CN107943642B - 一种电容式触摸感应装置的性能测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电容式触摸感应装置的性能测试方法，包括：对电容式触摸感应装置的N个电容传感器在无触摸状态和触摸状态下的电容参数分别进行采集，并生成与之对应的未触摸数据和触摸数据；针对每一个电容传感器计算其差值；若所述N个电容传感器的差值均高于预设阈值

，则判定所述电容式触摸感应装置合格；否则，判定所述电容式触摸感应装置不合格。本发明的性能测试方法可以对电容式触摸感应装置的稳定性和性能是否达标实现自动检测，耗时短，效率高，测试结果可自动生成，无需测试员根据操作体验主观判断产品的性能，由此解决了因人为因素造成的测试结果可靠性差的问题，提高了产品检测的精准度。

Description

一种电容式触摸感应装置的性能测试方法

技术领域

本发明属于性能测试技术领域，具体地说，是涉及一种用于对电容式触摸感应装置进行性能测试的方法。

背景技术

电容式触摸感应装置是利用人体的电流感应进行工作的产品，它在目前的很多领域(例如移动电话、个人电脑、汽车中控等)已经逐渐代替传统的机械按钮作为产品的输入设备使用，不仅可以接收用户的操作指令，而且可以与显示屏结合使用，以简化整机的外形结构，美化产品的外观。

在目前的很多电容式触摸感应装置中都设置有多个电容传感器，用于感应用户在不同位置上执行的触摸操作。触摸感应装置在生产加工过程中，受制作工艺等因素的影响可能会出现装置中的某个或某几个电容传感器遭受损坏的问题，进而导致触摸感应装置存在出厂不良的情况。此外，对于出厂检测合格的电容式触摸感应装置，在将其作为部件与整机中的其它部件进行组装时，也经常会因为组装等问题导致整机出现功能异常等情况。例如，由于电容式触摸感应装置与产品的外壳间隙太大而导致手指的触摸无法被感知等问题。因此，在装配有触摸感应装置的产品出厂前，必须对触摸感应装置的性能进行测试，以检测产品是否存在由于触摸感应装置出厂不良或者组装因素导致功能异常的缺陷。

现有的电容式触摸感应装置的测试技术往往是通过测试员对产品整机的操作体验来完成的。这种测试方法耗时长，测试覆盖面有限，可能会忽略对某一个电容传感器的测试，且测试结果主要依赖于测试员的主观感受，因此，测试结果的可靠性较差。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于电容式触摸感应装置的性能测试方法，旨在解决现有的通过测试员对产品整机的操作体验来测试触摸感应装置性能的方法耗时长、测试覆盖面有限、且测试结果受主观因素影响可靠性差的问题。

为解决上述技术问题，本发明采用以下技术方案予以实现：

本发明在一个方面，提出了一种电容式触摸感应装置的性能测试方法，在所述电容式触摸感应装置中设置有N个电容传感器,对所述N个电容传感器在无触摸状态下的电容参数进行采集，生成与之对应的未触摸数据；并对所述N个电容传感器进行触摸，采集每一个电容传感器的电容参数，生成与之对应的触摸数据；针对每一个电容传感器计算其触摸数据与非触摸数据的差值；若所述N个电容传感器的触摸数据与非触摸数据的差值均大于等于预设阈值D0，则判定所述电容式触摸感应装置合格；否则，判定所述电容式触摸感应装置不合格。

作为所述预设阈值的一种优选确定方法：首先，选取P个电容式触摸感应装置作为样本，且每一个样本的第一个电容传感器损坏，其余电容传感器正常；其次，对每一个样本中的每一个电容传感器在无触摸状态下进行电容参数采集，生成与之对应的未触摸数据；并对每一个样本中的每一个电容传感器在触摸状态下进行电容参数采集，生成与之对应的触摸数据；然后，针对每一个样本中的每一个电容传感器分别计算其触摸数据与非触摸数据的差值，记为样本差值；最后，从P个样本中的第一个电容传感器的样本差值中选取最大值Max(1)，从P个样本中的第2～N个电容传感器的样本差值中选取最小值Min(2～N)；确定预设阈值D0，所述预设阈值D0介于Max(1)与Min(2～N)之间。

