TWI474245B - 觸控裝置、感測電路以及其感測方法 - Google Patents

Description

觸控裝置、感測電路以及其感測方法

本發明是有關於一種觸控面板技術，且特別是有關於一種觸控裝置、感測電路以及其感測方法。

近年來，隨著資訊技術、無線通訊及資訊家電的快速發展與廣泛應用，許多資訊產品的操作介面已由傳統的鍵盤或滑鼠改為使用觸控面板作為輸入裝置。常見的觸控面板大致可分為電容式觸控面板以及電阻式觸控面板。電容式觸控面板因為具有多點觸控的特性而備受矚目。當使用者以手指或是導電物體接近或觸碰電容式觸控面板的表面時，電容式觸控面板上的電容值會發生對應的變化。電容式觸控面板利用這樣的電容值變化來進行觸控位置的感測以及計算。

傳統電容式觸控面板的感測方法需要量測電容值變化。然而，用於量測電容值變化的電路非常複雜，以致製造成本增加。另一方面，量測電路在分辨感測訊號上的雜訊時是有困難的，如此會導致感測精確度大幅的降低而不實用。

有鑑於此，本發明提出一種觸控裝置、感測電路以及其感測方法，藉以解決先前技術所述及的問題。

本發明提出一種電容式觸控面板的感測方法，包括下 列步驟。接收來自電容式觸控面板的感測訊號。在初始化時，調整感測訊號的直流成份與一選擇性參考訊號間的大小關係固定處於一第一關係。在量測感測訊號時，因應感測訊號與選擇性參考訊號間的大小關係處於該第一關係而產生一第一邏輯準位的比較訊號，因應該感測訊號與該選擇性參考訊號間的大小關係處於一第二關係，則產生一第二邏輯準位的比較訊號。在預設期間內計算出該第二邏輯準位的比較訊號與該第一邏輯準位的比較訊號的一時間比例值。根據時間比例值判斷出對該電容式觸控面板之一觸碰事件是否發生。

本發明另提出一種電容式觸控面板的感測方法，包括：接收來自電容式觸控面板的多個感測訊號與選擇性參考訊號。在初始化時調整每一感測訊號大於選擇性參考訊號。接收取樣訊號。針對每一感測訊號量測其強度，若感測訊號小於選擇性參考訊號，則產生至少一邏輯高準位的比較訊號。針對每一至少一邏輯高準位的比較訊號，在每一這些感測訊號的取樣時若預設期間所涵蓋的取樣訊號的脈波數目幾乎多數位在邏輯高準位的區間，判斷這些感測訊號為系統雜訊。其中，可由一感測電路產生選擇性參考訊號。

本發明另提出一種感測電路，適用於電容式觸控面板，此感測電路包括取樣訊號、比較器、可調整電容器以及控制電路。比較器的第一輸入端與第二輸入端分別接收來自電容式觸控面板的感測訊號與選擇性參考訊號。可調 整電容器之輸出端用於輸出選擇性參考訊號且可調整電容器的輸出端耦接在第二輸入端，或者可調整電容器用於平衡比較器之輸出而耦接於第一輸入端或第二輸入端。控制電路耦接比較器的輸出，且接收取樣訊號。在初始化時調整可調整電容器的電容值或調整可調整電容器耦接處的工作電壓而使感測訊號的直流成份與選擇性參考訊號間的大小關係固定處於一第一關係。在量測感測訊號時，比較器因應感測訊號與選擇性參考訊號間的大小關係處於第一關係而產生一第一邏輯準位的比較訊號，比較器因應感測訊號與選擇性參考訊號間的大小關係處於一第二關係則產生一第二邏輯準位的比較訊號，在一預設期間內控制電路計算出第二邏輯準位的比較訊號與第一邏輯準位的比較訊號的一時間比例值，並根據該時間比例值判斷出對該電容式觸控面板之一觸碰事件是否發生。

