CN107709942A - 检查设备、感测设备、灵敏度控制设备、检查方法和程序 - Google Patents

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Abstract

本公开涉及一种能够精度提高地进行检查的检查设备、感测设备、灵敏度控制设备、检查方法和程序。所述检查设备包括检测作为从待检查的对象反射环境光而获得的反射光的分量的检测部件，所述分量对应于多个不同波长带；和控制所述多个不同波长带所对应的每个分量的灵敏度的控制单元。所述控制单元计算检测单元检测的从检查对象反射的光的每个波长带的检测水平的柱状图，并根据特定光谱分量的柱状图，判定对于检测部件是否适当设定了灵敏度，来控制灵敏度。本技术例如适用于检查植被的检查设备。

Description

检查设备、感测设备、灵敏度控制设备、检查方法和程序
技术领域
本公开涉及检查设备、感测设备、灵敏度控制设备、检查方法和程序，更特别地，涉及精度改善地进行检查的检查设备、感测设备、灵敏度控制设备、检查方法和程序。
背景技术
常规已知的检查设备(例如，参见PTL 1)检查植被，即，在某个场所生长的植物的状态和活性度。
[引文列表]
[专利文献]
[PTL 1]JP 2003-9664A
发明内容
技术问题
然而，要求精度比上述检查设备更高地进行检查。
鉴于上述情况，产生了本公开，以便精度更高地进行检查。
解决技术问题的技术方案
按照本公开的一个方面，提供一种检查设备，包括检测部件和控制部件。所述检测部件检测从待检查的检查对象反射的环境光的多个不同波长区的分量。所述控制部件控制所述多个不同波长区的分量每一个的灵敏度。
按照本公开的另一个方面，提供一种感测设备，包括感测元件和控制部件。所述感测元件利用平面排列的像素中的每个像素，检测从待检查的检查对象反射的环境光的多个不同波长区的分量。所述控制部件控制不同波长区的分量中的每个分量的灵敏度。
按照本公开的另一个方面，提供一种包括控制部件的灵敏度控制设备。所述控制部件控制从待检查的检查对象反射的环境光的多个不同波长区的分量中的每个分量的灵敏度。
按照本公开的另一个方面，提供一种检查方法，包括检测从待检查的检查对象反射的环境光的多个不同波长区的分量，和控制不同波长区的分量中的每个分量的灵敏度。
按照本公开的另一个方面，提供一种程序，所述程序使计算机起控制部件的作用，所述控制部件被配置成控制从待检查的检查对象反射的环境光的多个不同波长区的分量中的每个分量的灵敏度。
本公开的一个方面检测从待检查的检查对象反射的环境光的多个不同波长区的分量，和控制不同波长区的分量中的每个分量的灵敏度。
本发明的有益效果
本公开的一个方面使得能够精度更高地进行检查。
附图说明
图1是图解说明本技术适用于的植被检查设备的第一实施例的例证构成的方框图。
图2是图解说明在草坪是检查对象的情况下，占优势的光谱特性的示图。
图3是图解说明草坪的光谱的示图。
图4是图解说明草坪运动场的例子的示图。
图5是图解说明反射的红外光IR的检测信号的示图。
图6是图解说明反射的红光R的检测信号的示图。
图7是图解说明反射光的分光特性的示图。
图8是图解说明灵敏度调整处理的示图。
图9是图解说明灵敏度调整处理的示图。
图10是图解说明增益校准处理的示图。
图11是图解说明在平灵敏度设定时的灵敏度调整处理的示图。
图12是图解说明在平灵敏度设定时的增益校准处理的示图。
图13是图解说明生成标准化差值植被指数(NDVI)图像的处理的流程图。
图14是图解说明感测元件和控制模块的例证构成的方框图。
图15是图解说明感测元件的动态范围控制的示图。
图16是图解说明检查方法的另一个例子的示图。
图17是图解说明检查方法的另一个例子的示图。
图18是图解说明光谱传感器的第一变形例的示图。
图19是图解说明光谱传感器的第二变形例的示图。
图20是图解说明时序地从一个分光分量切换到另一个分光分量的例子的示图。
图21是图解说明时序地从一个分光分量切换到另一个分光分量的例子的示图。
图22是图解说明本技术适用于的植被检查设备的第二实施例的例证构成的方框图。
图23是图解说明本技术适用于的植被检查设备的第三实施例的例证构成的方框图。
图24是图解说明用于定点观测和移动观测的植被检查设备的例证构成的示图。
图25是图解说明利用植被检查设备的系统的例证总体构成的示图。
图26是图解说明本技术适用于的计算机的一个实施例的例证构成的方框图。
具体实施方式
下面参考附图，详细说明本技术适用于的实施例。
<植被检查设备的第一实施例>
图1是图解说明本技术适用于的植被检查设备的第一实施例的例证构成的方框图。
如图1中图解所示，例如，从检查对象12和基准反射板13反射的太阳光或其他环境光入射到植被检查设备11上。植被检查设备11向显示部件14输出通过感测检查对象12和基准反射板13而获得的例如图像或其他感测结果。
此外，例如，植被检查设备11能够感测作为检查对象12的草坪或其他植物，并计算标准化差值植被指数NDVI，NDVI是例如表示植被的分布或活性度的指数。在这种情况下，植被检查设备11参照从具有已知反射特性的基准反射板13反射的光，从反射自检查对象12的光中，排除环境光的分光特性。植被检查设备11随后能够依照标准化差值植被指数NDVI，生成NDVI图像，并把生成的NDVI图像显示在显示部件14上。
例如，植被检查设备11包括光学系统21、光圈22、光谱传感器23、信号处理模块24和控制模块25。光谱传感器23包括分光器31和感测元件32。
光学系统21包括一个或多个透镜，收集反射自检查对象12和基准反射板13并入射到植被检查设备11上的光，并在光谱传感器23中的感测元件32的检测面上形成图像。
光圈22控制待通过光学系统21，由光谱传感器23收集的光的光量，以便调整要由植被检查设备11感测的图像的曝光。
光谱传感器23检测从检查对象12和基准反射板13反射的环境光的多个不同波长区的分量。更具体地，光谱传感器23利用分光器31把反射光分散成多个不同波长区的光，利用感测元件32的各个像素检测每个所述不同波长区的光(分光分量)的亮度，并把作为结果的检测信号提供给信号处理模块24。
分光器31包括透过预定波长区的光的多个滤光器。各个滤光器被布置在感测元件32的相应像素之上，以分散入射到感测元件32的检测面上的光。