优选的，所述预设阈值D0为Max(1)与Min(2～N)的中间值。

在采集电容传感器的电容时，为了避免数据的随机性带来的误差，本发明在生成所述未触摸数据的过程中，分别对每一个电容传感器在无触摸状态下进行连续M次的电容参数采集，并生成与之对应的M个数据，取M个数据的中值作为该电容传感器的未触摸数据。

进一步的，在生成所述触摸数据的过程中，分别对每一个电容传感器在触摸状态下进行连续M次的电容参数采集，并生成与之对应的M个数据，取M个数据的中值作为该电容传感器的触摸数据。

本发明在另一方面，还提出了另外一种电容式触摸感应装置的性能测试方法，在所述电容式触摸感应装置中设置有N个电容传感器,对所述N个电容传感器在无触摸状态下的电容参数进行采集，生成与之对应的未触摸数据；并对所述N个电容传感器进行触摸，采集每一个电容传感器的电容参数，生成与之对应的触摸数据；针对每一个电容传感器计算其触摸数据与非触摸数据的差值；根据每一个电容传感器的触摸数据与非触摸数据的差值以及预先确定的差值最大值，计算每一个电容传感器的偏离度，若所述N个电容传感器的偏离度均在预设偏离度阈值范围内，则判定所述电容式触摸感应装置合格；否则，判定所述电容式触摸感应装置不合格。

作为所述预设偏离度阈值范围的一种优选确定方法：首先，选取P个合格的电容式触摸感应装置作为样本；对每一个样本中的每一个电容传感器在无触摸状态下进行电容参数采集，生成与之对应的未触摸数据；并对每一个样本中的每一个电容传感器在触摸状态下进行电容参数采集，生成与之对应的触摸数据；针对每一个样本中的每一个电容传感器分别计算其触摸数据与非触摸数据的差值，记为样本差值；从P个样本中的每一个电容传感器的样本差值中选取最大值，作为所述差值最大值；然后，将每一个样本中的第i个电容传感器的样本差值除以所述差值最大值，计算出P个偏离度值，从所述P个偏离度值中选取最小值和最大值，确定出第i个电容传感器的预设偏离度阈值范围DEV_i。

进一步的，在实际测试过程中，将待测试的电容式触摸感应装置中的第i个电容传感器的触摸数据与非触摸数据的差值除以所述差值最大值，以计算出第i个电容传感器的偏离度deviation_i；判断所述偏离度deviation_i是否处于第i个电容传感器的预设偏离度阈值范围DEV_i内，若是，则判定待测试的电容式触摸感应装置中的第i个电容传感器正常；否则，判定待测试的电容式触摸感应装置中的第i个电容传感器异常；当待测试的电容式触摸感应装置中的所有电容传感器均判定为正常时，认为所述待测试的电容式触摸感应装置合格；否则，认为所述待测试的电容式触摸感应装置不合格。

与现有技术相比，本发明的优点和积极效果是：本发明的性能测试方法可以对电容式触摸感应装置的稳定性和性能是否达标实现自动检测，耗时短，效率高，测试结果可自动生成，无需测试员根据操作体验主观判断产品的性能，由此解决了因人为因素造成的测试结果可靠性差的问题，提高了产品检测的精准度。

结合附图阅读本发明实施方式的详细描述后，本发明的其他特点和优点将变得更加清楚。

附图说明

图1是本发明所提出的电容式触摸感应装置性能测试方法的一种实施例的流程图；

图2是本发明所提出的电容式触摸感应装置性能测试方法的另一种实施例的流程图；

图3是用于电容式触摸感应装置的测试工装的一种实施例的原理框图；

图4是作为样本的电容式触摸感应装置中各个电容传感器的差值分布图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细地说明。

