CN107561752B

CN107561752B - 一种阵列基板、其驱动方法及显示面板

Info

Publication number: CN107561752B
Application number: CN201710917672.2A
Authority: CN
Inventors: 王亚杰; 俞舟
Original assignee: Shanghai Tianma Microelectronics Co Ltd
Current assignee: Shanghai Tianma Microelectronics Co Ltd
Priority date: 2017-09-28
Filing date: 2017-09-28
Publication date: 2020-04-10
Anticipated expiration: 2037-09-28
Also published as: CN107561752A

Abstract

本发明公开了一种阵列基板、其驱动方法及显示面板，通过将各测试开关的控制端全部与位于非显示区的第二类管脚短接，在扫描阶段，集成电路通过第二类管脚向各测试开关的控制端输入控制信号以控制各测试开关关闭，使各测试开关与数据线断开以避免对数据线的正常工作产生干扰；在扫描空白阶段，集成电路通过第二类管脚向各测试开关的控制端输入控制信号以控制各测试开关开启以实现消除残留在数据线中的电荷，解决了由于残留大量电荷而影响显示面板的画面显示效果的问题，且可以提高充电效率，降低功耗；并且只需将各测试开关的控制端均与第二类管脚短接即可实现控制各测试开关的开启与关闭，因此实现消除数据线上的残留电荷的方法更加简单。

Description

一种阵列基板、其驱动方法及显示面板

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种阵列基板、其驱动方法及显示面板。

背景技术

显示面板在制造的过程中需要不断地对数据线等进行测试以保证显示面板的质量和性能。现有的一种测试方法是在制造阵列基板的同时，在阵列基板周围形成测试电路，通过测试电路对需要测试的线路进行测试，然后在测试完成后，将测试电路去除，继续进行后续的制造过程。但是在数据线完成测试后和显示面板工作的过程中，由于数据线上还残留大量的电荷，因此会影响显示面板的显示效果。

因此，如何消除数据线上残留的电荷是本领域技术人员亟需解决的技术问题。

发明内容

本发明实施例提供一种阵列基板、其驱动方法及显示面板，用以解决现有技术中由于残留大量电荷而影响显示面板的画面显示效果的问题。

本发明实施例提供的一种阵列基板，包括显示区和非显示区；其中，所述显示区包括多条数据线，所述非显示区包括多个管脚、多个测试开关、多个测试端、测试开关接口以及集成电路；其中，与所述数据线电连接的所述管脚为第一类管脚，未与所述数据线电连接的所述管脚为第二类管脚，且各所述第一类管脚还与对应的各所述测试开关的第一端以及所述集成电路相连，所述测试开关的第二端与所述测试端对应相连，各所述第二类管脚均与所述集成电路相连，各所述测试开关的控制端均与所述测试开关接口相连，且至少一个所述第二类管脚与所述测试开关接口相连；

所述集成电路用于通过所述第一类管脚向所述数据线输入数据信号，以及通过与所述测试开关接口相连的所述第二类管脚向各所述测试开关的控制端输入控制信号；各所述测试开关用于在所述阵列基板的扫描阶段，在所述控制信号的控制下全部关闭以断开各所述测试开关与所述数据线的电连接，以及用于在所述阵列基板的扫描空白阶段，在所述控制信号的控制下全部开启以对所述数据线进行放电。

相应地，本发明实施例还提供了一种显示面板，包括本发明实施例提供的上述阵列基板。

相应地，本发明实施例还提供了一种阵列基板的驱动方法，包括：

扫描阶段，所述集成电路通过所述第一类管脚向所述数据线输入数据信号，以及通过与所述测试开关接口相连的所述第二类管脚向各所述测试开关的控制端输入控制信号；各所述测试开关在所述控制信号的控制下全部关闭以断开各所述测试开关与所述数据线的电连接；

扫描空白阶段，所述集成电路通过与所述测试开关接口相连的所述第二类管脚向各所述测试开关的控制端输入控制信号；各所述测试开关在所述控制信号的控制下全部开启以对所述数据线进行放电。

