CN107331304B - 柔性显示器及其弯折显示异常的改善方法和改善装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种柔性显示器的弯折显示异常的改善方法，其包括步骤：侦测弯折显示时柔性面板中每个像素的驱动薄膜晶体管的特性参数；根据侦测到的每个像素的驱动薄膜晶体管的特性参数计算出所述柔性面板的弯折位置；对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素显示的图像进行图像视觉修正，并对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素的驱动薄膜晶体管的特性参数进行修正。本发明还公开了一种柔性显示器的弯折显示异常的改善装置及柔性显示器。在本发明中，当柔性显示器在弯折显示时，对弯折位置处的像素进行修正，以改善显示异常现象，从而提高显示质量。

Description

柔性显示器及其弯折显示异常的改善方法和改善装置
技术领域
本发明属于柔性显示技术领域，具体地讲，涉及一种柔性显示器及其弯折显示异常的改善方法和改善装置。
背景技术
近年来，有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)显示面板成为国内外非常热门的新兴平面显示器产品，这是因为OLED显示面板具有自发光、广视角、短反应时间、高发光效率、广色域、薄厚度、可制作大尺寸与可挠曲的显示面板及制程简单等特性，而且它还具有低成本的潜力。
在采用OLED显示面板的柔性显示器中，当柔性显示器在弯折显示时，在弯折处的OLED的驱动薄膜晶体管的阈值电压和本征导电因子均会发生变化，从而导致OLED的驱动电流变化，此外叠加弯折导致的视觉差异，会使柔性显示器的显示出现异常。
发明内容
为了解决上述现有技术存在的问题，本发明的目的在于提供一种在弯折显示时能够改善显示异常的柔性显示器及其弯折显示异常的改善方法和改善装置。
根据本发明的一方面，提供了一种柔性显示器的弯折显示异常的改善方法，其包括步骤：侦测弯折显示时柔性面板中每个像素的驱动薄膜晶体管的特性参数；根据侦测到的每个像素的驱动薄膜晶体管的特性参数计算出所述柔性面板的弯折位置；对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素显示的图像进行图像视觉修正，并对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素的驱动薄膜晶体管的特性参数进行修正。
进一步地，实现步骤“对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素显示的图像进行图像视觉修正”的具体方法包括：对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素显示的图像进行图像锐化处理。
进一步地，实现步骤“对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素的驱动薄膜晶体管的特性参数进行修正”的具体方法包括：对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素的驱动薄膜晶体管的迁移率和/或沟道宽长比和/或等效电容进行修正。
进一步地，实现步骤“侦测弯折显示时柔性面板中每个像素的驱动薄膜晶体管的特性参数”的具体方法包括：侦测弯折显示时柔性面板中每个像素的驱动薄膜晶体管的栅极电压和/或迁移率。
根据本发明的另一方面，还提供了一种柔性显示器的弯折显示异常的改善装置，其包括：侦测模块，用于侦测弯折显示时柔性面板中每个像素的驱动薄膜晶体管的特性参数；弯折位置计算模块，用于根据侦测到的每个像素的驱动薄膜晶体管的特性参数计算出所述柔性面板的弯折位置；处理模块，用于对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素显示的图像进行图像视觉修正，并对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素的驱动薄膜晶体管的特性参数进行修正。
进一步地，所述处理模块进一步用于对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素显示的图像进行图像锐化处理。
进一步地，所述处理模块进一步用于对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素的驱动薄膜晶体管的迁移率和/或沟道宽长比和/或等效电容进行修正。
进一步地，所述侦测模块进一步用于侦测弯折显示时柔性面板中每个像素的驱动薄膜晶体管的栅极电压和/或迁移率。