在电容式触摸感应装置中设置有多个用于感应人体电流的电容传感器，当手指触碰电容传感器表面时，手指和电容传感器垫片会通过覆盖层形成一个简单的平行板电容，可称为手指电容C_F，从而引起电容传感器的电容参数发生明显的变化。手指电容C_F的公式表达形式可以定义为：

其中，ε₀为空气介电常数；ε_r为覆盖层绝缘常数；A为手指与电容传感器覆盖层的接触面积；D为覆盖层的厚度。

根据手指电容C_F的公式定义可以清楚看出，当电容传感器在无触摸和被触摸两种状态下，由于接触面积A会发生明显的变化，因此将导致电容传感器的电容出现明显变化，且在触摸下的电容参数会明显大于未触摸状态下的电容参数，即，触摸状态与非触摸状态下的电容差值较大。而对于遭到损坏的电容传感器或者由于整机组装等原因导致电容式触摸感应装置与外壳间隙过大以致于手指的触摸无法被电容传感器感知时，即便电容传感器在触摸状态，参数A也会很小，从而导致C_F明显低于正常值，由此便使得触摸状态与非触摸状态下的电容差值较小。

基于上述特性，本发明提出了一种通过检测电容式触摸感应装置中各个电容传感器在触摸状态与非触摸状态下的电容差值，来判断电容式触摸感应装置是否存在异常的性能测试方法，以解决传统的依靠人为操作体验主观判断装置性能的测试方法测试结果可靠性差的问题。

下面通过两个具体的实施例，对本发明的电容式触摸感应装置的性能测试方法进行详细阐述。

实施例一，如图1所示，本实施例的电容式触摸感应装置的性能测试方法包括实测前的预设阈值确定过程和实测过程两部分，具体为：

实测前的预设阈值确定过程：

S101、选取P个电容式触摸感应装置作为样本，且每一个样本的第一个电容传感器损坏，其余电容传感器正常；

在本实施例中，可以选择P个同型号且性能达标的电容式触摸感应装置，并将每一个电容式触摸感应装置中的第一个电容传感器人为损坏，其余的电容传感器保持良好，以作为样本进行测试。所述P优选大于20。

S102、在无触摸状态下，采集每一个样本中的每一个电容传感器的电容参数，并生成与之对应的未触摸数据；

现有的电容传感器在其电容参数发生变化时，往往通过电容传感器输出的电流或者电压的变化进行反映。采用测试工装采集电容传感器输出的电流或者电压，并进行模数转换后，便可获得一个反映电容传感器的电容大小的采样数据，即，电容传感器的电容参数的数字表示，且该采样数据的数值随着电容的增大而增加。本实施例将无触摸状态下的所述采样数据称之为无触摸数据，且可以表示为：

Sample_j(i_no touch),i＝1,2……，N；j＝1,2……P；

即，第j个样本的第i个电容传感器的未触摸数据。其中，N表示每一个电容式触摸感应装置中所包含的电容传感器的数量。

在采集电容传感器的电容时，为了避免数据的随机性带来的误差，本实施例在生成所述未触摸数据的过程中，分别对每一个电容传感器在无触摸状态下进行连续M次的电容参数采集，并生成与之对应的M个数据，取M个数据的中值作为该电容传感器的未触摸数据Sample_j(i_no touch)。所述M优选大于10。

在这里，中值是将一组数从小到大或从大到小排列,奇数个数的话取中间的数字,偶数个数的话取中间两个数的平均数。

S103、在触摸状态下，采集每一个样本中的每一个电容传感器的电容参数，并生成与之对应的触摸数据；

在本实施例中，可以在测试工装中设置触摸工装1，如图3所示，所述触摸工装1可以使用导电材料制成，并且要保证触摸工装1的接触面积足够大，以覆盖电容式触摸感应装置2中的所有电容传感器。即，使电容式触摸感应装置2中的所有电容传感器均被触摸到，以避免漏检。

