CN107703364A - 异方性导电胶膜连接电阻的测量装置、方法及集成电路 - Google Patents

Abstract

本发明涉及电阻测量领域，提出一种异方性导电胶膜连接电阻的测量装置、方法及集成电路，该装置包括：第一探针垫、第二探针垫、第三探针垫、第四探针垫、电源以及电压表。第一探针垫、第二探针垫连接在所述异方性导电胶膜第一检测点上；第三探针垫、第四探针垫连接在所述异方性导电胶膜第二检测点上；电源连接于所述第一探针垫和所述第三探针垫之间，形成激励回路，用于向所述第一检测点与第二检测点之间输入稳定电流；电压表连接于所述第二探针垫和所述第四探针垫之间，形成检测回路，用于检测所述第一检测点与第二检测点之间的电压。本发明可以避免在异方性导电胶膜连接电阻测量过程中，检测线路电阻对检测结果的影响，提高检测精度。

Description

异方性导电胶膜连接电阻的测量装置、方法及集成电路

技术领域

本发明涉及电阻测量技术领域，尤其涉及一种异方性导电胶膜连接电阻的测量装置、方法及集成电路。

背景技术

异方性导电胶膜应用在各种领域中，用于连通两端子。异方性导电胶膜上分布有导电粒子，当挤压两端子时，导电粒子变形与两端子紧密接触形成良好的导电体，从而将两端子导通。然而导电粒子挤压变形的程度会影响导电粒子的导电性能。相关技术中需要通过测量两端子之间的电阻，来判断异方性导电胶膜中导电粒子挤压程度是否合理。

相关技术中，通常直接采用电阻测量装置对两端子之间的电阻进行测量。

但是，采用电阻测量装置对两端子之间的电阻进行测量时，所测得的电阻包含有电阻测量装置的线路电阻以及接触电阻。然而异方性导电胶膜连接电阻本身较小，远小于电阻测量装置的线路电阻以及接触电阻之和。因此，相关技术中，所测得的异方性导电胶膜连接电阻具有较大的误差。

需要说明的是，在上述背景技术部分发明的信息仅用于加强对本发明的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本发明的目的在于提供一种异方性导电胶膜连接电阻的测量装置、方法及集成电路，至少在一定程度上克服由于相关技术的限制和缺陷而导致的一个或者多个问题。

本发明的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本发明的实践而习得。

根据本发明的一个方面，提供一种异方性导电胶膜连接电阻的测量装置，该异方性导电胶膜连接电阻的测量装置包括：第一探针垫、第二探针垫、第三探针垫、第四探针垫、电源以及电压表。第一探针垫、第二探针垫连接在所述异方性导电胶膜第一检测点上；第三探针垫、第四探针垫连接在所述异方性导电胶膜第二检测点上；电源连接于所述第一探针垫和所述第三探针垫之间，形成激励回路，用于向所述第一检测点与第二检测点之间输入稳定电流；电压表连接于所述第二探针垫和所述第四探针垫之间，形成检测回路，用于检测所述第一检测点与第二检测点之间的电压。

本发明的一种示例性实施例中，还包括：电流表，位于所述激励回路中，用于检测所述稳定电流。

本发明的一种示例性实施例中，所述第一检测点和所述第二检测点分别位于两个端子上，两所述端子通过所述异方性导电胶膜相连通。

本发明的一种示例性实施例中，还包括：两激励线和两检测线。所述第一探针垫、所述第三探针垫分别通过所述激励线与所述第一检测点、所述第二检测点连接；所述第二探针垫、所述第四探针垫分别通过所述检测线与所述第一检测点、所述第二检测点连接。