本发明的有益效果如下：

本发明实施例提供的阵列基板、其驱动方法及显示面板，阵列基板包括显示区和非显示区；其中，显示区包括多条数据线，非显示区包括多个管脚、多个测试开关、多个测试端、测试开关接口以及集成电路；集成电路用于通过第一类管脚向数据线输入数据信号，以及通过与测试开关接口相连的第二类管脚向各测试开关的控制端输入控制信号；各测试开关用于在阵列基板的扫描阶段，在控制信号的控制下全部关闭以断开各测试开关与数据线的电连接，以及用于在阵列基板的扫描空白阶段，在控制信号的控制下全部开启以对所述数据线进行放电。本发明通过将各测试开关的控制端全部与位于非显示区的第二类管脚短接，在扫描阶段，集成电路通过与所述测试开关接口相连的第二类管脚向各测试开关的控制端输入控制信号以控制各测试开关全部关闭，使各测试开关与数据线断开，从而避免各测试开关对数据线的正常工作产生干扰；在扫描空白阶段，集成电路通过与所述测试开关接口相连的第二类管脚向各测试开关的控制端输入控制信号以控制各测试开关全部开启，从而可以实现消除残留在数据线中的电荷，因此本发明解决了由于残留大量电荷而影响显示面板的画面显示效果的问题，且消除数据线上的残留电荷，可以提高充电效率，从而降低显示面板的功耗；并且本发明只需将各测试开关的控制端均与第二类管脚短接，通过集成电路向第二类管脚输入控制信号即可实现控制各测试开关的开启与关闭，因此实现消除数据线上的残留电荷的方法更加简单。

附图说明

图1为现有的一种显示面板的测试电路的结构示意图；

图2为图1对应的显示面板的测试电路的时序图；

图3为本发明实施例提供的一种阵列基板的结构示意图之一；

图4为本发明实施例提供的一种阵列基板的结构示意图之二；

图5为本发明实施例提供的一种阵列基板的结构示意图之三；

图6为图5对应的阵列基板的时序图；

图7为本发明实施例提供的一种阵列基板的结构示意图之四；

图8为本发明实施例提供的一种阵列基板的驱动方法流程图。

具体实施方式

为了使本发明的目的，技术方案和优点更加清楚，下面结合附图，对本发明实施例提供的阵列基板、其驱动方法及显示面板的具体实施方式进行详细地说明。

附图中各层薄膜厚度和形状不反映阵列基板的真实比例，目的只是示意说明本发明内容。

现有的显示面板在完成测试后，数据线中会残留大量电荷，影响画面的显示效果。现有的显示面板的测试电路的结构如图1所示，包括多条数据线S1、S2、S3…S(n-2)、S(n-1)、Sn，多条扫描线G1、G2、G3、G4…G(n-1)、Gn，与各扫描线G1、G2、G3、G4…G(n-1)、Gn对应相连的多个移位寄存单元ASG1、ASG2、ASG3、ASG4…ASG(n-1)、ASGn，多个管脚01、多个测试开关02、多个测试端03以及集成电路(图中未示出)，集成电路用于与多个管脚01进行绑定并通过各个管脚01输入信号；各数据线S1、S2、S3…S(n-2)、S(n-1)、Sn与各管脚01对应相连，与各数据线S1、S2、S3…S(n-2)、S(n-1)、Sn相连的各管脚01还与各测试开关02的第一端对应相连，各测试开关02的第二端与各测试端03对应相连，各测试开关02的控制端均与测试开关接口SW相连。在测试阶段，测试开关接口SW端接入的控制信号C为高电位信号，所有的测试开关02均打开，各数据线S1、S2、S3…S(n-2)、S(n-1)、Sn通过各测试端03给像素充电。但是在扫描阶段和扫描空白阶段，测试开关接口SW端接入的的控制信号C一直是低电位信号，所有的测试开关02均关闭，空白阶段是在上一帧信号与下一帧信号之间的空白时段，对应的时序图如图2所示，还包括该显示面板的相应的行同步信号Hsync、触发信号STV、复位信号RESET、控制显示面板的各个时钟信号CLK1和CLK2(以两个时钟信号为例)以及各数据线S1、S2、S3…S(n-2)、S(n-1)、Sn的数据输出信号Source Output的时序图，从时序图可以看出，显示面板测试完成后，在显示阶段和空白阶段，测试开关接口SW端接入的控制信号C始终为低，因此所有的测试开关02均关闭，由于在正常显示时，数据线S1、S2、S3…S(n-2)、S(n-1)、Sn上有耦合电容，每次送完数据信号，数据线S1、S2、S3…S(n-2)、S(n-1)、Sn上的电荷不能全部释放，导致大量电荷只能残留在数据线S1、S2、S3…S(n-2)、S(n-1)、Sn中，电荷过多积累会出现残影现象，若断电之后再上电又会出现帧间闪烁的问题，影响显示效果。

