CN107621579B - 触控屏的触控调试方法 - Google Patents

Abstract

一种触控屏的触控调试方法，包括：获取第一固件和第二固件，其中，所述第一固件用于获取所述触控屏的电容值，并用于调整触控屏的电容值，所述第二固件用于根据所述触控屏的电容值的变化获取触控坐标值；将所述第一固件和所述第二固件分别存储至所述触控屏的存储单元中；通过所述第一固件获取所述触控屏的电容值，对所述触控屏进行电容值测试；通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试。由于第一固件和第二固件为两个相互独立的固件，当第二固件升级后，无需对第一固件进行升级或变更，也无需对后续工序的测试的参数进行调整，减小了固件升级的时间成本和人力成本，有效提高了生成效率。

Description

触控屏的触控调试方法

技术领域

本发明涉及触控屏调试技术领域，特别是涉及一种触控屏的触控调试方法。

背景技术

目前，电容式触控屏生产过程中需要进行功能测试。一般来说，功能测试包括管电容值的调试和测试，电容值和产品状态(是否贴附盖板，显示FPC和触控FPC是否共地等)及驱动软件都有关系，而且每片产品由于电容线路线宽线距制程有差异，所以实际测试容值也会有差异。

为了使得出厂的触控屏的电容值维持在一定范围内，使得各触控屏的控制效果更为均衡。通常在一定样品量TP(＞30pcs)的基础上进行取样，然后选取平均值如±20％进行管控。

一般来说，一个项目的触控屏的软件调试和测试次数大于5次才能使得触控屏的参数达到要求，软件的调试包括电容值调试和触控效果测试，调试触控屏的电容值，通过软件更改容值增益，使得各触控屏的电容值处于一定范围内，此外，还需要对触控屏进行触控效果测试，比如，划线测试，检测触控屏的灵敏度、响应时间以及触控范围等，从而检测触控屏是否达到所需的触控效果。

此外，在触控屏完成各个工序后也需要分别对触控屏调试和测试，比如，而这些工序的测试与软件的调试相关，一旦触控屏的触控效果测试的驱动软件升级或者变更，则调试和测试需要重新取样制作测试软件，导致后续的工序测试的参数需要进行调整，造成工作量大且花费时间，影响生产效率。

发明内容

基于此，有必要针对传统的触控屏的电容值调试和触控效果测试由一个软件进行调测实现，在触控效果测试的驱动软件升级后，调试和测试需要重新取样制作测试软件，造成工作量大且花费时间，影响生产效率的技术问题，提供一种触控屏的触控调试方法。

一种触控屏的触控调试方法，包括：

获取第一固件和第二固件，其中，所述第一固件用于获取所述触控屏的电容值，并用于调整触控屏的电容值，所述第二固件用于根据所述触控屏的电容值的变化获取触控坐标值；

将所述第一固件和所述第二固件分别存储至所述触控屏的存储单元中；

通过所述第一固件获取所述触控屏的电容值，对所述触控屏进行电容值测试；

通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

获取更新后的第二固件；

将所述第一固件和所述更新后的第二固件分别存储至另一触控屏的存储单元中。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

通过所述更新后的第二固件对所述另一触控屏进行触控测试。

在其中一个实施例中，所述通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试的步骤包括

通过所述第二固件对所述触控屏进行划线测试。

在其中一个实施例中，所述通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试的步骤包括：

对所述触控屏进行划线测试，获取所述触控屏的触控灵敏度。

在其中一个实施例中，所述通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试的步骤包括：

对所述触控屏进行划线测试，获取所述触控屏的触控响应时间。

在其中一个实施例中，所述通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试的步骤包括：

对所述触控屏进行划线测试，获取所述触控屏的触控点范围。

在其中一个实施例中，所述通过所述第一固件获取所述触控屏的电容值，对所述触控屏进行电容值测试的步骤包括：

获取第一指令；

响应所述第一指令，通过所述第一固件获取所述触控屏的电容值，对所述触控屏进行电容值测试。

在其中一个实施例中，所述通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试的步骤包括：

获取第二指令；

响应所述第二指令，通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试。

在其中一个实施例中，在所述获取第一固件和第二固件的步骤之前还包括：

生成所述第一固件和所述第二固件。

上述触控屏的触控调试方法，由于第一固件和第二固件为两个相互独立的固件，当第二固件升级后，无需对第一固件进行升级或变更，也无需对后续工序的测试的参数进行调整，减小了固件升级的时间成本和人力成本，有效提高了生成效率。

