TWI381302B - 影像顯示系統、電容觸控面板及其電容量測裝置與方法 - Google Patents

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Description

影像顯示系統、電容觸控面板及其電容量測裝置與方法
本發明係有關於一種觸控面板，特別是有關於一種電容式觸控面板及其電容量測裝置與方法。
觸控面板(touch panel)的應用非常廣泛，例如自動櫃員機、銷售點終端機、工業控制系統等。隨著可攜式電子產品如智慧型手機及個人數位助理(PDA)的普及，觸控面板也提供對按鍵輸入不熟的使用者更方便的輸入方式，因此市場成長相當快速。
觸控面板可依其偵測觸控點的物理原理，主要分為電阻式(resistive)觸控面板及電容(capacitive)式觸控面板兩種。電阻式觸控面板係用手指或觸控筆輕按就會產生電壓；而電容式觸控面板係以手指接觸面板而吸取微小的電流方式操作。再者，電容式觸控面板又可分為表面電容式(surface capacitive)觸控面板及投射電容式(projected capacitive)觸控面板，其中投射電容式觸控面板由於可以達成多點觸控(Multi-Touch)功能，因此更為吸引業界競相研發。若將投射電容式觸控面板整合至液晶螢幕，以形成內嵌式多點觸控面板(In-Cell Multi-Touch Panel)，更可以維持原面板的薄度。在薄膜電晶體液晶顯示器(TFT LCD)中常用透明電極(ITO)鎖住保存電荷，同樣原理反向操作，這層ITO也可當感測器，並可提供高密度偵測。然而在TFT LCD中，由於TFT所導致的雜訊很大，因此電容感測控制電路相當重要。
參見第一圖，為一習知技術投射電容式觸控面板200A之示意圖，如圖所示，該投射電容式觸控面板200A包含一電容式觸控面板單元300A及一控制器30A。該電容式觸控面板單元300A具有一絕緣基底(未標號)、垂直方向之條狀電極32A、水平方向之條狀電極34A(，其中該條狀電極32A及條狀電極34A係呈90度夾角。第一圖僅為一簡化之示意圖，須知垂直條狀電極32A及水平條狀電極34A係在絕緣基底之不同平面上(如正面及反面)，且數目分別為M條及N條。因此控制器30A之輸入線路至少為(M+N)條。藉由垂直條狀電極32A及水平條狀電極34A捕捉電極之間的電容變化，控制器30A可感知在該電容式觸控面板單元300A上之一接觸位置。
參見第二圖，為一相關技術(related art)電容式觸控面板之感測電路100A，該感測電路100A例如可以內建於第一圖所示之控制器30A內，以藉由量測電容值變化而得知接觸位置。假設Cs是手指接觸第k條垂直條狀電極32A所產生的接觸電容，Cp為寄生電容(stray capacitance)，則該感測電路100A會先由一充電電流源Ic將電荷Q充至接觸電容Cs及寄生電容Cp。隨後該感測電路100A會先經由一較大的第一電流源20A放電，再經由一較小的第二電流源22A放電。由公式Q=C×V可知若因手指接觸電極造成電容C改變，則在連接點P之電壓也會改變，因此藉由一比較器50A比較連接點P之電壓(和一參考電壓比較)，即可知道手指是否接觸第k條電極條。
更詳細而言，若該控制器30A週期性地切換充電開關SW_C、第一放電開關SW_A、第二放電開關SW_B，則比較器50A輸出為脈寬會隨接觸與否而變化之脈寬調變(PWM)訊號。控制器30A藉由讀取感測電路100A之輸出PWM訊號，即可知道第k條垂直條狀電極32A是否有手指接觸及接觸位置。感測電路100A可依序選擇量測第一圖之垂直條狀電極32A及水平條狀電極34A，控制器30A即可知道在該些電極上的電容變化及在投射電容式觸控面板之接觸位置。
然而在上述之相關技術電容式觸控面板之感測電路100A有兩個缺點：