基于此，为了解决现有技术中存在的上述问题，本发明实施例提供了一种阵列基板，如图3所示，包括显示区A和非显示区B；其中，显示区A包括多条数据线S1、S2、S3…S(n-2)、S(n-1)、Sn，多条扫描线G1、G2、G3、G4…G(n-1)、Gn，非显示区B包括多个管脚01、多个测试开关02、多个测试端03、测试开关接口SW、集成电路、以及与各扫描线G1、G2、G3、G4…G(n-1)、Gn对应相连的多个移位寄存单元ASG1、ASG2、ASG3、ASG4…ASG(n-1)、ASGn；其中，与数据线S1、S2、S3…S(n-2)、S(n-1)、Sn电连接的管脚01为第一类管脚011，未与数据线S1、S2、S3…S(n-2)、S(n-1)、Sn电连接的管脚01为第二类管脚012，且各第一类管脚011还与对应的各测试开关02的第一端以及集成电路相连，测试开关02的第二端与测试端03对应相连，各第二类管脚012均与集成电路相连，各测试开关02的控制端均与测试开关接口SW相连，且至少一个第二类管脚012(图中以一个为例)与测试开关接口SW相连；

集成电路用于通过第一类管脚011向数据线S1、S2、S3…S(n-2)、S(n-1)、Sn输入数据信号，以及通过与测试开关接口SW相连的第二类管脚012向各测试开关02的控制端输入控制信号C，通过集成电路控制控制信号C在阵列基板的扫描阶段为低电位信号，在阵列基板的扫描空白阶段为高电位信号，对应的时序图如图6所示，因此各测试开关02用于在阵列基板的扫描阶段，在控制信号C的控制下全部关闭以断开各测试开关02与数据线S1、S2、S3、S4、S5、S6…的电连接，以及用于在阵列基板的扫描空白阶段，在控制信号C的控制下全部开启以对数据线S1、S2、S3…S(n-2)、S(n-1)、Sn进行放电。

本发明实施例提供的阵列基板，包括显示区和非显示区；其中，显示区包括多条数据线，非显示区包括多个管脚、多个测试开关、多个测试端、测试开关接口以及集成电路；集成电路用于通过第一类管脚向数据线输入数据信号，以及通过与测试开关接口相连的第二类管脚向各测试开关的控制端输入控制信号；各测试开关用于在阵列基板的扫描阶段，在控制信号的控制下全部关闭以断开各测试开关与数据线的电连接，以及用于在阵列基板的扫描空白阶段，在控制信号的控制下全部开启以对所述数据线进行放电。本发明通过将各测试开关的控制端全部与位于非显示区的第二类管脚短接，在扫描阶段，集成电路通过与所述测试开关接口相连的第二类管脚向各测试开关的控制端输入控制信号以控制各测试开关全部关闭，使各测试开关与数据线断开，从而避免各测试开关对数据线的正常工作产生干扰；在扫描空白阶段，集成电路通过与所述测试开关接口相连的第二类管脚向各测试开关的控制端输入控制信号以控制各测试开关全部开启，从而可以实现消除残留在数据线中的电荷，因此本发明解决了由于残留大量电荷而影响显示面板的画面显示效果的问题，且消除数据线上的残留电荷，可以提高充电效率，从而降低显示面板的功耗；并且本发明只需将各测试开关的控制端均与第二类管脚短接，通过集成电路向第二类管脚输入控制信号即可实现控制各测试开关的开启与关闭，因此实现消除数据线上的残留电荷的方法更加简单。