本發明另提出一種觸控裝置，其包括電容式觸控面板以及感測電路。電容式觸控面板具有多條感測線路以提供感測訊號與選擇性參考訊號。感測電路包括比較器、可調整電容器以及控制電路。比較器的第一輸入端與第二輸入端分別接收來自電容式觸控面板的感測訊號與選擇性參考訊號。可調整電容器之輸出端用於輸出選擇性參考訊號且可調整電容器的輸出端耦接在第二輸入端，或者可調整電容器用於平衡比較器之輸出而耦接於第一輸入端或第二輸入端。控制電路耦接比較器的輸出，且接收取樣訊號。在初始化時調整可調整電容器的電容值或調整可調整電容器 耦接處的工作電壓而使感測訊號大於選擇性參考訊號。在量測感測訊號時，因應感測訊號與選擇性參考訊號間的大小關係處於第一關係而產生一第一邏輯準位的比較訊號，因應感測訊號與該擇性參考訊號間的大小關係處於一第二關係則產生一第二邏輯準位的比較訊號，在一預設期間內計算出第二邏輯準位的比較訊號與第一邏輯準位的比較訊號的一時間比例值，並根據時間比例值判斷出對電容式觸控面板之一觸碰事件是否發生。其中，可由感測電路自行產生選擇性參考訊號。

在本發明的一實施例中，比較器的第一輸入端與第二輸入端分別為比較器的反相輸入端與非反相輸入端，若感測訊號小於選擇性參考訊號，比較器產生第二邏輯準位的比較訊號，在預設期間計數第二邏輯準位的比較訊號所涵蓋取樣訊號的一脈波次數即代表時間比例值，其中第二邏輯準位為邏輯高準位，第一邏輯準位為邏輯低準位。

在本發明的一實施例中，可調整電容器耦接在第二輸入端與接地端之間。

在本發明的一實施例中，在初始化時調整感測訊號大於選擇性參考訊號的步驟包括：調整可調整電容器的電容值與耦接電壓，以使感測訊號大於選擇性參考訊號。

在本發明的一實施例中，感測訊號的強度變化量與所計數的脈波次數成比例。

在本發明的一實施例中，根據時間比例值判斷出對電容式觸控面板之一觸碰事件是否發生的步驟包括：設定臨 界次數值，用以根據脈波次數是否大於臨界次數值而決定是否發生觸碰事件。

在本發明的一實施例中，電容式觸控面板的感測方法更包括：以多個比較器量測對應電容式觸控面板的多個感測訊號的強度，且當每一比較器在同一次取樣期間所輸出之訊號多數皆為邏輯高準位時，判斷這些感測訊號為系統雜訊。

基於上述，本發明藉由感測電路比較感測訊號與選擇性參考訊號的變化，在預設期間計數至少一邏輯高準位的比較訊號所涵蓋取樣訊號的脈波次數，再根據所計數的脈波次數來推測感測訊號的強度。感測電路容易調整感測訊號與選擇性參考訊號之間的靈敏度，且對於雜訊免疫力具有較佳能力，因此可以獲得較高的感測精確度。此外，感測電路構造簡單，可以大幅地降低成本。另一方面，感測電路可以在單一感測訊號的架構/條件下擴展至量測多個感測訊號的應用，且可以容易地過濾系統雜訊。

為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

圖1是依照本發明一實施例之觸控裝置100的示意圖。圖2是圖1的電容式觸控面板20的感測方法的流程圖。請合併參照圖1和圖2。

觸控裝置100包括感測電路10與電容式觸控面板20。電容式觸控面板20具有多條感測線路SLa、SLb以提 供感測訊號Ssen與選擇性參考訊號Sref。此外，選擇性參考訊號Sref的來源亦可由感測電路10自行產生。

感測電路10包括比較器110、可調整電容器120以及控制電路130。比較器110的第一輸入端與第二輸入端分別接收來自電容式觸控面板20的感測訊號Ssen與選擇性參考訊號Sref。可調整電容器120的輸出端用於輸出選擇性參考訊號Sref且可調整電容器120的輸出端耦接在比較器110的第二輸入端。此外，可調整電容器120的用途及耦接關係並不限於上述實施方式。在又一變化實施例中，可調整電容器120可用於單純平衡比較器110之輸出而耦接於比較器110的第一輸入端或第二輸入端。請注意，在本實施例中第一輸入端與第二輸入端可分別為反相輸入端與非反相輸入端，但本發明不以此為限。下文將對感測方法的流程步驟作詳細說明。