1.由於寄生電容Cp一般而言很大，約為觸控面板的接觸電容Cs之1000倍，因此若在寄生電容Cp上有雜訊，則會影響偵測精確度。再者，當該投射電容式觸控面板使用於液晶顯示器時，由於液晶顯示器上板上的ITO電極(形成電極條)及直流共同電壓(DCVCOM)電極很接近，因此會使寄生電容Cp變大，造成接觸電容Cs量測困難。此外，位在下板上的感測電路100A常會有很大的雜訊耦合到上板的寄生電容Cp，造成量測錯誤。
2.由於對於M條垂直條狀電極32A及N條水平條狀電極34A需要(M+N)條訊號線導引到感測電路100A，因此配線較為複雜。
因此本發明之一目的即在提供一種可降低雜訊之電容式觸控面板之電容量測裝置。
因此本發明之另一目的即在提供一種可降低雜訊之電容式觸控面板。
為了達成上述目的，本發明提供一種電容式觸控面板之電容量測裝置，該電容量測裝置包含：一第一放電電流源，電連接到該連接點以提供一第一放電電流；一第二放電電流源，電連接到該連接點以提供一第二放電電流，其中該第一放電電流大於該第二放電電流；一差動比較器具有一第一輸入端及一第二輸入端，該第一輸入端電連接到該連接點；一參考電壓源，電連接到該第二輸入端，該參考電壓源接收一參考電壓及一液晶顯示器之直流共同電壓(DCVCOM)以產生與該直流共同電壓相關之一修正參考電壓，其中該液晶顯示器之直流共同電壓亦電連接到該觸控面板。該差動比較器比對該連接點上之一輸入電壓及該修正參考電壓以產生代表該接觸電容值之一脈寬調變訊號，藉此可降低在直流共同電壓上的雜訊干擾。
為了達成上述目的，本發明提供一種電容式觸控面板，包含：在縱方向具有第一數目M之第一電極；在橫方向具有第二數目N之第二電極；及一電容量測裝置。該電容量測裝置包含：一第一放電電流源，電連接到該連接點以提供一第一放電電流；一第二放電電流源，電連接到該連接點以提供一第二放電電流，其中該第一放電電流大於該第二放電電流；一差動比較器具有一第一輸入端及一第二輸入端，該第一輸入端電連接到該連接點；一參考電壓源，電連接到該第二輸入端，該參考電壓源接收一參考電壓及一液晶顯示器之直流共同電壓(DCVCOM)以產生與該直流共同電壓相關之一修正參考電壓，其中該直流共同電壓亦電連接到該觸控面板。該差動比較器比對該連接點上之一輸入電壓及該修正參考電壓以產生代表該接觸電容值之一脈寬調變訊號，藉此可降低在直流共同電壓上的雜訊干擾。
再者依據本發明之一較佳具體實例，該電容式觸控面板更具有一多工器，具有對應該些第一電極及該些第二電極之多數開關，且產生第三數目之控制訊號，其中該第三數目為該第一數目及該第二數目較大者加上一。該多工器藉由該些控制訊號控制該些開關，以選擇該些第一電極及該些第二電極其中之一電連接到該電容量測裝置，以量測被選擇電極之接觸電容，藉此可以降低訊號線數目。
請參見第三圖，為依據本發明一較佳具體實例之電容式觸控面板之電容量測裝置100之電路圖，該電容量測裝置100可以配合一多工器10使用，以選擇性地量測如第一圖所示之投射電容式觸控面板單元300A上之某一電極之接觸電容Cs(詳見後述)。為了簡化說明，部份類似的元件使用與第一圖及第二圖類似的圖號，雖未見於圖面，但是須知多工器10及該電容量測裝置100係受到一控制器(未圖示)所控制，以進行電極選擇、提供操作時脈及判讀接觸位置工作。
如第三圖所示，該電容量測裝置100包含一差動比較器50、分別接於差動比較器50的第一輸入端(例如為非反相輸入端V+)及第二輸入端(例如為反相輸入端V-)之第一低通濾波器40及第二低通濾波器42、接於第二低通濾波器42之參考電壓源30、與第一低通濾波器40及該多工器10之接點P電連接之充電電流源Ic、第一放電電流源20(提供第一放電電流IL )、第二放電電流源22(提供第二放電電流IS )。再者該充電電流源Ic、該第一放電電流源20及該第二放電電流源22分別由充電開關SW_C、第一放電開關SW_A、及第二放電開關SW_B所切換控制。該比較器50之輸出係連接至一輸出緩衝器60，以進一步連到控制器分析。