本发明的一种示例性实施例中，所述电源为恒流源。

根据本发明的一个方面，提供一种异方性导电胶膜连接电阻的测量方法，包括：

向异方性导电胶膜的第一检测点和第二检测点之间输入稳定电流；

检测所述稳定电流；

通过电压表检测两所述检测点之间的电压；

通过将所述电压表检测的电压和所述稳定电流相比，计算得出所述两检测点之间的电阻。

本发明的一种示例性实施例中，所述向异方性导电胶膜的第一检测点和第二检测点之间输入稳定电流包括：

将第一探针垫、第三探针垫分别连接在所述第一检测点和第二检测点上；

将电源连接于所述第一探针垫和所述第三探针垫之间，形成激励回路，用于向所述第一检测点与第二检测点之间输入稳定电流。

本发明的一种示例性实施例中，所述检测所述稳定电流包括：

将电流表设置于所述激励回路中，用于测量所述稳定电流。

本发明的一种示例性实施例中，所述检测所述稳定电流包括：

通过恒流源向所述第一检测点和所述第二检测点之间输入稳定电流，所述恒流源输出电流值为稳定电流值。

本发明的一种示例性实施例中，所述第一检测点和所述第二检测点分别位于两个端子上，两所述端子通过所述异方性导电胶膜相连通。

根据本发明的一个方面，提供一种集成电路，包括至少一个端子，所述端子上连接有如权利要求1中所述的第一探针垫、第二探针垫或第三探针垫、第四探针垫。

本发明提供一种异方性导电胶膜连接电阻的测量装置、方法及集成电路。该异方性导电胶膜连接电阻的测量装置通过电源向异方性导电胶膜两检测点之间输入稳定电流，通过电压表检测异方性导电胶膜两检测点之间的电压。将所述电压表检测的电压和所述稳定电流相比，计算得出所述两检测点之间的电阻。一方面，该装置测量电阻时，可以忽略测量线路电阻对测量结果的影响；另一方面，该装置结构简单，成本较低。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明异方性导电胶膜连接电阻的测量装置一种示例性实施例中四探针垫与端子连接的结构示意图；

图2为本发明异方性导电胶膜连接电阻的测量装置一种示例性实施例中测量的等效电路图；

图3为本发明异方性导电胶膜连接电阻的测量装置一种示例性实施例中测量的等效电路图；

图4为本发明异方性导电胶膜连接电阻的测量装置一种示例性实施例中四探针垫与端子连接的结构示意图；

图5为本发明异方性导电胶膜连接电阻的测量装置一种示例性实施例中测量的等效电路图；

图6为本发明异方性导电胶膜连接电阻的测量方法的流程图。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例性实施方式。然而，示例性实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施例使得本发明将更加全面和完整，并将示例性实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略它们的详细描述。

虽然本说明书中使用相对性的用语，例如“上”“下”来描述图标的一个组件对于另一组件的相对关系，但是这些术语用于本说明书中仅出于方便，例如根据附图中所述的示例的方向。能理解的是，如果将图标的装置翻转使其上下颠倒，则所叙述在“上”的组件将会成为在“下”的组件。其他相对性的用语，例如“高”“低”“顶”“底”“左”“右”等也作具有类似含义。当某结构在其它结构“上”时，有可能是指某结构一体形成于其它结构上，或指某结构“直接”设置在其它结构上，或指某结构通过另一结构“间接”设置在其它结构上。

用语“一个”、“一”、“所述”用以表示存在一个或多个要素/组成部分/等；用语“包括”和“具有”用以表示开放式的包括在内的意思并且是指除了列出的要素/组成部分/等之外还可存在另外的要素/组成部分/等。

本示例性实施例首先提供一种异方性导电胶膜连接电阻的测量装置，该异方性导电胶膜连接电阻的测量装置包括：第一探针垫、第二探针垫、第三探针垫、第四探针垫、电源以及电压表。第一探针垫、第二探针垫连接在所述异方性导电胶膜第一检测点上；第三探针垫、第四探针垫连接在所述异方性导电胶膜第二检测点上；电源连接于所述第一探针垫和所述第三探针垫之间，形成激励回路，用于向所述第一检测点与第二检测点之间输入稳定电流；电压表连接于所述第二探针垫和所述第四探针垫之间，形成检测回路，用于检测所述第一检测点与第二检测点之间的电压。

本示例性实施例提供一种异方性导电胶膜连接电阻的测量装置。该异方性导电胶膜连接电阻的测量装置通过电源向异方性导电胶膜两检测点之间输入稳定电流，通过电压表检测异方性导电胶膜两检测点之间的电压。将所述电压表检测的电压和所述稳定电流相比，计算得出所述两检测点之间的电阻。一方面，该装置测量电阻时，可以忽略测量线路电阻对测量结果的影响；另一方面，该装置结构简单，成本较低。

