CN107742623A - 显示基板、有机发光器件及膜层蒸镀检测方法、显示装置 - Google Patents

显示基板、有机发光器件及膜层蒸镀检测方法、显示装置 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种显示基板，包括显示区域和环绕显示区域的非显示区域，非显示区域中设置有至少一个限位标记组，显示区域具有多条边，相邻两条边之间形成圆倒角；非显示区域包括与所述显示区域的边一一相对的边框部以及与圆倒角一一相对的拐角部；所述限位标记组位于所述拐角部。相应地，本发明还提供一种有机发光器件及其膜层蒸镀检测方法和一种显示装置。本发明能够减少显示不良，并提高膜层蒸镀检测的准确性。

Description

显示基板、有机发光器件及膜层蒸镀检测方法、显示装置
技术领域
本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种显示基板、有机发光器件、有机发光器件的膜层蒸镀检测方法、显示装置。
背景技术
有机电致发光(Organic Light-Emitting Device,OLED)显示装置的每个像素区中均设置有发光单元，发光单元包括多层有机膜层，各有机膜层通过蒸镀工艺形成。为了检测各有机膜层的蒸镀位置是否发生偏移，通常会在显示区域以外的区域设置对位区。图1是现有技术中的对位区的第一种设置位置示意图，其中对位区20设置在显示基板上，并位于显示区域11的两侧；图2是现有技术中的对位区的第二种设置位置示意图，其中，对位区20设置母板上相邻两个显示基板所在区10a之间的空置区；图3是对位区中的结构示意图。如图3所示，对位区20中设置有多个限位标记21，多个限位标记21能够限定出多个理论蒸镀区22的中心，在向显示区蒸镀各个有机膜层的同时，还向对位区蒸镀与各有机膜层分别对应的对位图形，以对位图形与理论蒸镀位置22对位情况，来表征显示区域11中蒸镀的各层有机材料是否发生偏移。
但是，图1中的设置方式会造成显示不良；图2中的设置方式会造成后续对位图形的对位情况无法准确表征显示区的有机膜层的对位情况，且将母板切割形成独立的显示基板后，无法检测显示区域中有机膜层的对位情况。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种显示基板、有机发光器件、有机发光器件的膜层蒸镀检测方法、显示装置，以更准确地检测显示区的有机膜层的对位情况，并减少显示不良。
为了解决上述技术问题之一，本发明提供一种显示基板，包括显示区域和环绕所述显示区域的非显示区域，所述非显示区域中设置有至少一个限位标记组，所述显示区域具有多条边，相邻两条边之间形成圆倒角；所述非显示区域包括与所述显示区域的边一一相对的边框部以及与所述圆倒角一一相对的拐角部；所述限位标记组位于所述拐角部。
优选地，每个所述限位标记组包括多个限位标记，每个限位标记组中的多个限位标记用于限定多个理论蒸镀区的位置；对于任意一个限位标记组，多个所述限位标记限定的多个所述理论蒸镀区排成多行多列。
优选地，对于任意一个限位标记组，多个所述限位标记和所述多个所述理论蒸镀区围成对位区，所述对位区沿所述显示区域长度方向和宽度方向的尺寸均在100μm～130μm之间。
优选地，所述限位标记为条形，对于任意一个限位标记组：
所述多个限位标记至少包括两个第一限位标记和两个第二限位标记，所述第一限位标记沿第一方向延伸，所述第二限位标记沿与所述第一方向交叉的第二方向延伸；两个所述第一限位标记沿所述第二方向排列，两个所述第二限位标记沿所述第一方向排列，且该两个第二限位标记位于两个所述第一限位标记中心连线的两侧。
优选地，所述限位标记组中的多个限位标记还包括第三限位标记，所述第三限位标记为条形且沿所述第二方向延伸，所述第三限位标记与其中一个所述第一限位标记相交叉，形成十字结构。
优选地，所述显示区域设置有像素界定层，所述像素界定层上设置有多个像素开口，所述显示区域还设置有与像素开口一一对应的电极；
所述非显示区域设置有外延膜层，所述外延膜层上设置有与限位标记一一对应的通孔，所述限位标记设置在所述通孔中；所述外延膜层与所述电极同层设置且材料相同，所述限位标记与所述像素界定层同层设置且材料相同。