第四圖A所示為該多工器10之一方塊圖，該多工器10可用於如第一圖所示之投射電容式觸控面板單元300A，因此第四圖A亦包含投射電容式觸控面板單元300A以利說明。該多工器10包含對應M條垂直(縱方向)條狀電極32A之M組開關SX1-SXM及對應於N條水平(橫方向)條狀電極34A之N組開關SY1-SYN。假設M＞N，則多工器10僅需M+1組控制訊號即可控制M組X方向開關SX1-SXM及N組Y方向開關SY1-SYN。更詳細而言，若多工器10要選擇第k組X方向開關，以將第k條電極訊號輸出至連接點P，則多工器10可由XY控制訊號SWXY選擇X方向開關，再藉由開關控制訊號SW1-SWM來選擇第k組X方向電極輸出至連接點P，且將其餘未被選擇之電極接地。再者，若多工器10要選擇第k組Y方向開關，以將第k條電極訊號輸出至連接點P，則多工器10可由XY控制訊號SWXY選擇Y方向開關，再藉由開關控制訊號SW1-SWN來選擇第k組Y方向電極輸出至連接點P，且將其餘未被選擇之電極接地。因此該多工器10僅需要1+Max(M,N)條訊號線(在此範例為1+M,因為M>N)及(M+N)組開關即可控制M組X方向開關SX1-SXM及N組Y方向開關SY1-SYN，大幅減少訊號線使用數目。
第四圖B所示為該多工器10之部份電路圖，主要為對應M組X方向開關SX1-SXM之電路，而對應N組Y方向開關SY1-SYN之電路也可依此類推。如該圖所示，每一開關包含四個電晶體，且藉由控制訊號SWk(k=1..M)及SWXY選擇性地將該些開關接到連接點P或是接地。更具體而言，每一開關(SX1-SXM,SY1-SYN)具有四個電晶體，且其中兩個電晶體串接於連接點P及一電極(X1-XM)之間，另兩個電晶體並接於一接地及電極(X1-XM)之間。
參見第五圖，為依據本發明一較佳具體實例之電容量測裝置100所使用之參考電壓源30之電路圖。該參考電壓源30包含一參考電壓Vref、一直流共同電壓(DCVCOM)、五個分別受到第一時脈及第二時脈控制之切換開關電容C11,C12,C13,C21,C22、及一個儲存電容Cx。參見第九圖，該第一時脈CLK1及第二時脈CLK2為彼此在時間上不重疊之時脈，在第一時脈CLK1導通(第二時脈CLK2關閉)時，第一切換開關電容C11,C12,C13係閉合而第二切換開關電容C21,C22係打開，因此參考電壓Vref可以儲存在儲存電容Cx內。在第二時脈CLK2導通(第一時脈CLK1關閉)時，第二切換開關電容C21,C22閉合而第一切換開關電容C11,C12,C13打開，因此可將參考電壓Vref與直流共同電壓(DCVCOM)疊加(superimposed)產生一修正參考電壓Vref’，該修正參考電壓Vref’送至送至差動比較器50之第二輸入端處理。若直流共同電壓(DCVCOM)有雜訊，參考第三圖，雜訊也會由寄生電容Cp而耦合至差動比較器50之第一輸入端。藉由本發明之參考電壓源30，由於修正參考電壓Vref’也有來自於直流共同電壓(DCVCOM)之疊加成份，因此可以藉由差動方式消除雜訊，增加量測精密度。在該電容式觸控面板用於液晶顯示器之觸控面板時，該參考電壓源30可以消除來自直流共同電壓的雜訊。更具體而言，在液晶顯示器中，須藉由調整直流共同電壓(DCVCOM)來減少閃爍現象，且上下板之共同電壓之共電極(common electrode)係藉由陣列外的導電金膠連接。由於電容式觸控面板用於液晶顯示器之觸控面板時係位於上板，因此電容式觸控面板之電容量測裝置須克服來自下板且透過共電極耦合至上板之雜訊；藉由產生疊加有直流共同電壓(DCVCOM)雜訊之修正參考電壓Vref’及差動比較，即可降低來自下板的雜訊干擾。