如图所示，分光器31被配置成以致例如对应于形成一组的2个纵排像素×4个横排像素的8个像素，布置用于透过相应的不同波长区的光的8个不同的滤光器。更具体地，按照从最短波长到最长波长的顺序，对应于一组8个像素布置的滤光器是用于透过第一蓝光B1的滤光器、用于透过第二蓝光B2的滤光器、用于透过第一绿光G1的滤光器、用于透过第二绿光G2的滤光器、用于透过第一红光R1的滤光器、用于透过第二红光R2的滤光器、用于透过第一红外光IR1的滤光器、和用于透过第二红外光IR2的滤光器。
分光器31被配置成以致一组由8像素滤光器形成，并且n组这样的滤光器(其中n是等于或大于1的自然数)被连续布置在感测元件32的整个检测面上。一组的滤光器不限于一组的8个像素。可以采用备选构成，以致一组的滤光器例如由4个像素形成。
感测元件32可由例如通过矩阵地排列多个像素，并把它们布置在检测面上而构成的成像元件形成。感测元件32基于每个像素地检测由分光器31的各个滤光器分散的分光分量的亮度，并输出以各个分光分量的亮度为基础的检测信号。
感测元件32可由面传感器或线传感器形成。面传感器检测对象的面。线传感器检测对象的线。此外，即使在感测元件32只由一个R分量像素和一个IR分量像素形成的情况下，通过设置用于移动传感器或测量对象的机构，也可以扫描对象。
信号处理模块24处理从光谱传感器23输出的检测信号，以构建图像，并把图像输出给显示部件14，作为感测结果。此外，为了计算适当的标准化差值植被指数NDVI，信号处理模块24如后参考图7-9所述地对于由分光器31分散的各个分光分量，设定感测元件32中的像素的灵敏度，并把基于灵敏度设定的曝光时间通知控制模块25。此外，如后参考图10所述，信号处理模块24在计算标准化差值植被指数NDVI之时，进行增益校准处理。
为了使像素曝光由信号处理模块24指定的曝光时间，控制模块25对于接收相同的分光分量的各个像素，控制曝光时间。
通过在信号处理模块24中，进行灵敏度设定处理和增益校准处理，如上所述构成的植被检查设备11能够根据从检查对象12反射的光，计算适当的标准化差值植被指数NDVI。
下面参考图2，说明在草坪为检查对象12的情况下占优势的光谱特性。
图2图解说明感测元件32的传感器灵敏度和叶绿素的吸收光谱之间的关系。横轴表示波长，纵轴表示相对灵敏度。
如图2中图解所示，感测元件32对于红外光IR、绿光G、红光R和蓝光B的相对灵敏度设定在光的相应波长区中较高。更具体地，感测元件32被设定成以致对于检测红光R的像素的相对灵敏度设定在约600～700nm的波长区内较高，对于检测红外光IR的像素的相对灵敏度设定在约720～940nm的波长区内较高。
此外，如在图2中图解所示，包含在草坪中的叶绿素具有最大量地吸收波长约660nm的光的吸收特性。即，叶绿素是这样的，以致光的吸收在红光R的波长区中达到峰值，而在红外光IR的波长区中，基本上不发生光的吸收。
根据叶绿素的上述吸收特性，可以计算用作用于植被检查的检查值的植被指数。例如，通过利用红光R的像素值和红外光IR(近红外区分量)的像素值，根据下式(1)计算标准化差值植被指数NDVI。
[数学式1]
关于标准化差值植被指数NDVI的使用，说明了本实施例。不过，植被检查设备11可利用除标准化差值植被指数NDVI外的植被指数，比如比值植被指数(RVI)或绿色NDVI(GNDVI)。
现在参见图3，说明草坪的植被状态和标准化差值植被指数NDVI之间的关系。
图3图解说明用作检查对象12的草坪的光谱。横轴表示波长，纵轴表示标准化差值植被指数NDVI。
例如在草坪处于良好植被状态的情况下，红光R被草坪显著吸收。于是这种情况下，反射光包含少量的红光R和大量的红外光IR。从而，标准化差值植被指数NDVI表现出高值。同时，当草坪的植被状态劣化时，草坪吸收数量减少的红光R。于是，反射光包含数量增多的红光R和数量减少的红外光IR。从而，标准化差值植被指数NDVI表现出低值。
如上所述，通过确定标准化差值植被指数NDVI，植被检查设备11能够检查草坪的植被状态。例如，植被检查设备11可用于检查在其中踢足球或进行其他运动的草坪运动场的植被状态。
<草坪运动场检查的例子>
下面参考图4-6，说明利用植被检查设备11，检查草坪运动场的例子。
在图4中的A，整体描述了草坪运动场。进行运动的场地完全被草坪覆盖。另外，场地之外的预定宽度的部分也被草坪覆盖。被草坪覆盖的区域之外的部分例如用排水良好的锈红色的雨后快干地面覆盖。这种情况下，草坪的反射特性随着其植被状态而变化。不过，雨后快干地面的反射特性保持不变。于是，当预先测量了雨后快干地面的反射特性时，雨后快干地面可以用作图1中描述的基准反射板13。
此外，植被检查设备11例如安装在俯瞰整个草坪运动场的位置(例如，安装在最上面的观众席处)，能够如在图4的C中所示，广角地感测整个草坪运动场，并且能够如在图4的C中所示，远摄地感测草坪运动场的一部分。这里，在捕捉的图像包括阳光充足区和阴影区的情况下，需要通过利用检测红光R的像素和检测红外光IR的像素，进行适当的曝光控制。
下面参考图5和6，说明草坪的反射红光R、反射红外光IR、阳光充足区和阴影区的检测信号，和雨后快干地面的反射红光R、反射红外光IR、阳光充足区和阴影区的检测信号。
例如，对于检测红外光IR的像素，布置具有在图5中的A描述的特性的图像截止滤光器。
在图5中的B描述的柱状图描述当如在图4中的C所示，感测草坪运动场的一部分时获得的涉及红外光IR的感测结果(例如，1个图像帧，即，图1中的n组8像素滤光器的阵列)。例如，图5中的B的横轴表示所有像素的检测信号的强度(例如，当检测信号由12比特形成，同时最左端为0，最右端为211时占优势的强度)，图5中的B的纵轴表示所有像素的检测信号之中的检测红外光IR的像素的检测信号的频度。当远摄地感测草坪运动场的一部分时，草坪的阳光充足区中的强度可能过高，如在图5中的B所示，以致捕捉的图像变得曝光过度。
在图5中的C描述的柱状图是在整体地感测在图4中的B描述的草坪运动场时获得的。横轴表示强度，纵轴表示频度。如在图5中的C所示，当广角地感测整个草坪运动场时，例如，对于经历大面积感测的草坪的阳光充足区，能够容易地获得恰当的动态范围，但是对于经历小面积感测的雨后快干地面的阴影区，不能容易地获得恰当的动态范围。
此外，对于检测红光R的像素，布置具有在图6中的A描述的特性的红色滤光器。
在图6中的B描述的柱状图描述当如在图4中的C所示，感测草坪运动场的一部分时获得的涉及红光R的感测结果。更具体地，图6中的B的横轴表示所有像素的检测信号的强度，图6中的B的纵轴表示所有像素的检测信号之中的检测红光R的像素的检测信号的频度。当远摄地感测草坪运动场的一部分时，草坪的阴影区中的强度可能过低，如在图6中的B所示，以致捕捉的图像变得曝光不足。