优选地，所述外延膜层和所述限位标记中的一者透光，另一者不透光。
相应地，本发明还提供一种有机发光器件，包括上述显示基板，所述显示基板的显示区域设置有多种有机膜层，所述显示基板的非显示区域设置有与所述限位标记组一一对应的对位图形组，所述对位图形组位于相应的限位标记组所在的拐角部。
优选地，每个限位标记组包括多个限位标记，每个限位标记组中的多个限位标记用于限定多个理论蒸镀区的位置；
每个对位图形组包括多个对位图形，每个对位图形组的多个对位图形与多种有机膜层的材料一一对应相同；对于任意一个对位图形组，该对位图形组中的多个对位图形与该对位图形组所对应的限位标记组限定出的多个理论蒸镀区一一对应。
相应地，本发明还提供一种显示装置，包括上述有机发光器件。
相应地，本发明还提供一种有机发光器件的膜层蒸镀检测方法，包括：
S1、提供上述有机发光器件；
S2、利用限位标记组及相应的对位标记组来确定显示基板的显示区域中有机膜层的蒸镀偏移量。
优选地，所述步骤S2包括：
S21、对于每个限位标记组，均根据该限位标记组中的多个限位标记确定多个理论蒸镀区的位置；
S22、检测每个对位图形的实际位置相对于相应理论蒸镀区的位置的偏移量，并以对应于同一种有机膜层的各对位图形的最大偏移量作为该有机膜层的蒸镀偏移量。
优选地，所述步骤S21包括在每个对位区中进行的以下步骤：
S211、获取每个限位标记的中心位置；
S212、获取以下多个交点的位置：沿所述第一方向延伸的两条第一直线与沿所述第二方向延伸的两条第二直线交叉形成的多个交点、两个第一限位标记的中心连线与两个第二限位标记的中心连线的交点，并将所述多个交点的位置分别作为多个理论蒸镀区的位置；其中，两条第一直线分别经过两个第一限位标记的中心，两条第二直线分别经过两个第二限位标记的中心；
所述步骤S22包括：
S221、获取每个对位图形的中心位置；
S222、计算每个对位图形的中心位置与相应理论蒸镀区的位置之间的偏移量。
优选地，所述非显示区设置有外延膜层，所述外延膜层上设置有与限位标记一一对应的通孔，所述限位标记设置在所述通孔中，所述电极不透光，所述第二膜层透光；
所述步骤S211包括：
分别在有机发光器件的两侧设置第一光源和第一光采集件，所述第一光源的光线能够穿过所述外延膜层和所述对位图形，以被所述第一光采集件采集；
根据第一光采集件采集到的光线确定每个限位标记的边缘位置，并根据每个限位标记的边缘位置计算相应限位标记的中心位置；
所述步骤S221包括：
在所述第一光采集件的同侧设置第二光源，在所述第一光源的同侧设置第二光采集件；所述第二光源用于激发所述对位图形发光，所述第二光采集件用于采集所述对位图形发射的光线；
根据第二光采集件采集到的光线确定每个对位图形的边缘位置，并根据每个对位图形的边缘位置计算相应对位图形的中心位置。
在本发明中，显示区域的圆倒角的设置使得非显示区域的拐角部的宽度大于边框部的宽度，因此，将限位标记组设置在空间较大拐角部时，可以减小限位标记组对信号线的影响，从而减少显示不良，改善有机发光器件和显示装置的显示效果。另外，本发明中的限位标记组设置在显示基板上，距离显示区域较近，从而可以更准确地检测显示区域的像素偏移量，进而改善监控效果，从而进一步保证有机发光器件和显示装置的质量。
附图说明
附图是用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明，但并不构成对本发明的限制。在附图中：
图1是现有技术中的对位区的第一种设置位置示意图；
图2是现有技术中的对位区的第二种设置位置示意图；
图3是图1和图2中的对位区中的结构示意图；；
图4是本发明实施例中提供的显示基板示意图；
图5是本发明实施例中对位区的各限位标记的结构和排列方式示意图；
图6是沿图5的B-B’线的剖视图；
图7是形成有对位图形的对位区中示意图；
图8是本发明实施例中提供的膜层蒸镀检测方法流程图。
其中，附图标记为：