參見第六圖，為依據本發明一較佳具體實例之電容量測裝置100所使用之第一放電電流源20之電路圖。該第一放電電流源20包含一個輸入TFT電晶體及六個薄膜電晶體(TFT)對(A-F)，以提供一個在連接點P電壓由-5V到7V(或是更大)變化時皆可提供大放電電電流之電流源。在連接點P電壓為-5V時，六個TFT電晶體對(A-F)係在飽和區域操作，若連接點P電壓由-5V變化到7V時，TFT電晶體對(F-B)會逐一進入線性區域；然而VDDD電壓及連接點P之壓降係落在TFT電晶體對A上，因此TFT電晶體對A仍操作在飽和模式，且提供一定電流。藉由連接點P電壓變化時皆可提供大放電電電流之電流源。
參見第七圖，為依據本發明一較佳具體實例之電容量測裝置100所使用之差動比較器50之電路圖。該差動比較器50包含7個電晶體Q1-Q7，其中正電壓VDDA連接至電晶體Q1-Q3，Q5閘極提供第一輸入端，Q4閘極提供第二輸入端。電晶體Q6-Q7連接到參考偏壓Vb及負電壓VSSA以提供偏壓基準。電晶體Q3及Q7之接點則提供差動比較器50之輸出，藉此提供一比較輸入電壓Vin及修正參考電壓Vref’之差動比較器。
參見第八圖，為依據本發明一較佳具體實例之電容量測裝置100所使用之第一低通濾波器40之電路圖。習知之低通濾波器例如可為電阻-電容電路(RC電路)，且負載端接於電容上，本發明之第一低通濾波器40包含三個串接之RC電路，且每一串接級(stage)之電阻值為原先單一RC低通濾波器之1/3，而電容值也為原先低通濾波器之1/3，這樣即可降低低通截止頻率，有效抑制雜訊。依據發明人之分析，若串接之RC電路超過四級，則會使濾波波形變差。再者，第二低通濾波器42亦可採取與第一低通濾波器40相同之多級實現方式，以有效降低雜訊。
參見第九圖，為說明本發明一較佳具體實例之電容量測裝置100操作之波形圖，圖中所示波形為對於一電極之完整偵測過程。同時參考第三圖及第九圖，首先控制器控制預充電開關SW_C將來自充電電流源Ic之充電電流對接觸電容Cs及寄生電容Cp充電。隨後控制器分別控制第一充電開關SW_A及第二充電開關SW_B。而將接觸電容Cs及寄生電容Cp的電荷分別由較大的第一電流源20(提供電流IL )放電及較小的第二電流源22(提供電流IS )放電。在較小的第二電流源22放電階段，控制器可控制第一時脈CLK1及第二時脈CLK2，以產生參考電壓源30之修正參考電壓Vref’。差動比較器50比較修正參考電壓Vref’及來自接觸電容Cs及寄生電容Cp的輸入訊號Vin，即可產生脈寬調變(PWM)輸出訊號(Vout)。控制器可以判斷PWM輸出訊號之脈寬以判斷電容變化。因此配合第四圖A及第四圖B所示，當多工器10藉由控制訊號SWXY選擇X或是Y方向開關，再藉由控制訊號SW1-SWM來選擇特定之電極輸出至連接點P，且將其餘未被選擇之電極接地；控制器即可由PWM輸出訊號之脈寬以判斷電容變化，進而判斷接觸位置。再者，控制器可在該第二放電電流放電期間，比對該修正參考電壓及該輸入電壓，以產生多個脈寬調變訊號，且由該些脈寬調變訊號之平均值判斷該接觸電容。
參見第十圖，為說明使用電容式觸控面板之電容量測裝置進行之電容量測方法流程圖，其中該電容量測方法係量測該電容式觸控面板之一電極之一接觸電容Cs。該電容量測方法首先經由一連接點P對於該電極預充電後，對該電極以一第一放電電流放電，其中該第一放電電流可以由第六圖所示之第一放電電流源20提供(S100)。隨後對該電極以一第二放電電流放電，其中該第一放電電流大於該第二放電電流(S102)。該電容量測方法接著提供一修正參考電壓Vref’，該修正參考電壓Vref’為一參考電壓Vref及一直流共同電壓(DCVCOM)之疊加結果，且該直流共同電壓(DCVCOM)亦電連接到該觸控面板(S104)。最後，在該第二放電電流放電期間，比對該修正參考電壓Vref’及在該連接點P上之一輸入電壓Vin，以判斷該接觸電容之數值(S106)。
