CN107462828B - 网状扫描链结构及扫描触发器 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例提供一种网状扫描链结构及扫描触发器，其中，该网状扫描链结构包括：至少两条第一扫描链，其中，所述第一扫描链是由多个扫描触发器串联构成的；以及至少一条第二扫描链，其中，所述第二扫描链是由位于各第一扫描链上的扫描触发器串联构成的。本发明实施例提供的网状扫描链结构及扫描触发器，能够提高扫描诊断的速度和故障定位的准确率。

Description

网状扫描链结构及扫描触发器
技术领域
本发明实施例涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种网状扫描链结构及扫描触发器。
背景技术
扫描链是可测试性设计的一种实现技术。它是将电路中的触发器替换为可扫描的触发器，并将这些可扫描的触发器首尾串联形成的可用于对触发器进行配置和观测的结构。
图1为传统扫描链结构的结构示意图，如图1所示，传统的扫描链结构为链式结构，可扫描的触发器均匀的分配在多条扫描链上。位于一条扫描链上的可扫描的触发器顺序连接，并且每个可扫描的触发器有且只有一个前节点和一个后节点(位于扫描链两端的可扫描的触发器除外)。现有的扫描链故障诊断技术均是基于此种结构的扫描链，在进行扫描操作时，每条扫描链的扫描移位操作并行执行，互不干扰。
但是，这种扫描链结构在进行扫描时，扫描链中的故障效果会因为扫描移位而具有全局性，从而使得扫描诊断的速度和故障定位的准确率不高。
发明内容
本发明实施例提供一种网状扫描链结构及扫描触发器，用以提高扫描诊断的速度和故障定位的准确率。
本发明实施例第一方面提供一种网状扫描链结构，该扫描链结构包括：
至少两条第一扫描链，其中，所述第一扫描链是由多个扫描触发器串联构成的；以及，
至少一条第二扫描链，其中，所述第二扫描链是由位于各第一扫描链上的扫描触发器串联构成的。
本发明实施例提供的网状扫描链结构，通过将若干扫描触发器串联，形成若干扫描链，并通过将位于各描链上的扫描触发器进行串联，形成网状的扫描链结构，从而通过对该网状扫描链结构进行扫描，就可以根据故障所在的横向扫描链(即第一扫描链)的位置和纵向扫描链(即第二扫描链)的位置，确定故障的准确位置，实现了提高扫描诊断速度和故障定位准确率的目的。
本发明实施例第二方面提供一种用于构成上述第一方面提供的网状扫描链结构的扫描触发器，该扫描触发器包括：
第二多路选择器和触发器芯片；
其中，所述第二多路选择器的输出端与所述触发器芯片的输入端连接，所述第二多路选择器的输入端分别与其所在的第一扫描链或第二扫描链上的上一级扫描触发器的输出端连接。
本发明实施例提供的网状扫描链结构，通过将第二多路选择器与触发器进行串联，使得扫描触发器的输入端能够同时与多个不同的扫描触发器进行连接，从而为形成网状扫描链结构，提高了扫描诊断的速度和为故障定位的准确率提供了先决条件。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为传统扫描链结构的结构示意图；
图2为本发明一实施例提供的全局网状扫描链结构的结构示意图；
图3为本发明一实施例提供的局部网状扫描链结构的结构示意图；
图4为本发明一实施例提供的扫描触发器的结构示意图。
附图标记：
10-第一扫描链； 20-第二扫描链； 30-第一多路选择器；
40-第二多路选择器； 50-触发器芯片； 101-扫描触发器段。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明的说明书和权利要求书的术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤的过程或结构的装置不必限于清楚地列出的那些结构或步骤而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程或装置固有的其它步骤或结构。
具体的，本发明实施例中提供的网状扫描链结构包括全局网状扫描链结构和局部扫描链结构两种。其中，图为2本发明一实施例提供的全局网状扫描链结构的结构示意图，图3为本发明又一实施例提供的局部网状扫描链结构的结构示意图。全局网状扫描链结构适用于横向扫描链(在本发明实施例中即第一扫描链)长度较短的情况，局部网状扫描链结构适用于纵向扫描链(在本发明实施例中即第二扫描链)长度较长的情况，在纵向扫描链长度较长的情况时采用局部网状扫描链结构，能够在保证故障定位准确率的同时，还能减少纵向扫描链的数量，提高扫描的速度。
如图2所示，本实施例提供的全局网状扫描链结构，包括：
至少一条第一扫描链10，其中，第一扫描链10是由多个扫描触发器串联构成的；以及，
至少一条第二扫描链20，其中，第二扫描链20是由位于各第一扫描链上的扫描触发器串联构成的。
具体的，生成第二扫描链20的方式可以根据具体需要具体设置，即构成每条第二扫描链20的位于每条第一扫描链10上的扫描触发器的数量可以根据具体需要具体确定。在本实施例中，第二扫描链20是以每条第一扫描链10上的一个扫描触发器为一个节点单元串联而成的。