如步驟S201所示，感測電路10接收來自電容式觸控面板20的感測訊號Ssen與選擇性參考訊號Sref。

如步驟S203所示，在初始化時調整感測訊號Ssen大於選擇性參考訊號Sref。調整方式可以如下：倘若感測訊號Ssen的準位低於選擇性參考訊號Sref的準位(請參照圖3的左半部繪示)，則調整可調整電容器120的電容值或調整可調整電容器10耦接處的工作電壓V1(工作電壓V1可不同於接地電壓GND)，以使感測訊號Ssen的準位高於選擇性參考訊號Sref的準位(請參照圖3的右半部繪示)。如此一來，在初始化階段的比較器110將會輸出邏 輯低準位的比較訊號Sc。

如步驟S205所示，控制電路130接收取樣訊號SCLK。

如步驟S207所示，在量測感測訊號Ssen的強度時，若感測訊號Ssen小於選擇性參考訊號Sref，則比較器110將產生至少一邏輯高準位的比較訊號Sc。可參照圖4、圖5的感測示意圖。

圖4是圖1的電容式觸控面板20未被按壓時，感測電路所輸出信號的感測示意圖，此時感測訊號Ssen的直流成分高於選擇性參考訊號Sref的電壓準位，因此，在大部份的時間中，比較訊號Sc皆維持在邏輯低準位的狀態，但是會因為有背景雜訊的擾動，而可能如圖所示，於一小段時間低於選擇性參考訊號Sref的電壓準位，使得比較訊號Sc可能於該小段時間內產生邏輯高準位的比較訊號Sc。

而圖5則是圖1的電容式觸控面板20被手指按壓時，感測電路所輸出信號的感測示意圖，其中手指的按壓或接觸會改變感測訊號Ssen的強度，因為手指碰觸的感測線路Sla上將會並聯手指所帶來的人體電容與雜訊(如圖1中所示)，進而使將使感測線路Sla上的電容值變大(也就是使充電完成的電壓準位變小)，所以以本例而言，手指的按壓或接觸會讓感測訊號Ssen的直流成分從原本高於選擇性參考訊號Sref的狀態，改變成低於選擇性參考訊號Sref的狀態，因此，在大部份的時間中，比較訊號Sc皆維持在邏輯高準位的狀態中，但此時的感測訊號Ssen若因按壓動作而伴隨著大小不一的雜訊，將可能會如圖所示一般，雜訊會 讓感測訊號Ssen有一段時間將高於選擇性參考訊號Sref的電壓準位，使得比較訊號Sc有一些時間會切換到邏輯低準位的狀態中。但是與圖4相比，圖5中比較訊號Sc處在邏輯高準位狀態的時間，將遠大於圖4中比較訊號Sc處在邏輯高準位狀態的時間，因此，在預設期間Tdet中，圖5中該邏輯高準位的比較訊號與該邏輯低準位的比較訊號的時間比例值將大於圖4中該邏輯高準位的比較訊號與該邏輯低準位的比較訊號的時間比例值。而上述時間比例值可由下列取樣訊號SCLK來進行計數而獲得。

如步驟S209所示，在預設期間Tdet計數至少一邏輯高準位的比較訊號Sc所涵蓋取樣訊號SCLK的脈波次數。接著如步驟S211所示，根據脈波次數推測感測訊號Ssen的強度變化(脈波次數愈高代表感測訊號Ssen的電壓準位低於選擇性參考訊號Sref的機率高，也就是代表電容式觸控面板被觸碰的機率高)，進而判斷出對該電容式觸控面板之一觸控動作是否發生。在推測感測訊號Ssen的強度變化量時可以與所計數的脈波次數(即上述之時間比例值)成比例。

請注意，步驟S205的順序只要在步驟S209之前即可，並不特別限定如本示範例在步驟S203與步驟S207之間。

另外，感測電路10還可藉由脈波次數(或稱為雜訊計數)來推測感測訊號Ssen的雜訊來源。舉例而言，圖4的脈波次數為2，可以推測感測訊號Ssen上的雜訊是環境 雜訊(environment noise)。圖5的脈波次數為8，可以推測感測訊號Ssen上的雜訊為手指觸摸(finger touch)事件。

圖6是雜訊模型在峰對峰大小的常態分布(normal distribution)圖。對於相同的選擇性參考訊號的準位來說，大電容比起小電容具有較高的雜訊。

圖7是局部放大圖6的雜訊模型的示意圖。在初始化時，感測電路可以根據“脈波次數(雜訊計數)”的下限(lower limit)值設定選擇性參考訊號的準位，並設定一臨界準位高於下限值。

