CN213875871U - 一种探测部件、测试探头组件以及测试仪器 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及测试技术领域，提供一种探测部件，包括：导电探针，所述导电探针用于与电路板上设置的元器件的待测引脚接触连接；固定件，所述固定件与所述导电探针连接，且所述固定件与所述待测引脚周围的所述电路板连接。本实用新还提供一种测试探头组件。本实用新还提供一种测试仪器。本实用新型提供的探测部件、测试探头组件以及测试仪器，直接通过导电探针接触待测引脚之后，然后采用固定件使得导电探针与待测引脚实现稳定接触连接，提高测试效率，减少频繁焊接导线破坏元器件，同时本实用新型在用于测试贴片焊的密集引脚中的其中一个引脚时，可以利用细导电探针在密切接触待测引脚的同时不会挨到周围的引脚，确保单人测试的准确性，简便性。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试技术领域，更具体地说，是涉及一种探测部件、测试探头组件以及测试仪器。
背景技术
万用表、示波器等测试仪器是电子领域的重要测量工具，也是其它领域应用较广泛的测量仪器，常用于对电压、电流、时间、频率、相位的测量。但是现有技术中的万用表、示波器等测试仪器的测试探头种类单一，在单人使用这些测试仪器时，常常需要给待测引脚焊接导线，然后再将导线电连接于测试探头上，上述方式需要频繁的焊接元器件，频繁的焊接元器件对元器件的损坏较大。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种探测部件、测试探头组件以及测试仪器，以解决现有技术中需要频繁焊接元器件的待测引脚来对元器件进行测试，导致对元器件损坏较大的技术问题。
为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：
第一方面，本实用新型提供一种探测部件，包括：
导电探针，所述导电探针用于与电路板上设置的元器件的待测引脚接触连接；
固定件，所述固定件与所述导电探针连接，且所述固定件与所述待测引脚周围的所述电路板连接。
根据上述所述的探测部件，所述探测部件还包括导线，所述导线的一端与所述导电探针电连接，所述导线的另一端用于与测试探头电连接。
根据上述所述的探测部件，所述固定件包括：
固定部，所述固定部用于与所述待测引脚周围的所述电路板连接；
连接部，所述连接部设于所述固定部的上方并与所述固定部连接，所述导电探针与所述连接部连接。
根据上述所述的探测部件，所述固定部上设有中空部，所述连接部上设有通孔，所述中空部与所述通孔连通，所述导电探针依次穿过所述中空部、所述通孔，所述固定部远离所述连接部的一端可与所述电路板吸附连接，且所述导电探针的外部与所述通孔的孔壁挤压配合。
根据上述所述的探测部件，所述固定部为吸盘，所述固定部可吸附于所述电路板的表面。
根据上述所述的探测部件，所述导电探针依次穿设于所述中空部、所述通孔并延伸出所述连接部的上表面。
根据上述所述的探测部件，所述固定部由透明材料制成；
和/或，所述连接部由透明材料制成。
根据上述所述的探测部件，所述导线为软导线；
或者，所述导线为硬导线。
第二方面，本实用新型还提供一种测试探头组件，包括测试探头，所述测试探头组件还包括上述所述的探测部件，所述探测部件与所述测试探头电连接。
第二方面，本实用新型还提供一种一种测试仪器，包括测试仪器本体，所述测试仪器还包括上述所述的测试探头组件，所述测试探头组件与所述测试仪器本体电连接。
本实用新型提供的探测部件、测试探头组件以及测试仪器的有益效果至少在于：
(1)本实用新型提供的探测部件、测试探头组件以及测试仪器，实现测试探头能够在单人使用一些测试仪器时不用从待测引脚焊接导线，直接通过导电探针接触待测引脚之后，然后采用固定件使得导电探针与待测引脚实现稳定接触连接，然后待测引脚需要的测试数据会通过导电探针导入给测试仪器本体进行测试，提高测试效率，减少频繁焊接导线破坏元器件，且本实施例提供的探测部件的结构简单，操作方便，成本低廉。