如图2所示，本实施例以有六条第一扫描链10，每条第一扫描链10有8个扫描触发器为例，即在本实施例中，第一扫描链10的输入端口和输出端口为6个。进一步的，假设每条第一扫描链10上的扫描触发器从左到右依次编号为1、2、3、4、5、6、7、8，则将各第一扫描链10上编号相同的扫描触发器串联起来生成第二扫描链20，即将各第一扫描链10上的编号为1的扫描触发器串联起来生成一条第二扫描链20，将各第一扫描链10上的编号为2的扫描触发器串联起来生成另一条第二扫描链20，依次类推共生成8条第二扫描链20。值得说明的是本实施例中第二扫描链20可以与第一扫描链10共享端口，也可以区别于第一扫描链10使用单独的端口，实际应用中可以根据具体的端口数量进行配置，在这里不再赘述。
进一步的，本实施例中的网状扫描链结构可以采用多种扫描策略与其配套使用，通过全局控制信号SEL_HV来选择网状扫描链结构中的第一扫描链10或第二扫描链20进行扫描。比如，当第一扫描链10和第二扫描连20共享端口时，可以采用第一扫描链10和第二扫描链20分时复用的方式进行扫描，扫描结束后分别从各第一扫描链10中确定存在故障的扫描链，从各第二扫描链20中确定存在故障的扫描链，确定存在故障的第一扫描链10和存在故障的第二扫描链20的交汇节点即故障节点。
另外，考虑到扫描端口有限，当第一扫描链10的数量和/或第二扫描链20的数量超过端口数量时，可以在第一扫描链10和/或第二扫描链20的输入和输出端口上各自串联一个第一多路选择器30，通过分时复用的方式扫描第一扫描链10或第二扫描链20的输入端口和输出端口，从而解决端口紧张的问题。
本实施例提供的网状扫描链结构，通过将若干扫描触发器串联，形成若干扫描链，并通过将位于各扫描链上的扫描触发器进行串联，形成网状的扫描链结构，从而通过该网状扫描链结构实现了提高扫描诊断速度和故障定位准确率的目的。
进一步的，在图2所示的结构中，第二扫描链20是以单个扫描触发器为构建单元实现构建的。这种构建方式虽然在一定程度上能够提高扫描诊断速度和故障定位准确率。进一步的，对于一个大规模的芯片设计而言，实际扫描链的长度可能会比较长，采用图2中第二扫描链20的构建方法有时会生成较大量的第二扫描链，在此基础之上如果继续使用分时复用的方式对第二扫描链进行扫描将会产生需要的扫描时间比较长的情况，针对这种情况，可以考虑采用数据压缩的方式进行解决。
具体进一步的，图3为本发明一实施例提供的局部网状扫描链结构的结构示意图，如图3所示，在图2所示第一扫描链10的基础上，可以将每个第一扫描链10上的扫描触发器分割成若干组扫描触发器段101，每个扫描器单元101可以包括若干串联的扫描触发器。将位于各第一扫描链10上的扫描触发器段进行串联形成第二扫描链20，即可实现数据压缩，减少第二扫描链20的数量，在确保故障定位准确率的同时，提高扫描诊断的速度。
进一步的，扫描触发器段101的划分方法可以根据第一扫描链10的长度和实际端口的数量进行划分。例如，在第一扫描链10的长度相较于实际端口的数量较长时，可以将扫描触发器段101划分的大一些，即每个扫描触发器段101中的扫描触发器的数量多一些。这样就可以很好的达到数据压缩的目的，提高扫描诊断的速度。
本实施例中，每个扫描触发器段101中包含两个连续的扫描触发器。即以每两个连续的扫描触发器为一个扫描触发器段，每两个扫描触发器段之间没有重叠的扫描触发器。
进一步的，位于各第一扫描链10上的用于构成第二扫描链20的扫描触发器段之间的连接方式，可以根据具体需要具体设置，本实施例中优选采用为每个第一扫描链10上扫描触发器段进行顺序编号，并将各第一扫描链10上编号相同的扫描触发器段进行串联的方式构成第二扫描链20。
本实施例提供的网状扫描链结构，通过将若干扫描触发器串联，形成若干扫描链，并通过将位于各描链上的扫描触发器进行串联，形成网状的扫描链结构，从而通过该网状扫描链结构实现了提高扫描诊断速度和故障定位准确率的目的。
进一步的，为了实现上述实施例中的网状扫描链结构，本发明实施例提供了一种新型的扫描触发器，图4为本发明一实施例提供的扫描触发器的结构示意图，如图4所示，该扫描触发器包括：
第二多路选择器40和触发器芯片50。
其中，所述第二多路选择器40的输出端与所述触发器芯片50的输入端连接，所述第二多路选择器40的输入端分别与其所在的第一扫描链或第二扫描链上的上一级扫描触发器的输出端连接。
具体的，与传统的扫描触发器相比，本实施例中提供的扫描触发器主要增加了第二多路选择器40，用于支持多路扫描输入。第二多路选择器40优选为2选1多路选择器。第二多路选择器40的SI_H引脚连接横向的上一级扫描触发器的SO端，第二多路选择器40的SI_V引脚连接纵向上一级扫描触发器的SO端，并根据全局控制信号SEL_HV选择横向扫描链还是纵向扫描链进行扫描。
本实施例提供的网状扫描链结构，通过将第二多路选择器与触发器芯片进行串联，使得扫描触发器的输入端能够同时与多个不同的扫描触发器进行连接，从而为形成网状扫描链结构，提高扫描诊断的速度和故障定位的准确率提供了先决条件。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (4)