附图说明

图1为一个实施例中的触控屏的触控调试方法的流程示意图；

图2A为一个实施例中的触控屏电容值测试方法的流程示意图；

图2B为另一个实施例中的触控屏电容值测试方法的流程示意图；

图3为另一个实施例中的触控屏电容值测试方法的流程示意图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

例如，一种触控屏的触控调试方法，包括：获取第一固件和第二固件，其中，所述第一固件用于获取所述触控屏的电容值，并用于调整触控屏的电容值，所述第二固件用于根据所述触控屏的电容值的变化获取触控坐标值；将所述第一固件和所述第二固件分别存储至所述触控屏的存储单元中；通过所述第一固件获取所述触控屏的电容值，对所述触控屏进行电容值测试；通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试。

上述实施例中，由于第一固件和第二固件为两个相互独立的固件，当第二固件升级后，无需对第一固件进行升级或变更，也无需对后续工序的测试的参数进行调整，减小了固件升级的时间成本和人力成本，有效提高了生成效率。

在一个实施例中，请参阅图1，一种触控屏的触控调试方法，包括：

步骤102，获取第一固件和第二固件，其中，所述第一固件用于获取所述触控屏的电容值，并用于调整触控屏的电容值，所述第二固件用于根据所述触控屏的电容值的变化获取触控坐标值。

具体地，第一固件和第二固件均为驱动软件，第一固件和第二固件分别用于驱动触控屏工作。具体地，第一固件用于对触控屏的电容值进行补偿增益，使得触控屏增益后的电容值能够在预设范围内，进而使得不同的电容值的触控屏的灵敏度趋向一致，并且第一固件还用于获取触控屏的电容值。第二固件用于根据触控屏的触控点的电容值的变化而获取触控坐标值，例如，第二固件用于根据第一固件获取到触控屏的电容值，并根据电容值的变化而获取触控坐标值。该触控坐标值即触控点在触控屏上的位置。例如，该触控点为触控测试点，例如，该触控点为人体触摸该触控屏的位置。

例如，下载第一固件和第二固件，例如，下载并获取第一固件和第二固件，例如，分别下载获取第一固件和第二固件，例如，首先获取第一固件，随后获取第二固件，例如，依次获取第一固件和第二固件。

步骤104，将所述第一固件和所述第二固件分别存储至所述触控屏的存储单元中。

具体地，该存储单元用于存储驱动软件，触控屏工作时根据存储单元的驱动软件工作。本实施例中，存储单元用于存储第一固件和第二固件，例如，将所述第一固件和所述第二固件分别烧录至待测触控屏的存储单元中。这样，触控屏工作时，则分别根据存储在存储单元的第一固件以及第二固件的驱动进行工作。

步骤106，通过所述第一固件获取所述触控屏的电容值，对所述触控屏进行电容值测试。

本步骤中，对触控屏进行电容值测试，检测触控屏的电容值是否处于预设范围内。例如，通过第一固件获取触控屏的电容值，检测触控屏的电容值是否处于预设范围内，例如，通过第一固件对触控屏的电容值进行补偿增益，使得触控屏增益后的电容值能够在预设范围内。例如，通过所述第一固件对所述触控屏进行电容值测试，使得触控屏的电容值能够处于预设范围内，并获取第一固件在触控屏的电容值处于预设范围内时的固件参数。应该理解的是，同一个触控屏，不同的电容值对应不同的固件参数，也就说，固件参数变化将引起触控屏的电容值的增益改变，进而使得触控屏的电容值改变。

例如，通过测试软件对触控屏进行电容值测试，测试软件调用第一固件，获取触控屏的电容值，且测试软件通过第一固件对触控屏的电容值进行补充增益，还获取在触控屏的电容值处于预设范围内时的固件参数，从而将固件参数固定。值得一提的是，测试软件是运行在测试装置上的，该测试装置与触控屏电连接，例如，该测试装置为测试计算机，该测试计算机上运行有测试软件。