利用所述触摸工装1接触每一个样本，并采集每一个样本中的每一个电容传感器的电容，所述电容也通过电容传感器输出的电流或者电压进行反映。利用测试工装中的处理模块3接收电容传感器输出的电流或者电压，并进行模数转换后，生成反映电容传感器的电容大小的采样数据。本实施例将触摸状态下的所述采样数据称之为触摸数据，且可以表示为：

Sample_j(i_touch),i＝1,2……，N；j＝1,2……P；

即，第j个样本的第i个电容传感器的触摸数据。

同样的，为了避免数据的随机性带来的采样误差，本实施例在生成所述触摸数据的过程中，分别对每一个电容传感器在触摸状态下进行连续M次的电容参数采集，并生成与之对应的M个数据，取M个数据的中值作为该电容传感器的触摸数据Sample_j(i_touch)。

S104、针对每一个样本中的每一个电容传感器分别计算其样本差值；

在本实施例中，样本差值的计算公式为：

Sample_j_Diif(i)＝Sample_j(i_touch)-Sample_j(i_no touch)；

其中，Sample_j_Diif(i)为第j个样本的第i个电容传感器的样本差值。

S105、从P个样本中的第一个电容传感器的样本差值中选取最大值Max(1)，从P个样本中的第2～N个电容传感器的样本差值中选取最小值Min(2～N)；

在本实施例的P个样本中，由于每一个样本中的第一个电容传感器已经损坏，其余的电容传感器良好，因此，每一个样本中的第一个电容传感器的样本差值会与其他电容传感器的样本差值存在明显的差距。在P个样本中，包括P个第一个电容传感器，每个所述的第一个电容传感器分别对应一个样本差值，即Sample_j_Diif(1)，j＝1,2……P。从P个所述的样本差值(Sample_j_Diif(1)，j＝1,2……P)中选取最大值，记为Max(1)。同理，从P个样本中的第2个电容传感器至第N个电容传感器的样本差值中选取最小值，记为Min(2～N)。

S106、根据Max(1)和Min(2～N)确定预设阈值D0；

在本实施例中，所述预设阈值D0应介于Max(1)与Min(2～N)之间，例如，可以选择Max(1)与Min(2～N)的中间值作为所述的预设阈值D0。

举例说明，选择24个电容式触摸感应装置作为样本，即P＝24，且每一个样本中均包括四个电容传感器C1-C4，即N＝4，且四个电容传感器C1-C4相邻设置，构成一维传感器，如图3所示。将每一个样本中第一个电容传感器C1损坏，其余的电容传感器C2、C3、C4保持良好。

利用控制主机PC通过有线或者无线方式向测试工装中的处理模块3发送控制指令，控制处理模块3读取未触摸状态下的每一个电容传感器C1-C4的电容参数。例如，采集四个电容传感器C1-C4输出的电流或电压I/V1-1/V4，并进行模数转换后，生成未触摸数据。为避免数据的随机性带来的采样误差，本实施例针对每一个电容传感器C1-C4进行20次采集，即M＝20，分别生成20个采样数据，从每一个电容传感器C1-C4所对应的20个采样数据中取中值，作为该电容传感器C1-C4的未触摸数据，即：

Sample_j(i_no touch)，i＝1,2，3，4；j＝1,2……24。

利用触摸工装1接触作为样本的电容式触摸感应装置2，并通过控制主机PC再次向测试工装中的处理模块3发送指令，控制处理模块3读取触摸状态下的每一个电容传感器C1-C4的电容参数。在这里，同样可以对每一个电容传感器C1-C4分别进行20次的电流或电压I/V1-1/V4采集，并针对每一个电容传感器C1-C4分别生成20个采样数据，从每一个电容传感器C1-C4所对应的20个采样数据中取中值，作为该电容传感器C1-C4的触摸数据，即：

Sample_j(i_touch)，i＝1,2，3，4；j＝1,2……24。

利用计算公式：Sample_j_Diif(i)＝Sample_j(i_touch)-Sample_j(i_no touch)计算每一个样本中的每一个电容传感器C1-C4的样本差值，生成表1所示的列表：

