TWI764736B - 自適應線路老化的鍵盤、鍵盤的自適應方法、內儲程式之電子計算裝置可讀取媒體及電子計算裝置程式產品 - Google Patents

自適應線路老化的鍵盤、鍵盤的自適應方法、內儲程式之電子計算裝置可讀取媒體及電子計算裝置程式產品

Info

Publication number
TWI764736B
TWI764736B TW110119316A TW110119316A TWI764736B TW I764736 B TWI764736 B TW I764736B TW 110119316 A TW110119316 A TW 110119316A TW 110119316 A TW110119316 A TW 110119316A TW I764736 B TWI764736 B TW I764736B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
scan
line
keyboard
lines
processor
Prior art date
Application number
TW110119316A
Other languages
English (en)
Other versions
TW202246953A (zh
Inventor
洪維澤
陳建仲
Original Assignee
群光電子股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 群光電子股份有限公司 filed Critical 群光電子股份有限公司
Priority to TW110119316A priority Critical patent/TWI764736B/zh
Priority to US17/502,612 priority patent/US11630155B2/en
Application granted granted Critical
Publication of TWI764736B publication Critical patent/TWI764736B/zh
Publication of TW202246953A publication Critical patent/TW202246953A/zh

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
    • G01R31/3277—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of low voltage devices, e.g. domestic or industrial devices, such as motor protections, relays, rotation switches
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836—Fault-finding or characterising
    • G01R31/2843—In-circuit-testing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Input From Keyboards Or The Like (AREA)

Abstract

一種自適應線路老化的鍵盤、鍵盤的自適應方法、內儲程式之電子計算裝置可讀取媒體及電子計算裝置程式產品。處理器在一掃描回合中輪替對每一掃描線饋送掃描訊號。處理器響應其中一個開關元件的導通狀態，於對應的回傳線偵測得回傳訊號，且選擇該些掃描線的其中至少一者作為測試線。在測試線維持掃描訊號的第一期間，處理器檢測第一期間的起點至對應於第一期間內的回傳訊號的起點以獲得時間差，該處理器依據該時間差與記憶體中儲存的對應於測試線的反應時間參數，以判斷是否更新記憶體中儲存的對應於測試線的反應時間參數。