1.一种网状扫描链结构，其特征在于，包括：
至少两条第一扫描链，其中，所述第一扫描链是由多个扫描触发器串联构成的；以及，
至少一条第二扫描链，其中，将每条所述第一扫描链上的所述扫描触发器分割成若干组扫描触发器段，将位于各所述第一扫描链上的所述扫描触发器段进行串联形成所述第二扫描链，每个所述扫描触发器段包括两个连续的扫描触发器，每两个扫描触发器段之间没有重叠的扫描触发器；每个第一扫描链上扫描触发器段进行顺序编号，将各个第一扫描链上编号相同的扫描触发器段进行串联的方式构成第二扫描链；
所述网状扫描链结构还包括：多个第一多路选择器；
各所述第一扫描链的输入端与一第一多路选择器进行连接，各所述第一扫描链的输出端与另一第一多路选择器进行连接；和/或，
各所述第二扫描链的输入端与一第一多路选择器进行连接，各所述第二扫描链的输出端与又一第一多路选择器进行连接。
2.一种扫描触发器，用于构成如权利要求1所述的网状扫描链结构，其特征在于，包括：
触发器芯片和第二多路选择器；
其中，所述第二多路选择器的输出端与所述触发器芯片的输入端连接，所述第二多路选择器的输入端分别与所述第二多路选择器所在的第一扫描链或第二扫描链上的上一级扫描触发器的输出端连接。
3.根据权利要求2所述的扫描触发器，其特征在于，所述第二多路选择器为二选一多路选择器。
4.根据权利要求3所述的扫描触发器，其特征在于，所述扫描触发器根据全局控制信号SEL_HV来选择其所在的第一扫描链或第二扫描链进行扫描。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111766505B (zh) * 2020-06-30 2023-04-25 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司 一种集成电路的扫描测试装置
CN117007951A (zh) * 2023-10-07 2023-11-07 北京数渡信息科技有限公司 一种基于二维扫描链结构的诊断方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1532933A (zh) * 2003-03-20 2004-09-29 松下电器产业株式会社 半导体集成电路
CN1979434A (zh) * 2005-12-08 2007-06-13 恩益禧电子股份有限公司 半导体集成电路及其控制方法
CN103033739A (zh) * 2012-12-20 2013-04-10 天津联芯科技有限公司 可程控的纳米级别集成电路内置自检控制器
CN103163451A (zh) * 2013-03-06 2013-06-19 中国人民解放军国防科学技术大学 面向超级计算系统的自选通边界扫描调测试方法及装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1996035B (zh) * 2005-12-31 2012-01-25 旺玖科技股份有限公司 用于多芯片组件的具有可规划扫描链的装置
US8615693B2 (en) * 2011-08-31 2013-12-24 Lsi Corporation Scan test circuitry comprising scan cells with multiple scan inputs

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1532933A (zh) * 2003-03-20 2004-09-29 松下电器产业株式会社 半导体集成电路
CN1979434A (zh) * 2005-12-08 2007-06-13 恩益禧电子股份有限公司 半导体集成电路及其控制方法
CN103033739A (zh) * 2012-12-20 2013-04-10 天津联芯科技有限公司 可程控的纳米级别集成电路内置自检控制器
CN103163451A (zh) * 2013-03-06 2013-06-19 中国人民解放军国防科学技术大学 面向超级计算系统的自选通边界扫描调测试方法及装置

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