(2)在使用万用表、示波器等测试仪器时，采用本实用新型提供的探测部件、测试探头组件以及测试仪器试贴片焊的密集引脚中的其中一个引脚时，可以利用细导电探针在密切接触待测引脚的同时不会挨到周围的引脚，确保了单人测试的准确性，简便性。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型实施例提供的探测部件的结构示意图；
图2为本实用新型实施例提供的测试仪器的应用实施例的结构示意图。
其中，图中各附图标记：
具体实施方式
为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
需要说明的是，当部件被称为“固定于”或“设置于”另一个部件，它可以直接或者间接位于该另一个部件上。当一个部件被称为“连接于”另一个部件，它可以是直接或者间接连接至该另一个部件上。术语“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置为基于附图所示的方位或位置，仅是为了便于描述，不能理解为对本技术方案的限制。术语“第一”、“第二”仅用于便于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明技术特征的数量。“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
请参阅图1和图2，本实施例提供了一种探测部件100，包括：导电探针10，所述导电探针10用于与电路板200上设置的元器件210的待测引脚201接触连接；固定件20，所述固定件20与所述导电探针10连接，且所述固定件20与所述待测引脚201周围的所述电路板200连接。
本实施例提供的探测部件100的工作原理如下：
本实施例提供的探测部件100，在实际使用本实施例提供的探测部件100时，将探测部件100包括的导电探针10与电路板200上设置的元器件210的待测引脚201接触连接，从而实现电连接，实现可以采集需要的测试数据，并将需要测试的数据导入测器仪器本体500，然后采用探测部件100包括的固定件20对与待测引脚201接触连接的导电探针10进行固定，使得导电探针10与待测引脚201一直保持接触连接，提高接触连接的可靠性。
本实施例提供的探测部件100的有益效果至少在于：
(1)本实施例提供的探测部件100，实现测试探头300能够在单人使用一些测试仪器时不用从待测引脚201焊接导线，直接通过导电探针10接触待测引脚201之后，然后采用固定件20使得导电探针10与待测引脚201实现稳定接触连接，然后待测引脚201需要的测试数据会通过导电探针10导入给测试仪器本体500进行测试，提高测试效率，减少频繁焊接导线破坏元器件，且本实施例提供的探测部件100的结构简单，操作方便，成本低廉。
(2)在使用万用表、示波器等测试仪器时，采用本实施例中提供的探测部件100测试贴片焊的密集引脚中的其中一个引脚时，可以利用细导电探针在密切接触待测引脚201的同时不会挨到周围的引脚，确保了单人测试的准确性，简便性。
在一个实施例中，请参阅图1，述探测部件100还包括导线30，所述导线30的一端与所述导电探针10电连接，所述导线30的另一端用于与测试探头300电连接。采用导线30将导电探针10与测试探头300连接起来，导电探针10与待测引脚201接触连接采集测试数据，通过导电探针10、导线30导入给与测试探头300连接的测试仪器本体500进行测试。可选地，导电探针10为金属探针。
在一个实施例中，请继续参阅图1，所述固定件20包括：固定部21，所述固定部21用于与所述待测引脚201周围的所述电路板200连接；连接部22，所述连接部22设于所述固定部21的上方并与所述固定部21连接，所述导电探针10与所述连接部22连接。当导电探针10与元器件210的待测引脚201接触连接后，采用固定件20包括的固定部21与待测引脚201周围电路板200连接，然后导电探针10与连接部22进行连接，通过固定部21与连接部22的配合使得导电探针10可以一直保持与待测引脚201接触连接，确保了导电探针10与待测引脚201接触连接的稳定性，从而提高了测试效率，且固定件20整体结构简单，使用方便。
在一个实施例中，所述连接部22与所述固定部21固定连接，这样设置使得固定件20的结构更加牢固，方便了固定件20与电路板200进行连接，同时也方便了将固定件20从电路板200上拆卸下来。可选地，所述连接部22与所述固定部21为一体式结构。
