CN107393481A - 有机发光二极管oled的寿命老化方法和系统 - Google Patents

Abstract

本发明提出一种有机发光二极管OLED的寿命老化方法和系统，所述方法包括以下步骤：根据写入电压驱动所述OLED以控制所述OLED的发光层电流；检测所述OLED的发光层电流以生成电流检测值；获取预设老化电流值；根据所述预设老化电流值与所述电流检测值之间的差值对所述写入电压进行调节，并根据调节后的写入电压驱动所述OLED，以使所述OLED的发光层电流维持在所述预设老化电流值，从而，通过闭环恒流控制能够精确控制OLED的发光层电流，使得发光层电流在与预设老化电流值基本无误差的情况下进行L‑Aging工艺，避免L‑Aging过程中由于电流过高或过低导致的L‑Aging不充分或灼伤类的不良，提升L‑Aging工艺的稳定性，更好控制L‑Aging过程中Aging量，提升工艺良率。

Description

有机发光二极管OLED的寿命老化方法和系统

技术领域

本发明涉及显示领域，尤其涉及一种有机发光二极管OLED的寿命老化方法以及一种有机发光二极管OLED的寿命老化系统。

背景技术

在OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)器件中，OLED器件的寿命是评价一个OLED器件的重要指标，在OLED制作工艺中，在OLED器件成型后会对OLED器件进行寿命老化(Lifetime-Aging简称L-Aging)工艺。L-Aging工艺中老化的指标(亮度衰减量、效率减少量和残影残像品质)与L-Aging过程中的电流大小成正相关，恰当的L-Aging量能够使得OLED材料在使用阶段亮度衰减量较低，并能提升残影残像品质。

相关工艺中，在进行L-Aging时通常会通过给定固定电压来控制OLED的发光层电流，利用OLED器件产生的电流进行老化OLED材料。但是，相关技术存在的问题是，采用开环控制，实现较为简单，但无法实现精细控制。并且，由于背板电路在工艺过程中会出现TFT特性的离散性，仅补偿电路无法保证给定固定电压与输出电流的一致性，背板电路均一性不太好，因此，通过给定固定写入电压的方式会导致OLED的发光层电流偏差较大(最大偏差可为400mA左右)，从而高电流下容易造成OLED器件有机像素材料损坏以及电源线路灼伤，低电流又容易造成L-Aging不充分，使L-Aging工艺达不到效果。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的第一个目的在于提出一种有机发光二极管OLED的寿命老化方法，能够精确控制OLED的发光层电流，提升L-Aging工艺的稳定性。

本发明的第二个目的在于提出一种OLED的寿命老化系统。

为达上述目的，本发明第一方面实施例提出了一种有机发光二极管OLED的寿命老化方法，包括以下步骤：根据写入电压驱动所述OLED以控制所述OLED的发光层电流；检测所述OLED的发光层电流以生成电流检测值；获取预设老化电流值；根据所述预设老化电流值与所述电流检测值之间的差值对所述写入电压进行调节，并根据调节后的写入电压驱动所述OLED，以使所述OLED的发光层电流维持在所述预设老化电流值。

根据本发明实施例提出的有机发光二极管OLED的寿命老化方法，根据预设老化电流值与电流检测值之间的差值对写入电压进行调节，并根据调节后的写入电压驱动OLED，以使OLED的发光层电流维持在预设老化电流值，从而，通过闭环恒流控制能够精确控制OLED的发光层电流，使得发光层电流在与预设老化电流值基本无误差的情况下进行L-Aging工艺，避免L-Aging过程中由于电流过高或过低导致的L-Aging不充分或灼伤类的不良，提升L-Aging工艺的稳定性，更好控制L-Aging过程中Aging量，提升工艺良率。

根据本发明的一个实施例，所述OLED的发光层的两端分别与第一预设电源和第二预设电源相连，，通过写入电压与OLED的发光层电流的关系确定控制算法，所述方法还包括：根据所述控制算法并结合所述预设老化电流值与所述电流检测值之间的差值对所述写入电压进行调节。

根据本发明的一个实施例，当所述电流检测值大于所述预设老化电流值时，根据所述预设老化电流值与所述电流检测值之间的差值调小所述写入电压；当所述电流检测值小于所述预设老化电流值时，根据所述预设老化电流值与所述电流检测值之间的差值调大所述写入电压。

根据本发明的一个实施例，通过采样电阻检测所述OLED的发光层电流，所述方法还包括：检测所述采样电阻的电压以生成采样电压值；根据所述预设老化电流值和所述采样电阻的阻值进行换算以获取预设电压值；根据所述预设电压值与所述采样电压值之间的差值对所述写入电压进行调节。