10、显示基板；10a、显示基板所在区；11、显示区域；121、边框部；122、拐角部；20、对位区；21、限位标记；211、第一限位标记；212、第二限位标记；213、第三限位标记；22、理论蒸镀区；23、外延膜层；31～35、对位图形。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。
作为本发明的一方面，提供一种显示基板，其用于有机发光(OLED)器件中。如图4所示，该显示基板包括显示区域11和环绕显示区域11的非显示区域，显示区域11具有多条边，相邻两条边之间形成圆倒角，如图4中，显示区域11的形状为圆角矩形；所述非显示区域包括与显示区域11的边一一相对的边框部121以及与所述圆倒角一一相对的拐角部122，即，拐角部122朝向显示区域11中心的边形成为弧形边。所述非显示区域中设置有至少一个限位标记组，如图5所示，每个限位标记组包括多个限位标记211～213。限位标记组位于拐角部122。
其中，显示区域11中包括多个像素区，每个像素区中设置有发光单元，每个发光单元包括多个有机膜层。限位标记组可以用于像素偏移量(Pixel Position Alignment，PPA)的检测过程中，像素偏移量即，有机膜层的实际位置相对于像素区的偏移量。利用限位标记组来检测像素偏移量的具体方式，这里不做限定。
本领域技术人员可以理解的是，非显示区域中设置有用于为显示区域11提供信号的信号线，因此，当限位标记组设置在非显示区域中，且与显示区域11的边相邻时(即，图1中所示的情况)，限位标记组会占用一定的宽度，从而在边框宽度一定的情况下，需要减小布线区域的宽度，导致信号线电阻增大，进而引起显示不均匀。当限位标记组设置在母板中相邻两个显示基板所在区10a之间的空置区时(即如图2所示的情况)，一方面，在进行母板切割之后，限位标记组与显示基板10分离，这时就无法检测显示区域11中的像素偏移量；另一方面，由于工艺条件的限制，限位标记组距离显示区域11越远，所检测出的偏移量与显示区中实际的像素偏移量相差越大，因此，即使在母板切割之前检测显示区域11中的像素偏移量，也无法对像素偏移量进行准确判断。
而在本发明中，显示区域11的圆倒角的设置使得非显示区域的拐角部122的宽度d1大于边框部121的宽度d2，因此，将限位标记组设置在空间较大的拐角部122时，可以减小限位标记组对信号线的影响，从而减少显示不良。另外，和图2的设置方式相比，本发明中的限位标记组设置在显示基板10上，距离显示区域11较近，从而可以更准确地检测显示区域11的像素偏移量，进而提高膜层蒸镀检测的准确性。
本发明实施例的附图中以设置一个限位标记组来示意说明，当然，也可以设置多个限位标记组，优选地，每个拐角部122最多设置一个限位标记组，也就是说，当设置多个限位标记组时，不同的限位标记组位于不同的拐角部，以防止拐角部122被限位标记组占用过多布线的空间而影响显示效果。
具体地，如图5所示，每个限位标记组包括多个限位标记211～213，每个限位标记组中的多个限位标记211～213用于限定多个理论蒸镀区的位置。对于任意一个限位标记组，多个所述限位标记限定的多个理论蒸镀区22排成多行多列，多个限位标记及其限定的多个理论蒸镀区22围成对位区20。多个理论蒸镀区22排成多行多列，从而有利于将对位区20设置为方形或接近方形，以便于将对位区20设置在拐角部122。
需要说明的是，上述理论蒸镀区22是指，在向显示区域11的各像素区中蒸镀有机膜层时，有机膜层位置准确的情况下，相应的对位图形所在的区域，其中，所述对位图形为用于监控像素偏移量的图形。具体地，在向显示区域11蒸镀有机膜层(例如，红色发光层)时，为了监控有机膜层的蒸镀位置是否偏移目标像素区，在掩膜板上设置对位孔和蒸镀孔，对位孔用于与理论蒸镀区22对正，蒸镀孔用于与待蒸镀有机膜层的像素区对正，且对位孔与各蒸镀孔之间的相对位置和理论蒸镀区22与各待蒸镀有机膜层的像素区之间的相对位置相同，从而使得当有机材料经过对位孔蒸镀至理论蒸镀区22而形成对位图形时，经过蒸镀孔的有机材料能够准确地形成在待蒸镀有机材料的像素区中，这样就可以以每个对位图形与理论蒸镀区22之间的偏移量，来表示显示区域11中相应的有机膜层在像素区中的偏移量(即上述像素偏移量)。对于如何利用多个限位标记来限定多个理论蒸镀区22的位置，本发明不作限定，例如，限位标记为条形，两个延伸方向交叉的限位标记所在直线的交叉位置即为一个对位图形的理论位置。