根据本发明的又一方面，又提供了一种柔性显示器，其包括：柔性面板，包括多个像素，所述像素包括驱动薄膜晶体管以及与所述驱动薄膜晶体管连接的有机发光二极管；电源电压器，被构造为向所述驱动薄膜晶体管提供电源正极电压，并向所述有机发光二极管提供电源负极电压；上述的改善装置，被构造为当柔性面板弯折显示时对所述柔性面板的位于弯折位置处的像素进行修正，以产生修正信号；时序控制器，用于根据修正信号对其产生的扫描控制信号和数据控制信号进行修正；扫描驱动器，用于根据修正后的扫描控制信号产生修正扫描电压，并向所述像素提供所述修正扫描电压；数据驱动器，用于根据修正后的数据控制信号产生修正数据电压，并向所述像素提供所述修正数据电压。
可选地，所述像素还包括第二薄膜晶体管、第三薄膜晶体管、存储电容器、读取线和开关控制线；所述驱动薄膜晶体管的源极连接有机发光二极管的阳极，所述驱动薄膜晶体管的漏极连接到电源电压器，以接收电源正极电压；所述驱动薄膜晶体管的栅极连接到第二薄膜晶体管的漏极；有机发光二极管的阴极连接到电源电压器，以接收电源负极电压；第二薄膜晶体管的栅极连接到扫描线，且其源极连接到数据线；存储电容器连接在驱动薄膜晶体管的源极和栅极之间；第三薄膜晶体管的栅极连接到开关控制线，第三薄膜晶体管的源极连接到读取线，第三薄膜晶体管的漏极连接到第一薄膜晶体管的源极，读取线连接到所述改善装置。
本发明的有益效果：当柔性显示器在弯折显示时，对弯折位置处的像素进行修正，以改善显示异常现象，从而提高显示质量。
附图说明
通过结合附图进行的以下描述，本发明的实施例的上述和其它方面、特点和优点将变得更加清楚，附图中：
图1是根据本发明的实施例的柔性显示器的结构示意图；
图2是根据本发明的实施例的像素的电路结构图；
图3是根据本发明的实施例的柔性显示器的弯折显示异常的改善方法的流程图。
具体实施方式
以下，将参照附图来详细描述本发明的实施例。然而，可以以许多不同的形式来实施本发明，并且本发明不应该被解释为限制于这里阐述的具体实施例。相反，提供这些实施例是为了解释本发明的原理及其实际应用，从而使本领域的其他技术人员能够理解本发明的各种实施例和适合于特定预期应用的各种修改。
在附图中，为了清楚器件，夸大了层和区域的厚度。相同的标号在整个说明书和附图中表示相同的元器件。
图1是根据本发明的实施例的柔性显示器的结构示意图。
参照图1，根据本发明的实施例的柔性显示器包括：柔性面板100、扫描驱动器200、数据驱动器300、时序控制器400、电源电压器500和改善装置600。
具体而言，柔性面板100包括多个像素PX，多个像素PX与显示信号线连接。显示信号线可以包括传送扫描电压的多条扫描线G1至Gn和传送数据电压的多条数据线D1至Dm。扫描线G1至Gn按行方向延伸并且彼此大致平行，并且数据线D1至Dm按列方向延伸并且彼此大致平行。
扫描驱动器200连接到扫描线G1至Gn，并向扫描线G1至Gn施加扫描电压。扫描电压通过扫描线G1至Gn而提供给多个像素PX。
数据驱动器300连接到数据线D1至Dm，并向数据线D1至Dm施加数据电压。数据电压通过数据线D1至Dm而提供给多个像素PX。
时序控制器400控制扫描驱动器200和数据驱动器300的操作。
时序控制器400从外部图形控制器(未示出)接收图像信号(诸如R、G和B信号)。时序控制器400适当处理图像信号，从而产生扫描控制信号和数据控制信号。然后，时序控制器400将扫描控制信号传送到扫描驱动器200，并将数据控制信号传送到数据驱动器300。
扫描驱动器200通过响应于扫描控制信号而产生扫描电压，并向扫描线G1至Gn施加扫描电压。数据驱动器300通过响应于数据控制信号而产生数据电压，并将数据电压施加到数据线D1至Dm。
电源电压器500产生电源正极电压OVDD和电源负极电压OVSS，并将电源正极电压OVDD和电源负极电压OVSS提供给多个像素PX。
图2是根据本发明的实施例的像素的电路结构图。
参照图2，根据本发明的实施例的像素PX包括：第一薄膜晶体管(或称驱动薄膜晶体管)T1、第二薄膜晶体管T2、第三薄膜晶体管T3、存储电容器Cst、有机发光二极管OLED、读取线RD和开关控制线SEN。
第一薄膜晶体管T1的源极连接有机发光二极管OLED的阳极；第一薄膜晶体管T1的漏极连接到电源电压器500，以接收电源正极电压OVDD；第一薄膜晶体管T1的栅极连接到第二薄膜晶体管T2的漏极；有机发光二极管OLED的阴极连接到电源电压器500，以接收电源负极电压OVSS；第二薄膜晶体管T2的栅极连接到扫描线Gi(1≤i≤n)，且其源极连接到数据线Dj(1≤j≤m)；存储电容器Cst连接在驱动薄膜晶体管T1的源极和栅极之间；第三薄膜晶体管T3的栅极连接到开关控制线SEN，第三薄膜晶体管T3的源极连接到读取线RD，第三薄膜晶体管T3的漏极连接到第一薄膜晶体管T1的源极，读取线RD连接到改善装置600，以使改善装置600通过读取线RD读取每个像素PX的驱动薄膜晶体管T1的特性参数。
此外，开关控制线SEN能够控制第三薄膜晶体管T3的导通与否。当第三薄膜晶体管T3导通时，改善装置600通过读取线RD以及导通的第三薄膜晶体管T3读取像素PX的驱动薄膜晶体管T1的特性参数。
