CN107544703A - 半导体装置、位置检测装置和半导体装置的控制方法 - Google Patents

半导体装置、位置检测装置和半导体装置的控制方法 Download PDF

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Abstract

本公开涉及半导体装置、位置检测装置和半导体装置的控制方法。接收单元(13)依次地选择多个传感器线圈,并经由已经选择的传感器线圈从位置指示器接收信号,并且运算电路(14)使用由接收单元(13)经由多个传感器线圈中的每一个接收的信号的幅度值和相位值,来检测由位置指示器指示的位置的坐标和位置指示器的书写力。当传感器(20)包括传感器电容器时,发送单元(12)向传感器电容器输出信号,接收单元(13)接收在传感器电容器和发送单元(12)之间的连接点处产生的信号,并且运算电路(14)使用由接收单元(13)接收的信号的相位值来检测对应于传感器电容器的触摸键是否已被触摸。

Description

半导体装置、位置检测装置和半导体装置的控制方法
相关申请的交叉引用
本申请基于2016年6月28日提交的日本专利申请No.2016-127610并要求其优先权,该申请的公开内容通过引用整体地并入本文。
技术领域
本发明涉及半导体装置、位置检测装置和半导体装置的控制方法,并且可以例如适用于检测由位置指示器指示的位置的坐标和位置指示器的书写力并检测触摸键是否被触摸的半导体装置。
背景技术
电磁感应(EMR:Electro Magnetic Resonance)位置检测装置和位置指示器(通常为笔)是已知的(例如,日本未审查的专利申请公开No.2003-067124)。
根据日本未审查的专利申请公开No.2003-067124,位置检测装置在一种情况下依次地选择多个环形线圈,经由已经选择的环形线圈通过电磁感应与位置指示器发送和接收信号,并计算从位置指示器接收的信号的幅度值和相位值。位置检测装置使用已经计算的幅度值和相位值来检测由位置指示器指示的位置的坐标和位置指示器的书写力。
发明内容
近年来,诸如智能电话的一些移动终端包括检测由电磁感应位置指示器指示的位置的坐标和位置指示器的书写力的功能以及检测触摸键是否被触摸的功能。检测这些移动终端中由位置指示器指示的位置的坐标和位置指示器的书写力的方法包括上述日本未审查的专利申请公开No.2003-067124中公开的方法。另一方面,检测触摸键是否被触摸的方法包括称为串联电阻分压比较方法的方法。
在串联电阻分压比较方法中,在对应于触摸键的位置中设置传感器电容器,逐渐对充电电容器放电以将电荷移动到传感器电容器和比较电容器,并且由于执行传感器电容器和比较电容器的分压获得的电压被重复测量,直到电压变得小于参考电压。当触摸键被触摸时,对应于触摸键的传感器电容器的电容值增加。因此,作为分压结果的上述电压降低,并且迭代次数减少。在该技术中,将迭代次数与阈值进行比较,由此检测触摸键是否已被触摸。
在相关技术中,上述两个功能通过单独的电路来实现,这意味着需要两个集成电路(IC)。然而,由于移动终端具有应该安装IC的小面积,所以可能实际上不能将这两个IC安装在这些面积上。在这种情况下,很难实现这两个功能。此外,当实现两个相应的功能的两个电路安装在一个IC上时,IC上的芯片面积增加,这导致IC尺寸的增加。在这两种情况下,面积的增加使得难以实现这两个功能。
相关技术的其它问题和本发明的新颖特性将通过说明书和附图的描述而变得明显。
根据一个实施例,当传感器包括多个传感器线圈时,半导体装置依次地选择多个传感器线圈,经由已经选择的传感器线圈从位置指示器接收信号,并使用经由多个传感器线圈中的每一个接收的信号的幅度值和相位值,来检测由位置指示器指示的位置的坐标和位置指示器的书写力。当传感器包括传感器电容器时,半导体装置将来自发送单元的信号输出到传感器电容器,接收在传感器电容器和发送单元之间的连接点处产生的信号,并且使用接收到的信号的相位值来检测对应于传感器电容器的触摸键是否已被触摸。
该实施例有助于解决上述问题。
附图说明
上述和其它方面、优点和特征将从结合附图的某些实施例的以下描述中变得更加明显,其中:
图1是示出根据实施例的位置检测装置的构造的一个示例的图示;
图2是示出根据实施例的电流驱动器的构造的一个示例的图示;
图3是示出根据实施例的用于CAL的电流驱动器和电流-电压转换电路的构造的一个示例的图示;
图4是示出根据实施例的由半导体装置驱动传感器线圈的操作的示意流程的一个示例的图示;
图5是示出根据实施例的当由半导体装置驱动传感器线圈时的校准操作的一个示例的图示;
图6是示出根据实施例的当半导体装置驱动传感器线圈时的电磁感应笔的发送操作的一个示例的图示;
图7是示出根据实施例的当半导体装置驱动传感器线圈时的电磁感应笔的接收操作的一个示例的图示;
图8是示出根据实施例的由半导体装置驱动传感器电容器的操作的示意流程的一个示例的图示;
图9是示出根据实施例的在半导体装置驱动传感器电容器时检测传感器电容器的电容值的操作的一个示例的图示;
图10是示出根据实施例的由半导体装置确定触摸键是否被触摸的方法的一个示例的图示;
图11是示出其上安装有根据实施例的位置检测装置的移动终端的外部构造的一个示例的图示;