在图6中的C描述的柱状图是在整体地感测在图4中的B描述的草坪运动场时获得的。横轴表示强度，纵轴表示频度。如在图6中的C所示，当广角地感测整个草坪运动场时，例如，对于经历大面积感测的草坪的阴影区，能够容易地获得恰当的动态范围，但是对于经历小面积感测的雨后快干地面的阳光充足区，不能容易地获得恰当的动态范围。
如上所述，过去在可能发生曝光过度或曝光不足的条件下(广角或远摄模式，阴影区或阳光充足区)，利用检测红光R的像素和检测红外光IR的像素，不易实现适当的曝光。此外，在广角地感测整个草坪运动场的情况下，雨后快干地面经历小面积感测。于是，难以获得从雨后快干地面反射的光的恰当动态范围。
鉴于上述情况，植被检查设备11采用使得能够为检测红光R的像素和检测红外光IR的像素，选择适当的曝光设定，并对于红光R和红外光IR的检测信号，进行适当的增益校准的检查方法。这使植被检查设备11能够计算适当的标准化差值植被指数NDVI，从而精度提高地检查植被。
<植被检测设备的检查方法>
下面参考图7-10，说明图1中描述的植被检查设备11的检查方法的例子。
图7是描述通过光学系统21，入射在植被检查设备11上的反射光的分光特性的示图。
例如，环境光具有以致其亮度随着其波长的增大(即，从第一蓝光B1到第二红外光IR2)而增大的分光特性。通过把环境光的相应反射特性乘以检查对象12和基准反射板13的分光特性，确定从检查对象12和基准反射板13反射的环境光的分光特性。
例如，下面举例说明如在图7中的A所示，对于所有波长具有均一的反射特性的基准反射板13。从上述基准反射板13反射的光具有通过把环境光的分光特性乘以基准反射板13的反射特性而确定的分光特性。从而，植被检查设备11中的反射光的检测水平随着波长的增大而增大。
同时，如在图7中的B所示，检查对象12具有以前面参考图2说明的吸收特性为基础的反射特性。于是，从检查对象12反射的光具有通过把环境光的分光特性乘以检查对象12的反射特性而确定的分光特性。从而，例如，植被检查设备11中的反射光的检测水平对于红光R来说较低，对于红外光IR来说较高。
如上所述，从检查对象12反射的光和从基准反射板13反射的光都入射到植被检查设备11上，以致如在图1中描述的显示部件14中所示，作为图像观测检查对象12和基准反射板13。
下面参考图8和9，说明灵敏度调整处理。
在图8中的A，描述了植被检查设备11中的感测元件32的例证灵敏度设定。例如，作为初始状态，采用平灵敏度设定，以致在所有波长区内，按均一的灵敏度检测光。
从而，如在图8中的B所示，在植被检查设备11采用平灵敏度设定的情况下，从基准反射板13反射的光的检测水平与在图7中的A描述的反射光的检测水平一致。类似地，如在图8中的C所示，在植被检查设备11采用平灵敏度设定的情况下，从检查对象12反射的光的检测水平与在图7中的B描述的反射光的检测水平一致。
在图8中的B和C描述的光谱特性是以指示从基准反射板13和检查对象12反射的光的波长特有强度的图像的形式呈现的，并且例如在图1中描述的显示部件14处不能被直接观测到。实际上，对于各个光谱积分的值作为检测信号，从感测元件32输出，在信号处理模块24中经历信号处理，并作为波长特有的图像被观测。
信号处理模块24随后计算指示从基准反射板13和检查对象12反射的光的各个波长区(第一蓝光B1、第二蓝光B2、第一绿光G1、第二绿光G2、第一红光R1、第二红光R2、第一红外光IR1和第二红外光IR2)的检测水平的柱状图。
在图8中的D描述的是从基准反射板13反射的第二红光R2和第二红外光IR2的柱状图，和从检查对象12反射的第二红光R2和第二红外光IR2的柱状图，它们都在通过对反射光的所有波长区进行计算而获得的柱状图之中。
在图8中的D，横轴指示检测水平，纵轴指示柱状图(表示频度)。来自检查对象12的第二红外光IR2的检测水平很高(图8中的C)。于是，来自检查对象12的第二红外光IR2的柱状图的检测水平大部分比感测元件32可检测的动态范围的最大值Max高。从而，来自检查对象12的第二红外光IR2可能变得曝光过度。
此外，来自检查对象12的第二红光R2的检测水平较低(图8中的C)。于是，来自检查对象12的第二红光R2的柱状图的检测水平部分地比感测元件32可检测的动态范围的最小值Min低。从而，来自检查对象12的第二红光R2可能变得曝光不足。如在图8中的A所示，在整个带宽内，基准反射板13具有平坦的特性，以致完全获得环境光的光谱强度。
于是，为了计算适当的标准化差值植被指数NDVI，可取的是避免来自检查对象12的第二红外光IR2的检测水平变得曝光过度的情况，和来自检查对象12的第二红光R2的检测水平变得曝光不足的情况。
在上述情形下，植被检查设备11基于各个分光分量地控制感测元件32的灵敏度，以便确保来自检查对象12的第二红光R2的检测水平和来自检查对象12的第二红外光IR2的检测水平两者都在动态范围之内。
在图9的A描述的是由控制模块25控制的感测元件32的例证灵敏度设定。具体地，与在图8中的A描述的平灵敏度设定相比，控制模块25为第二红光R2选择高灵敏度设定，为第二红外光IR2选择低灵敏度设定。此外，由于除第二红光R2和第二红外光IR2外的分光分量不是为计算标准化差值植被指数NDVI所必需的，因此控制模块25进行控制，以致对于这类不必要的分光分量的灵敏度基本上为0(小于检测水平的最小值Min)。
从而，如在图9中的B所示，通过把在图8中的B描述的检测水平乘以在图9中的A描述的感测元件32的灵敏度设定，确定从基准反射板13反射的光的检测水平。类似地，如在图9中的C所示，通过把在图8中的C描述的检测水平乘以在图9中的A描述的感测元件32的灵敏度设定，确定从检查对象12反射的光的检测水平。
因而，如在图9中的D所示，来自检查对象12的第二红光R2的检测水平和来自检查对象12的第二红外光IR2的检测水平受到控制，以致它们都在动态范围之内。即，避免了参考图8中的D说明的曝光过度和曝光不足。
顺便提及，来自检查对象12的第二红光R2和第二红外光IR2包含环境光的分光特性。于是，必须从反射自检查对象12的第二红光R2和第二红外光IR2中，排除环境光的分光特性，并获得与检查对象12的反射特性(当环境光较平时，占优势的反射光的光谱特性)对应的第二红光R2和第二红外光IR2。在这种情况下，植被检查设备11参照来自基准反射板13的第二红光R2和第二红外光IR2，对来自检查对象12的第二红光R2和第二红外光IR2的检测信号进行增益校准处理。