目前，图1中的对位区20的面积较大，通常在30000μm2左右，从而占用较多的布线空间，而如果对位区20的尺寸过小时，多个理论蒸镀区22彼此距离较近，形成对位图形后，难以界定对位图形的边界，从而影响监控效果。为此，本发明中的对位区20沿显示区域11长度方向和宽度方向的尺寸均在100μm～130μm之间，从而既可以减小在拐角部122的占用空间，又可以清楚地界定对位图形的边界。具体地，对位区20沿显示区域11长度方向(图4和图5中的上下方向)的尺寸为108.38μm，沿显示区域11宽度方向(图4和图5中的左右方向)的尺寸为113μm。本发明对位区20的面积在12000μm2左右，明显小于现有技术中对位区20的面积，从而更利于将其设置在拐角部122，并减小对布线空间的占用，减小对信号线的影响。
所述限位标记组中各限位标记的结构和排列方式如图5所示，限位标记为条形。对于任意一个限位标记组：该限位标记组中的多个限位标记至少包括两个第一限位标记211和两个第二限位标记212，第一限位标记211沿第一方向延伸，第二限位标记212沿与所述第一方向交叉的第二方向延伸；两个第一限位标记211沿所述第二方向排列，两个第二限位标记212沿所述第一方向排列，且该两个第二限位标记212位于两个第一限位标记211中心连线的两侧。
具体地，所述第一方向与所述第二方向垂直，以使多个限位标记以及多个理论蒸镀区22更加集中，如图5中，第一方向为左右方向，第二方向为上下方向。将经过限位标记中心且沿限位标记延伸方向延伸的直线记为该限位标记的中线，那么，左侧第二限位标记212的中线与上方第一限位标记211的中线的交点为左上角的理论蒸镀区22的中心，从而限定了左上角理论蒸镀区22的位置；同样，左侧第二限位标记212的中线与下方第一限位标记211的中线的交点为左下角的理论蒸镀区22的位置；右侧第二限位标记212的中线与上方第一限位标记211的中线的交点为右上角的理论蒸镀区22的位置；右侧第二限位标记212的中线与下方第一限位标记211的中线的交点为右下角理论蒸镀区22的中心；两个第一限位标记211的中线连线与两个第二限位标记212的中线连线的交点为中间理论蒸镀区22的中心。
进一步地，所述限位标记组中的多个限位标记还可以包括第三限位标记213，第三限位标记213为条形且沿所述第二方向延伸，第三限位标记213与其中一个第一限位标记211相交叉，形成十字结构。这样，既可以由两个第一限位标记211与两个第二限位标记212确定中间理论蒸镀区22的位置，也可以由两个第二限位标记212与第三限位标记213确定中间理论蒸镀区22的位置。
进一步地，显示区域11设置有像素界定层和多个电极，所述像素界定层上设置有多个像素开口，电极与像素开口一一对应。所述像素开口用于容纳有机发光单元的各个有机膜层，可以理解的是，所述电极为相应发光单元的下电极，即阳极时。上述有机膜层在像素区中的偏移量即，有机膜层相对于像素开口的偏移量。如图5和图6所示，所述非显示区设置有外延膜层23，外延膜层23上设置有与限位标记211～213一一对应的通孔，限位标记211～213设置在所述通孔中。外延膜层23与所述电极同层设置且材料相同；限位标记211～213与所述像素界定层同层设置且材料相同，即，在通孔中填充与像素界定层相同的材料作为限位标记211～213。应当理解的是，所述同层设置且材料相同，是指两个结构可以利用同一步构图工艺制作。在显示基板的制作过程中，像素界定层与限位标记211～213同步制作，外延膜层与电极同步形成，从而可以简化结构和制作工艺。
其中，外延膜层23和所述限位标记中的一者透光，另一者不透光。这样可以在后续捕捉限位标记和对位图形的图像以检测像素偏移量时，可以分别在显示基板的一侧提供白光，另一侧提供激发对位图形发光的激发光，这样可以通过两个采光镜头分别采集限位标记和对位图形的图像，从而提高测量精度。图像采集的具体方式在下文介绍，这里先不赘述。