图12是示出其上安装有根据实施例的位置检测装置的移动终端的内部构造的一个示例的图示;
图13是示出由其上安装有根据实施例的位置检测装置的移动终端驱动传感器线圈和传感器电容器的操作的示意流程的一个示例的图示;
图14是示出其上安装有根据实施例的位置检测装置的移动终端的内部构造的另一个示例的图示;以及
图15是示出其上安装有根据实施例的位置检测装置的移动终端的内部构造的另一个示例的图示。
具体实施方式
<实施例>
在以下的描述中,将对实施例进行描述。为了使描述清楚,可以适当地省略或简化以下描述和附图。此外,作为执行各种处理的功能块在附图中示出的每个元件可以由硬件的中央处理单元(CPU)、存储器和其它电路形成,并且可以由以软件加载在存储器中的程序来实现。因此,本领域技术人员将理解,这些功能块可以通过仅硬件、仅软件或其组合以各种方式实现而没有任何限制。在整个附图中,相同的组件由相同的附图标记表示,并且将适当地省略重复的描述。
此外,可以使用任何类型的非暂态计算机可读介质将上述程序存储并提供给计算机。非暂态计算机可读介质包括任何类型的有形存储介质。非暂态计算机可读介质的示例包括磁存储介质(诸如软盘、磁、,硬盘驱动器等)、光磁存储介质(例如,磁光盘)、CD-ROM(光盘只读存储器)、CD-R(可记录光盘)、CD-R/W(可重写光盘)和半导体存储器(例如掩模ROM、PROM(可编程ROM)、EPROM(可擦除PROM)、闪存ROM、RAM(随机存取存储器)等)。该程序可以使用任何类型的暂态计算机可读介质提供给计算机。暂态计算机可读介质的示例包括电信号、光信号和电磁波。暂态计算机可读介质可以经由有线通信线路(例如电线和光纤)或无线通信线路将程序提供给计算机。
<位置检测装置500的构造>
首先,参考图1,将对根据本实施例的位置检测装置500的构造进行描述。如图1所示,根据本实施例的位置检测装置500包括半导体装置10(其是IC等),以及用于N个(N是等于或大于1的整数)通道的N个传感器20-1-20-N(在下面的描述中,“传感器20”是指任何未指定的传感器)。
传感器20-1-20-N包括传感器线圈或传感器电容器。所有传感器20-1-20-N可以是传感器线圈或传感器电容器。可替换地,传感器20-1-20-N中的一些可以是传感器线圈,而另一些可以是传感器电容器。例如,当N为42时,40个传感器20可以是传感器线圈,并且两个传感器20可以是传感器电容器。即使传感器线圈和传感器电容器两者都包含在传感器20-1-20-N中,也需要将不同的通道分配给传感器线圈和传感器电容器,并且传感器线圈和传感器电容器需要连接到彼此不同的输入/输出端子15-1-15-N。
传感器线圈通过电磁感应与作为位置指示器的电磁感应笔30(参见图6和图7)发送和接收信号,并且传感器线圈例如是环形线圈。传感器线圈在其中检测到电磁感应笔30所指示的位置的位置检测方向上采取矩阵的形式设置。因此,当传感器20-1-20-N包括传感器线圈时,设置有多个传感器线圈。
当传感器20-1-20-N包括传感器线圈时,半导体装置10驱动传感器线圈以检测由电磁感应笔30指示的位置的坐标和电磁感应笔30的书写力(writing force)。
传感器电容器设置在对应于触摸键(未示出)的位置处,并且当触摸键被触摸时,对应的传感器电容器的电容值改变(增加)。因此,当传感器20-1-20-N中包括传感器电容器时,要提供的传感器电容器的数量等于触摸键的数量。也就是说,提供一个或多个传感器电容器以对应于触摸键的数量。传感器电容器可以具有任何构造,只要当触摸键被触摸时其电容值改变,并且不限于专用于触摸键的传感器电容器。特定操作被分配给相应的触摸键,并且当一个触摸键被触摸时,执行分配给该触摸键的特定操作。
当传感器20-1-20-N包括传感器电容器时,半导体装置10驱动传感器电容器并检测对应于传感器电容器的触摸键是否已被触摸。
<半导体装置10的构造>
半导体装置10包括控制电路11、发送单元12、接收单元13、运算电路14以及N个输入/输出端子15-1-15-N(在以下的描述中,“输入/输出端子15”是指任何未指定的输入/输出端子)。
输入/输出端子15-1-15-N分别设置为对应于传感器20-1-20-N,并连接到相应的传感器20。
发送单元12包括信号发生器121,N个发送通道选择开关122-1-122-N(在下面的描述中,“发送通道选择开关122”是指任何未指定的发送通道选择开关),N个电流驱动器123-1-123-N(在下面的描述中,“电流驱动器123”是指任何未指定的电流驱动器),用于校准的发送开关(以下“校准”可以称为CAL)124,用于CAL的电流驱动器125,电流-电压转换电路126以及用于CAL的接收开关127。电流驱动器123是第二电流驱动器的一个示例,并且用于CAL的电流驱动器125是第一电流驱动器的一个示例。
信号发生器121产生电压正弦波信号。
发送通道选择开关122-1-122-N分别设置为对应于传感器20-1-20-N。在执行与电磁感应笔30的发送操作的时刻,当发送单元12选择了传感器20-1-20-N中的一个时,对应于已经选择的传感器20的发送通道选择开关122接通(闭合状态)。因此,对应于已选择的传感器20的电流驱动器123的输入和信号发生器121的输出彼此连接。