图10是图解说明对来自检查对象12的第二红光R2和第二红外光IR2的检测信号进行的增益校准处理的示图。
首先，如在图10中的A所示，确定用于提供来自基准反射板13的第二红光R2和第二红外光IR2的平检测水平(均一检测水平)的校准增益。更具体地，信号处理模块24计算R用校准增益和IR用校准增益。R用校准增益使来自基准反射板13的第二红光R2衰减到使第二红光R2变平的检测水平。IR用校准增益使来自基准反射板13的第二红外光IR2放大到使第二红外光IR2变平的检测水平。
如在上面的式(1)中所示，标准化差值植被指数NDVI是以光谱变化的比率为基础的值。从而，标准化差值植被指数NDVI是以第二红光R2和第二红外光IR之间的比率为基础的值。即，第二红光R2和第二红外光IR2的绝对值不影响标准化差值植被指数NDVI。于是，任意值可被设定为使来自基准反射板13的第二红光R2和第二红外光IR2变平的检测水平。
在图10中的B描述的是根据按照来自基准反射板13的第二红光R2和第二红外光IR2的检测水平确定的校准增益配置的、来自检查对象12的第二红光R2和第二红外光IR2的检测水平。即，信号处理模块24按照把来自基准反射板13的第二红光R2衰减到使第二红光R2变平的检测水平的R用校准增益，校正来自检查对象12的第二红光R2的检测水平。类似地，信号处理模块24按照把来自基准反射板13的第二红外光IR2放大到使第二红光R2变平的检测水平的IR用校准增益，校正来自检查对象12的第二红外光IR2的检测水平。
当进行上述增益校准处理时，可从来自检查对象12的第二红光R2和第二红外光IR2的检测水平中，排除环境光的分光特性。信号处理模块24随后根据从中排除了环境光的分光特性的来自检查对象12的第二红光R2和第二红外光IR2的检测信号，利用上面的式(1)，计算标准化差值植被指数NDVI。植被检查设备11能够直接输出按照上述方式计算的标准化差值植被指数NDVI。
此外，如在图10中的C所示，植被检查设备11可通过根据计算的标准化差值植被指数NDVI，使检查对象12可视化，生成NDVI图像，并把生成的NDVI图像输出给在图1中描述的显示部件14。例如，植被检查设备11可生成以标准化差值植被指数NDVI的值为基础的灰度级NDVI图像，或者通过利用可见光的预定颜色分量，比如红色、蓝色和绿色，映射NDVI的值，生成NDVI图像。
如参考图7-10所述，按照检查对象12的反射特性和环境光(从基准反射板13反射的光)的状态，植被检查设备11通过控制对于为计算标准化差值植被指数NDVI所必需的分光分量的灵敏度，校准增益。这使植被检查设备11能够避免检测水平的曝光过度和曝光不足，并生成从中排除环境光的分光特性的NDVI图像。
现在参考图11和12，与当对于感测元件32，采用平灵敏度设定时获得的结果比较地说明通过进行上述灵敏度调整处理和增益校准处理而产生的效果。
在图11中的A描述的例子表示其中在维持平灵敏度设定的时候，感测元件32的灵敏度被降低，以避免来自检查对象12的第二红外光IR2的检测水平的曝光过度的情况。
因而，如在图11中的B所示，通过把在图8中的B描述的检测水平乘以在图11中的A描述的感测元件32的灵敏度设定，确定从基准反射板13反射的光的检测水平。类似地，如在图11中的C所示，通过把在图8中的C描述的检测水平乘以在图11中的A描述的感测元件32的灵敏度设定，确定从检查对象12反射的光的检测水平。
在采用上述灵敏度设定的情况下，按照最大的信号进行曝光控制。于是，如在图11中的D所示，来自检查对象12的第二红外光IR2的检测水平被控制成等于或小于感测元件32可检测的动态范围的最大值Max。然而结果是作为最小信号的来自检查对象12的第二红光R2的检测水平大部分低于感测元件32可检测的动态范围的最小值Min。即，来自检查对象12的第二红光R2可能变得曝光不足。
当在上述状态下，进行上述增益校准处理时，确定用于放大来自基准反射板13的第二红光R2的R用校准增益，以致第二红光R2的检测水平与来自基准反射板13的第二红外光IR2的检测水平一致，如在图12中的A所示。即使当这样的R用校准增益被用于校正来自检查对象12的第二红光R2的检测水平时，来自检查对象12的第二红光R2的检测水平仍然较低，如在图12中的B所示。即，由于来自检查对象12的第二红光R2的初始检测水平过低，即使当利用R用校准增益，进行校正时，所述检测水平也不能被放大到足够的水平。此外，信噪比(SNR)劣化。从而，不能从在上述状态下生成的NDVI图像(图12中的C)，获得正确的结果。
如上所述，在未对各个分光分量设定灵敏度的情况下，不能生成适当的NDVI图像。同时，如参考图7-10所述，通过对于每个分光分量，设定灵敏度，植被检查设备11能够生成更适当的NDVI图像。
<NDVI图像生成的处理>
图13是图解说明植被检查设备11进行的生成NDVI图像的处理的流程图。
例如，当在安装植被检查设备11，以便把检查对象12和基准反射板13布置在感测范围内之后，输入用于开始植被检查的指令时，开始该处理。
在步骤S11，如在图8中的A所示，初始采用平灵敏度设定的植被检查设备11中的感测元件32感测从检查对象12和基准反射板13反射的光。感测元件32随后把指示例如在图8中的B和C描述的各个分光分量的检测水平的检测信号提供给信号处理模块24。
在步骤S12，根据从感测元件32供给的检测信号，信号处理模块24计算指示在从检查对象12反射的光的每个波长区中的检测水平的柱状图。
在步骤S13，根据在步骤S12计算的柱状图，如参考图8中的D所述，信号处理模块24判定感测元件32的灵敏度设定是否适当。例如，在来自检查对象12的第二红光R2的柱状图低于感测元件32可检测的动态范围的最小值Min的情况下，控制模块25判定感测元件32的灵敏度设定不适当。类似地，在来自检查对象12的第二红外光IR2的柱状图高于感测元件32可检测的动态范围的最大值Max的情况下，控制模块25判定感测元件32的灵敏度设定不适当。
在步骤S13，在信号处理模块24判定感测元件32的灵敏度设定不适当的情况下，处理进入步骤S14。在步骤S14，如在图9中的D所示，信号处理模块24按照来自检查对象12的第二红光R2和第二红外光IR2的检测水平都在动态范围内的方式，确定感测元件32的灵敏度设定。信号处理模块24随后按照灵敏度设定，计算感测元件32的像素的曝光时间，并把计算的曝光时间通知控制模块25。