具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，如图4所示，多个测试端03包括第一测试端031、第二测试端032和第三测试端033，显示区A还包括阵列排列的不同颜色的第一像素单元04、第二像素单元05和第三像素单元06；其中，各第一像素单元04通过对应的各数据线均与第一测试端031相连，各第二像素单元05通过对应的各数据线均与第二测试端032相连，各第三像素单元06通过对应的各数据线均与第三测试端033相连，还包括与各像素单元、数据线和扫描线电连接的薄膜晶体管T。即数据线S1、S4…S(n-5)、S(n-2)均与对应的第一像素单元04相连，数据线S2、S5…S(n-4)、S(n-1)均与对应的第二像素单元05相连，数据线S3、S6…S(n-3)、Sn均与对应的第三像素单元06相连(数据线S4、S5、S6…S(n-5)、S(n-4)、S(n-3)未示出)。具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，在每一帧时间内，相邻两个第一像素单元04输入极性相反的信号，相邻两个第二像素单元05输入极性相反的信号，相邻两个第三像素单元06输入极性相反的信号，即数据线S1、S4…S(n-5)、S(n-2)中每相邻两条数据线上输入的电压极性相反，数据线S2、S5…S(n-4)、S(n-1)中每相邻两条数据线上输入的电压极性相反，数据线S3、S6…S(n-3)、Sn中每相邻两条数据线上输入的电压极性相反，因此，在扫描空白阶段，各测试开关02全部开启，即与各第一像素单元04相连的各数据线S1、S4…S(n-5)、S(n-2)短接到一起，与各第二像素单元05相连的各数据线S2、S5…S(n-4)、S(n-1)短接到一起，与各第三像素单元07相连的各数据线S3、S6…S(n-3)、Sn短接到一起，从而和相同颜色的像素单元相连的各数据线上残留的正电荷或负电荷相互抵消。因此，在输入下一帧信号时，就不需要再补偿上一帧的残留电荷，从而提高了充电效率，降低了功耗。

具体实施时，如图5和图6所示，未与数据线电连接的管脚01，即第二类管脚012包括没有与其它任何信号线电连接的第一管脚001以及与移位寄存单元的各信号线电连接的第二管脚002，例如第二管脚002是移位寄存单元的输出端端子gout pad或者是移位寄存单元的复位信号端端子reset pad。在显示每一帧画面时，由于在每一帧画面显示之前要进行复位，复位信号reset在扫描空白阶段的一段时间内为高电位，因此可以将各测试开关02的控制端均与复位信号端端子reset pad相连，利用复位信号reset在扫描空白阶段的一段时间内为高电位，将各测试开关02在复位阶段全部打开，以实现对数据线进行放电。因此在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，集成电路通过与测试开关接口SW相连的第二类管脚012向各测试开关02的控制端输入复位信号reset，在复位信号reset的控制下，各测试开关02在扫描空白阶段的复位阶段全部开启，因此与各第一像素单元04相连的各数据线S1、S4…S(n-5)、S(n-2)短接到一起，与各第二像素单元05相连的各数据线S2、S5…S(n-4)、S(n-1)短接到一起，与各第三像素单元07相连的各数据线S3、S6…S(n-3)、Sn短接到一起，从而和相同颜色的像素单元相连的各数据线上残留的正电荷或负电荷相互抵消，以对数据线进行放电。因此，在输入下一帧信号时，就不需要再补偿上一帧的残留电荷，从而提高了充电效率，降低了功耗。

具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，如图5和图6所示，在复位信号reset的控制下各测试开关02在扫描阶段的复位阶段全部关闭以断开各测试开关02与各数据线S1、S2、S3、S4、S5、S6…的电连接。因此在扫描阶段，各测试开关02全部关闭，从而避免各测试开关02对数据线S1、S2、S3、S4、S5、S6…的正常工作产生干扰。