具体地，外延膜层23不透光，限位标记211～213透光。制成外延膜层23的材料(即，电极的材料)可以包括金属等反射材料，从而使得显示区域11的发光单元形成顶发光结构，制成限位标记211～213的材料可以包括氧化硅和/或氮化硅等。由于在对金属膜层进行构图时采用的湿法刻蚀工艺会产生一些水汽，因此在同步制作电极和外延膜层时，会导致外延膜层23出现鼓包，而本发明在外延膜层23上制作通孔可以减少鼓包，并且，将与像素界定层相同的材料填充在通孔中，可以防止通孔边缘因氧化而产生毛刺，从而有利于对限位标记211～213进行边缘检测。
作为本发明的另一方面，提供一种有机发光器件，包括上述显示基板10，显示基板10的显示区域11设置有多种有机膜层，不同种的有机膜层可以位于不同层。具体地，显示区域11包括多个像素区，每个像素区设置有发光单元，多个发光单元的颜色可以分为红、绿、蓝；所述多种有机膜层为发光单元的多种膜层，具体可以包括各个红色发光单元的红色发光层、各绿色发光单元的绿色发光层、各蓝色发光单元的蓝色发光层、各发光单元的电子注入层等。显示基板10的非显示区域设置有与限位标记组一一对应的对位图形组，对位图形组位于相应限位标记组所在的拐角部。所述对位图形组和所述限位标记组共同用于检测像素偏移量。
具体地，限位标记组包括多个限位标记，该多个限位标记用于限定多个理论蒸镀区22的位置。每个对位图形组包括多个对位图形(图7中的31～35)，每个对位图形组的多个对位图形31～35与多种有机膜层的材料一一对应相同。对于任意一个对位图形组，该对位图形组中的多个对位图形与该对位图形组所对应的限位标记组限定出的多个理论蒸镀区22一一对应，即，在对位区20中，多个限位标记组所限定的多个理论蒸镀区22的位置分别为该对位区20所对应的多个对位图形理论所在区的位置。在向显示基板上蒸镀各种有机膜层的同时，还向对位区20蒸镀相应的对位图形31～35，通过对位图形31～35的实际蒸镀位置与理论蒸镀区22的位置之间的偏移量来表征相应的有机膜层与像素区之间的偏移量。如图7中，对位图形31、对位图形33和对位图形35均与相应的理论蒸镀区22对正，表明显示区域11中与对位图形31对应的有机膜层、与对位图形33对应的有机膜层、与对位图形35对应的有机膜层在蒸镀时均未发生偏移；对位图形32与右上角理论蒸镀区域22之间的偏移量表示相应有机膜层在像素区中的偏移量；对位图形34与右下角理论蒸镀区22之间的偏移量表示对位图形34所对应的有机膜层在像素区中的偏移量。
作为本发明的再一方面，提供一种显示装置，包括上述有机发光器件。所述显示装置可以为手机、平板电脑、显示器、电视机等具有显示功能的产品或部件。由于显示基板中限位标记组的设置位置能够减少对信号线的影响，且有利于对像素偏移量的检测，因此，采用上述显示基板的有机发光器件、以及显示装置的显示效果更好，且能够方便准确地检测膜层蒸镀效果，从而提高产品质量。
作为本发明的又一方面，提供一种有机发光器件的膜层蒸镀检测方法，结合图4至图8所示，蒸镀检测方法包括：
S1、提供上述有机发光器件。
S2、利用限位标记组及相应的对位标记组来确定显示基板的显示区域中有机膜层的蒸镀偏移量(即，上述像素偏移量)。
如上所述，每个限位标记组包括用于限定多个理论蒸镀区位置的多个限位标记，每个对位图形组包括多个对位图形，每个对位图形组的多个对位图形与多种有机膜层的材料一一对应相同；对位图形组中的多个对位图形与相应限位标记组限定出的多个理论蒸镀区一一对应。步骤S2具体包括：
S21、对于每个限位标记组，均根据该限位标记组中的多个限位标记确定多个理论蒸镀区22的位置。
S22、检测对位图形31～35的实际位置相对于相应理论蒸镀区22的位置的偏移量，并以对应于同一种有机膜层的各对位图形的最大偏移量表征该有机膜层的蒸镀偏移量(即，上述像素偏移量)。
其中，有机发光器件的对位区20的数量可以为一个，也可以为多个，本发明以对位区20的数量为一个进行说明。这种情况下，对位图形组的数量也为一个，每种有机膜层的蒸镀偏移量即为与该有机膜层对应的对位图形的偏移量。