因而，控制模块25控制感测元件32的像素的曝光时间，以调整感测元件32的灵敏度设定。例如，调整感测元件32的灵敏度设定，以通过增大接收在感测检查对象12的范围内的第二红光R2的像素的曝光时间，提高灵敏度，或者调整感测元件32的灵敏度设定，以通过减小接收在感测检查对象12的范围内的第二红外光IR2的像素的曝光时间，降低灵敏度。
当步骤S14结束时，处理返回步骤S11。在步骤S11，感测元件32按照在步骤S14中调整的灵敏度设定，感测反射光。处理随后被重复，直到信号处理模块24在步骤S13，判定感测元件32的灵敏度设定适当为止。
同时，在信号处理模块24在步骤S13，判定感测元件32的灵敏度设定适当的情况下，处理进入步骤S15。
在步骤S15，如前参考图10中的A所述，信号处理模块24计算使来自基准反射板13的第二红光R2和第二红外光IR2的检测水平变平的校准增益。
在步骤S16，信号处理模块24按照在步骤S15计算的校准增益，进行校准，以便通过校正来自检查对象12的第二红光R2和第二红外光IR2的检测水平，排除环境光的分光特性。
在步骤S17，信号处理模块24根据在步骤S16校准的来自检查对象12的第二红光R2和第二红外光IR2的检测信号，计算标准化差值植被指数NDVI。
在步骤S18，根据在步骤S17计算的标准化差值植被指数NDVI，信号处理模块24生成描述检查对象12的NDVI图像，并把生成的NDVI图像输出给显示部件14。当步骤S18结束时，处理终止。
如上所述，植被检查设备11通过设定来自检查对象12的第二红光R2和第二红外光IR2中的每一个的灵敏度，随后校准第二红光R2和第二红外光IR2各自的检测水平，能够生成适当的NDVI图像。
<感测元件和控制模块的例证构成>
图14是图解说明感测元件32和控制模块25的例证构成的方框图。
控制模块25包括垂直扫描控制电路41和水平扫描控制电路42。垂直扫描控制电路41控制感测元件32的垂直扫描。水平扫描控制电路42控制感测元件32的水平扫描。
感测元件32由矩阵排列的多个像素51形成。沿水平方向排列的像素51通过相应行中的水平信号线52，连接到垂直扫描控制电路41。此外，沿垂直方向排列的像素51连接到相应列中的垂直信号线53。垂直信号线53通过在水平扫描控制电路42的控制下打开和闭合的开关54，连接到模-数转换器(ADC)55的输入端。ADC 55的输出端连接到输出信号线56。
像素51都包括光电转换部件61、放大器部件62和开关63。光电转换部件61接收的光被转换成电荷，由放大器部件62放大，并被转换成以电荷量为基础的信号。开关63把放大器部件62连接到垂直信号线63，并按照通过水平信号线52，从垂直扫描控制电路41供给的控制信号被驱动。
如上所述，感测元件32能够基于各个垂直信号线53地从像素51，获得以由光电转换部件61生成的电荷为基础的信号。对于相应像素51接收的各个分光分量，分离供给曝光时间控制信号的水平信号线52。从而，可基于一个像素51，或者预定数目的像素51，对于各个分光分量，进行曝光时间控制。
同时，如图1中图解所示，分光器31被构造成以致假定8个不同的滤光器为一组，在感测元件32的整个检测面上，布置n组滤光器。
从而，图14中描述的8个像素51-1～51-8形成一组。像素51-1接收第一蓝光B1，像素51-2接收第一绿光G1，像素51-3接收第一红光R1，像素51-4接收第一红外光IR1。另外，像素51-5接收第二蓝光B2，像素51-6接收第二绿光G2，像素51-7接收第二红光R2，像素51-8接收第二红外光IR2。
像素51-1连接到水平信号线52-1，像素51-2连接到水平信号线52-2，像素51-3连接到水平信号线52-3。类似地，像素51-4～51-8分别连接到水平信号线52-4～52-8。此外，尽管未图示，不过，接收每个相同波长区中的光的像素51连接到公共的水平信号线52。
如上所述，像素51-1～51-8通过独立的水平信号线52-1～52-8，分别连接到垂直扫描控制电路41，并且能够每个分光分量地控制曝光时间。
现在参见图15，说明感测元件32的动态范围控制。
在图15中的A描述的是感测元件32接收的光的强度与传感器输出之间的一般关系。在图15中的B描述的是从基准反射板13反射的光的分光特性。在图15中的C描述的是从检查对象12反射的光的分光特性。
如在图15中的A所示，当传感器输出超过灵敏度上限的80％时，感测元件32的线性劣化。同时，当传感器输出降低时，归因于例如暗电流，感测元件32的信噪比(SNR)劣化。
因而，如在图15中的B和C所示，植被检查设备11按照以致感测元件32的动态范围低于检测水平上限的80％，并且高于检测水平上限的10％的方式，控制第二红光R2和第二红外光IR2的曝光时间。当按照上述方式控制动态范围时，感测元件32能够获得就精度和信噪比(SNR)来说良好的感测结果。
<植被检查设备的备选例证检查方法>
现在参见图16和17，说明图1中图解所示的植被检查设备11的备选例证检查方法。
前面参考图7-10所述的检查方法同时感测检查对象12和基准反射板13。不过，通过分别感测检查对象12和基准反射板13，能够获得提高的感测精度。
即，如在图16中的A所示，例如，设定第一感测操作的灵敏度，以致在最佳条件下，检测来自检查对象12的第二红光R2和第二红外光IR2的强度。类似地，设定第二感测操作的灵敏度，以致在最佳条件下，检测来自基准反射板13的第二红光R2和第二红外光IR2的强度。
从而，如在图16中的B所示，来自检查对象12的第二红光R2和第二红外光IR2的检测水平都接近并且低于动态范围的上限。类似地，如在图16中的C所示，来自基准反射板13的第二红光R2和第二红外光IR2的检测水平都接近并且低于动态范围的上限。
因而，如在图16中的D所示，在动态范围的上限附近，重叠地分别观测到指示来自检查对象12的第二红光R2和第二红外光IR2的检测水平的柱状图，和指示来自基准反射板13的第二红光R2和第二红外光IR2的检测水平的柱状图。
这里，如在图16中的B和C所示，我们假定按相同的水平，检测来自检查对象12的第二红光R2和第二红外光IR2，以及来自基准反射板13的第二红光R2和第二红外光IR2。在这种情况下，可根据基准反射板13的灵敏度调整水平G1和检查对象12的灵敏度调整水平G2之间的比率，校准来自检查对象12的第二红光R2和第二红外光IR2。