电流驱动器123-1-123-N分别设置为对应于传感器20-1-20-N。当电流驱动器123-1-123-N连接到信号发生器121时,电流驱动器123-1-123-N将由信号发生器121产生的电压正弦波信号转换成电流正弦波信号并且经由输入/输出端子15将转换后的电流正弦波信号输出给对应的传感器20。
在执行校准操作并执行触摸键检测操作的时刻,用于CAL的发送开关124接通(闭合状态)。因此,用于CAL的电流驱动器125的输入和信号发生器121的输出彼此连接。
当用于CAL的电流驱动器125连接到信号发生器121时,用于CAL的电流驱动器125将由信号发生器121产生的电压正弦波信号转换为电流正弦波信号,并将转换后的电流正弦波信号输出到电流-电压转换电路126。
电流-电压转换电路126将从用于CAL的电流驱动器125输出的电流正弦波信号转换为电压正弦波信号,并将转换后的电压正弦波信号输出到用于CAL的接收开关127。
在执行校准操作并执行触摸键检测操作的时刻,用于CAL的接收开关127接通(闭合状态)。因此,接收单元13中的前置放大器132的输入和电流-电压转换电路126的输出彼此连接。
接收单元13包括N个接收通道选择开关131-1-131-N(在下面的描述中,“接收通道选择开关131”是指任何未指定的接收通道选择开关),前置放大器132和A/D转换器(模数转换器:以下将A/D转换器称为ADC)133。
接收通道选择开关131-1-131-N分别设置为对应于传感器20-1-20-N。在执行与电磁感应笔30的接收操作并执行触摸键检测操作的时刻,当由接收单元13选择传感器20-1至20-N中的一个时,对应于已经选择的传感器20的接收通道选择开关131接通(闭合状态)。因此,已经选择的传感器20和前置放大器132的输入经由输入/输出端子15彼此连接。
当前置放大器132连接到已经选择的传感器20时,前置放大器132对由已经选择的传感器20接收到的电压正弦波信号进行放大,并将放大的信号输出到ADC 133。此外,当前置放大器132连接到电流-电压转换电路126时,前置放大器132将由电流-电压转换电路126转换的电压正弦波信号放大,并将放大的信号输出到ADC 133。此外,当前置放大器132连接到已经选择的传感器20和电流-电压转换电路126时,前置放大器132接收在已经选择的传感器20和电流-电压转换电路126之间的连接点处产生的信号,对已经接收的电压正弦波信号进行放大,并将得到的信号输出到ADC 133。
ADC 133对从前置放大器132输出的电压正弦波信号进行数字化,并将已被数字化的正弦波数字信号输出到运算电路14。
运算电路14对从ADC 133输出的正弦波数字信号执行诸如离散傅里叶变换(DFT)的操作。运算电路14基于该操作的结果,检测由电磁感应笔30指示的位置的坐标和电磁感应笔30的书写力,并检测触摸键是否已经被触摸。稍后将描述该检测方法的细节。
控制电路11控制半导体装置10中的元件。控制电路11控制例如发送通道选择开关122-1-122-N、用于CAL的发送开关124、用于CAL的接收开关127以及接收通道选择开关131-1-131-N的导通(闭合状态)/断开(打开状态)。
<电流驱动器123-1-123-N的构造>
接下来参考图2,对根据本实施例的电流驱动器123-1-123-N的构造进行描述。
如图2所示,电流驱动器123-1-123-N各自包括分离电路1231、运算放大器1232和1235、驱动器晶体管1233和1236以及电阻元件1234和1237。
分离电路1231将由信号发生器121产生的电压正弦波信号分离为正半波信号和负半波信号,将正和负半波信号之一输出到运算放大器1232,并将正和负半波信号中的另一个输出到运算放大器1235。
运算放大器1232控制对应于从分离电路1231输出的半波信号的电压,使得电压被施加到电阻元件1234的低端。电位差除以电阻元件1234的对应电阻得到的电流流过电阻元件1234。
运算放大器1235控制对应于从分离电路1231输出的半波信号的电压,使得电压被施加到电阻元件1237的高端。电位差除以电阻元件1237的对应电阻得到的电流流过电阻元件1237。
流过电阻元件1234的电流和流过电阻元件1237的电流分别经由驱动器晶体管1233和驱动器晶体管1236在驱动器晶体管1233和驱动器晶体管1236的连接点处彼此组合。该组合的电流作为电流正弦波信号被输出到随后的对应的传感器20。
注意,图2所示的电流驱动器123-1-123-N的构造仅仅是一个示例,并且不受限于该示例。
<用于CAL的电流驱动器125和电流-电压转换电路126的构造>
接下来参考图3,对根据本实施例的用于CAL的电流驱动器125和电流-电压转换电路126的构造进行描述。
如图3所示,用于CAL的电流驱动器125的构造与图2所示的电流驱动器123-1-123-N的构造相似。也就是说,用于CAL的电流驱动器125包括分离电路1251、运算放大器1252和1255、驱动器晶体管1253和1256以及电阻元件1254和1257,它们分别对应于图2所示的分离电路1231、运算放大器1232和1235、驱动器晶体管1233和1236以及电阻元件1234和1237。
电流-电压转换电路126包括电阻元件1261,用于将从用于CAL的电流驱动器125输出的电流转换为电压。