Description

自適應線路老化的鍵盤、鍵盤的自適應方法、內儲程式之電子計算裝置可讀取媒體及電子計算裝置程式產品
本發明係有關於鍵盤掃描技術，特別是指一種自適應線路老化的鍵盤、鍵盤的自適應方法、與鍵盤的自適應方法相關的內儲程式之電子計算裝置可讀取媒體及電子計算裝置程式產品。
電腦鍵盤是個人電腦必備的入機介面輸入裝置之一，而電腦鍵盤的電路大都是採用矩陣式(Matrix)的按鍵開關電路，其優點是電路簡單、運作快速及成本低廉。目前矩陣式按鍵開關，大都採用印刷電路板佈局(PCBA layout)或薄膜網版印刷(membrane screen print)等製程，其走線電路裡存在有走線的阻抗、寄生電容(Parasitic capacitance)以及分布電容(Distributed capacitance)。
圖1為習知矩陣式按鍵開關的電路示意圖。請參考圖1，矩陣式按鍵開關的電路100通常包含開關元件SW、掃描線102與回傳線101。開關元件SW耦接於掃描線102與回傳線101之交會處。
前述走線的阻抗可以等效電阻Req表示。前述寄生電容(Parasitic capacitance)以及分布電容(Distributed capacitance)則可以等效電容Ceq表示。
習知矩陣式按鍵開關的電路100的運作方式為於一個掃描期間內，對掃描線102輸入低電位訊號。若在掃描期間內，開關元件SW被按壓，則開關元件SW所連接的掃描線102與回傳線101形成導通狀態，對掃描線102輸入的低電位訊號會傳到回傳線101，因此藉由偵測回傳線101的電位，可得知開關元件SW是否被按壓。
請同時參考圖1與圖2，圖2繪示等效電容Ceq之跨壓V Ceq響應開關元件SW按壓狀態的電壓狀態示意圖200。在圖2的期間201，V Ceq維持在參考電位Vcc。若在掃描期間內，開關元件SW被按壓，則V Ceq開始下降。當線路老化時，代表走線的阻抗的等效電阻Req值及代表寄生電容與分布電容的等效電容Ceq值會變大。變大的等效電阻Req值與等效電容Ceq值會使得V Ceq下降期間202會變長，而干擾掃描期間內回傳線101的電位偵測，從而引發開關元件SW按壓偵測錯誤，降低開關元件SW按壓偵測的精確性。
有鑑於此，本發明提供一種自適應線路老化的鍵盤、鍵盤的自適應方法、內儲程式之電子計算裝置可讀取媒體及電子計算裝置程式產品，改善現有技術問題。
本發明提供一種自適應線路老化的鍵盤。自適應線路老化的鍵盤包含掃描電路。掃描電路包含複數掃描線、複數回傳線及複數開關元件。該些開關元件分別耦接於該些掃描線與該些回傳線之交會處。自適應線路老化的鍵盤還包含處理器與記憶體。記憶體儲存分別對應於該些掃描線的複數反應時間參數。處理器耦接掃描電路及記憶體，以在一掃描回合中輪替對每一掃描線饋送掃描訊號。處理器並響應其中一個開關元件的導通狀態，於對應的回傳線偵測得回傳訊號，且選擇該些掃描線的其中至少一者作為測試線。在測試線維持掃描訊號的第一期間，處理器檢測第一期間的起點至對應於第一期間內的回傳訊號的起點以獲得時間差，處理器依據時間差與記憶體中儲存的對應於測試線的反應時間參數，以判斷是否更新該記憶體中儲存的對應於該測試線的該反應時間參數，其中，第一期間的時間長為第一時間。
本發明提供一種鍵盤的自適應方法，由處理器執行。其中，鍵盤包含掃描電路，該掃描電路包含複數掃描線、複數回傳線及分別耦接於該些掃描線與該些回傳線之交會處的複數開關元件。鍵盤的自適應方法包含：設定一參數集，參數集包含該些掃描線的複數反應時間參數。在一掃描回合中選擇該些掃描線的至少其中一者作為測試線。在掃描回合中輪替對每一掃描線饋送掃描訊號，並響應其中一個開關元件的導通狀態，於對應的回傳線偵測得回傳訊號。其中在測試線維持掃描訊號的第一期間，該處理器檢測第一期間的起點至對應於第一期間內的回傳訊號的起點以獲得時間差，處理器依據時間差與記憶體中儲存的對應於測試線的反應時間參數，判斷是否更新記憶體中儲存的對應於測試線的反應時間參數，其中，第一期間的時間長為第一時間。
本發明提供一種內儲程式之電子計算裝置可讀取媒體及一種電子計算裝置程式產品，當具有控制器之電子計算裝置載入該程式並執行後，能夠完成前述的鍵盤的自適應方法。
基於上述，本發明所提供的自適應線路老化的鍵盤、鍵盤的自適應方法、內儲程式之電子計算裝置可讀取媒體及電子計算裝置程式產品，使處理器依據該第一期間的起點至對應於該第一期間內的該回傳訊號的起點間的一時間差與該記憶體中儲存的對應於該測試線的該反應時間參數判斷是否更新該記憶體中儲存的對應於該測試線的該反應時間參數。據此，不僅能夠使處理器以適當的時間對每一掃描線饋送掃描訊號，增加開關元件按壓偵測的精確性；更可以在鍵盤線路老化的情況下，相應更新反應時間參數，以維持鍵盤的開關元件按壓偵測的精確性而自適應線路老化。