更具体地，如在图17中的A所示，把来自基准反射板13的第二红外光IR2放大到和第二红光R2相同的水平的增益被称为灵敏度调整水平G1。此外，如在图17中的B所示，把来自检查对象12的第二红光R2降低并把来自检查对象12的第二红外光IR2放大到相同水平的增益被称为灵敏度调整水平G2。
从而，当进行上述增益校准处理时，在这种情况下，可以使用灵敏度调整水平比G1/G2来降低来自检查对象12的第二红光R2，和放大来自检查对象12的第二红外光IR2，如在图17中的C所示。因而，当环境光的分光特性平坦时，能够高精度地确定来自检查对象12的第二红光R2和第二红外光IR2的检测水平。这使得能够计算更精确的NDVI图像(图17中的D)。
<光谱传感器的变形例>
图18是图解说明光谱传感器23的第一变形例的示图。
如图18中图解所示，光谱传感器23A包括两个特定波长分光器31a和31b、两个感测元件32a和32b、以及分束器71。
分束器71把入射在光谱传感器23A上的一束光均分成两个光束。一个光束射向特定波长分光器31a和感测元件32a，而另一个光束射向特定波长分光器31b和感测元件32b。特定波长分光器31a和感测元件32a的组合，以及特定波长分光器31b和感测元件32b的组合分别被布置在利用分束器71分割的光束射向的两个不同方向。
特定波长分光器31a是例如只透过第二红光R2并布置在感测元件32a的输入级中的滤光器。此外，特定波长分光器31b是例如只透过第二红外光IR2并布置在感测元件32b的输入级中的滤光器。
从而，感测元件32a只检测由特定波长分光器31a分散的第二红光R2，感测元件32b只检测由特定波长分光器31b分散的第二红外光IR2。
随后，和前面参考图8和9说明的灵敏度设定处理的情况一样，图1中描述的控制模块25按照来自检查对象12的第二红光R2的检测水平，设定感测元件32a的灵敏度，并按照来自检查对象12的第二红外光IR2的检测水平，设定感测元件32b的灵敏度。这确保来自检查对象12的第二红光R2的检测水平和来自检查对象12的第二红外光IR2的检测水平都在动态范围之内。
图19是图解说明光谱传感器23的第二变形例的示图。
如图19中图解所示，光谱传感器23b包括两个特定波长分光器31a和31b，以及两个感测设备72a和72b。感测设备72a和72b被布置成以致它们的光轴彼此平行。
特定波长分光器31a是例如只透过第二红光R2并布置在感测设备72a的输入级中的滤光器。此外，特定波长分光器31b是例如只透过第二红外光IR2并布置在感测设备72b的输入级中的滤光器。
例如，感测设备72a和72b都包括光学系统、光圈和感测元件。在采用光谱传感器23b的情况下，植被检查设备11不包括图1中所示的光学系统21和光圈22。感测设备72a只检测由特定波长分光器31a分散的第二红光R2，感测设备72b只检测由特定波长分光器31b分散的第二红外光IR2。
随后，和前面参考图8和9说明的灵敏度设定处理的情况一样，图1中描述的控制模块25按照来自检查对象12的第二红光R2的检测水平，设定感测设备72a的感测元件的灵敏度，并按照来自检查对象12的第二红外光IR2的检测水平，设定感测设备72b的感测元件的灵敏度。这确保来自检查对象12的第二红光R2的检测水平和来自检查对象12的第二红外光IR2的检测水平都在动态范围之内。
如参考图18和19所述，植被检查设备11把感测元件32或感测设备72用于待检测的每个分光分量，并单独地设定感测元件32或感测设备72的灵敏度。这使得能够获得高精度的检查结果。
<检测分光分量的备选方法>
现在参见图20和21，说明检测多个分光分量的备选方法。
上述植被检查设备11同时检测由分光器31分散的多个分光分量。然而，例如，通过按时间先后顺序地变更待由分光器31分散的波长，植被检查设备11能够最佳地检测各个分光分量。例如，分光器31可具有用于从一个滤光器切换到另一个滤光器的结构。
例如，如在图20中图解所示，分光器31可被布置在感测元件32的输入级中，以在时间t1、在时间t2和在时间t3，切换和分散分光分量。从而，通过按照以便为每个时刻的分光分量提供最佳的曝光时间的方式，设定感测元件32的灵敏度，并在分光器31所致的每个分光分量变更之后，进行多次检测，可使各个分光分量的检测水平维持在动态范围之内。
类似地，如图21中图解所示，分光器31可被布置在感测设备72的输入级中，以在时间t1、在时间t2和在时间t3，一个接一个地切换和分散分光分量。从而，通过按照以便为每个时刻的分光分量提供最佳的曝光时间的方式，设定感测设备72的灵敏度，并在分光器31所致的每个分光分量变更之后，进行多次检测，可使各个分光分量的检测水平维持在动态范围之内。
<植被检查设备的第二实施例>
图22是图解说明本技术适用于的植被检查设备的第二实施例的例证构成的方框图。
如图22中图解所示，植被检查设备11A包括两个光学系统21a和21b、两个光圈22a和22b、两个光谱传感器23a和23b、信号处理模块24和控制模块25。图22中图解所示的植被检查设备11A的与图1中图解所示的植被检查设备11的对应元件相同的元件用与它们的对应元件的相同附图标记表示，并且不再详细地重复说明。总之，植被检查设备11A与图1中图解所示的植被检查设备11的不同之处在于光学系统21、光圈22和光谱传感器23中每一个，植被检查设备11A都包含两个。
植被检查设备11A利用光学系统21a、光圈22a和光谱传感器23a检测从基准反射板13反射的光，并且利用光学系统21b、光圈22b和光谱传感器23b检测从检查对象12反射的光。如上所述，植被检查设备11A被配置成以致从基准反射板13反射的光的检测与从检查对象12反射的光的检测分离。
例如，在检查对象12和基准反射板13的大小不同的情况下，需要设定不同的变焦倍率，以便单独地感测检查对象12和基准反射板13。于是，植被检查设备11A被配置成能够以不同的适当变焦倍率，感测检查对象12和基准反射板13。
随后，在植被检查设备11A中，光谱传感器23a输出从检查对象12反射的光的检测信号，光谱传感器23b输出基准反射板13的检测信号。从而，光谱传感器23a和光谱传感器23b使植被检查设备11A能够适当控制各个分光分量的灵敏度设定。于是，来自检查对象12和基准反射板13的第二红光R2和第二红外光IR2都能够容易地被维持在动态范围内。结果，植被检查设备11A能够精度提高地检查被检对象12。
<植被检查设备的第三实施例>
图23是图解说明本技术适用于的植被检查设备的第三实施例的例证构成的方框图。