图3所示的用于CAL的电流驱动器125和电流-电压转换电路126的构造仅仅是示例,并且不受限于它们。
<驱动传感器线圈21的操作>
在以下的描述中,对根据本实施例的半导体装置10的操作进行描述。
首先,将描述驱动作为传感器20的传感器线圈以检测由电磁感应笔30指示的位置的坐标和电磁感应笔30的书写力的操作。在该示例中,假设所有的传感器20-1-20-N都是传感器线圈,并且传感器20-1-20-N被称为传感器线圈21-1-21-N以便于描述(在下面的描述中,“传感器线圈21”是指任何未指定的传感器线圈)。
<驱动传感器线圈21的操作的示意流程>
首先参考图4,对根据本实施例的驱动半导体装置10的传感器线圈21的操作的示意流程进行描述。
如图4所示,首先,半导体装置10执行校准,以获得信号的幅度参考值和相位参考值。然后,半导体装置10逐一依次地选择用于N个通道的N个传感器线圈21-1-21-N,通过电磁感应在已经选择的传感器线圈21和电磁感应笔30之间发送/接收信号,并且计算由接收单元13经由已经选择的传感器线圈21从电磁感应笔30接收的信号的幅度值和相位值。在N个传感器线圈21-1-21-N中的每一个完成发送和接收之后,半导体装置10使用通过校准获得的相位参考值和由传感器线圈21-1-21-N中的每一个接收的信号的幅度值和相位值,来检测由电磁感应笔30指示的位置的坐标和电磁感应笔30的书写力。
<当传感器线圈21被驱动时的校准操作>
接下来参考图5,对根据本实施例的当传感器线圈21被半导体装置10驱动时的校准操作进行描述。
如图5所示,当执行校准操作时,发送单元12在控制电路11的控制下接通(闭合状态)用于CAL的发送开关124和用于CAL的接收开关127。此时,控制电路11关断(打开状态)所有其它发送通道选择开关122-1-122-N和接收通道选择开关131-1-131-N。
在这种状态下,信号发生器121在控制电路11的控制下产生电压正弦波信号。然后由信号发生器121产生的电压正弦波信号由用于CAL的电流驱动器125转换为电流正弦波信号,电流-电压转换电路126再次将电流正弦波信号转换成电压正弦波信号,并且转换后的电压正弦波信号被输入到接收单元13。
输入到接收单元13的电压正弦波信号由前置放大器132放大,然后由ADC 133将放大的信号转换成正弦波数字信号。运算电路14对由ADC 133转换的正弦波数字信号执行DFT,从而计算从发送单元12输入的信号的幅度值和相位值,并分别将计算的幅度值和相位值保持为幅度参考值和相位参考值。由于在例如日本未审查的专利申请公开No.03-147012中已经公开了计算幅度值和相位值的方法的细节,因此将省略其描述。
<当传感器线圈21被驱动时与电磁感应笔30的发送/接收操作>
接下来参考图6和图7,对根据本实施例的当传感器线圈21被半导体装置10驱动时与电磁感应笔30的发送/接收操作进行描述。图6和图7示出了当选择第一通道的传感器线圈21-1时与电磁感应笔30的发送/接收操作。
如图6和图7所示,电磁感应笔30包括嵌入其中的笔电路,笔电路中线圈和可变电容器并联连接。当对笔尖施加书写力时,可变电容器的电容改变。也就是说,电磁感应笔30具有这样的构造,即当将书写力施加到笔尖时其谐振频率改变。
如图6所示,在通过传感器线圈21-1执行与电磁感应笔30的发送操作的时刻,发送单元12在控制电路11的控制下选择传感器线圈21-1,并接通(闭合状态)对应于已经选择的传感器线圈21-1的发送通道选择开关122-1。在这种情况下,控制电路11关断(打开状态)所有其它发送通道选择开关122-2-122-N、用于CAL的发送开关124、用于CAL的接收开关127以及接收通道选择开关131-1-131-N。
在这种状态下,信号发生器121在控制电路11的控制下产生电压正弦波信号。然后由信号发生器121产生的电压正弦波信号由电流驱动器123-1转换成电流正弦波信号,并且电流正弦波信号经由输入/输出端子15-1输出到传感器线圈21-1。
此时,当电磁感应笔30靠近位置检测装置500时,产生电磁感应,其中传感器线圈21-1用作初级线圈并且电磁感应笔30用作次级线圈。因此,在电磁感应笔30中产生根据嵌入在电磁感应笔30中的笔电路的线圈和可变电容器的谐振频率的电压。之后,执行由传感器线圈21-1进行的接收操作。
如图7所示,在通过传感器线圈21-1执行与电磁感应笔30的接收操作的时刻,接收单元13在控制电路11的控制下选择由发送单元12选择的传感器线圈21-1,并接通(闭合状态)对应于已经选择的传感器线圈21-1的接收通道选择开关131-1。在这种情况下,控制电路11关断(打开状态)所有其它发送通道选择开关122-1-122-N、用于CAL的发送开关124,用于CAL的接收开关127以及接收通道选择开关131-2-131-N。
此时,如上所述,在电磁感应笔30中产生电压。因此,此时,产生电磁感应,其中电磁感应笔30用作初级线圈并且传感器线圈21-1用作次级线圈。由电磁感应产生的电压被传感器线圈21-1接收作为电压正弦波信号,然后该电压经由输入/输出端子15-1输入到接收单元13。
已经输入到接收单元13的电压正弦波信号由前置放大器132放大,然后由ADC 133将放大的信号转换成正弦波数字信号。运算电路14对由ADC 133转换的正弦波数字信号进行DFT,由此运算电路14计算由传感器线圈21-1接收的信号的幅度值和相位值。