本示例性实施例中，所述第一检测点和所述第二检测点分别位于两个端子上，两所述端子通过所述异方性导电胶膜相连通。

本示例性实施例中，两所述端子通过所述异方性导电胶膜相连通的一种选择可以是，两端子通过异方性导电胶膜连接。如图1所示，为本发明异方性导电胶膜连接电阻的测量装置一种示例性实施例中四个探针垫与端子连接的结构示意图。其中，第一端子1与第二端子2通过异方性导电胶膜3连接。此时，第一端子1与第二端子2之间的电阻即为异方性导电胶膜连接电阻。

由于电源和电压表连接线的探针较粗，不易直接连接在两端子上，本示例性实施例中，第一探针垫4、第三探针垫6可以分别通过激励线8与第一端子1、第二端子2连接；所述第二探针垫5、所述第四探针垫7可以分别通过检测线9与所述第一端子1、所述第二端子2连接。其中，激励线8和检测线9可以选择为较细的导线，可以通过焊接的方式连接在第一端子1和第二端子2上。电源和电压表可以通过探针垫方便地连接在两端子上。

如图2所示，为本发明异方性导电胶膜连接电阻的测量装置一种示例性实施例中测量的等效电路图。电压表连接在第二探针垫5与第四探针垫7之间形成检测回路(图中粗实线回路)，电源连接在第一探针垫4与第三探针垫6之间形成激励回路(图中细实线回路)，并向激励回路输入稳定电流。激励回路中可以设置电流表，通过电流表测量稳定电流的大小。

图中，R1、R3分别为电源两侧的连接线电阻与接触电阻之和，R2、R4分别为电压表两侧的连接线电阻与接触电阻之和。其中，电源两侧的连接线电阻包括激励线电阻和电源引线电阻；电压表两侧的连接线电阻包括检测线电阻和电压表引线电阻。Rt为第一端子1与第二端子2之间的电阻也即为异方性导电胶膜连接电阻。根据图2所示，检测回路中电压表的电阻较大，远大于线路电阻和异方性导电胶膜连接电阻。因而检测回路中的电流很小，远小于激励回路中的电流。从而电阻R2和R4两侧电压也很小，远小于激励回路中Rt两侧电压。因此，电压表所测得电压可以近似为Rt两侧的电压。通过将电压表测得的电压除以稳定电流可以计算得出异方性导电胶膜连接电阻Rt的值。

需要说明的是，本示例性实施例中，如图3所示，为本发明异方性导电胶膜连接电阻的测量装置一种示例性实施例中测量的等效电路图。电源可以为恒流源，激励回路中可以不设置电流表。恒流源的输出电流即为稳定电流。

本示例性实施例中，两所述端子通过所述异方性导电胶膜相连通的另一种选择可以是，两端子通过异方性导电胶膜同时连接在另一端子上。如图4所示，为本发明异方性导电胶膜连接电阻的测量装置一种示例性实施例中四个探针垫与端子连接的结构示意图。其中，第一端子1与第二端子2通过异方性导电胶膜3与第三端子10连接。此时，第一端子1与第二端子2之间的电阻为异方性导电胶膜连接电阻的二倍。该端子连接结构中，测量装置测量的等效电路图如图5所示，第一端子1与第二端子2之间包含串联的两个电阻Rt，其中Rt为异方性导电胶膜连接电阻。因此Rt的值为电压表测得的电压与稳定电流之比的一半。应该理解的是，两所述端子通过所述异方性导电胶膜相连通还有更多的方式可以实现，本发明的检测装置依然可以通过检测第一端子和第二端子之间的电阻计算得出异方性导电胶膜连接电阻，这些都属于本发明的保护范围。