如图23中图解所示，植被检查设备11B包括光学系统21、光圈22、光谱传感器23、信号处理模块24、控制模块25和光谱传感器81。图23中图解所示的植被检查设备11B的与图1中图解所示的植被检查设备11的对应元件相同的元件用与它们的对应元件的相同附图标记表示，并且不再详细地重复说明。总之，植被检查设备11B和图1中图解所示的植被检查设备11的不同之处在于前者包括光谱传感器81。
例如，在按照和前面所述相似的方式，用环境光照射检查对象12的时候，通过利用光谱传感器81，而不利用图1中的基准反射板13，植被检查设备11B能够检测环境光的分光特性。更具体地，在植被检查设备11B中，光谱传感器81接收环境光，检测环境光的光谱，从而生成检测信号，把检测信号提供给信号处理模块24，并允许信号处理模块24设定光谱传感器23中的感测元件32(图1)的每个分光分量的灵敏度。即，光谱传感器81不从反射自图1中描述的基准反射板13的光中，间接检测环境光的分光特性，而是从直接到达光谱传感器81的环境光中，检测分光特性。应注意在光谱传感器81中的传感器元件上方，安装有例如盖子和漫射滤光器。于是，光谱传感器81检测通过例如盖子和漫射滤光器，入射到传感器元件上的环境光的分光特性。
通过按照和结合前面参考图8和9描述的灵敏度设定处理说明的相似方式，设定光谱传感器23的灵敏度，具有上述构成的植被检查设备11B也能够获得上面所述的检查结果。
此外，例如，如在图24中的A图解所示，植被检查设备11B可以用作安装在底脚82上，以进行定点观测的植被检查设备11B-1。此外，如在图24中的B图解所示，植被检查设备11B可以用作装备有旋翼83，以进行移动观测的植被检查设备11B-2，比如用作无人机(UAV)。
图25是图解说明利用植被检查设备11的系统的例证总体构成的示图。
如图25中图解所示，例如，检查系统91能够通过利用安装在固定点处的植被检查设备11-1，进行定点观测，以及通过利用装备有旋翼83的植被检查设备11-2，进行移动观测。
此外，在检查系统91中，植被检查设备11-1获得的检查数据可通过利用存储器92-1，离线收集到数据管理服务器94中，和通过路由器93-1，经有线网络收集到数据管理服务器94中。类似地，植被检查设备11-2获得的检查数据可通过利用存储器92-2，离线收集到数据管理服务器94中，和通过路由器93-2，经有线网络收集到数据管理服务器94中。
数据管理服务器94能够从植被检查设备11-1和11-2收集检查数据，并把收集的检查数据保存在记录部分95中，以便使检查系统91能够进行长期观测。检查系统91不仅能够通过如前所述，把植物当作检查对象，感测植被，而且能够通过把例如土壤或建筑物当作检查对象，感测例如土壤或建筑物。
此外，具有上述构成的检查系统91作为替换方式可被配置成以致植被检查设备11-1和11-2把分光分量传送给数据管理服务器94，以使数据管理服务器94设定灵敏度。即，由上述信号处理模块24进行的处理可由检查系统91中的某个模块进行，而不是在植被检查设备11-1和11-2中进行。
按照图1中描述的例证构成，例如，植被检查设备11被配置成以致分光器31被布置在光谱传感器23中的感测元件32的输入级中。不过，分光器31不必总是被布置成紧接于感测元件32之前。例如，植被检查设备11可被配置成以致分光器31被布置在光圈22的输入级中，或者被布置在光学系统21的输入级中。此外，植被检查设备11可把食物当作检查对象12。例如，植被检查设备11可用于检查食物中的营养成分(例如，胡萝卜素)。此外，植被检查设备11可被配置成不仅控制对于红光R和红外光IR的灵敏度，而且控制对于蓝光B或绿光G的灵敏度。此外，例如，植被检查设备11不仅可控制感测元件32检测反射光的灵敏度，而且可控制除感测元件32外的元件的灵敏度。
同时，如前所述被配置成以致对于感测元件32的每个像素，都布置用于透过分光分量的滤光器的分光器31作为替换方式可被配置成以致使预定的分光分量入射在例如多个邻近像素中的每个像素上。
参考流程图说明的处理不一定需要按照在流程图中所示的顺序时序地进行。一些处理可以并行地进行，或者单独地进行(例如，并行处理或者基于对象的处理)。此外，程序可由单个CPU处理，或者可由多个CPU分布地处理。
此外，上述一系列处理(信息处理方法)可用硬件或者用软件进行。在所述一系列处理是利用软件进行的情况下，形成所述软件的程序被内装在计算机的专用硬件中，或者从保存程序的程序记录介质，被安装在例如利用各种安装的程序，能够执行各种功能的通用个人计算机或者其他计算机上。
图26是图解说明执行程序，以进行上述一系列处理的计算机的硬件的例证构成的方框图。
在计算机中，中央处理器(CPU)101、只读存储器(ROM)102和随机存取存储器(RAM)103通过总线104互连。
总线104也连接到输入/输出接口105。输入/输出接口105连接到输入部分106、输出部分107、存储部分108、通信部分109和驱动器110。输入部分106包括键盘、鼠标和麦克风。输出部分107包括显示器和扬声器。存储部分108包括硬盘和非易失性存储器。通信部分109包括网络接口。驱动器110用于驱动可拆卸记录介质111，比如磁盘、光盘、磁光盘或半导体存储器。
在如上所述构成的计算机中，CPU 101通过输入/输出接口105和总线104，把例如保存在存储部分108中的程序载入RAM 103中，并执行载入的程序，以进行上述一系列的处理。
计算机(CPU 101)执行的程序可在被记录在可拆卸记录介质111上之后提供，可拆卸记录介质111是套装介质，比如磁盘(包括软盘)、光盘(例如，光盘只读存储器(CD-ROM)或者数字通用光盘(DVD))、磁光盘或者半导体存储器。或者，可通过有线或无线传输介质，比如局域网、因特网或数字卫星广播，提供程序。
程序可在可拆卸记录介质111被插入驱动器110中时，通过输入/输出接口105被安装在存储部分108中。或者，程序可由通信部分109通过有线或无线传输介质接收，并安装在存储部分108中。作为另一种备选方案，程序可被预先安装在ROM 102中或者存储部分108中。
本技术可以采用以下构成。
(1)一种检查设备，包括：
检测部件，所述检测部件被配置成检测从待检查的检查对象反射的环境光的多个不同波长区的分量；和
控制部件，所述控制部件被配置成控制所述多个不同波长区的分量中的每一个的灵敏度。
(2)如在上面的(1)中所述的检查设备，其中控制部件通过利用由检测部件检测的多个分光分量中的特定分光分量，计算用于检查对象的检查的指数。