<当传感器线圈21被驱动时检测电磁感应笔30的操作>
在N个传感器线圈21-1-21-N各自的发送/接收操作完成之后,运算电路14使用在相应的发送/接收操作中获得的幅度值来检测由电磁感应笔30指示的位置的坐标,并且进一步使用在相应的发送/接收操作中获得的相位值与在校准操作中获得的相位参考值之间的相位差来检测电磁感应笔30的书写力。
可以例如使用随着传感器线圈21和电磁感应笔30之间的距离越近则幅度值变得越大这样的性质来检测电磁感应笔30所指示的位置的坐标。可以采用各种方法作为检测方法。例如,首先,在所有N个传感器线圈21-1-21-N(全部扫描)中执行发送/接收操作,然后仅在由于全部扫描而展现出大幅度值的传感器线圈21和相邻传感器线圈21(扇区扫描)中执行发送/接收操作,并且可以使用在扇区扫描中获得的幅度值来检测坐标。
另一方面,与幅度值不同,相位值在传感器线圈21中示出了相似的值。因此,可以使用在期望的传感器线圈21的发送/接收操作中获得的相位差来检测电磁感应笔30的书写力。因此,电磁感应笔30的书写力例如可以仅使用通过扇区扫描获得的相位差来检测。
上述驱动传感器线圈21的操作与根据相关技术的用于电磁感应位置检测装置的半导体装置的操作相似。
也就是说,根据本实施例的半导体装置10包括与根据相关技术的半导体装置类似的构造,并且在与根据相关技术的半导体装置的操作类似的操作中检测由电磁感应笔30指示的位置的坐标和电磁感应笔30的书写力。此外,根据本实施例的半导体装置10能够如下检测触摸键是否已被触摸。
<驱动传感器电容器22的操作>
接下来,对驱动作为传感器20的传感器电容器以检测触摸键是否被触摸的操作进行描述。在该示例中,假设所有传感器20-1-20-N都是传感器电容器,并且传感器20-1-20-N被称为传感器电容器22-1-22-N以便于描述(在下面的描述中,“传感器电容器22”是指任何未指定的传感器电容器)。
<驱动传感器电容器22的操作的示意流程>
首先参考图8,对根据本实施例的由半导体装置10驱动传感器电容器22的操作的示意流程进行描述。
如图8所示,首先,半导体装置10执行校准以获得信号的幅度参考值和相位参考值。然后,半导体装置10逐个依次地选择用于N个通道的N个传感器电容器22-1-22-N,将来自发送单元12的信号输出到已经选择的传感器电容器22,由接收单元13接收在已经选择的传感器电容器22和发送单元12的连接点处产生的信号,并且计算由接收单元13接收的信号的相位值。然后,半导体装置10检测已经选择的传感器电容器22的电容值是否已经改变,即,使用已经计算的相位值和通过校准获得的相位参考值之间的相位差来检测对应于已经选择的传感器电容器22的触摸键是否被触摸。
<当传感器电容器22被驱动时的校准操作>
由于根据本实施例的当传感器电容器22被半导体装置10驱动时的校准操作与参考图5描述的校准操作类似,因此将省略其描述。
<当传感器电容器22被驱动时检测电容值的操作>
接下来参考图9,对根据本实施例的当传感器电容器22被半导体装置10驱动时检测传感器电容器22的电容值的操作进行描述。图9示出了当第一通道的传感器电容器22-1被选择时检测传感器电容器22-1的电容值的操作。
如图9所示,在检测传感器电容器22-1的电容值的操作中,在控制电路11的控制下,发送单元12接通(闭合状态)用于CAL的发送开关124和用于CAL的接收开关127。此外,接收单元13在控制电路11的控制下选择传感器电容器22-1,并且接通(闭合状态)对应于已经选择的传感器电容器22-1的接收通道选择开关131-1。在这种情况下,控制电路11关断(打开状态)所有其它发送通道选择开关122-1-122-N和接收通道选择开关131-2-131-N。
在这种状态下,信号发生器121在控制电路11的控制下产生电压正弦波信号。然后由信号发生器121产生的电压正弦波信号被用于CAL的电流驱动器125转换成电流正弦波信号,由电流-电压转换电路126将所获得的信号再次转换为电压正弦波信号,并且转换后的电压正弦波信号经由输入/输出端子15-1输出到传感器电容器22-1。此时,用于CAL的接收开关127的导通电阻和传感器电容器22-1构成低通滤波器(LPF)。因此,取决于LPF的特性,改变在传感器电容器22-1和发送单元12之间的连接点处产生的A点处的电压正弦波信号的相位。
A点处的电压正弦波信号由前置放大器132放大,并且经放大的信号由ADC133转换成正弦波数字信号。运算电路14对由ADC 133转换的正弦波数字信号执行DFT,由此运算电路14计算A点处的电压正弦波信号的相位值,并且进一步计算已经计算的相位值与在校准操作中获得的相位参考值之间的相位差。
当通过手指40等触摸对应于传感器电容器22-1的触摸键时,传感器电容器22-1的电容值改变(增大)。然后,由传感器电容器22-1和用于CAL的接收开关127的导通电阻组成的LPF的频率特性发生改变,这导致上述计算出的相位差的改变。传感器电容器22-1的电容值与相位差的关系例如如图10所示。因此,可以通过计算上述相位差来检测传感器电容器22-1的电容值。
<当传感器电容器22被驱动时检测触摸键的操作>
