CN107843831A - 一种电路板测试点引线装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种电路板测试点引线装置,包括用于吸附固定在PCB表面上的吸附部件、设置在所述吸附部件上的弹簧、连接于所述弹簧末端并用于在其反力作用下抵接住PCB测试点的探针、连接于所述弹簧首端并用于将PCB测试点的信号引出的引出线。本发明所公开的电路板测试点引线装置,探针在弹簧的反力作用下抵接住PCB测试点,将PCB测试点的反馈信号传递至弹簧首端的引出线,最后通过引出线将测试信号传递至测试接收装置。本发明无需在PCB表面上焊接测试线,避免对PCB造成损坏,同时吸附部件可与PCB表面形成快速固定或脱离,因此能够快速、方便地完成对各个PCB测试点的检测,提高测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及PCB技术领域,特别涉及一种电路板测试点引线装置。
背景技术
随着中国电子技术的发展,越来越多的电子设备已得到广泛使用。
在电子零部件生产制造企业,PCB板是最为常见的电子零部件。PCB(PrintedCircuit Board,印制电路板)是电子元器件的支撑体,同时也是电子元器件电气连接的载体,在其上密集地设置有若干个电容、电感、电阻、逻辑器件等零部件。
PCB上的微电路复杂且多样,为保证PCB上的各个元器件能够正常运行,需要定期对PCB进行测试。测试的主要内容为PCB是否有短路或是断路的状况,该项测试可以使用光学或电子方式测试。光学方式采用扫描以找出各层的缺陷,电子测试则通常用飞针探测仪(Flying-Probe)来检查所有连接。电子测试在寻找短路或断路比较准确,不过光学测试可以更容易侦测到导体间不正确空隙的问题。
目前,在电路板的调试过程中,需要在PCB板上对目标测试点给予测试,主要通过示波器测试各个测试点的反馈信号。在现有技术中,进行测试时需要将PCB上的测试点的信号引来,如此需要在PCB板上进行焊接,将测试线焊接在测试点上,保证测试线与PCB测试点的稳定信号连接。
然而,由于PCB上的微电路集成度和精细度非常高,测试人员在将测试线焊接在PCB的测试点上时,焊接过程中有较高的风险导致PCB损坏。同时,PCB上的测试点同时存在多个,若要完成全部检测,则需要依次对每个测试点进行测试线焊接,不仅操作繁琐,而且费时费力,测试效率较低。
因此,如何快速、方便地完成对PCB测试点的检测,同时防止对PCB的损坏,提高测试效率,是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种电路板测试点引线装置,能够快速、方便地完成对PCB测试点的检测,同时防止对PCB的损坏,提高测试效率。
为解决上述技术问题,本发明提供一种电路板测试点引线装置,包括用于吸附固定在PCB表面上的吸附部件、设置在所述吸附部件上的弹簧、连接于所述弹簧末端并用于在其反力作用下抵接住PCB测试点的探针、连接于所述弹簧首端并用于将PCB测试点的信号引出的引出线。
优选地,所述吸附部件具体为吸盘,且所述弹簧设置于所述吸盘中心。
优选地,所述弹簧的首端固定连接在所述吸附部件的顶部。
优选地,所述吸附部件的顶部设置有用于裹紧所述弹簧首端以防止其晃动的密封胶。
优选地,所述弹簧的伸缩方向为垂向。
本发明所提供的电路板测试点引线装置,主要包括吸附部件、弹簧、探针和引出线。其中,吸附部件主要用于吸附固定在PCB表面上,当然,由于固定方式为表面吸附,因此吸附部件可以根据需要随时与PCB脱离连接。弹簧设置在吸附部件上,主要用于在重力作用下与PCB表面相抵接,并产生弹性反力。探针连接在弹簧的末端,主要用于在弹簧的反力作用下与PCB板表面的PCB测试点抵接,保证稳定的信号连接。引出线连接在弹簧的首端,主要用于将探针所检测到的PCB测试点反馈信号引出并传递至检测接收装置,进行信号检测。如此,本发明所提供的电路板测试点引线装置,在对PCB测试点进行测试时,首先可将吸附部件吸附在目标测试点周围的PCB表面上,然后吸附部件上的弹簧在重力作用下垂下与PCB板表面抵接,在正压力作用下收缩一定距离,并在弹簧内部形成弹性反力,同时弹簧末端的探针在弹簧的反力作用下抵接住PCB测试点,将PCB测试点的反馈信号传递至弹簧首端的引出线,最后通过引出线将测试信号传递至测试接收装置。相比于现有技术,本发明无需在PCB表面上焊接测试线,避免对PCB造成损坏,同时吸附部件可与PCB表面形成快速固定或脱离,因此能够快速、方便地完成对各个PCB测试点的检测,提高测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本发明所提供的一种具体实施方式的整体结构示意图。