对触控屏进行电容值测试一方面，能够使得出厂的触控屏的电容值能够符合触控要求，使得触控灵敏度能够符合触控要求，另一方面，使得触控屏的电容值能够在预设范围内，使得同一批次的多个触控屏的电容值能够在预设范围内，提供触控屏出厂的稳定性。

步骤108，通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试。

本步骤中，对触控屏进行触控测试，进而能够测试触控屏的触控效果。例如，通过所述第二固件获取触控屏的电容值变化，对所述触控屏进行触控测试。

例如，对所述触控屏进行划线测试。例如，通过所述第二固件对所述触控屏进行划线测试，具体地，划线测试沿着触控屏的表面进行划线触控，即沿着触控屏上的一直线进行触控，并依次沿多个相互平行的直线进行触控，进而检测划线触控的对应的位置的电容值的变化，从而检测获取到的位置变化是否准确。

例如，通过测试软件对触控屏进行触控测试。例如，测试软件调用第二固件，对触控屏进行触控测试，具体地，第二固件将获取到的变化的电容值以及对应坐标值发送至测试装置，测试装置根据触控点的位置的变化以及触控屏的变化的电容值对应的触控坐标值对触控屏的进行触控测试，从而测试获得触控屏的触控效果。

上述实施例中，由于第一固件和第二固件为两个相互独立的固件，当第二固件升级后，无需对第一固件进行升级，第一固件的固件参数也无需改变，这样，后续生产的触控屏仍然能够沿用第一固件，此外，也无需对后续工序的测试的参数进行调整，减小了固件升级的时间成本和人力成本，有效提高了生成效率。

在一个实施例中，触控屏的触控调试方法还包括：获取更新后的第二固件，将所述第一固件和所述更新后的第二固件分别存储至另一触控屏的存储单元中。

本实施例中，更新后的第二固件可以理解为升级后的第二固件，更新后的第二固件用于根据所述触控屏的电容值的变化获取触控坐标值，也就是说，更新后的第二固件与更新前的第二固件的作用相同。例如，更新后的第二固件用于根据触控屏的触控点的电容值的变化而获取触控坐标值，例如，更新后的第二固件用于根据第一固件获取到触控屏的电容值，并根据电容值的变化而获取触控坐标值。

具体地，当第二固件更新后，则获取更新后的第二固件。例如，由整机厂提供该更新后的第二固件。在获取到更新后的第二固件后，在对后续的其他触控屏进行驱动软件的烧录时，则烧录更新后的第二固件，该另一触控屏为在烧录了更新前的第二固件的触控屏的后续生产的触控屏，或者说，该另一触控屏为在烧录了更新前的第二固件的触控屏的下一批次的触控屏。该另一触控屏为下一批次的触控屏中的一个触控屏。例如，获取更新后的第二固件，将所述第一固件和所述更新后的第二固件分别存储至下一批次的触控屏的存储单元中。

在一个实施例中，所述方法还包括：通过所述更新后的第二固件对所述另一触控屏进行触控测试。

具体地，本实施例中，由于第二固件已经更新，因此对烧录了更新后的第二固件的触控屏进行触控测试。例如，通过所述更新后的第二固件对所述下一批次的触控屏进行触控测试。

在一个实施例中，所述通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试的步骤包括：对所述触控屏进行划线测试，获取所述触控屏的触控灵敏度。例如，对所述触控屏进行划线测试，获取所述触控屏的触控响应时间。例如，对所述触控屏进行划线测试，获取所述触控屏的触控点范围。例如，所述通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试的步骤包括：对所述触控屏进行划线测试，获取所述触控屏的触控灵敏度、触控响应时间和触控点范围，检测所述触控屏的触控灵敏度、触控响应时间和触控点范围。

本实施例中，对触控屏进行划线测试，检测触控屏的触控灵敏度、触控响应时间以及触控点范围，该触控灵敏度用于体现触控屏在受到触摸时的灵敏度，该触控响应时间用于体现触控屏在受到触摸时的响应速度，响应时间越短，则响应速度越高，触控点范围用于体现触控屏在受到触摸时，电容值产生变化的触控点的数量，或者用于体现触控屏在受到触摸时，电容值产生变化对应的触控坐标值的范围。通过上述的划线测试，从而检测触控屏的触控效果。