如上所述,在本实施例中,可以通过计算上述相位差来检测传感器电容器22-1的电容值。换句话说,传感器电容器22-1的电容值的改变可以被检测为相位差。
运算电路14基于以上计算出的相位差来检测传感器电容器22-1的电容值是否已改变,即对应于传感器电容器22-1的触摸键是否被触摸。运算电路14通过将以上计算的相位差与预定阈值进行比较来确定触摸键是否已被触摸,如图10所示。具体地,当相位差等于或大于阈值时,运算电路14确定触摸键已经被触摸,并且当相位差小于阈值时,运算电路14确定触摸键没有被触摸。
虽然在本实施例中构成LPF的电阻分量是用于CAL的接收开关127的导通电阻,但是本实施例不限于该示例。构成LPF的电阻分量可以是电流-电压转换电路126的电阻分量或在发送单元12的输出级中的线路上的寄生电阻分量。
<在其上安装有位置检测装置500的移动终端600的构造>
根据本实施例的位置检测装置500可以安装在例如移动终端(诸如,智能电话)上。
接下来参考图11和图12,对其上安装有根据本实施例的位置检测装置500的移动终端600的构造进行描述。
如图11和图12所示,其上安装有根据本实施例的位置检测装置500的移动终端600例如是包括显示屏601的诸如智能电话的终端。此外,移动终端600包括对应于显示屏601的显示区域602和对应于显示屏601的下部部分的触摸键区域603。显示区域602包括在电磁感应笔30的位置检测方向上以矩阵形式设置的多个传感器线圈21,并且是可以检测由电磁感应笔30指示的位置的坐标和电磁感应笔30的书写力的区域。触摸键区域603包括触摸键和设置在对应于触摸键的位置中的传感器电容器22,并且是可以检测触摸键是否已经被手指40等触摸的区域。
图12所示的示例是当在图1中N=42时,设置用于40个通道的40个传感器线圈21和用于两个通道的两个传感器电容器22的示例。具体而言,在显示区域602中,在X方向(图12的水平方向,同样适用于下面的描述)上设置用于15个通道的15个传感器线圈21,并且在Y方向(图12中的垂直方向,同样适用于下面的描述)设置用于25个通道的25个传感器线圈21。因此,显示区域602能够检测由电磁感应笔30指示的位置的坐标和电磁感应笔30的书写力。此外,触摸键区域603包括设置在X方向上用于两个通道的两个传感器电容器22。因此,触摸键区域603能够检测触摸键是否已经被手指40等触摸。以这种方式,虽然移动终端600包括传感器线圈21和传感器电容器22两者,但是将不同的通道分配给传感器线圈21和传感器电容器22,并且传感器线圈21和传感器电容器22连接到彼此不同的输入/输出端子15。
在图12中,由除了传感器线圈21和传感器电容器22之外的组件组成的部件对应于图1所示的半导体装置10。此外,输入/输出端子组15A、15B和15C包括图1所示的输入/输出端子15中的对应通道的输入/输出端子15。此外,发送/接收选择电路16包括图1中的发送单元12中除了信号发生器121之外的元件和图1中的接收单元13中除了ADC 133以外的元件。电流驱动器123可以不一定包括在发送/接收选择电路16中,并且可以包括在输入/输出端子组15A、15B和15C中。
<其上安装有位置检测装置500的移动终端600的操作>
接下来参考图13,对由图11和图12所示的移动终端600驱动传感器线圈21和传感器电容器22的操作的示意流程进行描述。
如图13所示,首先,半导体装置10执行校准以获得信号的幅度参考值和相位参考值。然后,半导体装置10逐个依次地选择用于40个通道的40个传感器线圈21,通过电磁感应向已经选择的传感器线圈21和电磁感应笔30发送和接收信号,并计算由接收单元13经由已经选择的传感器线圈21从电磁感应笔30接收的信号的幅度值和相位值。在40个传感器线圈21中的每一个中的发送和接收完成之后,半导体装置10使用通过校准获得的相位参考值和由40个传感器线圈21中的每一个接收的信号的幅度值和相位值来检测由电磁感应笔30指示的位置的坐标和电磁感应笔30的书写力。然后,半导体装置10逐个依次地选择用于两个通道的两个传感器电容器22,将该信号输出到已经选择的传感器电容器22,接收在已经选择的传感器电容器22和发送单元12之间的连接点处产生的信号,并且计算接收到的信号的相位值。然后,半导体装置10使用已经计算的相位值和通过校准获得的相位参考值之间的相位差来检测对应于已经选择的传感器电容器22的触摸键是否已经被触摸。
由于校准操作、驱动传感器线圈21的操作和驱动传感器电容器22的操作与参考图5-图7和图9描述的操作类似,将省略其描述。
此外,在图13所示的示例中,在校准操作之后,首先驱动40个传感器线圈21来检测电磁感应笔30,然后驱动两个传感器电容器22来检测触摸键上的触摸。然而,本实施例不限于该示例。可以首先驱动两个传感器电容器22来检测触摸键上的触摸,然后驱动40个传感器线圈21来检测电磁感应笔30。
<其上安装有位置检测装置500的移动终端600的修改示例>
图12所示的示例具有以下构造,其中只有传感器线圈21设置在显示区域602中,并且仅能够检测电磁感应笔30,并且只有传感器电容器22设置在触摸键603中并可以检测触摸键上的触摸。然而,本实施例不限于该示例。