有關本發明之前述及其他技術內容、特點與功效，在以下配合參考圖式之實施例的詳細說明中，將可清楚的呈現。圖式中各元件的厚度或尺寸，係以誇張或省略或概略的方式表示，以供熟悉此技藝之人士之瞭解與閱讀，且每個元件的尺寸並未完全為其實際的尺寸，並非用以限定本發明可實施之限定條件，故不具技術上之實質意義，任何結構之修飾、比例關係之改變或大小之調整，在不影響本發明所能產生之功效及所能達成之目的下，均仍應落在本發明所揭示之技術內容涵蓋之範圍內。在所有圖式中相同的標號將用於表示相同或相似的元件。以下實施例中所提到的「耦接」或「連接」一詞可指任何直接或間接的連接手段。
圖3為本發明一實施例的自適應線路老化的鍵盤電路圖。請參閱圖3，自適應線路老化的鍵盤電路300包含掃描電路303、處理器301及記憶體302。
掃描電路303包含N條掃描線、M條回傳線及複數開關元件，其中M與N為正整數。例如，M可以為5，N可以為4。為了方便說明，本實施例之N條掃描線以四條掃描線S1~S4來說明，M條回傳線以四條回傳線R1~R4來說明。
在本實施例中，各個掃描線與各個回傳線之間的交會處耦接有一個開關元件。例如：掃描線S1與回傳線R1的相互交會處耦接有開關元件SW11，掃描線S1與回傳線R2的相互交會處耦接有開關元件SW21，掃描線S2與回傳線R1的相互交會處耦接有開關元件SW12，以此類推。
本實施例之掃描電路303還設有複數個參考電阻Rc1~Rc4分別耦接於回傳線R1~R4，使得回傳線R1~R4分別經由參考電阻Rc1~Rc4連接至一參考電位Vcc。
記憶體302儲存分別對應於掃描線S1~S4的複數反應時間參數。處理器301耦接掃描電路303及記憶體302。以下即配合圖式詳細說明本發明實施例之鍵盤的自適應方法以及自適應線路老化的鍵盤電路300之各硬體之間如何協同運作。
圖4為本發明一實施例的掃描訊號時序圖。圖6為本發明一實施例的鍵盤的自適應方法流程圖。請一併參閱圖3、圖4及圖6。由於在此以四條掃描線S1~S4來說明，在以下的說明中，圖4中的SN為S4。如圖6所示，在步驟S501中，處理器301從記憶體302讀取分別對應於掃描線S1~S4的複數反應時間參數以設定一參數集。
為防止因鍵盤線路老化，而影響開關元件SW11~SW44按壓偵測的精確性。如圖6所示，在步驟S502中，處理器301在一掃描回合中，會選擇掃描線S1~S4的其中至少一者作為測試線。在同一掃描回合中，沒有被選擇為測試線的其餘掃描線稱為非測試線。在此，以掃描線S1作為測試線為例，掃描線S2~S4為非測試線。
在步驟S503中，處理器301在一掃描回合中輪替對每一掃描線饋送一掃描訊號，並響應其中一個開關元件的導通狀態，於對應的回傳線偵測得一回傳訊號。舉例來說，如圖4所示，作為測試線的掃描線S1的掃描區間401維持一第一期間，也就是說，在掃描區間401維持的第一期間內，處理器301將低邏輯準位的掃描訊號輸入至掃描線S1。各個非測試線(於此例中為掃描線S2~S4)的掃描區間402~404維持相異於第一期間的一第二期間，也就是說，在掃描區間402~404維持的第二期間內，處理器301將低邏輯準位的掃描訊號分別輸入至掃描線S2~S4。
處理器301在掃描區間401、掃描區間402、掃描區間403及掃描區間404中，將為低邏輯準位的掃描訊號分別輸入至掃描線S1~S4。當在掃描區間401內的一時間點405，掃描線S1與回傳線R2的相互交會處耦接的開關元件SW21被按下，此時處理器301可自開關元件SW21所對應的回傳線R2接收並偵測到為低邏輯準位的回傳訊號。
隨後，在步驟S504中，依據第一期間的起點至回傳訊號的起點之間的時間差與記憶體302中儲存對應於測試線(掃描線S1)的反應時間參數，處理器301可判斷是否更新記憶體302中儲存的對應於測試線的反應時間參數。舉例來說，如圖4所示，當在將低邏輯準位的掃描訊號輸入至掃描線S1的第一期間(掃描區間401)內，處理器301在時間點405接收並偵測到回傳訊號，則處理器301計算第一期間的起點(即時間點406)至對應於第一期間內的回傳訊號的起點(即時間點405)之間的一時間差td。處理器301再依據時間差td與記憶體302中儲存的對應於測試線(掃描線S1)的反應時間參數判斷是否更新記憶體302中儲存的對應於測試線(掃描線S1)的反應時間參數。
當在將低邏輯準位的掃描訊號輸入至測試線(掃描線S1)的第一期間(掃描區間401)內，處理器301沒有接收並偵測到回傳訊號，即在掃描線S1的第一期間(掃描區間401)內，與掃描線S1耦接的開關元件SW11、開關元件SW21、開關元件SW31與開關元件SW41皆未被按壓及/或觸發，處理器301將在第一期間後，選擇非測試線(掃描線S2~SN)中之至少一者作為下一掃描回合的測試線，以上述步驟執行下一掃描回合。處理器301在每一掃描循環中，會輪替對每一掃描線S1~S4饋送掃描訊號，並輪替地分別將每一掃描線S1~S4作為測試線以執行一掃描回合。掃描回合通常會不斷地循環，以使處理器301可以偵測到開關元件被按下。當各掃描線S1~S4皆被選作為測試線並完成當次掃描回合後，一個掃描循環結束。