再者，在上述的步驟S104時，該修正參考電壓Vref’可由第五圖所示之參考電壓源30提供。該參考電壓源30包含複數第一切換開關電容C11,C12,C13、複數第二切換開關電容C21,C22及一儲存電容Cx，其中該些第一切換開關電容C11,C12,C13及該些第二切換開關電容C21,C22由時間不重疊之時脈(CLK1,CLK2)輪流切換，以使該參考電壓Vref與該直流共同電壓(DCVCOM)疊加以產生該修正參考電壓Vref’。相同地，配合第三圖及第八圖，該修正參考電壓Vref’及該輸入電壓Vin可在比對前先做低通濾波處理，其中低通濾波處理係由複數之串接電阻一電容電路進行。再者，在上述的步驟S104中，在該第二放電電流放電期間，可持續比對該修正參考電壓Vref’及該輸入電壓，以產生多個脈寬調變訊號，且由該些脈寬調變訊號之平均值判斷該接觸電容。
參見第十一圖，為依據本發明另一具體實例之影像顯示系統500之方塊示意圖。該影像顯示系統500包含一顯示模組300，其中該顯示模組300具有一電容式觸控面板200(例如第四圖A所示的電容式觸控面板200A)，其中本發明第三圖、第四圖A及第四圖B所示電容量測裝置100及多工器10，可設置於電容式觸控面板200上或設置於電容式觸控面板200外。一輸入模組400耦接至顯示模組300，以將包含影像訊號之輸入訊號顯示模組300，經處理後顯示影像。該顯示模組300可為一液晶顯示模組或是一有機電激發光(OLED)顯示模組。該影像顯示系統500例如可為一個人數位助理(personal digital assistant,PDA)、一顯示器(display)、一筆記型電腦(notebook computer)、一數位相機(digital camera)、一車用顯示器(car display)、一平板電腦(panel computer)、一電視(television)、一全球定位系統(global positioning system,GPS)、一航空用顯示器(avionics display)、一數位像框(digital photo frame)、一可攜式DVD放影機(portable DVD player)或一行動電話(mobile phone)或其他可攜式電子裝置。
本發明之電容式觸控面板及其電容量測裝置與方法以參考電流源產生之修正參考電壓以疊加雜訊，再由差動比較以去除雜訊，可增加比對精確度。再者，本發明之電容量測裝置提供一個有穩定電壓之第一放電電流源，可以提升比對解析度。
綜上所述，本發明已具有產業利用性、新穎性與進步性，又本發明之構造亦未曾見於同類產品及公開使用，完全符合發明專利申請要件，爰依專利法提出申請。
 【習知】
200A．．．觸控面板
300A．．．觸控面板單元
30A．．．控制器
32A、34A．．．條狀電極
【相關技術】
100A．．．感測電路
Ic．．．充電電流源
20A．．．第一電流源
22A．．．第二電流源
【本發明】
10．．．多工器
100．．．電容量測裝置
Ic．．．充電電流源
20．．．第一放電電流源
22．．．第二放電電流源
30．．．參考電壓源
40．．．第一低通濾波器
42．．．第二低通濾波器
50．．．差動比較器
60．．．輸出緩衝器
SW_C．．．充電開關
SW_A．．．第一放電開關
SW_B．．．第二放電開關
SX1-SXM．．．X方向開關
SY1-SYN．．．Y方向開關
SWXY．．．XY控制訊號
SW1-SWM．．．開關控制訊號
X1-XM．．．電極
C11,C12,C13．．．第一切換開關電容
C21,C22．．．第二切換開關電容
Cx．．．儲存電容
A-F．．．薄膜電晶體對
Q1-Q7．．．電晶體
200．．．電容式觸控面板
300．．．顯示模組
400．．．輸入模組
500．．．影像顯示系統
S100-S106．．．步驟
第一圖為一習知技術投射電容式觸控面板之示意圖。
第二圖為一相關技術(related art)電容式觸控面板之感測電路電路圖。