如图14所示,例如,传感器线圈21可以设置在显示区域602和触摸键区域603两者中,并且触摸键区域603可以被构造为能够检测电磁感应笔30。具体地,在图14所示的示例中,在触摸键区域603中在X方向上设置有两个传感器线圈21。因此,总共设置了42个传感器线圈21,并且总共设置了两个传感器电容器22。根据该构造,触摸键区域603可以由电磁感应笔30或手指40进行操作。此外,根据该构造,在校准操作之后,可以首先驱动42个传感器线圈21来检测电磁感应笔30,然后可以驱动两个传感器电容器22来检测触摸键上的触摸。可替换地,可以首先驱动两个传感器电容器22来检测触摸键上的触摸,然后驱动42个传感器线圈21来检测电磁感应笔30。
此外,如图15所示,传感器电容器22可以设置在显示区域602和触摸键区域603两者中,并且显示区域602也可以被构造为能够检测触摸键上的触摸。具体地,如图15所示,在显示区域602中,图12所示的四个传感器线圈21被传感器电容器22代替。在图15中,在X方向上设置有两个传感器电容器22,并在Y方向上设置有两个传感器电容器22。因此,总共设置了36个传感器线圈21,并且总共设置了6个传感器电容器22。根据该构造,显示区域602可以由电磁感应笔30或手指40进行操作。此外,根据该构造,在校准操作之后,可以首先驱动36个传感器线圈21来检测电磁感应笔30,然后可以驱动六个传感器电容器22来检测触摸键上的触摸。可替换地,可以首先驱动六个传感器电容器22来检测触摸键上的触摸,然后可以驱动36个传感器线圈21来检测电磁感应笔30。
虽然图中未示出,但是传感器线圈21可以设置在显示区域602和触摸键区域603两者中,并且传感器电容器22可以设置显示区域602和触摸键区域603两者中。根据该构造,显示区域602和触摸键区域603两者都能够检测电磁感应笔30和触摸键上的触摸。因此,显示区域602和触摸键区域603两者都可以由电磁感应笔30或手指40进行操作。在这种情况下,显示区域602可以如图15所示那样构造,并且触摸键区域603可以如图14所示那样构造。
<半导体装置10的效果>
如上所述,根据本实施例的半导体装置10被构造为使用根据相关技术的用于电磁感应位置检测装置的半导体装置,检测传感器电容器22的电容改变作为相位差,并基于相位差检测触摸键是否被触摸。
也就是说,根据本实施例的半导体装置10使用由传感器线圈21接收的信号的幅度值和相位值来检测由电磁感应笔30指示的位置的坐标和电磁感应笔30的书写力。根据本实施例的半导体装置10还将该信号输出到传感器电容器22,接收在传感器电容器22和发送单元12之间的连接点处产生的信号,并使用已经接收到的信号的相位值来检测触摸键是否已被触摸。
因此,在没有向根据相关技术的用于电磁感应位置检测装置的半导体装置添加任何电路的情况下,就可以实现电磁感应笔30的检测和触摸键上的触摸的检测这两个功能。因此,这两个功能可以由半导体装置10(即,一个IC)来实现。此外,IC上的电路数量不增加。因此,可以通过一个IC实现两个功能,而不增加安装面积和芯片面积。
虽然已经基于实施例具体描述了本发明人的发明,但是不用说,本发明不限于上述实施例,并且在不脱离本发明的精神的情况下可以进行各种改变。
虽然已经根据数个实施例描述了本发明,但是本领域技术人员将认识到,在所附权利要求的精神和范围内,本发明可以通过各种修改来实施,并且本发明不限于上述示例。
此外,权利要求的范围不受上述实施例的限制。
此外,应注意的是,即使在稍后审查期间进行修改,申请人的意图也在于涵盖所有权利要求要素的等同内容。

Claims (16)

1.一种半导体装置,其连接到传感器,所述半导体装置包括:
发送单元;
接收单元;和
运算电路,其中
当所述传感器包括设置在位置指示器的位置检测方向上的多个传感器线圈时,在所述多个传感器线圈被驱动时,所述接收单元依次地选择所述多个传感器线圈并经由已经选择的传感器线圈接收来自所述位置指示器的信号,并且所述运算电路使用由所述接收单元经由所述多个传感器线圈中的每一个接收的信号的幅度值和相位值来检测由所述位置指示器指示的位置的坐标和所述位置指示器的书写力,以及
当所述传感器包括设置在对应于触摸键的位置中的传感器电容器时,在所述传感器电容器被驱动时,所述发送单元向所述传感器电容器输出信号,所述接收单元接收在所述传感器电容器和所述发送单元之间的连接点处产生的信号,并且所述运算电路使用由所述接收单元接收的信号的相位值来检测对应于所述传感器电容器的所述触摸键是否已经被触摸。
2.根据权利要求1所述的半导体装置,其中当所述传感器包括设置在对应于多个相应的触摸键的位置中的多个传感器电容器时,在所述多个传感器电容器被驱动时,所述发送单元依次地选择所述多个传感器电容器,向已经选择的传感器电容器输出信号,所述接收单元接收在已经选择的传感器电容器与所述发送单元之间的连接点处产生的信号,并且所述运算电路使用由所述接收单元接收的信号的相位值来检测对应于已经选择的传感器电容器的触摸键是否已经被触摸。
3.根据权利要求1所述的半导体装置,其中,在所述多个传感器线圈和所述传感器电容器被驱动之前执行的校准时,所述发送单元向所述接收单元输出信号,所述接收单元接收从所述发送单元输出的所述信号,并且所述运算电路将由所述接收单元接收的所述信号的相位值保持为相位参考值。