圖5為本發明之另一實施例的掃描訊號時序與掃描線的反應時間參數對應示意圖。請同時參考圖3~圖6。在本實施例中，記憶體302中的記憶體位置501儲存對應掃描線S1的反應時間參數PS1，記憶體位置502儲存對應掃描線S2的反應時間參數PS2，記憶體位置503儲存對應掃描線S3的反應時間參數PS3，記憶體位置504儲存對應掃描線S4的反應時間參數PS4。以處理器301選擇掃描線S1作為測試線為例，處理器301會將低邏輯準位的掃描訊號輸入至掃描線S1並維持一個第一時間，亦即前述第一期間的時間長度為前述第一時間。同時，掃描線S2~S4為非測試線，處理器301會將低邏輯準位的掃描訊號輸入至掃描線S2~S4並分別維持一個第二時間，亦即前述第二期間的時間長度為前述第二時間。
處理器301依據記憶體302中儲存的對應於掃描線S1~S4的反應時間參數(在此例子中是PS1~PS4)決定前述第一時間及第二時間。例如，當測試線為掃描線S1時，第一時間可以是掃描線S1的反應時間參數PS1的數倍(如三倍、十倍或二十倍)。值得注意的是，在本發明中第一時間與反應時間參數PS1之間的關係不以上述倍數為限。在其他實施例中，第一時間可以是掃描線S1的反應時間參數PS1的特定函數。只要使第一時間大於或等於記憶體302中儲存的對應於測試線的反應時間參數的一容許範圍，使得在第一期間內，在耦接於測試線的開關元件被按壓的情況下，處理器301可以偵測到回傳訊號即可。
對於非測試線(掃描線S2~S4)，處理器301將記憶體302中對應於非測試線(掃描線S2~S4)的反應時間參數PS2~PS4分別作為掃描訊號維持在掃描線S2~S4中的每一條掃描線的第二時間。
進一步來說，非測試線的掃描線S2~S4中，掃描線S2的第二時間可以是反應時間參數PS2，掃描線S3的第二時間可以是反應時間參數PS3，掃描線S4的第二時間可以是反應時間參數PS4。
在此實施例中，處理器301以記憶體302儲存的一掃描線(測試線)所對應的反應時間參數的數倍作為第一時間，同時直接以記憶體302儲存的其他掃描線(非測試線)所對應的反應時間參數作為第二時間。例如，分別對應於掃描線S1~S4的反應時間參數PS1~PS4皆是30微秒(μs)，掃描線S1為測試線，掃描線S2~S4為非測試線。前述對應於測試線(掃描線S1)的第一時間可以是600μs(PS1的二十倍)，對應於非測試線(掃描線S2~S4)的第二時間可以皆是30μs。又例如，反應時間參數PS1是30μs，PS2是40μs，PS3是35μs，PS4是50μs，前述第一時間可以是600μs (PS1的二十倍)，掃描線S2的第二時間是40μs，掃描線S3的第二時間是35μs，掃描線S4的第二時間是50μs。
在一些實施例中，處理器301以記憶體302儲存的反應時間參數為基礎，加上一容許值，作為第二時間。例如，PS1是30μs，PS2是40μs，PS3是35μs，PS4是50μs，前述第一時間是600μs (PS1的二十倍)。掃描線S2的第二時間是60μs，掃描線S3的第二時間是53μs，掃描線S4的第二時間是75μs。
需要注意的是，雖然在上述實施例中，處理器301輸入低邏輯準位訊號至掃描線S1~S4，並讀取表示回傳線R2為低邏輯準位訊號的回傳訊號。本發明所屬技術領域具有通常知識者，亦可依據本實施例記載內容，略微修改圖3所揭示之電路，並使處理器301輸入高邏輯準位訊號至掃描線S1~S4，並讀取表示回傳線R2為與輸入訊號相同邏輯準位之高邏輯準位訊號的回傳訊號。
在本發明實施例中，為使所有掃描線S1~S4都可以執行上述預防老化的更新程序，處理器301在一個掃描循環中執行多次的掃描回合，在掃描循環中的各掃描回合所選定的作為測試線的掃描線互為不同。例如，在第一個掃描回合中，選擇掃描線S1作為測試線，在第二個掃描回合中，選擇掃描線S2作為測試線，以此類推。值得一提的是，本發明亦可不需要按照掃描線S1~S4順序的順序選擇測試線。可以依S2、S4、S1、S3等任意順序選擇，只要可以選擇完所有掃描線作為測試線掃描即可。