第三圖為依據本發明一較佳具體實例之電容式觸控面板之電容量測裝置之電路圖。
第四圖A所示為本發明多工器之一方塊圖。
第四圖B所示為第四圖A中多工器之部份電路圖。
第五圖為依據本發明較佳具體實例之參考電壓源之電路圖。
第六圖為依據本發明較佳具體實例之第一放電電流源之電路圖。
第七圖為依據本發明較佳具體實例之差動比較器之電路圖。
第八圖為依據本發明較佳具體實例之第一低通濾波器之電路圖。
第九圖為說明本發明較佳具體實例之電容量測裝置操作波形圖。
第十圖為說明本發明之電容量測方法流程圖。
第十一圖為依據本發明另一具體實例之影像顯示系統之方塊示意圖。
10．．．多工器
100．．．電容量測裝置
Ic．．．充電電流源
20．．．第一放電電流源
22．．．第二放電電流源
30．．．參考電壓源
40．．．第一低通濾波器
42．．．第二低通濾波器
50．．．差動比較器
60．．．輸出緩衝器
SW_C．．．充電開關
SW_A．．．第一放電開關
SW_B．．．第二放電開關

Claims (22)

  1. 一種電容式觸控面板之電容量測裝置，該電容量測裝置經由一連接點而電連接到該電容式觸控面板之一電極以量測該電極之接觸電容，該電容量測裝置包含：一第一放電電流源，電連接到該連接點以提供一第一放電電流；一第二放電電流源，電連接到該連接點以提供一第二放電電流，其中該第一放電電流大於該第二放電電流；一差動比較器具有一第一輸入端及一第二輸入端，該第一輸入端電連接到該連接點；一參考電壓源，電連接到該第二輸入端，該參考電壓源接收一參考電壓及一液晶顯示器之直流共同電壓以產生與該直流共同電壓相關之一修正參考電壓，其中該直流共同電壓亦電連接到該觸控面板；該差動比較器比對該連接點上之一輸入電壓及該修正參考電壓以產生代表該接觸電容值之一脈寬調變訊號。
  2. 如申請專利範圍第1項之電容量測裝置，其中該參考電壓源包含電連接於該參考電壓與該直流共同電壓之複數第一切換開關電容、複數第二切換開關電容及一儲存電容，其中該些第一切換開關電容及該些第二切換開關電容由時間不重疊之時脈輪流切換，以使該參考電壓與該直流共同電壓疊加以產生該修正參考電壓。
  3. 如申請專利範圍第2項之電容量測裝置，其中該第一切換開關 電容之數目為3個，且該第二切換開關電容之數目為2個。
  4. 如申請專利範圍第1項之電容量測裝置，其中該第一放電電流源包含複數串接之薄膜電晶體對，以在該連接點電壓變化時提供固定之該第一放電電流。
  5. 如申請專利範圍第1項之電容量測裝置，更包含電連接於該連接點及該第一輸入端間之一第一低通濾波器，及電連接於該第二輸入端及該參考電壓源間之一第二低通濾波器。
  6. 如申請專利範圍第5項之電容量測裝置，其中該第一低通濾波器及該第二低通濾波器分別包含複數之串接電阻-電容電路。
  7. 一種電容式觸控面板之電容量測方法，該電容量測方法量測該電容式觸控面板之一電極之一接觸電容，該電容量測方法包含：a.經由一連接點對於該電極預充電後，對該電極以一第一放電電流放電；b.對該電極以一第二放電電流放電，其中該第一放電電流大於該第二放電電流；c.提供一修正參考電壓，該修正參考電壓為一參考電壓及一直流共同電壓之疊加結果，且該直流共同電壓亦電連接到該觸控面板；及d.在該第二放電電流放電期間，比對該修正參考電壓及在該連接點上之一輸入電壓，以判斷該接觸電容。
  8. 如申請專利範圍第7項之電容量測方法，其中在步驟c中更包 含：提供複數第一切換開關電容、複數第二切換開關電容及一儲存電容，其中該些第一切換開關電容及該些第二切換開關電容由時間不重疊之時脈輪流切換，以使該參考電壓與該直流共同電壓疊加以產生該修正參考電壓。
  9. 如申請專利範圍第7項之電容量測方法，其中在步驟d中更包含：分別對於該修正參考電壓及該輸入電壓做低通濾波處理。
  10. 如申請專利範圍第9項之電容量測方法，其中在步驟d中之低通濾波處理係由複數之串接電阻-電容電路進行。