为达到上述目的，本发明另一方面实施例提出的有机发光二极管OLED的寿命老化系统，包括：驱动模块，用于根据写入电压驱动所述OLED以控制所述OLED的发光层电流；电流检测模块，用于检测所述OLED的发光层电流以生成电流检测值；控制模块，用于获取预设老化电流值，并根据所述预设老化电流值与所述电流检测值之间的差值对所述写入电压进行调节，并根据调节后的写入电压驱动所述OLED，以使所述OLED的发光层电流维持在所述预设老化电流值。

根据本发明实施例提出的OLED的寿命老化系统，控制模块根据预设老化电流值与电流检测值之间的差值对写入电压进行调节，并根据调节后的写入电压驱动OLED，以使OLED的发光层电流维持在预设老化电流值，从而，通过闭环恒流控制能够精确控制OLED的发光层电流，使得发光层电流在与预设老化电流值基本无误差的情况下进行L-Aging工艺，避免L-Aging过程中由于电流过高或过低导致的L-Aging不充分或灼伤类的不良，提升L-Aging工艺的稳定性，更好控制L-Aging过程中Aging量，提升工艺良率。

根据本发明的一个实施例，所述OLED的发光层的两端分别与第一预设电源和第二预设电源相连，，通过写入电压与OLED的发光层电流的关系确定控制算法，所述控制模块还用于，根据所述控制算法并结合所述预设老化电流值与所述电流检测值之间的差值对所述写入电压进行调节。

根据本发明的一个实施例，当所述电流检测值大于所述预设老化电流值时，所述控制模块根据所述预设老化电流值与所述电流检测值之间的差值调小所述写入电压；当所述电流检测值小于所述预设老化电流值时，所述控制模块根据所述预设老化电流值与所述电流检测值之间的差值调大所述写入电压。

根据本发明的一个实施例，所述电流检测模块通过采样电阻检测所述OLED的发光层电流，所述系统还包括：电压检测模块，用于检测所述采样电阻的电压以生成采样电压值；其中，所述控制模块还用于，根据所述预设老化电流值和所述采样电阻的阻值进行换算以获取预设电压值，并根据所述预设电压值与所述采样电压值之间的差值对所述写入电压进行调节。

根据本发明的一个实施例，所述电流检测模块、所述控制模块和所述电压检测模块设置于波形发生器，所述驱动模块设置于OLED显示器的背板电路。

根据本发明的一个实施例，所述采样电阻串联在所述第一预设电源、所述第二预设电源和所述OLED构成的回路中。

本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是根据本发明一个实施例的OLED的寿命老化方法的流程图；

图2是根据本发明一个实施例的像素驱动电路的原理示意图；

图3是根据本发明一个实施例的闭环控制回路的原理示意图；

图4是根据本发明一个实施例的写入电压Vdata与OLED的发光层电流Iel的关系的曲线示意图；

图5是根据本发明另一个实施例的写入电压Vdata与OLED的发光层电流Iel的关系的曲线示意图；

图6是根据本发明一个实施例的OLED发光层电流的检测方法的原理示意图；

图7是根据本发明另一个实施例的OLED的寿命老化方法的流程图；

图8是根据本发明另一个实施例的OLED的寿命老化方法的控制原理示意图；

图9是根据本发明一个具体实施例的OLED的寿命老化方法的流程图；

图10是根据本发明一个实施例的OLED的寿命老化系统的方框示意图；以及

图11是根据本发明另一个实施例的OLED的寿命老化系统的方框示意图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

首先简单介绍一下闭环控制原理。

闭环控制是控制论中一个基本的控制思想，闭环系统的控制稳定性以及控制动态反应性能都有很好的保障。具体地，如图2所示，闭环控制是根据控制对象输出反馈来进行校正，即检测环节可从输出量取出反馈信号，并反馈至输入端以与给定输入量进行比较，在比较器测量出反馈信号与给定输入量之间出现偏差，即误差信号δ不为零时，控制器可按照一定的控制算法对对象的输出量进行纠正。其中，当反馈信号和给定输入量相位相反时，为负反馈控制。

下面参考附图描述本发明实施例的OLED的寿命老化方法和系统，该方法和系统可通过闭环控制方式控制OLED的发光层电流，实现L-Aging工艺直接控制OLED发光层电流的精细化控制。

图1是根据本发明一个实施例的OLED的寿命老化方法的流程图。如图1所示，OLED的寿命老化方法包括以下步骤：

S1：根据写入电压Vdata驱动OLED以控制OLED的发光层电流。

需要说明的是，每个OLED可由相应的驱动模块驱动，驱动模块包括像素驱动电路，其中，像素驱动电路可根据接收到的写入信息驱动相应的OLED，写入信息可包括Source(源极)向写入信号和时序信号，并且，Source向写入信号可包括前面提到的写入电压Vdata以及基准电压Vref、复位电压Vinit、第一预设电源VDD的第一预设电压和第二预设电源VSS的第二预设电压。其中，基准电压Vref和复位电压Vinit为固定值；第一预设电源VDD和第二预设电源VSS用于向OLED的发光层两端提供电压；写入电压Vdata与基准电压Vref的差值即Vdata-Vref用于控制OLED的发光层电流的大小；时序信号用于控制像素驱动电路中薄膜晶体管的打开与关闭时序。