在一个实施例中，请继续参阅图1，所述固定部21上设有中空部211，所述连接部22上设有通孔221，且所述中空部211与所述通孔221连通，所述导电探针10依次穿过所述中空部211、所述通孔221，所述固定部21远离所述连接部22的一端可与所述电路板200吸附连接，且所述导电探针10的外部与所述通孔221的孔壁挤压配合。在实际使用本实施例提供的探测部件100时，将导线探针10穿设于固定部21的中空部211，且导电探针10还穿设于所述连接部22上的通孔221，所述固定部21远离所述连接部22的一端可与所述电路板200吸附连接，导电探针10的外壁通过与通孔221的孔壁挤压配合，实现对与待测引脚201接触连接的导电探针10进行固定，且结构简单，连接方便。
在一个实施例中，所述固定部21为吸盘，所述固定部21可吸附于所述电路板200的表面。由于将固定部21设置为吸盘，当导电探针10与待测引脚201接触连接后，将固定部21吸附于电路板200的表面，从而使得固定部21稳定的连接于电路板200上，同时通过设置在连接部22上通孔221，可以将导电探针10进行稳定固定，实现导电探针10与待测引脚201的稳定接触连接，同时将固定部21设置为吸盘，方便了固定部21与电路板200的快速连接，且连接方式简单，操作方便，当需要将固定部21从电路板200拆卸下来时，也可以快速的将固定部21从电路板200上拆卸下来。应当理解的是，固定部21并不限于为上述的吸盘，还可以其他可以固定于电路板200上的结构，此处不作限制。
在一个实施例中，请继续参阅图1，所述导电探针10依次穿设于所述中空部211、所述通孔221并延伸出所述连接部22的上表面。导电探针10延伸出连接部22的上表面，其方便了与导线30的连接，且导线30的连接、拆卸、检修都非常的方便。应该理解的是，本实施例中的导电探针10的长度可以根据具体情况具体调节，其导电探针10的形状大小也可以根据具体情况具体调节。
在一个实施例中，所述固定部21由透明材料制成，和/或，所述连接部22由透明材料制成。将固定部21设置为透明材料，方便观察导电探针10与待测引脚201是否接触连接完好，当未接触连接时，方便调整导电探针10的位置，直至导电探针10与待测引脚201再次接触连接，从而也提高了测试效率。
在一个实施例中，所述导线30为软导线。在另一实施例中，所述导线30为硬导线，即为不可弯曲的形状。应该理解的是，本实施例中的导线30的长度可以根据实际情况进行调整，当导线较长时，方便在一定距离内对电路板上的元器件进行测量。
请参阅图2，本实施例还提供一种测试探头组件400，包括测试探头300，所述测试探头组件400还包括上述所述的探测部件100，所述探测部件100与所述测试探头300电连接。由于探测部件100已经在上文中进行详细描述，此处不再赘述。
请继续参阅图2，本实施例还提供一种测试仪器1000，包括测试仪器本体500，所述测试仪器1000还包括上述所述的测试探头组件400，所述测试探头组件400与所述测试仪器本体500电连接。由于测试探头组件400包括的探测部件100已经在上文中进行详细描述，此处不再赘述。
综上所述，本实施例提供了一种探测部件100，包括：导电探针10，所述导电探针10用于与电路板200上设置的元器件210的待测引脚201接触连接；固定件20，所述固定件20与所述导电探针10连接，且所述固定件20与所述待测引脚201周围的所述电路板200连接。本实施例还提供了一种测试探头组件400，包括测试探头300，所述测试探头组件400还包括上述所述的探测部件100，所述探测部件100与所述测试探头300电连接。本实施例还提供了一种测试仪器1000，包括测试仪器本体500，所述测试仪器1000还包括上述所述的测试探头组件400，所述测试探头组件400与所述测试仪器本体500电连接。本实施例提供的探测部件100、测试探头组件400以及测试仪器1000，实现测试探头300能够在单人使用一些测试仪器时不用从待测引脚201焊接导线，直接通过导电探针10接触待测引脚201之后，然后采用固定件20使得导电探针10与待测引脚201实现稳定接触连接，然后待测引脚201需要的测试数据会通过导电探针10导入给测试仪器本体500进行测试，提高测试效率，减少频繁焊接导线破坏元器件，且探测部件100的结构简单，操作方便，成本低廉。在使用万用表、示波器等测试仪器时，采用探测部件100测试贴片焊的密集引脚中的其中一个引脚时，可以利用细导电探针在密切接触待测引脚201的同时不会挨到周围的引脚，确保了单人测试的准确性，简便性。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种探测部件，其特征在于，包括：