为了实现触控屏的电容值测试和触控测试，在一个实施例中，所述通过所述第一固件获取所述触控屏的电容值，对所述触控屏进行电容值测试的步骤包括：获取第一指令；响应所述第一指令，通过所述第一固件获取所述触控屏的电容值，对所述触控屏进行电容值测试。例如，响应所述第一指令，运行所述第一固件，通过所述第一固件获取所述触控屏的电容值，对所述触控屏进行电容值测试。本实施例中，根据第一指令运行第一固件，使得触控屏能够进行电容值测试。例如，所述通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试的步骤包括：获取第二指令；响应所述第二指令，通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试。例如，响应所述第二指令，运行所述第二固件，通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试。本实施例中，根据第二指令运行第二固件，使得触控屏能够进行触控测试。这样，使得触控屏能够根据需要的测试运行驱动软件，比如运行第一固件或者运行第二固件，从而完成触控屏的电容值测试或者触控测试。

在一个实施例中，在所述获取第一固件和第二固件的步骤之前还包括：生成所述第一固件和所述第二固件。例如，通过编程生成所述第一固件和所述第二固件。例如，根据固件参数生成所述第一固件和所述第二固件。通过生成第一固件和第二固件，使得测试装置能够获取所述第一固件和所述第二固件，并且将所述第一固件和所述第二固件烧录至触控屏的存储单元。

在一个实施例中，触控屏的驱动软件包括两个，一个是整机触控效果的驱动软件为软件B，一个是测试容值时使用的测试驱动软件为软件A，此时驱动软件运行初期先做出软件选择判断，如触控IC上电复位后，如收到指令为A,则运行软件A；收到指令为B时就运行软件B。当整机使用时整机驱动软件发送指令B，则自动调用为软件B，当容值测试时测试软件发送指令A调用则为软件A。这样，当整机触控效果的驱动软件调整如升级到C时，这不会影响容值测试软件A的调整，测试参数就能固化下来，测试容值和管控容值就不用再重新取样制作，测试软件就可以固定，大大降低工作量，提高生成效率。

在一个实施例中，如图2A所示，提供一种触控屏的电容值测试方法，包括：

步骤220，获取参考电容值。

具体地，该参考电容值用于提供参考的电容值，例如，该参考电容值为标准电容值。应该理解的是，批量生产出来的多个触控屏的电容值不一，相互之间具有一定的偏差，而该参考电容值可以这些触控屏的电容值的平均值，也可以是这些触控屏的电容值的中间值。

理想状态下，各触控屏的电容值等于他们的平均值，这样，各触控屏在同一版本的驱动软件下的控制灵敏度将一致，因此，通过获取参考电容值，计算出待测触控屏的与参考电容值之间的偏差，从而能够对该待测触控屏发送适配的驱动软件。

步骤240，对待测触控屏进行电容值检测，获取所述待测触控屏的第一电容值。

本实施例中，待测触控屏为需要发送驱动软件的触控屏，该待测触控屏的第一电容值为待测触控屏的实际电容值。本实施例中，该待测触控屏为终端上的触控屏，由终端对待测触控屏的电容值进行检测，在其他实施例中，对该待测触控屏的电容值的检测也可以是在出厂时执行的，也就是，由检测设备对待测触控屏的电容值进行检测。

步骤260，根据所述第一电容值与所述参考电容值的比值，从若干个预设软件中获取与所述第一电容值对应的一个预设软件作为第一固件。

具体地，第一电容值与参考电容值的比值可以是两者的相比的值，例如，计算获取第一电容值与参考电容值的比值，并根据第一电容值与参考电容值的比值计算出第一电容值与参考电容值之间的偏差比值，以参考电容值作为单位1，则第一电容值与参考值的比值与单位1之间的差值即为偏差比值，该偏差比值能够准确地反映第一电容值与参考电容值之间的偏差。