如图2所示，为像素驱动电路的一种实施方式，其中，像素驱动电路的EL回路部分(虚框部分)包括开关晶体管T6和驱动晶体管T3,驱动晶体管T3的源级与第一预设电源VDD相连，驱动晶体管T3的漏极与开关晶体管T6的源级相连，开关晶体管T6的漏极与OLED的阳极相连，OLED的阴极与第二预设电源VSS，驱动晶体管T3的栅极电压由写入电压Vdata与基准电压Vref(Vref为固定值)的差值决定，开关晶体管T6的栅极用于接收时序信号中的EM信号。

其中，驱动晶体管T3的开关大小由写入电压Vdata与基准电压Vref的差值决定，由于基准电压Vref为固定值，驱动晶体管T3的开关大小由写入电压Vdata决定，而驱动晶体管T3的开关大小决定OLED的发光层电流的大小，因而写入电压Vdata与OLED的发光层电流呈一定的线性关系，通过改变写入电压Vdata可改变OLED的发光层电流。

由此，像素驱动电路可根据写入电压Vdata等Source向写入信号和时序信号驱动OLED。换言之，像素驱动电路中的开关晶体管可根据接收到的时序信号打开或关闭，进而通过开关晶体管的开关控制读取写入电压Vdata等，并根据写入电压Vdata等控制OLED的发光层电流。

其中，驱动模块可设置于OLED显示器的背板电路。

应当理解是的，OLED的像素驱动电路的结构、工作原理已为现有技术，且为本领域普通技术人员所熟知，这里出于简洁的目的，不再详细赘述。

S2：检测OLED的发光层电流以生成电流检测值。

其中，可通过电流检测模块检测OLED的发光层(EL层)电流。具体地，电流检测模块可设置于波形发生器PG。换言之，波形发生器PG中可具有发光层EL电流测试功能，通过PG的EL层电流测试功能可检测OLED的发光层电流。

S3：获取预设老化电流值。

需要说明的是，预设老化电流值可以提前预设，且预设老化电流值可根据OLED的特性设置，以确保L-Aging工艺中实现恰当的L-Aging量，使得OLED在使用阶段亮度衰减量较低和残影残像品质较优。

S4：根据预设老化电流值与电流检测值之间的差值对写入电压Vdata进行调节，并根据调节后的写入电压Vdata’驱动OLED，以使OLED的发光层电流维持在预设老化电流值。

具体地，可根据预设老化电流值与电流检测值之间的差值和预设PID模型对写入电压Vdata进行PID调节。

其中，可通过控制模块计算预设老化电流值与电流检测值之间的差值，进而控制模块可根据预设老化电流值与电流检测值之间的差值对写入电压Vdata进行PID调节，并根据调节后的写入电压Vdata’驱动OLED。具体地，控制模块可设置于波形发生器PG。

也就是说，将图3实施例的闭环控制回路对应到L-Aging工艺上，给定输入量为L-Aging的预设老化电流值，控制器与比较器可包含于控制模块，控制模块可为波形发生器PG的中央控制单元，扰动量可为OLED器件的背板电路的差异，对象可为OLED的发光层电流，检测环节输出的反馈信号可为OLED的发光层电流，即PG检测到的EL层电流。换言之，本发明实施例的方法是运用闭环控制原理，将EL层的电流检测值与预设老化电流值的差值作为闭环控制环路中的输入，将调节后的写入电压Vdata’作为输出，以PG的中央控制单元作为回路的控制单元控制EL层电流的大小。

具体而言，在L-Aging过程中，可实时检测OLED的发光层电流以生成电流检测值，然后将电流检测值与预设老化电流值进行比较，如果电流检测值与预设老化电流值基本一致，则保持写入电压Vdata不变，继续以根据该写入电压驱动OLED；如果电流检测值与预设老化电流值不一致，则根据预设老化电流值与电流检测值之间的差值对写入电压Vdata进行调节以获取调节后的写入电压Vdata’，并根据调节后的写入电压Vdata’驱动OLED，从而确保OLED的发光层电流维持在预设老化电流值。

由此，通过OLED发光层的电流检测值与预设老化电流值的差值控制写入电压Vdata的大小，进而控制OLED的发光层电流的大小，使得发光层电流在与预设老化电流值基本无误差的情况下进行L-Aging工艺，避免L-Aging过程中由于电流过高或过低导致的L-Aging不充分或灼伤类的不良，提升L-Aging工艺的稳定性，更好控制L-Aging过程中Aging量，提升工艺良率。

需要说明的是，波形发生器PG采用ARM处理器作为中央控制单元，并且可以搭载Linux操作系统，波形发生器PG预留的计算能力和存储能力足够完成流程控制工作。而且，波形发生器PG中通道Channel的输出时基频率在100ns以内，足够保证闭环控制的及时性。