  11. 如申請專利範圍7項之電容量測方法，其中在步驟d中更包含：在該第二放電電流放電期間，比對該修正參考電壓及該輸入電壓，以產生多個脈寬調變訊號，且由該些脈寬調變訊號之平均值判斷該接觸電容。
  12. 一種電容式觸控面板，包含：在縱方向具有第一數目M之第一電極；在橫方向具有第二數目N之第二電極；一電容量測裝置經由一連接點而電連接到該些第一電極及第二電極其中之一待量測電極，以量測該待量測電極之接觸電容，該電容量 測裝置包含：一第一放電電流源，電連接到該連接點以提供一第一放電電流；一第二放電電流源，電連接到該連接點以提供一第二放電電流，其中該第一放電電流大於該第二放電電流；一差動比較器具有一第一輸入端及一第二輸入端，該第一輸入端電連接到該連接點；一參考電壓源，電連接到該第二輸入端，該參考電壓源接收一參考電壓及一液晶顯示器之直流共同電壓以產生與該直流共同電壓相關之一修正參考電壓，其中該直流共同電壓亦電連接到該觸控面板；其中該差動比較器比對該連接點上之一輸入電壓及該修正參考電壓以產生代表該接觸電容值之一脈寬調變訊號。
  13. 如申請專利範圍第12項之電容式觸控面板，其中更包含一多工器，具有對應該些第一電極及該些第二電極之複數開關，且產生第三數目之控制訊號，其中該第三數目為M及N較大者加上一；其中該多工器藉由該些控制訊號控制該些開關，以選擇該些第一電極及該些第二電極其中之一電連接到該電容量測裝置，以量測被選擇電極之接觸電容；其中該些控制訊號包含一XY控制訊號及數目為M及N中較大者之開關控制訊號，其中該XY控制訊號電連接至每一開關以選擇縱方向之該些第一電極或是橫方向之該些第二電極處理；該些開關控制訊 號電連接至對應之開關以選取該些第一電極及該些第二電極其中之一處理，其中至少部份對應該些第一電極及該些第二電極之複數開關共用部份該些開關控制訊號。
  14. 如申請專利範圍第13項之電容式觸控面板，其中每一開關具有四個電晶體，且其中兩個電晶體串接於該電容量測裝置及該些第一電極或該些第二電極其中之一之間，另兩個電晶體並接於一接地及該第一電極或該第二電極之間。
  15. 如申請專利範圍第13項之電容式觸控面板，其中M及N為大於一之整數。
  16. 如申請專利範圍第12項之電容式觸控面板，其中該參考電壓源包含電連接於該參考電壓與該直流共同電壓之複數第一切換開關電容、複數第二切換開關電容及一儲存電容，其中該些第一切換開關電容及該些第二切換開關電容由時間不重疊之時脈輪流切換，以使該參考電壓與該直流共同電壓疊加以產生該修正參考電壓。
  17. 如申請專利範圍第16項之電容式觸控面板，其中該第一切換開關電容之數目為3個，且該第二切換開關電容之數目為2個。
  18. 如申請專利範圍第12項之電容式觸控面板，其中該第一放電電流源包含複數串接之薄膜電晶體對，以在該連接點電壓變化時提供固定之該第一放電電流。
  19. 如申請專利範圍第12項之電容式觸控面板，更包含電連接於該 連接點及該第一輸入端間之一第一低通濾波器，及電連接於該第二輸入端及該參考電壓源間之一第二低通濾波器。
  20. 如申請專利範圍第19項之電容式觸控面板，其中該第一低通濾波器及該第二低通濾波器分別包含複數之串接電阻-電容電路。
  21. 一種影像顯示系統，包括：一顯示模組，具有如申請專利範圍第12項所述之電容式觸控面板；以及一輸入模組，耦接至該顯示模組以將輸入訊號送至該顯示模組，以使該顯示模組顯示影像。
  22. 如申請專利範圍第21項之影像顯示系統，其中該影像顯示系統為一個人數位助理、一顯示器、一筆記型電腦、一數位相機、一車用顯示器、一平板電腦、一電視、一全球定位系統、一航空用顯示器、一數位像框、一可攜式DVD放影機(portable DVD)或一行動電話。
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