具体地，该预设软件为驱动软件，该第一固件为多个驱动软件中的一个。例如，各预设软件预存于终端的存储器中。本实施例中，预设软件为根据不同的电容值设置的驱动软件，每个预设软件对应一个范围的电容值的触控屏，这样，不同的预设软件与不同的触控屏的对应，使得各预设软件能够很好地匹配一触控屏，进而使得触控屏的控制的灵敏度更佳。

值得一提的是，各预设软件将对应不同的电容值进行补偿增益，使得触控屏增益后的电容值接近参考电容值或者等于参考电容值，进而使得不同的电容值的触控屏的灵敏度趋向一致。

步骤280，将所述第一固件发送至所述待测触控屏的存储单元中。

具体地，该第一固件用于驱动触控屏工作。该存储单元用于存储驱动软件，触控屏工作时根据存储单元的驱动软件工作。本实施例中，该待测触控屏为终端上的触控屏，该第一固件由终端的存储器发送至待测触控屏的存储单元。例如，将第一固件烧录至待测触控屏的存储单元中。

由于该第一固件是与待测触控屏的第一电容值匹配的预设软件中的一个，因此，该待测触控屏能够在第一固件的驱动下得到增益，使得该待测触控屏具有较佳的灵敏度。

上述实施例中，根据检测获得触控屏的电容值，向触控屏的存储单元发送第一固件，从而使得触控屏的第一固件能够与其自身的电容值匹配，使得第一固件能够很好地与触控屏兼容，有效提高触控屏的控制精度。

在一个实施例中，如图2B所示，步骤260包括：

步骤262，根据所述第一电容值与所述参考电容值的比值，从若干个预设电容档位中获取与所述第一电容值匹配的第一档位。

本实施例中，根据电容值与参考电容值的偏差比值，预设若干个预设电容档位，并预存在终端的存储器中，例如，预设电容档位烧录在终端的存储器中。将电容值与参考电容值的偏差比值分为若干个区间，每一区间对应一个元素和电容档位，例如，预设电容档位的数量为六个，例如，六个预设电容档位对应的与参考电容值的偏差比值分别为：(1)-60％～-40％，(2)-40％～-20％，(3)-20％～0％，(4)0％～20％，(5)20％～40％，(6)40％～60％，比如说，预设电容档位六，在本预设电容档位内的电容值与参考电容值的偏差比值为40％～60％，当参考电容值为1时，则预设电容档位六对应的电容值为1.4～1.6，如此类推，本实施例中不作一一解释。由于本实施例中，预设电容档位数量为六个，使得在一个预设电容档位之间的最大电容值和最小电容值的差值较小，减小了由于电容值偏差较大而造成灵敏度的差异，使得同一个驱动软件对一个预设电容档位的触控屏的控制效果更佳。

本步骤中，根据若干个预设电容档位以及待测触控屏的第一电容值，获取待测触控屏的第一电容值对应的预设电容档位中的一个作为第一档位，即当第一电容值落入各预设电容档位中对应的各偏差比值区间中一个，则将这个偏差比值区间对应的预设电容档位作为第一档位。比如，第一电容值为1.25，参考电容值为1，则第一电容值与参考电容值的比值为25％，则第一电容值落入预设电容档位五的偏差比值区间20％～40％中，则获取该预设电容档位五为第一档位。

步骤264，根据所述第一档位，从若干个预设软件中获取与所述第一档位对应的一个预设软件作为第一固件。

具体地，本实施例中，每一预设电容档位对应一预设软件，这样，当确定了第一档位后，则可从若干的预设软件中找出与第一档位对应的一个预设软件作为第一固件。这样，获取的第一固件能够与待测触控屏的第一电容值相匹配或相对应，使得第一固件能够更好地驱动触控屏，以提高待测触控屏的控制精度。

为了获取预设电容档位，在一个实施例中，各所述预设电容档位预存于终端的存储器中，其中，所述待测触控屏设置于所述终端上。

本实施例中，该终端为触控终端，该触控终端包括该待测触控屏和存储器，即该待测触控屏为触控终端的一部分，各预设电容档位存储于该终端的存储器中，这样，当终端对待测触控屏的电容值进行检测，获得第一电容值后，则根据第一电容值，从存储器中若干个预设电容档位中获取与第一电容值对应的一个预设电容档位，作为第一档位，这样，实现了预设电容档位的获取，并使得第一固件能够及时发送至待测触控屏的存储单元中。