进一步地，根据本发明的一个实施例，方法还可包括：对预设老化电流值与电流检测值之间的差值进行放大处理，并根据放大后的电流差值对写入电压Vdata进行调节。也就是说，在将电流检测值与预设老化电流值进行比较之后，还可按照预设比例对预设老化电流值与电流检测值之间的差值进行放大，如果电流检测值与预设老化电流值不一致，则根据放大后的电流差值对写入电压Vdata进行调节以获取调节后的写入电压Vdata’。

根据本发明的一个实施例，OLED的发光层的两端分别与第一预设电源VDD和第二预设电源VSS相连，通过写入电压Vdata与OLED的发光层电流的关系确定控制算法，方法还包括：根据控制算法并结合预设老化电流值与电流检测值之间的差值对写入电压Vdata进行调节。

需要说明的是，OLED的发光层的两端的压差不同，写入电压Vdata与OLED的发光层电流Iel也不同，如图4所示，当第一预设电源VDD与第二预设电源VSS之间的压差VDD-VSS为12V时，写入电压Vdata与OLED的发光层电流Iel之间的关系如曲线4-1所示；当第一预设电源VDD与第二预设电源VSS之间的压差VDD-VSS为10V时，写入电压Vdata与OLED的发光层电流Iel之间的关系如曲线4-2所示；当第一预设电源VDD与第二预设电源VSS之间的压差VDD-VSS为8V时，写入电压Vdata与OLED的发光层电流Iel之间的关系如曲线4-3所示。

如图2所示，OLED的阳极通过开关晶体管T6和驱动晶体管T3与第一预设电源VDD，第一预设电源VDD和第二预设电源VSS可以使OLED的发光层的两端的压差固定，同一OLED器件，写入电压Vdata与OLED的发光层电流Iel的关系也固定。在本发明实施例中，可控制第一预设电源VDD与第二预设电源VSS之间的压差VDD-VSS不变，通过改变写入电压Vdata进行电流调节。

另外，在恒定压差VDD-VSS下，不同型号例如不同颜色的OLED器件，写入电压Vdata与OLED的发光层电流Iel的关系也不同。如图5所示，为写入电压Vdata与OLED的发光层电流Iel的关系的曲线示意图，其中，曲线5-1为写入电压Vdata与蓝色OLED的发光层电流Iel的关系，曲线5-2为写入电压Vdata与绿色OLED的发光层电流Iel的关系，曲线5-3为写入电压Vdata与红色OLED的发光层电流Iel的关系。

也就是说，在恒定压差VDD-VSS下，特定画面下OLED的发光层电流Iel与写入电压Vdata有线性关系。由此，通过对恒定压差VDD-VSS下OLED的发光层电流Iel与写入电压Vdata的关系进行建模，可以得出对应的控制算法。进而将控制算法存储在控制模块，控制模块根据该控制算法并结合预设老化电流值与电流检测值之间的差值即可对写入电压Vdata进行调节。

根据本发明的一个实施例，当电流检测值大于预设老化电流值时，根据预设老化电流值与电流检测值之间的差值调小写入电压Vdata；当电流检测值小于预设老化电流值时，根据预设老化电流值与电流检测值之间的差值调大写入电压Vdata。

也就是说，当电流检测值大于预设老化电流值，即预设老化电流值减去电流检测值小于零时，调小写入电压Vdata，且根据预设老化电流值与电流检测值之间的差值调节调小量，从而降低OLED的发光层电流，以接近预设老化电流值；当电流检测值小于预设老化电流值，即预设老化电流值减去电流检测值大于零时，调大写入电压Vdata，且根据预设老化电流值与电流检测值之间的差值调节调大量，从而提升OLED的发光层电流，以接近预设老化电流值。当电流检测值等于预设老化电流值，即预设老化电流值减去电流检测值等于零时，保持写入电压Vdata不变，从而保持OLED的发光层电流不变，维持在预设老化电流值。

根据本发明的一个实施例，可通过采样电阻检测OLED的发光层电流。根据本发明的一个具体实施例，采样电阻可串联在第一预设电源VDD、第二预设电源VSS和OLED构成的回路中。也就是说，采样电阻可串联在OLED的发光层的回路中，以便于通过检测流过采样电阻的电流以确定OLED的发光层电流。

具体而言，如图6所示，可在第一预设电源VDD、第二预设电源VSS和OLED构成的回路中串联一个定值电阻R即采样电阻，然后通过电压检测模块检测该定值电阻R的电压，并根据欧姆定律计算OLED的发光层电流Iel，即OLED的发光层电流Iel＝定值电阻的电压V/定值电阻的阻值Ω，