設定下限值(選擇性參考訊號的準位)的目的在於：調整感測訊號與選擇性參考訊號之間的靈敏度，從而使感測電路對於雜訊免疫力有較佳能力。此外，設定臨界準位的目的相當於設定臨界次數值，用以使感測電路可根據該脈波次數是否大於該臨界次數值而決定是否發生觸碰事件。因此，可以藉由設定下限值及/或臨界準位來調整感測電路的靈敏度。

在又一實施例中，圖8是依照本發明另一實施例之觸控裝置800的示意圖。感測電路10A類似於圖1的感測電路10，故相同或相似之處在此不再贅述。感測電路10A從單一感測訊號的架構/條件下擴展至量測多個感測訊號的應用。圖8與圖1差異在於，以多個比較器810_1、810_2、...、810_n量測對應電容式觸控面板的多個感測訊號Ssen_1、Ssen_2、...、Ssen_n的強度。

圖9是圖8的感測電路10A的感測示意圖。請合併參 照圖8和圖9。感測電路10A針對每一感測訊號Ssen_1、Ssen_2、...、Ssen_n量測其強度。例如，若感測訊號Ssen_1、小於選擇性參考訊號Sref，則產生至少一邏輯高準位的比較訊號Sc_1；依此類推，若感測訊號Ssen_n小於選擇性參考訊號Sref，則產生至少一邏輯高準位的比較訊號Sc_n。

針對每一至少一邏輯高準位的比較訊號Sc_1、Sc_2、...、Sc_n，在每一這些感測訊號Ssen_1、Ssen_2、...、Ssen_n的取樣時若預設期間Tdet所涵蓋的取樣訊號SCLK的脈波數目幾乎多數位在邏輯高準位的區間，判斷這些感測訊號Sc_1、Sc_2、...、Sc_n為系統雜訊(system noise)。

換句話說，在預設期間Tdet計數至少一邏輯高準位的比較訊號所涵蓋取樣訊號SCLK的脈波次數。當每一這些感測訊號Ssen_1、Ssen_2、...、Ssen_n的脈波數目幾乎多數(例如75%以上)位在邏輯高準位的區間，或者各脈波次數幾乎為相同時，則可以判斷這些感測訊號Ssen_1、Ssen_2、...、Ssen_n為系統雜訊。舉例而言，圖9繪示了比較器810_1、...、810_n在在同一次取樣的計數期間Tdet的脈波數目為11個，而所經歷取樣的脈波位在邏輯高準位的區間皆為8個，因此可以判斷這些感測訊號Ssen_1、...、Ssen_n為系統雜訊。

在又一變化實施例中，若這些感測訊號Ssen_1、Ssen_2、...、Ssen_n在同一次取樣的計數期間Tdet的脈波數目為20個，而且在同一次取樣有15個脈波是位在邏輯高準位的區間。因此，控制電路830判斷這些感測訊號 Ssen_1、Ssen_2、...、Ssen_n為系統雜訊。故，控制電路830可以容易地過濾系統雜訊，從而獲得較高的感測精確度。

綜上所述，本發明藉由感測電路比較感測訊號與選擇性參考訊號的變化，在預設期間計數至少一邏輯高準位的比較訊號所涵蓋取樣訊號的脈波次數，再根據所計數的脈波次數來推測感測訊號的強度。感測電路容易調整感測訊號與選擇性參考訊號之間的靈敏度，且對於雜訊免疫力具有較佳能力，因此可以獲得較高的感測精確度。此外，感測電路構造簡單，可以大幅地降低成本。另一方面，感測電路可以在單一感測訊號的架構/條件下擴展至量測多個感測訊號的應用，且可以容易地過濾系統雜訊。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