导电探针，所述导电探针用于与电路板上设置的元器件的待测引脚接触连接；
固定件，所述固定件与所述导电探针连接，且所述固定件与所述待测引脚周围的所述电路板连接。
2.如权利要求1所述的探测部件，其特征在于，所述探测部件还包括导线，所述导线的一端与所述导电探针电连接，所述导线的另一端用于与测试探头电连接。
3.如权利要求1所述的探测部件，其特征在于，所述固定件包括：
固定部，所述固定部用于与所述待测引脚周围的所述电路板连接；
连接部，所述连接部设于所述固定部的上方并与所述固定部连接，所述导电探针与所述连接部连接。
4.如权利要求3所述的探测部件，其特征在于：所述固定部上设有中空部，所述连接部上设有通孔，所述中空部与所述通孔连通，所述导电探针依次穿过所述中空部、所述通孔，所述固定部远离所述连接部的一端可与所述电路板吸附连接，且所述导电探针的外部与所述通孔的孔壁挤压配合。
5.如权利要求4所述的探测部件，其特征在于：所述固定部为吸盘，所述固定部可吸附于所述电路板的表面。
6.如权利要求4所述的探测部件，其特征在于：所述导电探针依次穿设于所述中空部、所述通孔并延伸出所述连接部的上表面。
7.如权利要求3所述的探测部件，其特征在于：所述固定部由透明材料制成；
和/或，所述连接部由透明材料制成。
8.如权利要求2所述的探测部件，其特征在于：所述导线为软导线；
或者，所述导线为硬导线。
9.一种测试探头组件，其特征在于，包括测试探头，所述测试探头组件还包括权利要求1～8任一项所述的探测部件，所述探测部件与所述测试探头电连接。
10.一种测试仪器，其特征在于，包括测试仪器本体，所述测试仪器还包括权利要求9所述的测试探头组件，所述测试探头组件与所述测试仪器本体电连接。
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| CN202022754381.6U CN213875871U (zh) | 2020-11-24 | 2020-11-24 | 一种探测部件、测试探头组件以及测试仪器 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CN202022754381.6U CN213875871U (zh) | 2020-11-24 | 2020-11-24 | 一种探测部件、测试探头组件以及测试仪器 |
Publications (1)
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2023102999A1 (zh) * | 2021-12-08 | 2023-06-15 | 歌尔股份有限公司 | 一种运动数据采集设备、方法、装置及可穿戴设备 |
| CN118624964A (zh) * | 2024-08-13 | 2024-09-10 | 渠梁电子有限公司 | 测试探针和用于测试探针的制造方法 |
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2020
- 2020-11-24 CN CN202022754381.6U patent/CN213875871U/zh active Active
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| WO2023102999A1 (zh) * | 2021-12-08 | 2023-06-15 | 歌尔股份有限公司 | 一种运动数据采集设备、方法、装置及可穿戴设备 |
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