为了提高第一固件的获取效率，在一个实施例中，各所述预设电容档位预存于所述待测触控屏的寄存器中。

例如，该寄存器为容置档位寄存器，具体地，本实施例中，各预设软件预存于终端的存储器中，而第一档位预存于待测触控屏的寄存器中，这样，当终端检测待测触控屏的寄存器，获取该第一档位，根据第一档位从各预设软件中获取到对应的第一固件，将该第一固件发送自待测触控屏的存储单元中，这样，终端则省去了对待测触控屏的阻值的检测的步骤，进而使得终端在开机后能够立刻检测获取寄存器中的第一档位，从而高效地向待测触控屏的存储单元发送第一固件。

应该说明的是，本实施例中，步骤220至步骤262无需终端执行，而可以是在触控屏出厂时，或者触控屏在组装到终端前进行，这样，在触控屏出厂时，即可检测获取到触控屏的第一阻值，并根据第一阻值获取对应的预设电容单位中的一个作为第一档位，这样，则执行了步骤220至步骤262。随后，将该第一档位烧录在该触控屏的寄存器中，并将触控屏组装至终端上。则在终端开机后，终端执行步骤264至步骤280，根据触控屏的寄存器中的第一档位，从终端的存储器中获取与第一档位对应的第一固件，将该第一固件发送至触控屏的存储单元中。这样，能够减小终端开机时执行的步骤，使得终端能够快速地向触控屏发送第一固件，提高了终端的运行效率。

在一个实施例中，步骤240之前还包括：根据与所述参考电容值的比值划分若干个所述预设电容档位。

例如，根据若干个预设电容值与所述参考电容值的比值划分若干个所述预设电容档位。各所述预设电容档位根据电容值与参考电容值的比值划分。该预设电容值可以是任一的电容值，多个预设电容值覆盖各预设电容档位的电容值区间。

例如，根据预设电容值与参考电容值的偏差比值，预设若干个预设电容档位，并预存在终端的存储器中。即本步骤可以看作是对预设电容值的设置，本步骤在步骤240之前，还可以是在步骤220之前，本步骤的执行与步骤220之间并不存在先后关系。

在一个实施例中，步骤220包括：计算多个触控屏的电容值的平均值作为所述参考电容值。

具体地，该多个触控屏为生产出厂的多个触控屏，例如，多个触控屏为同一生产批次的触控屏，通过对这些触控屏的检测求取平均电容值，该平均电容值即为参考电容值，这样，该参考电容值能够与各触控屏的电容值的之间的偏差更小，有利于对各预设软件的调试，使得各预设软件能够更为匹配各触控屏。

为进一步提高触控屏的触控精度，在一个实施例中，步骤240之前还包括：提供电容值为预设容值范围内的触控屏作为待测触控屏。

例如，选取电容值处于预设容值范围内的触控屏作为待测触控屏，例如，测量若干的触控屏的电容值，选取电容值处于预设容值范围内的触控屏作为待测触控屏。

具体地，触控屏短路时，电容值趋向于无穷大，而触控屏开路时，电容值则趋向于无穷小，应该理解的是，电容值越大，则触控屏的灵敏度越高，容易造成过灵敏，而电容值越小，则触控屏的灵敏度越低，导致触控效果不佳。因此，为了选取电容值处于较佳范围的触控屏，使得触控屏的触控效果更佳。

本步骤中，选取预设容值范围内的触控屏能够使得被选取的触控屏的电容值处于较佳范围，具有较佳的灵敏度。而被选取的待测触控屏则出厂，并安装在终端上，未被选取的触控屏，则报废处理，从而使得安装在终端上的触控屏的触控效果更佳。

具体地，该预设容值范围为预设的比值范围，该比值为与参考电容值的比值，例如，所述参考电容值为预设容值范围内的中间值，例如，根据参考电容值选取预设容值范围内的触控屏作为待测触控屏，具体地，以参考电容值作为中间值，在预设容值范围内选取触控屏，比如，参考电容值为1，而预设容值范围为-60％～60％，即±60％，则相应地，选取0.4～1.6范围内的电容值的触控屏作为待测触控屏，并提供该待测触控屏。具体地，选取预设容值范围为±60％，相较于传统的±20％的选取范围具有更大的范围，能够选取更多的触控屏，本方案能够更为合理地应用触控屏，通过软件与不同区间的电容值的匹配，对电容值进行增益，提高触控屏的触控精度，避免造成触控屏过多的报废，有效节省成本。