表1

表1中，每一行数据表示一个样本中的四个电容传感器C1-C4所对应的无触摸数据、触摸数据和样本差值。根据表1中的样本差值绘制图表如图4所示。

结合表1所示，从24个样本中的第一个电容传感器C1所对应的样本差值中选取最大值Max(1)＝99；从24个样本中的C2、C3、C4电容传感器所对应的样本差值中选取最小值Min(2～4)＝130。选择99-130之间的数值作为预设阈值D0，例如，取D0＝100。

由此，便完成了预设阈值D0的确定过程。

实测过程：

S107、在无触摸状态下，对待测试的电容式触摸感应装置中的每一个电容传感器进行电容参数采集，并生成与之对应的未触摸数据；

在本实施例中，待测试的电容式触摸感应装置应与上述预设阈值确定过程中所选择的样本的类型相似，以提高测试结果的准确度。在实测过程中，可以首先将待测试的电容式触摸感应装置连接至测试工装，在未被触摸的状态下，对待测试的电容式触摸感应装置中的每一个电容传感器进行连续M次的电容参数采集，并转换成采样数据。然后，从每一个电容传感器所对应的M个采样数据中取中值，作为该电容传感器的未触摸数据Median(i_notouch)，i＝1,2……N。其中，Median(i_no touch)表示第i个电容传感器的未触摸数据；N表示待测试的电容式触摸感应装置中所包含的电容传感器的数量。

S108、在触摸状态下，对待测试的电容式触摸感应装置中的每一个电容传感器进行电容参数采集，并生成与之对应的触摸数据；

在本实施例中，可以利用测试工装中的触摸工装1接触待测试的电容式触摸感应装置，以代替人手触摸方式，确保装置中的每一个电容传感器均被触摸到。在触摸状态下，对待测试的电容式触摸感应装置中的每一个电容传感器进行连续M次的电容参数采集，并转换成采样数据。然后，从每一个电容传感器所对应的M个采样数据中取中值，作为该电容传感器的触摸数据Median(i_touch)，i＝1,2……N。其中，Median(i_touch)表示第i个电容传感器的触摸数据。

S109、针对待测试的电容式触摸感应装置中的每一个电容传感器，分别计算其差值；

在这里，可以利用计算公式：

Diif(i)＝Median(i_touch)-Median(i_no touch)，i＝1,2……，N；

计算出每一个电容传感器的差值。其中，Diif(i)表示第i个电容传感器的差值。

S110、将计算出的每一个电容传感器的差值分别与预设阈值D0比较，以判断出待测试的电容式触摸感应装置是否合格；

在本实施例中，可以将步骤S109中计算出的每一个电容传感器的差值分别与步骤S106中确定出的预设阈值D0进行比较，若每一个电容传感器的差值均大于预设阈值D0，则可以判定待测试的电容式触摸感应装置合格；若其中一个电容传感器的差值小于预设阈值D0，则认为该电容传感器异常，只要有一个电容传感器存在异常，则判定待测试的电容式触摸感应装置不合格。

在本实施例中，可以在测试工装的处理模块3中计算每一个电容传感器的未触摸数据、触摸数据和差值，并对装置的性能进行判断，生成测试结果。

S111、显示测试结果；

在本实施例中，可以将步骤S110判断出的待测试的电容式触摸感应装置是否合格的测试结果发送至控制主机PC，通过控制主机PC显示给测试员，以解决人为主观判断导致的测试结果可靠性差的问题。

由此，便完成了对待测试的电容式触摸感应装置的性能测试过程。

实施例二，如图2所示，本实施例的电容式触摸感应装置的性能测试方法使用偏离度的概念作为判定条件，以提高测试方法的普适性，具体包括实测前的偏离度阈值范围的确定过程以及实测过程两部分，详细说明如下：