由於鍵盤線路的老化一直都會存在，並且只會隨著時間愈來愈嚴重。以圖3所繪示之鍵盤電路300來說，掃描電路303包含4條掃描線S1~S4。如果一開始就為了預防鍵盤線路的老化，而令處理器301以一較長的固定時間(例如是600μs)對每一條掃描線(測試線及非測試線)進行掃描，則一個掃描回合需要2400微秒(4Í600μs=2400μs)。在本發明實施例中，處理器301以記憶體302所儲存的對應於測試線的反應時間參數的數倍作為測試線的掃描時間(第一時間)，以及直接以記憶體302所儲存的對應於非測試線的反應時間參數作為掃描時間(第二時間)。以前述實施例的舉例內容來說，對應於測試線(掃描線S1)的反應時間參數PS1是30μs，對應於非測試線(掃描線S2~S4)的反應時間參數PS2、PS3、PS4分別是40μs、35μs、50μs。測試線的第一時間可以是反應時間參數PS1的二十倍(600μs)，各非測試線的第二時間則可以分別為其所對應的反應時間參數PS2、PS3、PS4的(即分別為40μs、35μs、50μs)。在此實施例中，則只需要725微秒(600μs+40μs+35μs+50μs=725μs)便完成一個掃描回合。因此本發明可改善並減少完成一個掃描回合的所需時間，以及改善按鍵反應時間。
再者，當鍵盤線路老化到一定程度時，即使以較長的固定時間對掃描線進行掃描，還是會引發圖1與圖2所描述的開關元件SW按壓偵測錯誤問題，在本發明一實施例中，由於掃描線的反應時間參數會動態地隨著鍵盤線路老化而改變，第一時間是選擇掃描線的反應時間參數的數倍(如三倍)，因此可克服鍵盤線路不斷老化的問題。
在本發明一實施例中，當處理器301在比較時間差td與記憶體302中儲存的對應於測試線的反應時間參數後，在時間差td大於對應於測試線的反應時間參數的情況下，將需要更新記憶體302中儲存的對應於測試線的反應時間參數。這表示測試線有老化現象發生，因此可以合理推測，其他掃描線有一定的機率也有老化的現象發生。因此，處理器301可以在後續的其他掃描回合，選擇掃描線的其中至少二者作為測試線，直至該掃描循環中尚未被選為該測試線的該些掃描線均被選定，以加快測試線老化的偵測。
例如，如圖4所示，處理器301在某一掃描回合中，選擇掃描線S1作為測試線。在第一期間內，處理器301在時間點405讀取到回傳訊號，則處理器301計算第一期間(在此例中即是掃描區間401)的起點(時間點406)至對應於第一期間內的回傳訊號的起點(時間點405)之間的一時間差td。處理器301再依據時間差td與記憶體302中儲存的對應於測試線S1的反應時間參數PS1判斷是否更新記憶體302中儲存的對應於測試線S1的反應時間參數PS1。若處理器301判斷需要更新測試線S1的反應時間參數PS1，則表示掃描線S1有老化發生。處理器301則在下一個掃描回合開始時，選擇兩條異於掃描線S1的掃描線(例如是掃描線S2與掃描線S3)作為測試線。處理器301分別以長於反應時間參數PS2與長於反應時間參數PS3的時間，將低邏輯準位的掃描訊號輸入至掃描線S2與S3以判斷測試線S2與S3的反應時間參數PS2與PS3是否需要更新，從而知悉測試線S2與S3是否有老化發生。至於如何判斷是否需要更新測試線S2與S3的反應時間參數PS2與PS3的方法已詳述如前，在此不再贅述。
圖7為本發明一實施例的鍵盤的自適應方法流程圖。請同時參考圖3~圖7。在本實施例中，藉由步驟S505~S507實現圖6之步驟S504，其中，圖7之步驟S501至步驟S503相同於圖6之步驟S501至步驟S503，不再贅述。於步驟S503後，也就是在掃描回合中輪替對每一掃描線饋送掃描訊號，並響應其中一個開關元件的導通狀態，於對應的回傳線偵測得回傳訊號後，執行步驟S505。在步驟S505中，處理器301比較第一期間的起點(時間點406)至對應於第一期間內的回傳訊號的起點(時間點405)之間的時間差td與記憶體中儲存的對應於測試線的反應時間參數。也就是說，處理器301計算第一期間的起點(時間點406)至對應於第一期間內的回傳訊號的起點(時間點405)之間的時間差td，接著比較時間差td與對應於測試線的反應時間參數。在時間差td大於對應於測試線的反應時間參數的情況下，處理器301執行步驟S506。在步驟S506中，處理器301設定時間差td為對應於測試線的反應時間參數，也就是更新記憶體302中所儲存的對應於測試線的反應時間參數，將對應於測試線的反應時間參數設定為上述時間差td。在時間差td小於或等於測試線的反應時間參數的情況下，處理器301執行步驟S507，處理器301不更新記憶體302中所儲存的對應於測試線的反應時間參數。
在本發明實施例中，處理器301可比較時間差td與記憶體中儲存的對應於測試線的反應時間參數之間的關係，進而判斷是否發生線路老化的狀況，以及決定是否更新記憶體302中儲存的對應於測試線的反應時間參數。
舉例來說，以處理器301選擇掃描線S1作為測試線為例。處理器301依前述步驟計算獲得時間差td後，處理器301比較時間差td與記憶體302中儲存的對應於掃描線S1的反應時間參數PS1(步驟S505)。在處理器301判斷時間差td的數值大於測試線S1的反應時間參數PS1的情況下，掃描線S1可視為有線路老化的現象，處理器301將時間差td的數值寫入記憶體302的記憶體位置501中，以更新對應於掃描線S1的反應時間參數PS1。