其中,图1中:
吸附部件—1,弹簧—2,探针—3,引出线—4,密封胶—5。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
请参考图1,图1为本发明所提供的一种具体实施方式的整体结构示意图。
在本发明所提供的一种具体实施方式中,电路板测试点引线装置主要包括吸附部件1、弹簧2、探针3和引出线4。
其中,吸附部件1主要用于吸附固定在PCB表面上,当然,由于固定方式为表面吸附,因此吸附部件1可以根据需要随时与PCB脱离连接。弹簧2设置在吸附部件1上,主要用于在重力作用下与PCB表面相抵接,并产生弹性反力。探针3连接在弹簧2的末端,主要用于在弹簧2的反力作用下与PCB板表面的PCB测试点抵接,保证稳定的信号连接。引出线4连接在弹簧2的首端,主要用于将探针3所检测到的PCB测试点反馈信号引出并传递至检测接收装置,进行信号检测。
如此,本实施例所提供的电路板测试点引线装置,在对PCB测试点进行测试时,首先可将吸附部件1吸附在目标测试点周围的PCB表面上,然后吸附部件1上的弹簧2在重力作用下垂下与PCB板表面抵接,在正压力作用下收缩一定距离,并在弹簧2内部形成弹性反力,同时弹簧2末端的探针3在弹簧2的反力作用下抵接住PCB测试点,将PCB测试点的反馈信号传递至弹簧2首端的引出线4,最后通过引出线4将测试信号传递至测试接收装置。相比于现有技术,本实施例无需在PCB表面上焊接测试线,避免对PCB造成损坏,同时吸附部件1可与PCB表面形成快速固定或脱离,因此能够快速、方便地完成对各个PCB测试点的检测,提高测试效率。
在关于吸附部件1的一种优选实施方式中,该吸附部件1具体可为吸盘。具体的,该吸盘呈喇叭状,在按压时可将空气排出吸盘内部,从而在大气压力下紧贴在PCB表面。同时,为方便探针3与PCB测试点相抵接,可将弹簧2设置在吸盘内部的中心位置。当然,吸附部件1的具体结构并不仅限吸盘,其余比如磁铁等同样可以采用。
进一步的,为方便引出线4与弹簧2的首端相连,可将弹簧2的首端固定连接在吸附部件1的顶部位置,比如,当吸附部件1为吸盘时,可将弹簧2的首端固定在吸盘顶部收缩的喇叭口处。
更进一步的,考虑到在对PCB测试点进行测试时,需要保证探针3与PCB测试点的稳定连接,针对此,本实施例在吸附部件1的顶部位置设置了密封胶5。弹簧2的首端穿过该密封胶5,被密封胶5裹紧并固定,如此一方面防止弹簧2的晃动,另一方面保证了吸盘的气密性,保证吸附部件1与PCB表面的吸附牢固。
另外,为提高测试效率,本实施例中,可将弹簧2垂向设置在吸附部件1上。即弹簧2的轴向方向平行于垂向,同时其伸缩方向也为垂向,如此设置,在重力的作用下,弹簧2将具有最大形变量,直接与PCB表面抵接,快速形成弹性反力。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (5)
1.一种电路板测试点引线装置,其特征在于,包括用于吸附固定在PCB表面上的吸附部件(1)、设置在所述吸附部件(1)上的弹簧(2)、连接于所述弹簧(2)末端并用于在其反力作用下抵接住PCB测试点的探针(3)、连接于所述弹簧(2)首端并用于将PCB测试点的信号引出的引出线(4)。
2.根据权利要求1所述的电路板测试点引线装置,其特征在于,所述吸附部件(1)具体为吸盘,且所述弹簧(2)设置于所述吸盘中心。
3.根据权利要求2所述的电路板测试点引线装置,其特征在于,所述弹簧(2)的首端固定连接在所述吸附部件(1)的顶部。
4.根据权利要求3所述的电路板测试点引线装置,其特征在于,所述吸附部件(1)的顶部设置有用于裹紧所述弹簧(2)首端以防止其晃动的密封胶(5)。
5.根据权利要求4所述的电路板测试点引线装置,其特征在于,所述弹簧(2)的伸缩方向为垂向。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Country Status (1)
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