实测前的偏离度阈值范围确定过程：

S201、选取P个性能良好的电容式触摸感应装置作为样本；

在本实施例中，可以选择P个同型号且性能达标的电容式触摸感应装置作为样本进行测试。所述P优选大于20。

S202、在无触摸状态下，采集每一个样本中的每一个电容传感器的电容参数，并生成与之对应的未触摸数据；

在本实施例中，可以利用图3所示的测试工装对每一个样本进行测试，在未触摸状态下，分别对样本中的每一个电容传感器进行连续M次的电容参数采集，并生成与之对应的M个数据，取M个数据的中值作为该电容传感器的未触摸数据Sample_j(i_no touch),i＝1,2……，N；j＝1,2……P。其中，Sample_j(i_no touch)表示第j个样本的第i个电容传感器的未触摸数据；N表示每一个电容式触摸感应装置中所包含的电容传感器的数量。

在本实施例中，所述M优选大于10，例如取M＝20，以尽量避免数据的随机性带来的采样误差。

S203、在触摸状态下，采集每一个样本中的每一个电容传感器的电容参数，并生成与之对应的触摸数据；

在本实施例中，利用测试工装中的触摸工装1接触样本，以触摸样本中的每一个电容传感器，利用测试工装中的处理模块3分别对每一个电容传感器在触摸状态下进行连续M次的电容参数采集，并生成与之对应的M个数据，取M个数据的中值作为该电容传感器的触摸数据Sample_j(i_touch),i＝1,2……，N；j＝1,2……P。其中，Sample_j(i_touch)表示第j个样本的第i个电容传感器的触摸数据。

S204、针对每一个样本中的每一个电容传感器分别计算其样本差值；

在本实施例中，样本差值的计算公式为：

Sample_j_Diif(i)＝Sample_j(i_touch)-Sample_j(i_no touch)；

其中，Sample_j_Diif(i)为第j个样本的第i个电容传感器的样本差值。

S205、从P个样本中的每一个电容传感器的样本差值中选取最大值，作为差值最大值Max；

即，从步骤S204计算出的P*N个样本差值中选取最大值，作为差值最大值Max。

S206、计算每一个电容传感器的预设偏离度阈值范围；

在本实施例中，可以将每一个样本中的第i个电容传感器的样本差值分别除以所述的差值最大值Max，由此可以计算出P个偏离度值，从所述的P个偏离度值中选取最小值min和最大值max，由此即可确定出第i个电容传感器的预设偏离度阈值范围DEV_i＝[min，max]。

取i＝1,2……N，从而计算每一个电容传感器的预设偏离度阈值范围。

表2列举了一种采用上述步骤S201-S206确定出的偏离度阈值范围对照表：

电容传感器	C1	C2	C3	C4
					偏离度阈值范围	[0.8,1]	[0.85,1]	[0.85,1]	[0.8,1]

表2

以N＝4为例，C1-C4表示作为样本的电容式触摸感应装置中四个的电容传感器。

由此，便完成了偏离度阈值范围的确定过程。

实测过程：

S207、在无触摸状态下，对待测试的电容式触摸感应装置中的每一个电容传感器进行电容参数采集，并生成与之对应的未触摸数据；

在本实施例中，所述待测试的电容式触摸感应装置应与上述偏离度阈值范围确定过程中所选择的样本的类型相似，即包括相同数量的电容传感器。将待测试的电容式触摸感应装置连接至测试工装，在未被触摸的状态下，优选对待测试的电容式触摸感应装置中的每一个电容传感器进行连续M次的电容参数采集，并转换成采样数据。然后，从每一个电容传感器所对应的M个采样数据中取中值，作为该电容传感器的未触摸数据Median(i_notouch)，i＝1,2……N。其中，Median(i_no touch)表示第i个电容传感器的未触摸数据；N表示待测试的电容式触摸感应装置中所包含的电容传感器的数量。

S208、在触摸状态下，对待测试的电容式触摸感应装置中的每一个电容传感器进行电容参数采集，并生成与之对应的触摸数据；

在本实施例中，可以利用测试工装中的触摸工装1接触待测试的电容式触摸感应装置，实现对装置中的每一个电容传感器的触摸操作。在触摸状态下，优选对待测试的电容式触摸感应装置中的每一个电容传感器进行连续M次的电容参数采集，并转换成采样数据。然后，从每一个电容传感器所对应的M个采样数据中取中值，作为该电容传感器的触摸数据Median(i_touch)，i＝1,2……N。其中，Median(i_touch)表示第i个电容传感器的触摸数据。

