封圈21的表面上可设置有突起。例如，所述凸起可一体设置于所述第一密封圈21上。所述凸起沿所述第一密封圈21的周向间隔分布。所述突起能有效防止所述第一密封圈21脱离所述定位槽。例如，所述突起的数量可以有多个，若干所述突起可沿所述第一密封圈21的外环面间隔分布；和/或，若干所述突起可沿所述第一密封圈21的内环面间隔分布。

需要说明的是，为密封半成品的开口，所述第一密封圈21并未完全收纳于所述定位槽内。所述第一密封圈21具有露出于所述定位槽外并与半成品接触的部分。

所述下盖12用于承载半成品。为对半成品的位置进行定位，可选地，参考图3，在所述下盖12上设有限定半成品放置位置的定位件20。所述定位件20具有止挡表面。在将半成品放置于所述下盖12上之后，所述定位件20上的止挡表面对半成品的表面进行止挡，以实现对半成品放置位置的定位。

所述定位件20与所述定位槽可配合作用，以在将半成品安装于所述定位槽后，所述第一通道101能与半成品上的开口位置相对应。

为使所述第二密封件准确密封半成品上的通孔，参考图3、图4，在所述上盖16和下盖12上分别可设有多组相匹配的定位轴24和定位孔23。在所述第一传动件13带动所述上盖16与所述下盖12盖接的过程中，通过所述定位轴24与所述定位孔23之间的配合，能对所述上盖16进行定位。加之，半成品定位安装于所述下盖12上，因而能使所述上盖16上的第二密封件与半成品上的通孔位置相对应。

在所述上盖16上可设有第一安装孔160。所述定位轴24安装于所述第一安装孔160内。例如图4所示，所述第一安装孔160的数量为4个，任意选两个用于安装所述定位轴24。

为避免所述定位孔23被磨损严重，参考图3，在所述下盖12上可安装有定位套。例如，在所述下盖12可上设有安装所述定位套的安装孔。所述定位套围成的孔即为所述定位孔23。例如。所述定位套可由铜等硬质材料制成。

盖接在一起的上盖16与下盖12之间具有缝隙，需被密封。可选地，参考图1、图3，在所述下盖12与所述上盖16之间设有密封所述容纳腔100的第二密封圈22。

进一步地，参考图3，所述第二密封圈22可设置于所述下盖12上。在将所述上盖16与所述下盖12盖接时，所述第二密封圈22被挤压变形以实现密封。例如，在所述下盖12上可以设有用于安装所述第二密封圈22的安装槽。例如，所述第二密封圈22可以是但不局限于o型密封圈。

为便于将半成品放置于所述下盖12上，可选地，参考图1，所述气密性检测装置还包括第二传动件15和支撑所述下盖12的导轨11。所述第二传动件15能带动所述下盖12沿所述导轨11往复移动。例如，所述导轨11和第二传动件15可以安装在底座10上。

在将半成品放置于所述下盖12后，所述第二传动件15能带动所述下盖12沿所述导轨11移动至检测位置。

在所述下盖12移动至所述检测位置时，所述第一传动件13能带动所述上盖16移动至与所述下盖12盖接。

所述第一传动件13可以是气缸组件，所述下盖12需要被准确止位于所述密封位置。进一步地，参考图1、图2，所述气密性检测装置还包括用于将所述下盖12定位在检测位置的第一止挡组件。所述第一止挡组件包括对所述下盖12进行缓冲的缓冲件18和对所述下盖12进行限位的止挡件19。

在所述下盖12移动至所述检测位置时，所述下盖12首先接触所述缓冲件18，再被所述止挡件19限位止挡在所述检测位置。

为避免重复检测，更进一步地，参考图1，所述气密性检测装置还可以包括扫描模组14。所述第二传动件15能带动所述下盖12沿所述导轨11移动至扫码位置。在所述下盖12被运送至所述扫码位置后，所述扫描模组14对位于所述扫码位置的半成品进行扫码。扫码成功后，所述第二传动件15才带动所述下盖12移动至所述检测位置。否则，不对半成品进行气密性检测，能提高检测效率。

参考图2，所述气密性检测装置还可以包括第二止挡组件。所述第二止挡组件能将所述下盖12止挡在扫码位置，以使所述扫描模组14对半成品进行扫码。所述第二止挡组件的具体结构可采用现有技术。例如，所述第二止挡组件可以是止挡气缸组件17。

所述气密性检测装置还可以包括控制所述第一传动件13的三位中封式电磁阀。在所述第二止挡组件将所述下盖12止挡在扫码位置后，所述三位中封式电磁阀可回到中位，能防止所述第二止挡组件持续受到所述第一传动件13的推力，从而能有效降低磨损消耗。