其中，定值电阻R和电压检测模块均可设置在波形发生器PG中。

进一步地，如图7所示，OLED的寿命老化方法还包括：

S10：检测采样电阻的电压以生成采样电压值；

S20：根据预设老化电流值和采样电阻的阻值进行换算以获取预设电压值；

S30：根据预设电压值与采样电压值之间的差值对写入电压Vdata进行调节。

根据本发明的一个实施例，方法还可包括：对预设电压值与采样电压值之间的差值进行放大处理，并根据放大后的电压差值对写入电压Vdata进行调节。也就是说，在将预设电压值与采样电压值进行比较之后，还可按照预设比例对预设电压值与采样电压值之间的差值进行放大，如果预设电压值与采样电压值不一致，则根据放大后的电压差值对写入电压Vdata进行调节以获取调节后的写入电压Vdata’。

也就是说，可通过PG中电压检测模块检测采样电阻的电压，进而控制模块即PG中的央处理单元可按照图8所示的控制回路执行软件流程，即：通过预设老化电流值I和采样电阻的阻值Ω进行换算以获取预设电压值V，即V＝I×Ω，并且，采样电阻的电压可由OLED发光层和采样电阻的阻值决定，即V’＝Iel×Ω，可实时检测采样电阻的电压以生成电压检测值V’，然后将电压检测值V’与预设电压值V进行比较，以获取预设电压值V与电压检测值V’之间的差值Δ。预设电压值V与电压检测值V’之间的差值Δ经比例放大器放大后传输给PG中的控制模块。控制模块可根据预设电压值V与电压检测值V’之间的差值Δ调节写入电压Vdata，以调节OLED的发光层电流Iel，从而可实现OLED的发光层电流Iel等于预设老化电流值I。

具体地，如果预设电压值V与电压检测值V’基本一致，则保持写入电压Vdata不变，继续以根据该写入电压Vdata驱动OLED；如果预设电压值V与电压检测值V’不一致，则根据预设电压值V与电压检测值V’之间的差值Δ对写入电压Vdata进行调节以获取调节后的写入电压Vdata’，并根据调节后的写入电压Vdata’驱动OLED，从而确保OLED的发光层电流Iel维持在预设老化电流值I。

更具体地，如图9所示，本发明实施例的OLED的寿命老化方法可包括以下步骤：

S101：通过PG设定OLED的写入电压Vdata。

S102：PG输出写入信息(包括写入电压Vdata和时序信号)给显示器的背板电路。

S103：背板电路中的驱动模块根据写入电压Vdata和时序信号驱动OLED，以控制OLED的发光层电流。

S104：检测OLED的发光层电流。

S105：判断OLED的发光层电流是否正常，即OLED的发光层电流是否维持在预设老化电流值。

如果是，则执行步骤S107；如果否，则执行步骤S106。

S106：通过前述闭环控制调节写入电压Vdata，返回步骤S102。

S107：利用OLED的发光层电流进行老化OLED材料。

由此，本发明实施例的方法能够基于闭环控制系统实现恒流L-Aging工艺，从根本上解决L-Aging中出现的灼伤与L-Aging加载电流离散性过大的问题，提升L-Aging工艺稳定性，更好控制L-Aging过程中Aging量，提升工艺良率。而且，该方法适用范围广，可适用于所有利用电流老化OLED器件的工艺。

为了实现上述实施例，本发明还提出一种有机发光二极管OLED的寿命老化系统。

图10是本发明实施例提供的一种OLED的寿命老化系统的方框示意图。如图10所示，该OLED的寿命老化系统包括：驱动模块10、电流检测模块20和控制模块30。

其中，驱动模块10用于根据写入电压Vdata驱动OLED以控制OLED的发光层电流。需要说明的是，每个OLED可由相应的驱动模块10驱动，驱动模块10可包括像素驱动电路，其中，像素驱动电路可根据接收到的写入信息驱动相应的OLED，写入信息可包括Source(源极)向写入信号和时序信号，并且，Source向写入信号可包括前面提到的写入电压Vdata以及基准电压Vref、复位电压Vinit、第一预设电源VDD的第一预设电压和第二预设电源VSS的第二预设电压。其中，基准电压Vref和复位电压Vinit为固定值；第一预设电源VDD和第二预设电源VSS用于向OLED的发光层两端提供电压；写入电压Vdata与基准电压Vref的差值即Vdata-Vref用于控制OLED的发光层电流的大小；时序信号用于控制像素驱动电路中薄膜晶体管的打开与关闭时序。

如图2所示，为像素驱动电路的一种实施方式，其中，像素驱动电路的EL回路(虚框部分)包括开关晶体管T1和驱动晶体管T3,驱动晶体管T3的源级与第一预设电源VDD相连，驱动晶体管T3的漏极与开关晶体管T6的源级相连，开关晶体管T6的漏极与OLED的阳极相连，OLED的阴极与第二预设电源VSS，驱动晶体管T3的栅极电压由写入电压Vdata与基准电压Vref的差值决定，开关晶体管T6的栅极用于接收时序信号中的EM信号。