S209、针对待测试的电容式触摸感应装置中的每一个电容传感器，分别计算其差值；

在这里，可以利用计算公式：

Diif(i)＝Median(i_touch)-Median(i_no touch)，i＝1,2……，N；

计算出每一个电容传感器的差值。其中，Diif(i)表示第i个电容传感器的差值。

S210、将待测试的电容式触摸感应装置中的每一个电容传感器的差值除以步骤S205中确定的差值最大值Max，以计算出每一个电容传感器的偏离度；

在这里，可以利用计算公式：

deviation_i＝Diif(i)/Max，i＝1,2……N；

计算出每一个电容传感器的偏离度。其中，deviation_i表示第i个电容传感器的偏离度；Diif(i)表示第i个电容传感器的差值。

S211、将计算出的每一个电容传感器的偏离度与该电容传感器所对应的预设偏离度阈值范围进行比较，以判断出待测试的电容式触摸感应装置是否合格；

在本实施例中，可以将第i个电容传感器的偏离度deviation_i与步骤S206中确定出的第i个电容传感器的预设偏离度阈值范围DEV_i进行比较，若deviation_i处于DEV_i范围内，则判定待测试的电容式触摸感应装置中的第i个电容传感器正常；若deviation_i处于DEV_i范围以外，则判定待测试的电容式触摸感应装置中的第i个电容传感器异常。取i＝1,2……N，分别判断出每一个电容传感器的偏离度是否均落入该电容传感器所对应的预设偏离度阈值范围内，若是，则判定待测试的电容式触摸感应装置合格；否则，认为所述待测试的电容式触摸感应装置不合格。

在本实施例中，可以在测试工装的处理模块3中计算每一个电容传感器的未触摸数据、触摸数据、差值和偏离度，并对装置的性能进行判断，生成测试结果。

S212、显示测试结果；

在本实施例中，可以将步骤S211判断出的待测试的电容式触摸感应装置是否合格的测试结果发送至控制主机PC，通过控制主机PC显示给测试员，以直观的获取测试结果。

由此，便完成了对待测试的电容式触摸感应装置的性能测试过程。

本发明的电容式触摸感应装置性能测试方法可以检测由于触摸装置出厂不良或者整机组装时造成的功能异常，操作简单，测试结果准确、直观，测试时间短、测试效率高，适合应用在各种类型的电容式触摸感应装置中。

当然，上述说明并非是对本发明的限制，本发明也并不仅限于上述举例，本技术领域的普通技术人员在本发明的实质范围内所做出的变化、改型、添加或替换，也应属于本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种电容式触摸感应装置的性能测试方法，在所述电容式触摸感应装置中设置有N个电容传感器,其特征在于，

对所述N个电容传感器在无触摸状态下的电容参数进行采集，生成与之对应的未触摸数据；并对所述N个电容传感器在触摸状态下的电容参数进行采集，生成与之对应的触摸数据；

针对每一个电容传感器计算其触摸数据与非触摸数据的差值；

若所述N个电容传感器的触摸数据与非触摸数据的差值均大于等于预设阈值D0，则判定所述电容式触摸感应装置合格；否则，判定所述电容式触摸感应装置不合格；

其中，所述预设阈值的确定方法是：

选取P个电容式触摸感应装置作为样本，且每一个样本的第一个电容传感器损坏，其余电容传感器正常；

对每一个样本中的每一个电容传感器在无触摸状态下进行电容参数采集，生成与之对应的未触摸数据；并对每一个样本中的每一个电容传感器在触摸状态下进行电容参数采集，生成与之对应的触摸数据；