4.根据权利要求3所述的半导体装置,其中,在所述传感器电容器被驱动时,所述运算电路使用在所述传感器电容器和所述发送单元之间的所述连接点处产生的并由所述接收单元接收的所述信号的相位值与所述相位参考值之间的相位差来检测对应于所述传感器电容器的所述触摸键是否已经被触摸。
5.根据权利要求4所述的半导体装置,其中,在所述传感器电容器被驱动时,所述运算电路通过将所述相位差与阈值进行比较来检测对应于所述传感器电容器的所述触摸键是否已经被触摸。
6.根据权利要求3所述的半导体装置,其中,在所述多个传感器线圈被驱动时,所述运算电路使用由所述接收单元经由所述多个传感器线圈中的每一个接收的信号的幅度值来检测由所述位置指示器指示的位置的坐标,并且使用由所述接收单元经由所述多个传感器线圈中的每一个接收的信号的相位值与所述相位参考值之间的相位差来检测所述位置指示器的所述书写力。
7.根据权利要求3所述的半导体装置,其中
所述发送单元包括:
信号发生器,产生电压信号;
第一电流驱动器,将由所述信号发生器产生的所述电压信号转换为电流信号;和
转换电路,将由所述第一电流驱动器转换的所述电流信号转换为电压信号,以及
在所述传感器电容器被驱动时,所述发送单元将由所述转换电路转换后的电压信号输出到所述传感器电容器。
8.根据权利要求7所述的半导体装置,其中
所述发送单元还包括第二电流驱动器,所述第二电流驱动器将由所述信号发生器产生的电压信号转换为电流信号,
在所述校准时,所述发送单元将由所述转换电路转换后的电压信号输出到所述接收单元,
在所述多个传感器线圈被驱动时,所述发送单元依次地选择所述多个传感器线圈并将由所述第二电流驱动器转换的电流信号经由已经选择的传感器线圈发送到所述位置指示器,并且所述接收单元依次地选择由所述发送单元选择的所述传感器线圈并经由已经选择的所述传感器线圈接收来自所述位置指示器的电压信号。
9.根据权利要求1所述的半导体装置,其中当所述传感器包括所述多个传感器线圈和所述传感器电容器时,所述多个传感器线圈被驱动以检测由所述位置指示器指示的位置的坐标和所述位置指示器的所述书写力,然后所述传感器电容器被驱动以检测对应于所述传感器电容器的所述触摸键是否已经被触摸。
10.根据权利要求1所述的半导体装置,其中当所述传感器包括所述多个传感器线圈和所述传感器电容器时,所述传感器电容器被驱动以检测对应于所述传感器电容器的所述触摸键是否已经被触摸,然后所述多个传感器线圈被驱动以检测由所述位置指示器指示的位置的坐标和所述位置指示器的所述书写力。
11.根据权利要求1所述的半导体装置,其中
所述传感器包括所述多个传感器线圈和所述传感器电容器,
所述多个传感器线圈设置在第一区域中,以及
所述传感器电容器设置在与所述第一区域不同的第二区域中。
12.根据权利要求1所述的半导体装置,其中
所述传感器包括所述多个传感器线圈和所述传感器电容器,
所述多个传感器线圈设置在第一区域和与所述第一区域不同的第二区域两者中,以及
所述传感器电容器设置在所述第一区域和所述第二区域中的一个中。
13.根据权利要求1所述的半导体装置,其中
所述传感器包括所述多个传感器线圈和设置在对应于多个相应的触摸键的位置中的多个传感器电容器,
所述多个传感器电容器设置在第一区域和与所述第一区域不同的第二区域两者中,以及
所述多个传感器线圈设置在所述第一区域和所述第二区域中的一个中。
14.根据权利要求1所述的半导体装置,其中
所述传感器包括所述多个传感器线圈和设置在对应于多个相应的触摸键的位置中的多个传感器电容器,
所述多个传感器线圈设置在第一区域和与所述第一区域不同的第二区域两者中,以及
所述多个传感器电容器设置在所述第一区域和所述第二区域两者中。
15.一种位置检测装置,包括:
多个传感器线圈,设置在位置指示器的位置检测方向上;
传感器电容器,设置在对应于触摸键的位置中;
发送单元;
接收单元;和
运算电路,其中
在所述多个传感器线圈被驱动时,所述接收单元依次地选择所述多个传感器线圈并经由已经选择的所述传感器线圈接收来自所述位置指示器的信号,并且所述运算电路使用由所述接收单元经由所述多个传感器线圈中的每一个接收的信号的幅度值和相位值来检测由所述位置指示器指示的位置的坐标和所述位置指示器的书写力,以及
在所述传感器电容器被驱动时,所述发送单元向所述传感器电容器输出信号,所述接收单元接收在所述传感器电容器和所述发送单元之间的连接点处产生的信号,并且所述运算电路使用由所述接收单元接收的信号的相位值来检测对应于所述传感器电容器的所述触摸键是否已经被触摸。
16.一种连接到传感器的半导体装置的控制方法,其中
当所述传感器包括设置在位置指示器的位置检测方向上的多个传感器线圈时,在所述多个传感器线圈被驱动时,依次地选择所述多个传感器线圈,经由已经选择的所述传感器线圈接收来自所述位置指示器的信号,并且使用经由所述多个传感器线圈中的每一个接收的信号的幅度值和相位值来检测由所述位置指示器指示的位置的坐标和所述位置指示器的书写力,以及
当所述传感器包括设置在对应于触摸键的位置中的传感器电容器时,在所述传感器电容器被驱动时,从发送单元向所述传感器电容器输出信号,接收在所述传感器电容器和所述发送单元之间的连接点处产生的信号,并且使用已经接收的信号的相位值来检测对应于所述传感器电容器的所述触摸键是否已经被触摸。
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