如上所述，限位标记为条形，每个限位标记组中的多个限位标记至少包括两个第一限位标记211和两个第二限位标记212，第一限位标记211沿第一方向延伸，第二限位标记212沿第二方向延伸。显示基板10的非显示区设置有外延膜层23，外延膜层23上设置有与限位标记211～213一一对应的通孔，限位标记211～213设置在所述通孔中，外延膜层23不透光，限位标记211～213透光。这种情况下，所述步骤S21具体包括在每个对位区20中进行的以下步骤S211和S212：
S211、获取每个限位标记211～213的中心位置。具体地，该步骤S211包括：分别在有机发光器件的两侧设置第一光源和第一光采集件，所述第一光源的光线能够穿过外延膜层23和对位图形31～35，以被所述第一光采集件采集；之后，根据第一光采集件采集到的光线确定每个限位标记211～213的边缘位置，并根据每个限位标记211～213的边缘位置计算相应限位标记211～213的中心位置。具体地，第一光源可以设置在显示基板10的背离有机膜层的一侧，第一采光件设置在显示基板10设置有机膜层的一侧；第一光源具体为白光光源，第一光采集件根据采集的光线获取限位标记211～213的图像，并通过图像灰度识别，检测到限位标记211～213的边界。
S212、获取以下多个交点的位置：沿所述第一方向延伸的两条第一直线与沿所述第二方向延伸的两条第二直线交叉形成的多个交点、两个第一限位标记211的中心连线与两个第二限位标记212的中心连线的交点，并将所述多个交点的位置分别作为多个理论蒸镀区22的位置；其中，上述两条第一直线分别经过两个第一限位标记211的中心，上述两条第二直线分别经过两个第二限位标记212的中心。
上述步骤S22具体包括以下步骤S221和S222：
S221、获取每个对位图形31～35的中心位置。该步骤S221具体包括：在所述第一光采集件的同侧设置第二光源，在所述第一光源的同侧设置第二光采集件；所述第二光源用于激发对位图形31～35发光，所述第二光采集件用于采集对位图形31～35发射的光线；之后，根据第二光采集件采集到的光线确定每个对位图形31～35的边缘位置，并根据每个对位图形31～35的边缘位置计算相应对位图形31～35的中心位置。其中，第二光源可以为紫外光源，第二光采集件和第一光采集件类似，可以根据采集的光线获取对位图形31～35的图像，并通过图像灰度识别，检测到对位图形31～35的边界。
S222、计算每个对位图形31～35的中心位置与相应理论蒸镀区22的位置(即步骤S212中获取的交点)之间的偏移量。
本发明在获取对位图形中心和限位标记中心时，采用的第一光源和第二光源发出的光线波长不同，且第一光源和第二光源分别位于有机发光器件的不同侧，第一光采集件和第二光采集件也位于有机发光器件的不同侧，这样可以防止对位图形和限位标记的成像相互干扰，从而提高检测准确性。
可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (14)

1.一种显示基板，其特征在于，包括显示区域和环绕所述显示区域的非显示区域，所述非显示区域中设置有至少一个限位标记组，所述显示区域具有多条边，相邻两条边之间形成圆倒角；所述非显示区域包括与所述显示区域的边一一相对的边框部以及与所述圆倒角一一相对的拐角部；
所述限位标记组位于所述拐角部。
2.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，每个所述限位标记组包括多个限位标记，每个限位标记组中的多个限位标记用于限定多个理论蒸镀区的位置；对于任意一个限位标记组，多个所述限位标记限定的多个所述理论蒸镀区排成多行多列。
3.根据权利要求2所述的显示基板，其特征在于，对于任意一个限位标记组，多个所述限位标记和所述多个所述理论蒸镀区围成对位区，所述对位区沿所述显示区域长度方向和宽度方向的尺寸均在100μm～130μm之间。
4.根据权利要求2所述的显示基板，其特征在于，所述限位标记为条形，对于任意一个限位标记组：
所述多个限位标记至少包括两个第一限位标记和两个第二限位标记，所述第一限位标记沿第一方向延伸，所述第二限位标记沿与所述第一方向交叉的第二方向延伸；两个所述第一限位标记沿所述第二方向排列，两个所述第二限位标记沿所述第一方向排列，且该两个第二限位标记位于两个所述第一限位标记中心连线的两侧。