具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，如图7所示，测试开关接口SW通过氧化铟锡ITO与第二类管脚012相连。如：在玻璃基板100上沉积一整面的ITO层，采用掩膜板对一整面的ITO层进行曝光处理，对经过曝光处理的ITO层进行显影处理，保留ITO层中被曝光的区域，去除ITO层中未被曝光的区域a(即玻璃基板100的空白区域)，从而在玻璃基板100上形成测试开关接口SW、各管脚01、通过集成电路像各信号线输入信号的各信号输入端子003以及连接测试开关接口SW与第二类管脚012的ITO的图形。

具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，各测试开关均为N型晶体管或均为P型晶体管，在此不做限定。

具体实施时，如图3至图5所示，本发明实施例中是以各测试开关02均为N型晶体管为例进行示意的。

具体实施时，各测试开关的第一端可以为源极，第二端为漏极；或者各测试开关的第一端可以为漏极，第二端为源极，在此不做限定。

具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，第一像素单元可以为红色像素单元，第二像素单元可以为绿色像素单元，以及第三像素单元可以为蓝色像素单元，在此不作限定。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种阵列基板的驱动方法，如图8所示，包括：

S801、扫描阶段，集成电路通过第一类管脚向数据线输入数据信号，以及通过与所述测试开关接口相连的第二类管脚向各测试开关的控制端输入控制信号；各测试开关在控制信号的控制下全部关闭以断开各测试开关与数据线的电连接；

S802、扫描空白阶段，集成电路通过与所述测试开关接口相连的第二类管脚向各测试开关的控制端输入控制信号；各测试开关在控制信号的控制下全部开启以对数据线进行放电。

本发明实施例提供的阵列基板的驱动方法，通过将各测试开关的控制端全部与位于非显示区的第二类管脚短接，在扫描阶段，集成电路通过与所述测试开关接口相连的第二类管脚向各测试开关的控制端输入控制信号以控制各测试开关全部关闭，使各测试开关与数据线断开，从而避免各测试开关对数据线的正常工作产生干扰；在扫描空白阶段，集成电路通过与所述测试开关接口相连的第二类管脚向各测试开关的控制端输入控制信号以控制各测试开关全部开启，从而可以实现消除残留在数据线中的电荷，因此本发明解决了由于残留大量电荷而影响显示面板的画面显示效果的问题，且消除数据线上的残留电荷，可以提高充电效率，从而降低显示面板的功耗；并且本发明只需将各测试开关的控制端均与第二类管脚短接，通过集成电路向第二类管脚输入控制信号即可实现控制各测试开关的开启与关闭，因此实现消除数据线上的残留电荷的方法更加简单。

具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动方法中，集成电路通过第二类管脚向各测试开关的控制端输入复位信号，在复位信号的控制下各测试开关在扫描空白阶段的复位阶段全部开启以对数据线进行放电。由于复位信号在扫描空白阶段有一段时间是高电位，因此各测试开关在扫描空白阶段全部开启，与相邻两个像素单元相连的两条数据线短接，且由于与相邻两个像素单元相连的两条数据线上的电荷极性相反，即残留的正电荷和残留的负电荷相互抵消，因此，在输入下一帧信号时，就不需要再补偿上一帧的残留电荷，从而提高了充电效率，降低了功耗。

具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动方法中，在复位信号的控制下各测试开关在扫描阶段的复位阶段全部关闭以断开各测试开关与数据线的电连接。在扫描阶段各测试开关全部关闭，从而避免各测试开关对数据线的正常工作产生干扰。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示面板，包括本发明实施例提供的上述任一种阵列基板。该显示面板解决问题的原理与前述阵列基板相似，因此该显示面板的实施可以参见前述阵列基板的实施，重复之处在此不再赘述。