本示例性实施例还提供一种异方性导电胶膜连接电阻的测量方法，参考图6所示，为本发明异方性导电胶膜连接电阻的测量方法的流程图。包括：

步骤S1：向异方性导电胶膜的第一检测点和第二检测点之间输入稳定电流；

步骤S2：检测所述稳定电流；

步骤S3：通过电压表检测两所述检测点之间的电压；

步骤S4：通过将所述电压表检测的电压和所述稳定电流相比，计算得出所述两检测点之间的电阻。

本示例性实施例中，所述向异方性导电胶膜的第一检测点和第二检测点之间输入稳定电流包括：

将第一探针垫、第三探针垫分别连接在所述第一检测点和第二检测点上；

将电源连接于所述第一探针垫和所述第三探针垫之间，形成激励回路，用于向所述第一检测点与第二检测点之间输入稳定电流。

本示例性实施例中，所述检测所述稳定电流包括：

将电流表设置于所述激励回路中，用于测量所述稳定电流。

本示例性实施例中，所述检测所述稳定电流包括：

通过恒流源向所述第一检测点和所述第二检测点之间输入稳定电流，所述恒流源输出电流值为稳定电流值。

本示例性实施例中，所述第一检测点和所述第二检测点分别位于两个端子上，两所述端子通过所述异方性导电胶膜相连通。

本示例性实施例中，异方性导电胶膜连接电阻的测量方法与上述的异方性导电胶膜连接电阻的测量装置具有相同的技术特征和工作原理，上述已经做出了详细的说明，此处不再赘述。

本示例性实施例还提供一种集成电路，包括至少一个端子，所述端子上连接有上述异方性导电胶膜连接电阻的测量装置的第一探针垫、第二探针垫或第三探针垫、第四探针垫。。该种集成电路之间端子通过异方性导电胶膜连接时，可以通过上述的异方性导电胶膜连接电阻的测量方法测量该种集成电路之间端子的连接电阻。上述方法已经做出了详细的说明，此处不再赘述。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其他实施例。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限。

Claims (10)

1.一种异方性导电胶膜连接电阻的测量装置，其特征在于，包括：

第一探针垫、第二探针垫，连接在所述异方性导电胶膜第一检测点上；

第三探针垫、第四探针垫，连接在所述异方性导电胶膜第二检测点上；

电源，连接于所述第一探针垫和所述第三探针垫之间，形成激励回路，用于向所述第一检测点与第二检测点之间输入稳定电流；

电压表，连接于所述第二探针垫和所述第四探针垫之间，形成检测回路，用于检测所述第一检测点与第二检测点之间的电压。

2.根据权利要求1所述的一种异方性导电胶膜连接电阻的测量装置，其特征在于，还包括：

电流表，位于所述激励回路中，用于检测所述稳定电流。

3.根据权利要求1所述的一种异方性导电胶膜连接电阻的测量装置，其特征在于，

所述第一检测点和所述第二检测点分别位于两个端子上，两所述端子通过所述异方性导电胶膜相连通。

4.根据权利要求1所述的一种异方性导电胶膜连接电阻的测量装置，其特征在于，还包括：

两激励线，所述第一探针垫、所述第三探针垫分别通过所述激励线与所述第一检测点、所述第二检测点连接；

两检测线，所述第二探针垫、所述第四探针垫分别通过所述检测线与所述第一检测点、所述第二检测点连接。

5.根据权利要求1所述的一种异方性导电胶膜连接电阻的测量装置，其特征在于，所述电源为恒流源。

6.一种异方性导电胶膜连接电阻的测量方法，其特征在于，包括：

向异方性导电胶膜的第一检测点和第二检测点之间输入稳定电流；

检测所述稳定电流；

通过电压表检测两所述检测点之间的电压；

通过将所述电压表检测的电压和所述稳定电流相比，计算得出所述两检测点之间的电阻。

7.根据权利要求6所述的一种异方性导电胶膜连接电阻的测量方法，其特征在于，所述向异方性导电胶膜的第一检测点和第二检测点之间输入稳定电流包括：

将第一探针垫、第三探针垫分别连接在所述第一检测点和第二检测点上；

将电源连接于所述第一探针垫和所述第三探针垫之间，形成激励回路，用于向所述第一检测点与第二检测点之间输入稳定电流。

8.根据权利要求7所述的一种异方性导电胶膜连接电阻的测量方法，其特征在于，所述检测所述稳定电流包括：

将电流表设置于所述激励回路中，用于测量所述稳定电流；或者，通过恒流源向所述第一检测点和所述第二检测点之间输入稳定电流，所述恒流源输出电流值为稳定电流值。

9.根据权利要求6所述的一种异方性导电胶膜连接电阻的测量方法，其特征在于，所述第一检测点和所述第二检测点分别位于两个端子上，两所述端子通过所述异方性导电胶膜相连通。

10.一种集成电路，包括至少一个端子，其特征在于，所述端子上连接有如权利要求1中所述的第一探针垫以及第二探针垫或者第三探针垫以及第四探针垫。