其中，驱动晶体管T3的开关大小由写入电压Vdata与基准电压Vref的差值决定，由于基准电压Vref为固定值，驱动晶体管T2的开关大小由写入电压Vdata决定，而驱动晶体管T3的开关大小决定OLED的发光层电流的大小，因而写入电压Vdata与OLED的发光层电流呈一定的线性关系，通过改变写入电压Vdata可改变OLED的发光层电流。

由此，像素驱动电路可根据写入电压Vdata等Source向写入信号和时序信号驱动OLED。换言之，像素驱动电路中的开关晶体管可根据接收到的时序信号打开或关闭，进而通过开关晶体管的开关控制读取写入电压Vdata等，并根据写入电压Vdata等控制OLED的发光层电流。其中，驱动模块10可设置于显示器的背板电路。

应当理解是的，OLED的像素驱动电路的结构、工作原理已为现有技术，且为本领域普通技术人员所熟知，这里出于简洁的目的，不再详细赘述。

电流检测模块20用于检测OLED的发光层电流以生成电流检测值。具体地，电流检测模块20可设置于波形发生器PG。换言之，波形发生器PG中可具有发光层EL电流测试功能，通过PG的EL层电流测试功能可检测OLED的发光层电流。

控制模块30用于获取预设老化电流值，并根据预设老化电流值与电流检测值之间的差值对写入电压Vdata进行调节，并根据调节后的写入电压Vdata’驱动OLED，以使OLED的发光层电流维持在预设老化电流值。具体地，控制模块30可可根据预设老化电流值与电流检测值之间的差值和预设PID模型对写入电压Vdata进行PID调节。

需要说明的是，预设老化电流值可以提前预设，且预设老化电流值可根据OLED的特性设置，以确保L-Aging工艺中实现恰当的L-Aging量，使得OLED在使用阶段亮度衰减量较低和残影残像品质较优。

具体地，控制模块30可设置于波形发生器PG。

也就是说，将图3实施例的闭环控制回路对应到L-Aging工艺上，给定输入量为L-Aging的预设老化电流值，控制器与比较器可包含于控制模块30，控制模块30可为波形发生器PG的中央控制单元，扰动量可为OLED器件的背板电路的差异，对象可为OLED的发光层电流，检测环节输出的反馈信号可为OLED的发光层电流，即PG检测到的EL层电流。换言之，本发明实施例的系统是运用闭环控制原理，将EL层的电流检测值与预设老化电流值的差值作为闭环控制环路中的输入，将调节后的写入电压Vdata’作为输出，以PG的中央控制单元作为回路的控制单元控制EL层电流的大小。

具体而言，在L-Aging过程中，电流检测模块20可实时检测OLED的发光层电流以生成电流检测值，然后控制模块30将电流检测值与预设老化电流值进行比较，如果电流检测值与预设老化电流值基本一致，控制模块30则保持写入电压Vdata不变，继续以根据该写入电压Vdata驱动OLED；如果电流检测值与预设老化电流值不一致，控制模块30则根据预设老化电流值与电流检测值之间的差值对写入电压Vdata进行调节以获取调节后的写入电压Vdata’，并根据调节后的写入电压Vdata’驱动OLED，从而确保OLED的发光层电流维持在预设老化电流值。

由此，通过OLED发光层的电流检测值与预设老化电流值的差值控制写入电压Vdata的大小，进而控制OLED的发光层电流的大小，使得发光层电流在与预设老化电流值基本无误差的情况下进行L-Aging工艺，避免L-Aging过程中由于电流过高或过低导致的L-Aging不充分或灼伤类的不良，提升L-Aging工艺的稳定性，更好控制L-Aging过程中Aging量，提升工艺良率。

需要说明的是，波形发生器PG采用ARM处理器作为中央控制单元，并且可以搭载Linux操作系统，波形发生器PG预留的计算能力和存储能力足够完成流程控制工作。而且，波形发生器PG中通道Channel的输出时基频率在100ns以内，足够保证闭环控制的及时性。

进一步地，根据本发明的一个实施例，控制模块30还用于：对预设老化电流值与电流检测值之间的差值进行放大处理，并根据放大后的电流差值对写入电压Vdata进行调节。也就是说，在将电流检测值与预设老化电流值进行比较之后，控制模块30还可按照预设比例对预设老化电流值与电流检测值之间的差值进行放大，如果电流检测值与预设老化电流值不一致，则根据放大后的电流差值对写入电压Vdata进行调节以获取调节后的写入电压Vdata’。

根据本发明的一个实施例，OLED的发光层的两端分别与第一预设电源VDD和第二预设电源VSS相连，通过写入电压Vdata与OLED的发光层电流的关系确定控制算法，控制模块30还用于，根据控制算法并结合预设老化电流值与电流检测值之间的差值对写入电压Vdata进行调节例如PID调节。