本发明实施例提供的阵列基板、其驱动方法及显示面板，阵列基板包括显示区和非显示区；其中，显示区包括多条数据线，非显示区包括多个管脚、多个测试开关、多个测试端、测试开关接口以及集成电路；集成电路用于通过第一类管脚向数据线输入数据信号，以及通过与测试开关接口相连的第二类管脚向各测试开关的控制端输入控制信号；各测试开关用于在阵列基板的扫描阶段，在控制信号的控制下全部关闭以断开各测试开关与数据线的电连接，以及用于在阵列基板的扫描空白阶段，在控制信号的控制下全部开启以对所述数据线进行放电。本发明通过将各测试开关的控制端全部与位于非显示区的第二类管脚短接，在扫描阶段，集成电路通过与测试开关接口相连的第二类管脚向各测试开关的控制端输入控制信号以控制各测试开关全部关闭，使各测试开关与数据线断开，从而避免各测试开关对数据线的正常工作产生干扰；在扫描空白阶段，集成电路通过与测试开关接口相连的第二类管脚向各测试开关的控制端输入控制信号以控制各测试开关全部开启，从而可以实现消除残留在数据线中的电荷，因此本发明解决了由于残留大量电荷而影响显示面板的画面显示效果的问题，且消除数据线上的残留电荷，可以提高充电效率，从而降低显示面板的功耗；并且本发明只需将各测试开关的控制端均与第二类管脚短接，通过集成电路向第二类管脚输入控制信号即可实现控制各测试开关的开启与关闭，因此实现消除数据线上的残留电荷的方法更加简单。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims

1.一种阵列基板，包括显示区和非显示区；其中，所述显示区包括多条数据线，所述非显示区包括多个管脚、多个测试开关、多个测试端、测试开关接口以及集成电路，其特征在于，与所述数据线电连接的所述管脚为第一类管脚，未与所述数据线电连接的所述管脚为第二类管脚，且各所述第一类管脚还与对应的各所述测试开关的第一端以及所述集成电路相连，所述测试开关的第二端与所述测试端对应相连，各所述第二类管脚均与所述集成电路相连，各所述测试开关的控制端均与所述测试开关接口相连，且至少一个所述第二类管脚与所述测试开关接口相连；

2.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述集成电路通过所述第二类管脚向各所述测试开关的控制端输入复位信号，在所述复位信号的控制下各所述测试开关在所述扫描空白阶段的复位阶段全部开启以对所述数据线进行放电。

3.如权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，在所述复位信号的控制下各所述测试开关在所述扫描阶段的复位阶段全部关闭以断开各所述测试开关与所述数据线的电连接。

4.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述测试开关接口通过氧化铟锡与所述第二类管脚相连。

5.如权利要求1-4任一项所述的阵列基板，其特征在于，各所述测试开关均为N型晶体管或均为P型晶体管。

6.如权利要求5所述的阵列基板，其特征在于，所述多个测试端包括第一测试端、第二测试端和第三测试端，所述显示区还包括阵列排列的不同颜色的第一像素单元、第二像素单元和第三像素单元；其中，各所述第一像素单元通过对应的各所述数据线均与所述第一测试端相连，各所述第二像素单元通过对应的各所述数据线均与所述第二测试端相连，各所述第三像素单元通过对应的各所述数据线均与所述第三测试端相连。

7.如权利要求6所述的阵列基板，其特征在于，相邻两个所述第一像素单元输入极性相反的信号，相邻两个所述第二像素单元输入极性相反的信号，相邻两个所述第三像素单元输入极性相反的信号。

8.如权利要求7所述的阵列基板，其特征在于，所述第一像素单元为红色像素单元，所述第二像素单元为绿色像素单元，以及所述第三像素单元为蓝色像素单元。

9.一种显示面板，其特征在于，包括如权利要求1-8任一项所述的阵列基板。

10.一种驱动如权利要求1-8任一项所述的阵列基板的驱动方法，其特征在于，包括：

11.如权利要求10所述的驱动方法，其特征在于，所述集成电路通过所述第二类管脚向各所述测试开关的控制端输入复位信号，在所述复位信号的控制下各所述测试开关在所述扫描空白阶段的复位阶段全部开启以对所述数据线进行放电。

12.如权利要求11所述的驱动方法，其特征在于，在所述复位信号的控制下各所述测试开关在所述扫描阶段的复位阶段全部关闭以断开各所述测试开关与所述数据线的电连接。