(3)如在上面的(2)中所述的检查设备，其中控制部件按照检测部件对特定分光分量的检测水平在预定范围内的方式，控制灵敏度，所述特定分光分量用于计算用于检查对象的检查的指数。
(4)如在上面的(2)或(3)中所述的检查设备，其中控制部件通过计算指示检测部件检测的从检查对象反射的光的每个波长区中的检测水平的柱状图，并根据特定分光分量的柱状图，判定对于检测部件是否适当设定了灵敏度，控制灵敏度。
(5)如在上面的(2)-(4)任意之一中所述的检查设备，其中检测部件还检测从具有已知反射特性的参照物体反射的环境光的各个分光分量，和
控制部件通过参照从参照物体反射的光的分光分量，校准特定分光分量，所述特定分光分量用于计算将用于检查对象的检查的指数。
(6)如在上面的(5)中所述的检查设备，其中控制部件确定用于进行校正以致从参照物体反射的光的特定分光分量处于相同水平的校准增益，并按照所述校准增益，校正从检查对象反射的光的特定分光分量。
(7)如在上面的(1)-(6)任意之一中所述的检查设备，其中检测部件包括
具有多个平面排列的像素的感测元件，和
分光器，所述分光器被配置成以致对于感测元件的每个像素，都布置用于透过分光分量的滤光器。
(8)如在上面的(7)中所述的检查设备，其中检测部件包括
把光分成多个方向的分束器，和
对于由分束器把光分成的相应方向布置的多个分光器单元和感测元件单元。
(9)如在上面的(7)或(8)中所述的检查设备，其中分光器时序地切换分光分量，以分散所述分光分量，和
每当分光器从分光分量之一切换到另一个分光分量时，感测元件进行多个检测操作。
(10)如在上面的(5)-(9)任意之一中所述的检查设备，其中单独设置检测从检查对象反射的光的一个检测部件单元，和检测从参照物体反射的光的另一个检测部件单元。
(11)如在上面的(1)-(10)任意之一中所述的检查设备，还包括：
配置成检测环境光的环境光检测部件。
(12)一种感测设备，包括：
感测元件，所述感测元件从平面排列的像素中的每个像素，检测从待检查的检查对象反射的环境光的多个不同波长区的分量；和
控制部件，所述控制部件被配置成控制不同波长区的分量中的每个分量的灵敏度。
(13)一种灵敏度控制设备，包括：
控制部件，所述控制部件被配置成控制从待检查的检查对象反射的环境光的多个不同波长区的分量中的每个分量的灵敏度。
(14)一种检查方法，包括：
检测从待检查的检查对象反射的环境光的多个不同波长区的分量；和
控制不同波长区的分量中的每个分量的灵敏度。
(15)一种程序，所述程序使计算机起以下作用：
控制部件，所述控制部件被配置成控制从待检查的检查对象反射的环境光的多个不同波长区的分量中的每个分量的灵敏度。
本公开的实施例不限于上述实施例。上述实施例可被不同地修改，而不脱离本公开的精神和范围。
[附图标记列表]
11 植被检查设备
12 检查对象
13 基准反射板
14 显示部件
21 光学系统
22 光圈
23 光谱传感器
24 信号处理模块
25 控制模块
31 分光器
32 感测元件
41 垂直扫描控制电路
42 水平扫描控制电路
51 像素
52 水平信号线
53 垂直信号线
54 开关
55 ADC
56 输出信号线
61 光电转换部件
62 放大器部件
63 开关
71 分束器
72 感测设备
81 光谱传感器
82 底脚
83 旋翼
91 检查系统
92 存储器
93 路由器
94 数据管理服务器
95 记录部分

Claims (15)

1.一种检查设备，包括：
检测部件，所述检测部件被配置成检测从待检查的检查对象反射的环境光的多个不同波长区的分量；和
控制部件，所述控制部件被配置成控制所述多个不同波长区的分量中的每一个的灵敏度。
2.按照权利要求1所述的检查设备，其中控制部件通过利用由检测部件检测到的多个分光分量中的特定分光分量，计算用于检查对象的检查的指数。
3.按照权利要求2所述的检查设备，其中控制部件按照检测部件对特定分光分量的检测水平在预定范围内的方式，控制灵敏度，所述特定分光分量用于计算要用于检查对象的检查的指数。
4.按照权利要求3所述的检查设备，其中控制部件通过计算指示检测部件检测的从检查对象反射的光的全部波长区中的检测水平的柱状图，并基于特定分光分量的柱状图判定对于检测部件是否适当地设定了灵敏度，来控制灵敏度。
5.按照权利要求4所述的检查设备，其中检测部件还检测从具有已知反射特性的参照物体反射的环境光的各个分光分量，以及
控制部件通过参照从参照物体反射的光的分光分量，校准特定分光分量，所述特定分光分量用于计算要用于检查对象的检查的指数。
6.按照权利要求5所述的检查设备，其中控制部件确定用于进行校正以致从参照物体反射的光的特定分光分量处于相同水平的校准增益，并根据所述校准增益校正从检查对象反射的光的特定分光分量。
7.按照权利要求1所述的检查设备，其中检测部件包括
具有多个平面排列的像素的感测元件，和
分光器，所述分光器被配置成以致对于感测元件的每个像素，都布置用于透过分光分量的滤光器。
8.按照权利要求7所述的检查设备，其中检测部件包括
把光分成预定数目的方向的分束器，和
对于由分束器把光分成的各个方向布置的预定数目的分光器和感测元件。
9.按照权利要求7所述的检查设备，其中分光器时序地切换分光分量，以进行分光，以及
每当分光器从所述分光分量中的一个切换到另一个分光分量时，感测元件进行多次检测操作。
10.按照权利要求5所述的检查设备，其中单独设置检测从检查对象反射的光的检测部件单元，和检测从参照物体反射的光的检测部件单元。
11.按照权利要求1所述的检查设备，还包括：
配置成检测环境光的环境光检测部件。
12.一种感测设备，包括：
感测元件，所述感测元件从平面排列的像素中的每个像素，检测从要检查的检查对象反射的环境光的多个不同波长区的分量；和
控制部件，所述控制部件被配置成控制所述不同波长区的分量中的每个分量的灵敏度。
13.一种灵敏度控制设备，包括：
控制部件，所述控制部件被配置成控制从要检查的检查对象反射的环境光的多个不同波长区的分量中的每个分量的灵敏度。
14.一种检查方法，包括：
检测从要检查的检查对象反射的环境光的多个不同波长区的分量；和
控制不同波长区的分量中的每个分量的灵敏度。
15.一种程序，所述程序使计算机起以下作用：
控制部件，所述控制部件被配置成控制从要检查的检查对象反射的环境光的多个不同波长区的分量中的每个分量的灵敏度。
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