需要说明的是，OLED的发光层的两端的压差不同，写入电压Vdata与OLED的发光层电流Iel也不同，如图4所示，当第一预设电源VDD与第二预设电源VSS之间的压差VDD-VSS为12V时，写入电压Vdata与OLED的发光层电流Iel之间的关系如曲线4-1所示；当第一预设电源VDD与第二预设电源VSS之间的压差VDD-VSS为10V时，写入电压Vdata与OLED的发光层电流Iel之间的关系如曲线4-2所示；当第一预设电源VDD与第二预设电源VSS之间的压差VDD-VSS为8V时，写入电压Vdata与OLED的发光层电流Iel之间的关系如曲线4-3所示。

如图2所示，OLED的阳极通过开关晶体管T3和驱动晶体管T6与第一预设电源VDD，第一预设电源VDD和第二预设电源VSS可以使OLED的发光层的两端的压差固定，同一OLED器件，写入电压Vdata与OLED的发光层电流Iel的关系也固定。在本发明实施例中，可控制第一预设电源VDD与第二预设电源VSS之间的压差VDD-VSS不变，通过改变写入电压Vdata进行电流调节。

另外，在恒定压差VDD-VSS下，不同型号例如不同颜色的OLED器件，写入电压Vdata与OLED的发光层电流Iel的关系也不同。如图5所示，为写入电压Vdata与OLED的发光层电流Iel的关系的曲线示意图，其中，曲线5-1为写入电压Vdata与蓝色OLED的发光层电流Iel的关系，曲线5-2为写入电压Vdata与绿色OLED的发光层电流Iel的关系，曲线5-3为写入电压Vdata与红色OLED的发光层电流Iel的关系。

也就是说，在恒定压差VDD-VSS下，特定画面下OLED的发光层电流Iel与写入电压Vdata有线性关系。由此，通过对恒定压差VDD-VSS下OLED的发光层电流Iel与写入电压Vdata的关系进行建模，可以得出对应的控制算法。进而将控制算法存储在控制模块30，控制模块30根据该控制算法并结合预设老化电流值与电流检测值之间的差值即可对写入电压Vdata进行调节。

根据本发明的一个实施例，当电流检测值大于预设老化电流值时，控制模块30根据预设老化电流值与电流检测值之间的差值调小写入电压Vdata；当电流检测值小于预设老化电流值时，控制模块30根据预设老化电流值与电流检测值之间的差值调大写入电压Vdata。

也就是说，当电流检测值大于预设老化电流值，即预设老化电流值减去电流检测值小于零时，控制模块30调小写入电压Vdata，且根据预设老化电流值与电流检测值之间的差值调节调小量，从而降低OLED的发光层电流，以接近预设老化电流值；当电流检测值小于预设老化电流值，即预设老化电流值减去电流检测值大于零时，控制模块30调大写入电压Vdata，且根据预设老化电流值与电流检测值之间的差值调节调大量，从而提升OLED的发光层电流，以接近预设老化电流值。当电流检测值等于预设老化电流值，即预设老化电流值减去电流检测值等于零时，控制模块30保持写入电压Vdata不变，从而保持OLED的发光层电流不变，维持在预设老化电流值。

根据本发明的一个实施例，如图6所示，电流检测模块20可包括采样电阻，电流检测模块20通过采样电阻检测OLED的发光层电流。根据本发明的一个具体实施例，采样电阻可串联在第一预设电源VDD、第二预设电源VSS和OLED构成的回路中。也就是说，采样电阻可串联在OLED的发光层的回路中，以便于通过检测流过采样电阻的电流以确定OLED的发光层电流。

具体而言，如图6所示，可在第一预设电源VDD、第二预设电源VSS和OLED构成的回路中串联一个定值电阻R即采样电阻，然后检测该定值电阻R的电压，并根据欧姆定律计算OLED的发光层电流Iel，即OLED的发光层电流Iel＝定值电阻的电压V/定值电阻的阻值Ω。

进一步地，如图11和图8所示，系统还包括：电压检测模块40，电压检测模块40用于检测采样电阻的电压以生成采样电压值；其中，控制模块30还用于，根据预设老化电流值和采样电阻的阻值进行换算以获取预设电压值，并根据预设电压值与采样电压值之间的差值对写入电压Vdata进行调节。

控制模块30还用于，通过比例放大器对预设电压值与采样电压值之间的差值进行放大处理，并根据放大后的电压差值对写入电压进行调节例如PID调节。也就是说，在将预设电压值与采样电压值进行比较之后，还可按照预设比例对预设电压值与采样电压值之间的差值进行放大，如果预设电压值与采样电压值不一致，则根据放大后的电压差值对写入电压Vdata进行调节以获取调节后的写入电压Vdata’。