在一个实施例中，步骤280之后，还包括：对所述待测触控屏进行触控检测。

本实施例中，对待测触控屏进行触控检测即对待测触控屏进行驱动划线。例如，对所述待测触控屏进行驱动划线检测。

具体地，可以是在待测触控屏上进行滑动触控，检测待测触控屏上的电容值变化，进而检测待测触控屏的触控灵敏度。例如，在待测触控屏上划圆形线，又如，在待测触控屏上划螺旋线，这样，能够充分地覆盖待测触控屏，能够更好地检测出待测触控屏的灵敏度。

下面是一个具体地实施例，如图3所示，触控屏的触控调试方法包括：

步骤301，测量多个触控屏的电容值，并计算多个触控屏的电容值的平均值作为参考电容值。

本步骤中的触控屏为出厂的触控屏，在出厂时对该触控屏进行电容值测量。

步骤302，对各触控屏的电容值进行分档，划分若干个预设电容档位，并根据预设电容档位获取预设容值范围。

本实施例中，根据上步骤的测量结果，将各触控屏的电容值划分六个预设电容档位，六个预设电容档位对应的与参考电容值的偏差比值分别为：(1)-60％～-40％，(2)-40％～-20％，(3)-20％～0％，(4)0％～20％，(5)20％～40％，(6)40％～60％。具体地，每一预设电容档位中的电容值区间包括该区间的最大值，不包括该区间的最小值。比如，档位六中，40％～60％对应的电容值区间为大于40％，而小于等于60％，其他的预设电容档位以此类推。

应该理解是，在其他实施例中，预设电容档位的数量可以是七个、八个或者更多个，预设电容档位数量越多，则同一档位中的各电容值的差值越小，越有利于提高对应驱动软件的控制精度。

此外，划分预设电容档位还同时选取了预设容值范围。即六个预设电容档位对应的电容值的范围即预设容值范围，则该预设容值范围为-60％～60％，即±60％。

步骤303，从出厂的多个触控屏中，选取电容值位于预设容值范围内的触控屏作为待测触控屏。

从出厂的多个触控屏中，选取电容值位于预设容值范围内的触控屏作为待测触控屏。而电容值不在预设容值范围内的触控屏则报废处理。通过对触控屏的选取，能够使得待测触控屏具有较为合理的电容值，具有更好的灵敏度。

步骤304，根据各预设电容档位设置若干个与预设电容档位一一对应的预设软件。

具体地，各预设软件的控制灵敏度相近，或者说，各预设软件对触控屏的驱动精度相近。

比如，以预设电容档位的档位六(40％～60％)的电容值作为标准，以该档位六对应的预设软件的驱动效果为最佳驱动效果，则其他预设电容档位对应的预设软件在驱动触控屏时，对触控屏的电容值进行增益补偿，使得增益补偿后的电容值达到档位六对应的电容值，使其驱动效果达到档位六的驱动效果。从而设置多个预设软件。

步骤305，检测待测触控屏的电容值，获取待测触控屏的第一电容值。

步骤306，根据所述第一电容值与所述参考电容值的比值，从若干个预设电容档位中获取与所述第一电容值匹配的第一档位，根据所述第一档位，从若干个预设软件中获取与所述第一档位对应的一个预设软件作为第一固件。

具体地，上述步骤305至206中，通过检测待测触控屏的第一电容值对应预设电容档位中的电容值区间，则获取第一档位，并根据预设电容档位与预设软件的对应关系，获取到第一固件。

步骤307，将所述第一固件发送至所述待测触控屏的存储单元中。

例如，将第一固件烧录至待测触控屏的存储单元中。

上述步骤301至步骤307均在触控屏出厂时执行，在待测触控屏组装到终端前即已对该第一固件进行烧录，使得终端在开机运行时，终端上的触控屏能够直接获得第一固件的驱动，而无需终端在每次开机时对触控屏进行检测并发送第一固件。