10、10A‧‧‧感測電路

20‧‧‧電容式觸控面板

100、800‧‧‧觸控裝置

110、810_1、810_2、810_n‧‧‧比較器

120、820‧‧‧可調整電容器

130、830‧‧‧控制電路

GND‧‧‧接地電壓

Sc、Sc_1、Sc_2、Sc_n‧‧‧比較訊號

SCLK‧‧‧取樣訊號

SLa、SLb‧‧‧感測線路

Ssen、Ssen_1、Ssen_2、Ssen_n‧‧‧感測訊號

Sref‧‧‧選擇性參考訊號

Tdet‧‧‧預設期間

S201~S211‧‧‧本發明一實施例之電容式觸控面板的感測方法的各步驟

V1‧‧‧工作電壓

下面的所附圖式是本發明的說明書的一部分，繪示了本發明的示例實施例，所附圖式與說明書的描述一起說明本發明的原理。

圖1是依照本發明一實施例之觸控裝置的示意圖。

圖2是圖1的電容式觸控面板的感測方法的流程圖。

圖3是在初始化時調整感測訊號/選擇性參考訊號的示意圖。

圖4與圖5是圖1的感測電路的感測示意圖。

圖6是雜訊模型在峰對峰雜訊大小的常態分布圖。

圖7是局部放大圖6的雜訊模型的示意圖。

圖8是依照本發明另一實施例之觸控裝置的示意圖。

圖9是圖8的感測電路的感測示意圖。

S201~S211‧‧‧本發明一實施例之電容式觸控面板的感測方法的各步驟

Claims (20)