其中，电压检测模块40均可设置于波形发生器。

也就是说，可通过电压检测模块40检测采样电阻的电压，进而控制模块30即PG中的央处理单元可按照图8所示的控制回路执行软件流程，即：通过预设老化电流值I和采样电阻的阻值Ω进行换算以获取预设电压值V，即V＝I×Ω，并且，采样电阻的电压可由OLED发光层和采样电阻的阻值决定，即V’＝Iel×Ω，可实时检测采样电阻的电压以生成电压检测值V’，然后将电压检测值V’与预设电压值V进行比较，以获取预设电压值V与电压检测值V’之间的差值Δ。预设电压值V与电压检测值V’之间的差值Δ经比例放大器放大后传输给PG中的控制模块。控制模块可根据预设电压值V与电压检测值V’之间的差值Δ调节写入电压Vdata，以调节OLED的发光层电流Iel，从而可实现OLED的发光层电流Iel等于预设老化电流值I。

具体地，如果预设电压值V与电压检测值V’基本一致，则保持写入电压Vdata不变，继续以根据该写入电压Vdata驱动OLED；如果预设电压值V与电压检测值V’不一致，则根据预设电压值V与电压检测值V’之间的差值Δ对写入电压Vdata进行调节以获取调节后的写入电压Vdata’，并根据调节后的写入电压Vdata’驱动OLED，从而确保OLED的发光层电流Iel维持在预设老化电流值I。

根据本发明的一个实施例，电流检测模块20、控制模块30和电压检测模块40均可设置于波形发生器，驱动模块10设置于显示器的背板电路。其中，定值电阻R也均可设置在波形发生器PG中。

由此，本发明实施例的系统能够基于闭环控制系统实现恒流L-Aging工艺，从根本上解决L-Aging中出现的灼伤与L-Aging加载电流离散性过大的问题，提升L-Aging工艺稳定性，更好控制L-Aging过程中Aging量，提升工艺良率。而且，该方法适用范围广，可适用于所有利用电流老化OLED器件的工艺。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现定制逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(RAM)，只读存储器(ROM)，可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。如，如果用硬件来实现和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。

本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。

此外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。

上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (10)

1.一种有机发光二极管OLED的寿命老化方法，其特征在于，包括以下步骤：

根据写入电压驱动所述OLED以控制所述OLED的发光层电流；

检测所述OLED的发光层电流以生成电流检测值；

获取预设老化电流值；

根据所述预设老化电流值与所述电流检测值之间的差值对所述写入电压进行调节，并根据调节后的写入电压驱动所述OLED，以使所述OLED的发光层电流维持在所述预设老化电流值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述OLED的发光层的两端分别与第一预设电源和第二预设电源相连，通过写入电压与OLED的发光层电流的关系确定控制算法，所述方法还包括：

根据所述控制算法并结合所述预设老化电流值与所述电流检测值之间的差值对所述写入电压进行调节。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

当所述电流检测值大于所述预设老化电流值时，根据所述预设老化电流值与所述电流检测值之间的差值调小所述写入电压；

当所述电流检测值小于所述预设老化电流值时，根据所述预设老化电流值与所述电流检测值之间的差值调大所述写入电压。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过采样电阻检测所述OLED的发光层电流，所述方法还包括：

检测所述采样电阻的电压以生成采样电压值；

根据所述预设老化电流值和所述采样电阻的阻值进行换算以获取预设电压值；

根据所述预设电压值与所述采样电压值之间的差值对所述写入电压进行调节。

5.一种有机发光二极管OLED的寿命老化系统，其特征在于，包括：

驱动模块，用于根据写入电压驱动所述OLED以控制所述OLED的发光层电流；

电流检测模块，用于检测所述OLED的发光层电流以生成电流检测值；

控制模块，用于获取预设老化电流值，并根据所述预设老化电流值与所述电流检测值之间的差值对所述写入电压进行调节，并根据调节后的写入电压驱动所述OLED，以使所述OLED的发光层电流维持在所述预设老化电流值。

6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述OLED的发光层的两端分别与第一预设电源和第二预设电源相连，通过写入电压与OLED的发光层电流的关系确定控制算法，其中，

所述控制模块还用于，根据所述控制算法并结合所述预设老化电流值与所述电流检测值之间的差值对所述写入电压进行调节。

7.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，

当所述电流检测值大于所述预设老化电流值时，所述控制模块根据所述预设老化电流值与所述电流检测值之间的差值调小所述写入电压；

当所述电流检测值小于所述预设老化电流值时，所述控制模块根据所述预设老化电流值与所述电流检测值之间的差值调大所述写入电压。

8.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述电流检测模块通过采样电阻检测所述OLED的发光层电流，所述系统还包括：

电压检测模块，用于检测所述采样电阻的电压以生成采样电压值；

其中，所述控制模块还用于，根据所述预设老化电流值和所述采样电阻的阻值进行换算以获取预设电压值，并根据所述预设电压值与所述采样电压值之间的差值对所述写入电压进行调节。

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述电流检测模块、所述控制模块和所述电压检测模块设置于波形发生器，所述驱动模块设置于OLED显示器的背板电路。

10.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述采样电阻串联在所述第一预设电源、所述第二预设电源和所述OLED构成的回路中。