處理器301在時間差td大於儲存的反應時間參數的情況下，設定時間差td為對應於測試線的反應時間參數。值得注意的是，在其他實施例中，亦可依據需求對時間差td及儲存的反應時間參數做特定的數學運算後再進行比較，來決定是否更新記憶體302中儲存的對應於測試線的反應時間參數。
在本發明其他實施例中，在處理器301執行步驟S505後，處理器301在時間差td大於對應於測試線的反應時間參數的情況下，以時間差td數值的數倍(例如三倍)更新對應於測試線的反應時間參數，或者以時間差td數值的一函數(例如一線性函數)更新對應於測試線的反應時間參數。
在本發明一實施例中，處理器301可以將記憶體302中所儲存各個掃描線的反應時間參數上傳到個人電腦(Personal Computer, PC)或任一計算機裝置，使PC或任一計算機裝置藉由目前各個掃描線所對應的反應時間參數的大小診斷鍵盤線路老化程度。在一些實施例中，處理器301更進一步藉由計算每條掃描線其對應的反應時間參數在一特定時間的更新頻率以及計算反應時間參數對時間的變化率，使PC或任一計算機裝置診斷每條掃描線老化的速度。
在本發明的一實施例中，鍵盤在一段時間沒有被按壓使用後，處理器301可先停止前述選取測試線以偵測測試線老化的程序。然後處理器301預先偵測該些開關元件的導通狀態，並響應於任一開關元件的導通而啟動掃描回合。值得注意的是，本發明不以此為限。在其他實施例中，鍵盤可以中斷或輪詢的方式，決定停止及再開始前述選取測試線以偵測測試線老化程序的時間點。
在本說明書中，術語「電子計算裝置可讀取媒體」一般用來指非揮發性的非暫時性媒體，諸如一唯讀記憶體(Read Only Memory；ROM)、一快閃記憶體、一軟碟、一硬碟、一光碟(Compact Disk；CD)、一數位多功能光碟(Digital Versatile Disc；DVD)、一隨身碟、一可由網路存取之資料庫或本發明所屬技術領域中具有通常知識者所知且具有相同功能之任何其他儲存媒體。此等及其他各種形式之電子計算裝置可讀取媒體可涉及將一或多個指令之一或多個序列攜載至處理器301以供執行。具體化於媒體上之此等指令通常被稱為「電子計算裝置程式碼」或「電子計算裝置程式產品」，該「電子計算裝置程式碼」或「電子計算裝置程式產品」可為能於網路上傳輸之檔案，亦可被儲存於非暫態電子計算裝置可讀取儲存媒體中。此等指令在執行時可使處理器301能夠執行如本發明中所敘述的步驟或功能。
綜上所述，本發明所提供的自適應線路老化的鍵盤、鍵盤的自適應方法、內儲程式之電子計算裝置可讀取媒體及電子計算裝置程式產品，透過使處理器檢測測試線第一期間的起點(如圖4之時間點406)至對應於第一期間內的回傳訊號的起點(如圖4之時間點405)以獲得時間差，處理器依據時間差與記憶體中儲存的對應於測試線的反應時間參數判斷是否更新記憶體中儲存的對應於測試線的反應時間參數，不僅能夠使處理器以適當的時間對每一掃描線饋送掃描訊號，增加開關元件按壓偵測的精確性；更可以在鍵盤線路老化的情況下，相應更新反應時間參數，以維持鍵盤的開關元件按壓偵測的精確性以及改善按鍵反應時間。更進一步，處理器將記憶體中所儲存的各個掃描線所對應的反應時間參數、每條掃描線其對應的反應時間參數在一特定時間的更新頻率以及反應時間參數對時間的變化率上傳到個人電腦或任一計算機裝置，更可診斷每條掃描線老化的程度與速度。
100:矩陣式按鍵開關的電路 101:回傳線 102:掃描線 Req:等效電阻 Ceq:等效電容 200:電壓狀態示意圖 V Ceq:跨壓 201、202:期間 300:鍵盤電路 301:處理器 302:記憶體 303:掃描電路 S1~S4、SN:掃描線 R1~R4:回傳線 SW、SW11、SW12、SW13、SW14、SW21、SW22、SW23、SW24、SW31、SW32、SW33、SW34、SW41、SW42、SW43、SW44:開關元件 Rc1~Rc4:參考電阻 Vcc:參考電位 401、402、403、404:掃描區間 405、406:時間點 td:時間差 501、502、503、504:記憶體位置 PS1、PS2、PS3、PS4:反應時間參數 S501~S507:步驟
圖1為習知矩陣式按鍵開關的電路示意圖。 圖2為等效電容之跨壓響應開關元件按壓狀態的放電示意圖。 圖3為本發明一實施例的自適應線路老化的鍵盤電路圖。 圖4為本發明一實施例掃描訊號時序圖。 圖5為本發明一實施例掃描訊號時序與掃描線的反應時間參數對應示意圖。 圖6為本發明一實施例的鍵盤的自適應方法流程圖。 圖7為本發明一實施例的鍵盤的自適應方法流程圖。
300:鍵盤電路
301:處理器
302:記憶體
303:掃描電路
S1~S4:掃描線
R1~R4:回傳線
SW11、SW12、SW13、SW14、SW21、SW22、SW23、SW24、SW31、SW32、SW33、SW34、SW41、SW42、SW43、SW44:開關元件
Rc1~Rc4:參考電阻
Vcc:參考電位