5.根据权利要求4所述的显示基板，其特征在于，所述限位标记组中的多个限位标记还包括第三限位标记，所述第三限位标记为条形且沿所述第二方向延伸，所述第三限位标记与其中一个所述第一限位标记相交叉，形成十字结构。
6.根据权利要求2所述的显示基板，其特征在于，所述显示区域设置有像素界定层，所述像素界定层上设置有多个像素开口，所述显示区域还设置有与像素开口一一对应的电极；
所述非显示区域设置有外延膜层，所述外延膜层上设置有与限位标记一一对应的通孔，所述限位标记设置在所述通孔中；所述外延膜层与所述电极同层设置且材料相同，所述限位标记与所述像素界定层同层设置且材料相同。
7.根据权利要求6所述的显示基板，其特征在于，所述外延膜层和所述限位标记中的一者透光，另一者不透光。
8.一种有机发光器件，其特征在于，包括权利要求1至7中任意一项所述的显示基板，所述显示基板的显示区域设置有多种有机膜层，所述显示基板的非显示区域设置有与所述限位标记组一一对应的对位图形组，所述对位图形组位于相应的限位标记组所在的拐角部。
9.根据权利要求8所述的有机发光器件，其特征在于，每个限位标记组包括多个限位标记，每个限位标记组中的多个限位标记用于限定多个理论蒸镀区的位置；
每个对位图形组包括多个对位图形，每个对位图形组的多个对位图形与多种有机膜层的材料一一对应相同；对于任意一个对位图形组，该对位图形组中的多个对位图形与该对位图形组所对应的限位标记组限定出的多个理论蒸镀区一一对应。
10.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求8或9所述的有机发光器件。
11.一种有机发光器件的膜层蒸镀检测方法，其特征在于，包括：
S1、提供权利要求8或9所述的有机发光器件；
S2、利用限位标记组及相应的对位标记组来确定显示基板的显示区域中有机膜层的蒸镀偏移量。
12.根据权利要求11所述的膜层蒸镀检测方法，其特征在于，所述步骤S1中提供的有机发光器件为权利要求9所述的有机发光器件，所述步骤S2包括：
S21、对于每个限位标记组，均根据该限位标记组中的多个限位标记确定多个理论蒸镀区的位置；
S22、检测每个对位图形的实际位置相对于相应理论蒸镀区的位置的偏移量，并以对应于同一种有机膜层的各对位图形的最大偏移量作为该有机膜层的蒸镀偏移量。
13.根据权利要求12所述的膜层蒸镀检测方法，其特征在于，所述有机发光器件的显示基板为权利要求4所述的显示基板；
所述步骤S21包括在每个对位区中进行的以下步骤：
S211、获取每个限位标记的中心位置；
S212、获取以下多个交点的位置：沿所述第一方向延伸的两条第一直线与沿所述第二方向延伸的两条第二直线交叉形成的多个交点、两个第一限位标记的中心连线与两个第二限位标记的中心连线的交点，并将所述多个交点的位置分别作为多个理论蒸镀区的位置；其中，两条第一直线分别经过两个第一限位标记的中心，两条第二直线分别经过两个第二限位标记的中心；
所述步骤S22包括：
S221、获取每个对位图形的中心位置；
S222、计算每个对位图形的中心位置与相应理论蒸镀区的位置之间的偏移量。
14.根据权利要求13所述的检测方法，其特征在于，所述非显示区设置有外延膜层，所述外延膜层上设置有与限位标记一一对应的通孔，所述限位标记设置在所述通孔中，所述电极不透光，所述第二膜层透光；
所述步骤S211包括：
分别在有机发光器件的两侧设置第一光源和第一光采集件，所述第一光源的光线能够穿过所述外延膜层和所述对位图形，以被所述第一光采集件采集；
根据第一光采集件采集到的光线确定每个限位标记的边缘位置，并根据每个限位标记的边缘位置计算相应限位标记的中心位置；
所述步骤S221包括：
在所述第一光采集件的同侧设置第二光源，在所述第一光源的同侧设置第二光采集件；所述第二光源用于激发所述对位图形发光，所述第二光采集件用于采集所述对位图形发射的光线；
根据第二光采集件采集到的光线确定每个对位图形的边缘位置，并根据每个对位图形的边缘位置计算相应对位图形的中心位置。
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