此外，参考图1，所述气密性检测装置还可以包括支架组件27。所述第一传动件13、所述扫描模组14可以安装于所述支架组件27上。

参考图1，所述气密性检测装置还可以包括防护罩28。所述检测位置、扫码位置可以位于所述防护罩28的内部。所述导轨11从所述防护罩28的外部传入内部。所述下盖12能从所述防护罩28的外部移动至内部，能实现在所述防护罩28的外部将半成品放置于所述下盖12上。

参考图1，所述气密性检测装置还可以包括电控模组30，以控制各传动组件的运送状态。

一个具体实施方式中，参考图1至图6，第二传动件15将承载有半成品的下盖12移动至扫码位置进行扫码。扫码完成后，第二传动件15将下盖12移动至检测位置。然后，第一传动件13带动上盖16移动至与下盖12密封盖接后，第一密封件和第二密封件分别密封半成品的开口和通孔。此时，容纳腔100与半成品的开口、通孔之间均密封隔离，半成品的开口通过第一通道101与外界连通。之后，检漏仪通过第二通道250向容纳腔100充气加压并保压至一定数值，进行检测。观察一定时间内容纳腔100内的压强变化值是否符合规范要求。检测完成后，检漏仪泄压，第一传动件13带动上盖16远离下盖12。之后，第二传动件15带动下盖12复位。人工或者自动搬运装置把产品取出。重复以上动作，可进行多个产品的气密性检测。

虽然已经通过例子对本发明的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上例子仅是为了进行说明，而不是为了限制本发明的范围。本领域的技术人员应该理解，可在不脱离本发明的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改。本发明的范围由所附权利要求来限定。

Claims (10)

1.一种气密性检测装置，其特征在于，包括：

承载半成品的下盖(12)，在所述下盖(12)上设有第一密封件；

上盖(16)，在所述上盖(16)上设有第二密封件；

第一传动件(13)，所述第一传动件(13)被配置为能带动所述上盖(16)移动至与所述下盖(12)盖接共同围成收纳半成品的容纳腔(100)，并且使所述第一密封件和第二密封件分别密封半成品上的开口和通孔。

2.根据权利要求1所述的气密性检测装置，其特征在于，还包括气密性检测仪，所述第二密封件包括设置于所述上盖(16)上的凸台(26)，在所述上盖(16)上还设有第二通道(250)，所述第二通道(250)将所述容纳腔(100)与所述气密性检测仪接通。

3.根据权利要求2所述的气密性检测装置，其特征在于，所述上盖(16)组装有安装板(25)，所述第二密封件组装于所述安装板(25)上；或者，所述第二密封件一体设置于所述上盖(16)上。

4.根据权利要求1所述的气密性检测装置，其特征在于，在所述下盖(12)上设有定位槽，所述第一密封件包括安装于所述定位槽内的第一密封圈(21)，所述第一密封圈(21)被配置为在所述上盖(16)与所述下盖(12)盖接时能密封隔离所述容纳腔(100)与半成品的开口；

在所述下盖(12)上还设有第一通道(101)，所述第一通道(101)被配置为能使半成品的开口与外界导通。

5.根据权利要求1或4所述的气密性检测装置，其特征在于，在所述第一密封圈(21)的表面设置有突起，所述凸起沿所述第一密封圈(21)的周向间隔分布。

6.根据权利要求1或4所述的气密性检测装置，其特征在于，所述第一传动件(13)被配置为能带动所述第二密封件压紧半成品，并且使半成品压紧第一密封件。

7.根据权利要求1所述的气密性检测装置，其特征在于，在所述下盖(12)上设有限定半成品放置位置的定位件(20)。

8.根据权利要求1所述的气密性检测装置，其特征在于，在所述上盖(16)和下盖(12)上分别设有多组相匹配的定位轴(24)和定位孔(23)。

9.根据权利要求1所述的气密性检测装置，其特征在于，在所述下盖(12)与所述上盖(16)之间设有密封所述容纳腔(100)的第二密封圈(22)。

10.根据权利要求1所述的气密性检测装置，其特征在于，还包括导轨(11)、扫描模组(14)和带动所述下盖(12)沿导轨(11)往复移动的第二传动件(15)；

所述第二传动件(15)被配置为能带动所述下盖(12)移动至扫码位置；

所述扫描模组(14)被配置为能对位于所述扫码位置的半成品进行扫码；

所述第二传动件(15)被配置为在所述扫描模组(14)扫码成功后才能带动所述下盖(12)移动至检测位置；

所述第一传动件(13)被配置为能带动所述上盖(16)移动至与位于所述检测位置的下盖(12)盖接。