Claims (22)

  1. 一種自適應線路老化的鍵盤，包含： 一掃描電路，包含複數掃描線、複數回傳線及複數開關元件，該些開關元件分別耦接於該些掃描線與該些回傳線之交會處； 一記憶體，儲存分別對應於該些掃描線的複數反應時間參數；及 一處理器，耦接該掃描電路及該記憶體，該處理器係在一掃描回合中輪替對每一該掃描線饋送一掃描訊號，選擇該些掃描線的其中至少一者作為一測試線，並響應耦接於該測試線的該些開關元件的其中一個的導通狀態，於對應的該回傳線偵測得一回傳訊號；在該測試線維持該掃描訊號的一第一期間，該處理器檢測該第一期間的起點至對應於該第一期間內的該回傳訊號的起點以獲得一時間差，該處理器依據該時間差與該記憶體中儲存的對應於該測試線的該反應時間參數，以判斷是否更新該記憶體中儲存的對應於該測試線的該反應時間參數。
  2. 如請求項1所述之自適應線路老化的鍵盤，其中，在該時間差大於該記憶體中儲存的對應於該測試線的該反應時間參數的情況下，該處理器以該時間差更新該記憶體中儲存的對應於該測試線的該反應時間參數。
  3. 如請求項2所述之自適應線路老化的鍵盤，其中該處理器選擇該些掃描線的其中至少二者作為該測試線執行後續的其他掃描回合直至一掃描循環中尚未被選為該測試線的該些掃描線均被選定。
  4. 如請求項1所述之自適應線路老化的鍵盤，其中在該時間差小於或等於該記憶體中儲存的對應於該測試線的該反應時間參數的情況下，該處理器不更新該記憶體中儲存的對應於該測試線的該反應時間參數。
  5. 如請求項1所述之自適應線路老化的鍵盤，其中，該些掃描線包括該測試線以及複數非測試線，該處理器對各個該些非測試線的該掃描訊號維持一第二期間，各個該些非測試線的該第二期間分別對應於該記憶體儲存的對應於各個該些非測試線的該反應時間參數。
  6. 如請求項1所述之自適應線路老化的鍵盤，其中，該回傳訊號係指示對應的該回傳線與該掃描訊號具有相同的一邏輯準位。
  7. 如請求項1所述之自適應線路老化的鍵盤，其中該處理器在一掃描循環中執行多次該掃描回合，在該掃描循環中的各該掃描回合所選定的作為該測試線的該掃描線互為不同。
  8. 如請求項7所述之自適應線路老化的鍵盤，其中該處理器依據該些掃描線之一排列順序選定該掃描循環中的各該掃描回合的該測試線。
  9. 如請求項1所述之自適應線路老化的鍵盤，其中該處理器預先偵測該些開關元件的導通狀態，響應於任一該些開關元件的導通而啟動該掃描回合。
  10. 如請求項1所述之自適應線路老化的鍵盤，其中該第一期間維持一第一時間，該處理器基於該記憶體中儲存的對應於該測試線的該反應時間參數設定該第一時間。
  11. 一種鍵盤的自適應方法，由一處理器執行，該鍵盤包含一掃描電路，該掃描電路包含複數掃描線、複數回傳線及分別耦接於該些掃描線與該些回傳線之交會處的複數開關元件，該鍵盤的自適應方法包含： 設定一參數集，該參數集包含該些掃描線的複數反應時間參數； 在一掃描回合中選擇該些掃描線的至少其中一者作為一測試線；以及 該處理器係在該掃描回合中輪替對每一該掃描線饋送一掃描訊號，並響應耦接於該測試線的該些開關元件的其中一個的導通狀態，於對應的該回傳線偵測得一回傳訊號，其中在該測試線維持該掃描訊號的一第一期間，該處理器檢測該第一期間的起點至對應於該第一期間內的該回傳訊號的起點以獲得一時間差，該處理器依據該時間差與該記憶體中儲存的對應於該測試線的該反應時間參數，以判斷是否更新該記憶體中儲存的對應於該測試線的該反應時間參數。
  12. 如請求項11所述之鍵盤的自適應方法，其中，該處理器依據該時間差與該記憶體中儲存的對應於該測試線的該反應時間參數，以判斷是否更新該記憶體中儲存的對應於該測試線的該反應時間參數更包含：在該時間差大於該記憶體中儲存的對應於該測試線的該反應時間參數的情況下，該處理器以該時間差更新該記憶體中儲存的對應於該測試線的該反應時間參數。
  13. 如請求項12所述之鍵盤的自適應方法，更包含：選擇該些掃描線的其中至少二者作為該測試線執行後續的其他掃描回合直至當前的一掃描循環中尚未被選為該測試線的該些掃描線均被選定。
  14. 如請求項11所述之鍵盤的自適應方法，其中，該處理器依據該時間差與該記憶體中儲存的對應於該測試線的該反應時間參數，以判斷是否更新該記憶體中儲存的對應於該測試線的該反應時間參數更包含：在該時間差小於或等於該記憶體中儲存的對應於該測試線的該反應時間參數的情況下，該處理器不更新該記憶體中儲存的對應於該測試線的該反應時間參數。
  15. 如請求項11所述之鍵盤的自適應方法，其中，該些掃描線包括該測試線以及複數非測試線，該處理器對各個該些非測試線的該掃描訊號維持一第二期間，各個該掃描線的該第二期間分別對應於該記憶體儲存的對應於各個該些非測試線的該反應時間參數。
  16. 如請求項11所述之鍵盤的自適應方法，其中，該回傳訊號係指示對應的該回傳線與該掃描訊號具有相同的一邏輯準位。
  17. 如請求項11所述之鍵盤的自適應方法，其中該掃描回合在一掃描循環中被執行多次，在該掃描循環中的各該掃描回合所選定的該掃描線互為不同。
  18. 如請求項17所述之鍵盤的自適應方法，其中該些測試線是依據該些掃描線之一排列順序選定。
  19. 如請求項11所述之鍵盤的自適應方法，更包含：預先偵測該些開關元件的導通狀態；及響應於任一該些開關元件的導通而啟動該掃描回合。
  20. 如請求項11所述之鍵盤的自適應方法，其中該第一期間維持一第一時間，該處理器基於該記憶體中儲存的對應於該測試線的該反應時間參數設定該第一時間。
  21. 一種內儲程式之電子計算裝置可讀取媒體，當具有一處理器之一電子裝置載入該程式並執行後，可完成如請求項11至20任一項所述之方法。
  22. 一種具有電子計算裝置程式的電子計算裝置程式產品，當一電子計算裝置載入該電子計算裝置程式並執行後，可完成如請求項11至20任一項所述之方法。
TW110119316A 2021-05-27 2021-05-27 自適應線路老化的鍵盤、鍵盤的自適應方法、內儲程式之電子計算裝置可讀取媒體及電子計算裝置程式產品 TWI764736B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW110119316A TWI764736B (zh) 2021-05-27 2021-05-27 自適應線路老化的鍵盤、鍵盤的自適應方法、內儲程式之電子計算裝置可讀取媒體及電子計算裝置程式產品
US17/502,612 US11630155B2 (en) 2021-05-27 2021-10-15 Keyboard with wire aging self-adaptation, self-adaptation method for keyboard, electronic computing device readable medium with stored program, and electronic computing device program product