针对每一个样本中的每一个电容传感器分别计算其触摸数据与非触摸数据的差值，记为样本差值；

从P个样本中的第一个电容传感器的样本差值中选取最大值Max(1)，从P个样本中的第2～N个电容传感器的样本差值中选取最小值Min(2～N)；

确定预设阈值D0，所述预设阈值D0介于Max(1)与Min(2～N)之间。

2.根据权利要求1所述的电容式触摸感应装置的性能测试方法，其特征在于，所述预设阈值D0为Max(1)与Min(2～N)的中间值。

3.根据权利要求1或2所述的电容式触摸感应装置的性能测试方法，其特征在于，在生成所述未触摸数据的过程中，分别对每一个电容传感器在无触摸状态下进行连续M次的电容参数采集，并生成与之对应的M个数据，取M个数据的中值作为该电容传感器的未触摸数据。

4.根据权利要求3所述的电容式触摸感应装置的性能测试方法，其特征在于，在生成所述触摸数据的过程中，分别对每一个电容传感器在触摸状态下进行连续M次的电容参数采集，并生成与之对应的M个数据，取M个数据的中值作为该电容传感器的触摸数据。

5.一种电容式触摸感应装置的性能测试方法，在所述电容式触摸感应装置中设置有N个电容传感器,其特征在于，

对所述N个电容传感器在无触摸状态下的电容参数进行采集，生成与之对应的未触摸数据；并对所述N个电容传感器在触摸状态下的电容参数进行采集，生成与之对应的触摸数据；

针对每一个电容传感器计算其触摸数据与非触摸数据的差值；

根据每一个电容传感器的触摸数据与非触摸数据的差值以及预先确定的差值最大值，计算每一个电容传感器的偏离度，若所述N个电容传感器的偏离度均在预设偏离度阈值范围内，则判定所述电容式触摸感应装置合格；否则，判定所述电容式触摸感应装置不合格；

其中，所述预设偏离度阈值范围的确定方法是：

选取P个合格的电容式触摸感应装置作为样本；

对每一个样本中的每一个电容传感器在无触摸状态下进行电容参数采集，生成与之对应的未触摸数据；并对每一个样本中的每一个电容传感器在触摸状态下进行电容参数采集，生成与之对应的触摸数据；

针对每一个样本中的每一个电容传感器分别计算其触摸数据与非触摸数据的差值，记为样本差值；

从P个样本中的每一个电容传感器的样本差值中选取最大值，作为所述的差值最大值；

将每一个样本中的第i个电容传感器的样本差值分别除以所述差值最大值，计算出P个偏离度值，从所述P个偏离度值中选取最小值和最大值，确定出第i个电容传感器的预设偏离度阈值范围DEV_i。

6.根据权利要求5所述的电容式触摸感应装置的性能测试方法，其特征在于，

在实际测试过程中，将待测试的电容式触摸感应装置中的第i个电容传感器的触摸数据与非触摸数据的差值除以所述差值最大值，以计算出第i个电容传感器的偏离度deviation_i；

判断所述偏离度deviation_i是否处于第i个电容传感器的预设偏离度阈值范围DEV_i内，若是，则判定待测试的电容式触摸感应装置中的第i个电容传感器正常；否则，判定待测试的电容式触摸感应装置中的第i个电容传感器异常；

当待测试的电容式触摸感应装置中的所有电容传感器均判定为正常时，认为所述待测试的电容式触摸感应装置合格；否则，认为所述待测试的电容式触摸感应装置不合格。

7.根据权利要求5或6所述的电容式触摸感应装置的性能测试方法，其特征在于，在生成所述未触摸数据的过程中，分别对每一个电容传感器在无触摸状态下进行连续M次的电容参数采集，并生成与之对应的M个数据，取M个数据的中值作为该电容传感器的未触摸数据。

8.根据权利要求7所述的电容式触摸感应装置的性能测试方法，其特征在于，在生成所述触摸数据的过程中，分别对每一个电容传感器在触摸状态下进行连续M次的电容参数采集，并生成与之对应的M个数据，取M个数据的中值作为该电容传感器的触摸数据。

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