应该理解的是，各实施例中，终端为具有触控屏的终端，包括但不限于平板电脑、手机以及个人数字助理。

步骤308，对触控屏进行驱动划线检测。

具体地，触控屏在第一固件驱动下工作，在未检测到触控时，触控屏的电压信号为RAWDATA，当检测到触摸后，触摸点的电压信号为RAWDATA_touch，则触摸点在触摸前后的电压信号变化量Differ为：

Differ＝RAWDATA-RAWDATA_touch，

当Differ大于预设阈值就报点，报点的意思是该Differ值合格，对应的灵敏度较佳。则表明该触控屏合格，在该第一固件的驱动下，该触控屏具有较佳的控制精度。

一般来说，在同一驱动软件下的驱动下，触控屏的电容值越小，同一手指触摸上获得的Differ变化量越小，这样的Differ变化量越难被检测到，则其灵敏度较低，也就是说，实际的电容值和驱动软件会影响实际的Differ变化量和预设阈值的设定，但是不同的驱动软件通过调整参数，可以优化由于电容差异引起的Differ差异进而减小触控效果差异，比如，驱动软件对检测获取到的触控屏的电容值进行增益补偿，使得增益后的电容值增大，这样，相应的Differ变化量变大。此外，Differ变化量也是触控坐标的运输数据(重心算法)的基础数据。

上述步骤304中设置预设软件时，则根据此原理进行设置，使得不同预设电容档位对应的预设软件的触控效果趋于一致，进而使得各触控屏的触控效果更佳。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种触控屏的触控调试方法，其特征在于，包括：

获取第一固件和第二固件，其中，所述第一固件用于获取所述触控屏的电容值，并用于调整触控屏的电容值，所述第二固件用于根据所述触控屏的电容值的变化获取触控坐标值；

将所述第一固件和所述第二固件分别存储至所述触控屏的存储单元中，其中，所述第一固件为多个驱动软件中的一个，根据第一电容值和参考电容值的比值，从所述驱动软件中获取与所述第一电容值对应的一个驱动软件作为所述第一固件，其中，所述第一电容值为所述触控屏的实际电容值，所述参考电容值为用于提供参考的电容值；

通过所述第一固件获取所述触控屏的电容值，对所述触控屏进行电容值测试，并且通过所述第一固件对所述触控屏的电容值进行补偿增益；

通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试。

2.根据权利要求1所述的触控屏的触控调试方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取更新后的第二固件；

将所述第一固件和所述更新后的第二固件分别存储至另一触控屏的存储单元中。

3.根据权利要求2所述的触控屏的触控调试方法，其特征在于，所述方法还包括：

通过所述更新后的第二固件对所述另一触控屏进行触控测试。

4.根据权利要求1所述的触控屏的触控调试方法，其特征在于，所述通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试的步骤包括：

通过所述第二固件对所述触控屏进行划线测试。

5.根据权利要求4所述的触控屏的触控调试方法，其特征在于，所述通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试的步骤包括：

对所述触控屏进行划线测试，获取所述触控屏的触控灵敏度。

6.根据权利要求4所述的触控屏的触控调试方法，其特征在于，所述通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试的步骤包括：

对所述触控屏进行划线测试，获取所述触控屏的触控响应时间。

7.根据权利要求4所述的触控屏的触控调试方法，其特征在于，所述通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试的步骤包括：

对所述触控屏进行划线测试，获取所述触控屏的触控点范围。

8.根据权利要求1所述的触控屏的触控调试方法，其特征在于，所述通过所述第一固件获取所述触控屏的电容值，对所述触控屏进行电容值测试的步骤包括：

获取第一指令；

响应所述第一指令，通过所述第一固件获取所述触控屏的电容值，对所述触控屏进行电容值测试。

9.根据权利要求1所述的触控屏的触控调试方法，其特征在于，所述通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试的步骤包括：

获取第二指令；

响应所述第二指令，通过所述第二固件对所述触控屏进行触控测试。

10.根据权利要求1所述的触控屏的触控调试方法，其特征在于，在所述获取第一固件和第二固件的步骤之前还包括：

生成所述第一固件和所述第二固件。

Images