1. 一種電容式觸控面板的感測方法，包括：接收來自該電容式觸控面板的一感測訊號；在初始化時，調整該感測訊號的直流成份與一選擇性參考訊號間的大小關係固定處於一第一關係；在量測該感測訊號時，因應該感測訊號與該選擇性參考訊號間的大小關係處於該第一關係而產生一第一邏輯準位的比較訊號，因應該感測訊號與該選擇性參考訊號間的大小關係處於一第二關係則產生一第二邏輯準位的比較訊號；在一預設期間內計算出該第二邏輯準位的比較訊號與該第一邏輯準位的比較訊號的一時間比例值；以及根據該時間比例值判斷出對該電容式觸控面板之一觸碰事件是否發生。
2. 如申請專利範圍第1項所述之電容式觸控面板的感測方法，其中由一感測電路產生該選擇性參考訊號。
3. 如申請專利範圍第1項所述之電容式觸控面板的感測方法，更包括：提供一取樣訊號、一比較器與一可調整電容器，該比較器的一第一輸入端與一第二輸入端分別接收來自該電容式觸控面板的該感測訊號與該選擇性參考訊號。
4. 如申請專利範圍第3項所述之電容式觸控面板的感測方法，其中該可調整電容器的輸出端用於輸出該選擇性參考訊號且該可調整電容器的輸出端耦接在該第二輸入 端，或者該可調整電容器用於平衡該比較器之輸出而耦接於該第一輸入端或該第二輸入端。
5. 如申請專利範圍第4項所述之電容式觸控面板的感測方法，其中在初始化時調整該感測訊號大於該選擇性參考訊號的步驟包括：調整該可調整電容器的電容值，以使該感測訊號的準位高於該參考訊號的準位。
6. 如申請專利範圍第3項所述之電容式觸控面板的感測方法，其中該比較器的該第一輸入端與該第二輸入端分別為該比較器的反相輸入端與非反相輸入端，若該感測訊號小於該選擇性參考訊號，該比較器產生該第二邏輯準位的比較訊號，在該預設期間計數該第二邏輯準位的比較訊號所涵蓋該取樣訊號的一脈波次數即代表該時間比例值，其中該第二邏輯準位為邏輯高準位，該第一邏輯準位為邏輯低準位。
7. 如申請專利範圍第6項所述之電容式觸控面板的感測方法，其中該感測訊號的強度變化量與所計數的該脈波次數成比例。
8. 如申請專利範圍第6項所述之電容式觸控面板的感測方法，其中根據該時間比例值判斷出對該電容式觸控面板之一觸碰事件是否發生的步驟包括：設定一臨界次數值，用以根據該脈波次數是否大於該臨界次數值而決定是否發生一觸碰事件。
9. 一種電容式觸控面板的感測方法，包括： 接收來自該電容式觸控面板的多個感測訊號與一選擇性參考訊號；在初始化時調整每一該感測訊號大於該選擇性參考訊號；接收一取樣訊號；針對每一該感測訊號量測其強度，若該感測訊號小於該選擇性參考訊號，則產生至少一邏輯高準位的比較訊號；針對每一該至少一邏輯高準位的比較訊號，在每一該些感測訊號的取樣時若一預設期間所涵蓋的該取樣訊號的脈波數目幾乎多數位在邏輯高準位的區間，判斷該些感測訊號為系統雜訊。
10. 如申請專利範圍第9項所述之電容式觸控面板的感測方法，其中由一感測電路產生該選擇性參考訊號。
11. 一種感測電路，適用於一電容式觸控面板，該感測電路包括：一比較器，該比較器的一第一輸入端與一第二輸入端分別接收來自該電容式觸控面板的一感測訊號與一選擇性參考訊號；一可調整電容器，其輸出端用於輸出該選擇性參考訊號且該可調整電容器的輸出端耦接在該第二輸入端，或者該可調整電容器用於平衡該比較器之輸出而耦接於該第一輸入端或該第二輸入端；以及一控制電路，耦接該比較器的輸出；其中，在初始化時調整該可調整電容器的電容值或調 整該可調整電容器耦接處的一工作電壓而使該感測訊號的直流成份與該選擇性參考訊號間的大小關係固定處於一第一關係；其中，在量測該感測訊號時，該比較器因應該感測訊號與該選擇性參考訊號間的大小關係處於該第一關係而產生一第一邏輯準位的比較訊號，該比較器因應該感測訊號與該選擇性參考訊號間的大小關係處於一第二關係則產生一第二邏輯準位的比較訊號，在一預設期間內該控制電路計算出該第二邏輯準位的比較訊號與該第一邏輯準位的比較訊號的一時間比例值，並根據該時間比例值判斷出對該電容式觸控面板之一觸碰事件是否發生。
12. 如申請專利範圍第11項所述之感測電路，其中由該感測電路產生該選擇性參考訊號。
13. 如申請專利範圍第11項所述之感測電路，其中該比較器的該第一輸入端與該第二輸入端分別為該比較器的反相輸入端與非反相輸入端，若該感測訊號小於該選擇性參考訊號，該比較器產生該第二邏輯準位的比較訊號，在該預設期間計數該第二邏輯準位的比較訊號所涵蓋該取樣訊號的一脈波次數即代表該時間比例值，其中該第二邏輯準位為邏輯高準位，該第一邏輯準位為邏輯低準位。
14. 如申請專利範圍第11項所述之感測電路，其中該感測訊號的強度變化量與所計數的該脈波次數成比例。
15. 如申請專利範圍第11項所述之感測電路，其中該控制電路根據該脈波次數是否大於一臨界次數值來決定是 否發生一觸碰事件。
16. 一種觸控裝置，包括：一電容式觸控面板，具有多條感測線路以提供一感測訊號與一選擇性參考訊號；以及一感測電路，包括：一比較器，該比較器的一第一輸入端與一第二輸入端分別接收該感測訊號與該選擇性參考訊號；一可調整電容器，其輸出端用於輸出該選擇性參考訊號且該可調整電容器的輸出端耦接在該第二輸入端，或者該可調整電容器用於平衡該比較器之輸出而耦接於該第一輸入端或該第二輸入端；以及一控制電路，耦接該比較器的輸出；其中，在初始化時調整該感測訊號的直流成份與一選擇性參考訊號間的大小關係固定處於一第一關係；其中，在量測該感測訊號時，因應該感測訊號與該選擇性參考訊號間的大小關係處於該第一關係而產生一第一邏輯準位的比較訊號，因應該感測訊號與該選擇性參考訊號間的大小關係處於一第二關係則產生一第二邏輯準位的比較訊號，在一預設期間內計算出該第二邏輯準位的比較訊號與該第一邏輯準位的比較訊號的一時間比例值，並根據該時間比例值判斷出對該電容式觸控面板之一觸控動作是否發生。
17. 如申請專利範圍第16項所述之觸控裝置，其中由該感測電路產生該選擇性參考訊號。
18. 如申請專利範圍第16項所述之觸控裝置，其中該比較器的該第一輸入端與該第二輸入端分別為該比較器的反相輸入端與非反相輸入端，若該感測訊號小於該選擇性參考訊號，該比較器產生該第二邏輯準位的比較訊號，在該預設期間計數該第二邏輯準位的比較訊號所涵蓋該取樣訊號的一脈波次數即代表該時間比例值，其中該第二邏輯準位為邏輯高準位，該第一邏輯準位為邏輯低準位。
19. 如申請專利範圍第16項所述之觸控裝置，其中該感測訊號的強度變化量與所計數的該脈波次數成比例。
20. 如申請專利範圍第16項所述之觸控裝置，其中該控制電路根據該脈波次數是否大於一臨界次數值來決定是否發生一觸碰事件。