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW110119316A TWI764736B (zh) 2021-05-27 2021-05-27 自適應線路老化的鍵盤、鍵盤的自適應方法、內儲程式之電子計算裝置可讀取媒體及電子計算裝置程式產品

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TWI764736B true TWI764736B (zh) 2022-05-11
TW202246953A TW202246953A (zh) 2022-12-01

Family

ID=82594313

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW110119316A TWI764736B (zh) 2021-05-27 2021-05-27 自適應線路老化的鍵盤、鍵盤的自適應方法、內儲程式之電子計算裝置可讀取媒體及電子計算裝置程式產品

Country Status (2)

Country Link
US (1) US11630155B2 (zh)
TW (1) TWI764736B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116627759B (zh) * 2023-05-19 2024-02-27 北京神州安付科技股份有限公司 一种金融支付设备电路安全检测装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100344060C (zh) * 2004-03-01 2007-10-17 达方电子股份有限公司 可切换语系键盘和制造可切换语系键盘的方法
TW201351891A (zh) * 2012-06-11 2013-12-16 Holtek Semiconductor Inc 鍵盤裝置及其鍵盤掃描電路
TW201508559A (zh) * 2013-08-23 2015-03-01 Nuvoton Technology Corp 輸入裝置及控制單元
TW201709676A (zh) * 2015-08-17 2017-03-01 光寶電子（廣州）有限公司 鍵盤掃描電路、鍵盤及其掃描方法
TW201720059A (zh) * 2015-11-17 2017-06-01 新唐科技股份有限公司 開關掃描電路與方法
TW202113558A (zh) * 2019-09-26 2021-04-01 沃特斯有限公司 鍵盤電路結構

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3918051A (en) * 1971-05-19 1975-11-04 Illinois Tool Works N-key rollover keyboard
US3978474A (en) * 1975-07-15 1976-08-31 Illinois Tool Works Inc. Keyboard with n-key lockout and two-key rollover protection
JPS6141192A (ja) * 1984-07-31 1986-02-27 株式会社河合楽器製作所 楽音装置
US7218250B2 (en) * 2004-09-09 2007-05-15 General Electric Company Method and apparatus for keyboard control with programmable debounce and jog
JP4895278B2 (ja) * 2006-10-03 2012-03-14 ルネサスエレクトロニクス株式会社 キー入力装置
US7714746B2 (en) * 2006-11-14 2010-05-11 Stmicroelectronics, Inc. Method and apparatus for keyboard readout
CN102185613B (zh) * 2011-04-14 2013-04-10 北京希格玛和芯微电子技术有限公司 薄膜式键盘扫描电路及其扫描方法和键盘
US9876510B2 (en) * 2013-02-28 2018-01-23 Christoph HELDEIS Method for determining active input elements of an input arrangement and input arrangement

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100344060C (zh) * 2004-03-01 2007-10-17 达方电子股份有限公司 可切换语系键盘和制造可切换语系键盘的方法
TW201351891A (zh) * 2012-06-11 2013-12-16 Holtek Semiconductor Inc 鍵盤裝置及其鍵盤掃描電路
TW201508559A (zh) * 2013-08-23 2015-03-01 Nuvoton Technology Corp 輸入裝置及控制單元
TW201709676A (zh) * 2015-08-17 2017-03-01 光寶電子（廣州）有限公司 鍵盤掃描電路、鍵盤及其掃描方法
TW201720059A (zh) * 2015-11-17 2017-06-01 新唐科技股份有限公司 開關掃描電路與方法
TW202113558A (zh) * 2019-09-26 2021-04-01 沃特斯有限公司 鍵盤電路結構

Also Published As

Publication number Publication date
US20220381827A1 (en) 2022-12-01
US11630155B2 (en) 2023-04-18
TW202246953A (zh) 2022-12-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI524256B (zh) 用於具有經最佳化之輸入掃瞄的電阻矩陣的方法、資料保持子系統及計算裝置
KR930001547B1 (ko) 전자장치를 시험하는 시험장치 및 방법과 시험장치를 갖춘 반도체장치
TWI764736B (zh) 自適應線路老化的鍵盤、鍵盤的自適應方法、內儲程式之電子計算裝置可讀取媒體及電子計算裝置程式產品
TWI549043B (zh) 觸控板的感測電路，以及其所應用的觸控模組、電子裝置和控制方法
US9875796B2 (en) Resistive memory device and method relating to a read voltage in accordance with variable situations
US20170077927A1 (en) Resistance calibration method and related calibration system
US7800396B2 (en) Semiconductor integrated circuit, control method, and information processing apparatus
TWI749745B (zh) 觸控顯示驅動裝置及其操作方法
JP5851955B2 (ja) タッチ入力デバイス制御装置およびタッチ入力デバイス制御方法
JP4179883B2 (ja) 終端抵抗装置、データ伝送装置及び終端抵抗回路の検査方法
CN115480652A (zh) 键盘及其自适应方法、电子计算装置可读取介质及程序
KR102168688B1 (ko) 구동 칩 및 이를 포함하는 표시 장치
CN107621579B (zh) 触控屏的触控调试方法
US7652936B2 (en) Signal sampling apparatus and method for DRAM memory
JP5274648B2 (ja) 試験装置、キャリブレーション方法、および、プログラム
US11500504B1 (en) Touch controlling mechanism capable of calibrating variations of sensor cells of touch sensor array
CN107180653A (zh) 一种获取ddr odt参数的方法和装置
JP2010009475A (ja) 電子回路解析装置
US11761996B2 (en) Power supply voltage detector, power supply voltage detection apparatus, system and medium
JP2023121064A (ja) 識別回路及び識別方法
US11467044B2 (en) Multi-channel remote temperature monitor
TWI476638B (zh) 鍵盤掃描方法及應用該方法之鍵盤
US8780058B2 (en) Information input device, image forming device, input control method, and computer-readable recording medium
JP2010027186A (ja) 半導体記憶装置
US20190250736A1 (en) Capacitive sensing apparatus, event detection method for measurement environment of capacitive sensing apparatus, and method for determining correction timing of capacitive sensing apparatus