参照图1和图2，当根据本发明的实施例的柔性显示器进行弯折显示时，改善装置600对弯折位置处的像素PX进行改善修正，并产生修正信号。
进一步地，根据本发明的实施例的改善装置600包括：侦测模块610、弯折位置计算模块620、处理模块630。
侦测模块610用于侦测弯折显示时柔性面板100中每个像素PX的驱动薄膜晶体管T1的特性参数。具体地，侦测模块610用于侦测弯折显示时柔性面板100中每个像素PX的驱动薄膜晶体管T1的栅极电压和/或迁移率。
弯折位置计算模块620用于根据侦测到的每个像素PX的驱动薄膜晶体管T1的特性参数(即侦测模块610侦测出的栅极电压和/或迁移率)计算出柔性面板100的弯折位置。
处理模块630对柔性面板100的位于所述弯折位置处的像素PX显示的图像进行图像视觉修正，并对柔性面板100的位于所述弯折位置处的像素PX的驱动薄膜晶体管T1的特性参数进行修正，以产生修正信号。具体地，处理模块630对柔性面板100的位于所述弯折位置处的像素PX显示的图像进行图像锐化处理，并且处理模块630还对柔性面板100的位于所述弯折位置处的像素PX的驱动薄膜晶体管T1的迁移率和/或沟道宽长比和/或等效电容进行修正，并且产生携带图像视觉修正信息和驱动薄膜晶体管T1的特性参数修正信息的修正信号。
有机发光二极管OLED的驱动电流为I1＝k(Vsg-Vth)2＝k(Vs-Vg-Vth)2＝k(OVDD-Vg-Vth)2，其中，k为驱动薄膜晶体管T1的本征导电因子，由驱动薄膜晶体管T1本身特性决定，Vth为驱动薄膜晶体管T1的阈值电压，Vs为驱动薄膜晶体管T1的源极电压，Vg为驱动薄膜晶体管T1的栅极电压。
而其中，U表示驱动薄膜晶体管T1的迁移率，COX表示等效电容，W表示驱动薄膜晶体管T1的沟道宽度，L表示驱动薄膜晶体管T1的沟道长度。
如背景技术中所述，当柔性显示器在弯折显示时，在弯折位置处的像素PX的驱动薄膜晶体管T1的阈值电压Vth和本征导电因子k均会发生变化，从而使有机发光二极管OLED的驱动电流发生变化。为了保证有机发光二极管OLED的驱动电流不变，在本实施例中，通过处理模块630位于所述弯折位置处的像素PX的驱动薄膜晶体管T1的迁移率U和/或沟道宽长比W/L和/或等效电容COX进行修正，从而使有机发光二极管OLED的驱动电流I1不变。
此外，还如背景技术中所述，弯折位置处PX显示的图像会出现视觉差异，诸如图像拉伸等。为了消除视觉差异，在本实施例中，处理模块630对柔性面板100的位于所述弯折位置处的像素PX显示的图像进行图像锐化处理，以消除视觉差异。
时序控制器400接收修正信号，并根据该修正信号对其产生的扫描控制信号和数据控制信号进行修正。
进一步地，根据本发明的实施例的时序控制器400包括：数据处理模块410、信号修正模块420。
具体地，数据处理模块410从外部图形控制器(未示出)接收图像信号(诸如R、G和B信号)。数据处理模块410适当处理图像信号，从而产生扫描控制信号和数据控制信号。
信号修正模块420接收处理模块630提供的修正信号，并根据所述修正信号对数据处理模块410处理成的扫描控制信号和数据控制信号进行修正。
扫描驱动器200根据修正后的扫描控制信号产生修正扫描电压，并向扫描线G1至Gn施加修正扫描电压。
数据驱动器300根据修正后的数据控制信号产生修正数据电压，并向数据线D1至Dm施加修正数据电压。
所述修正扫描电压和所述修正数据电压用于使各像素PX的显示在弯折前后始终保持不变。
图3是根据本发明的实施例的柔性显示器的弯折显示异常的改善方法的流程图。
参照图3，根据本发明的实施例的柔性显示器的弯折显示异常的改善方法包括步骤S310至步骤S360。
参照图1至图3，在步骤S310中，利用侦测模块610侦测弯折显示时柔性面板100中每个像素PX的驱动薄膜晶体管T1的特性参数。具体地，利用侦测模块610侦测弯折显示时柔性面板100中每个像素PX的驱动薄膜晶体管T1的栅极电压和/或迁移率。
在步骤S320中，利用弯折位置计算模块620根据侦测到的每个像素PX的驱动薄膜晶体管T1的特性参数(即侦测模块610侦测出的栅极电压和/或迁移率)计算出柔性面板100的弯折位置。
在步骤S330中，利用处理模块630对柔性面板100的位于所述弯折位置处的像素PX显示的图像进行图像视觉修正，并对柔性面板100的位于所述弯折位置处的像素PX的驱动薄膜晶体管T1的特性参数进行修正。具体地，利用处理模块630对柔性面板100的位于所述弯折位置处的像素PX显示的图像进行图像锐化处理，并且还利用处理模块630对柔性面板100的位于所述弯折位置处的像素PX的驱动薄膜晶体管T1的迁移率和/或沟道宽长比和/或等效电容进行修正，以使柔性面板100的各像素PX的显示在弯折前后始终保持不变。
综上所述，根据本发明的实施例，当柔性显示器在弯折显示时，对弯折位置处的像素进行修正，以改善显示异常现象，从而提高显示质量。
虽然已经参照特定实施例示出并描述了本发明，但是本领域的技术人员将理解：在不脱离由权利要求及其等同物限定的本发明的精神和范围的情况下，可在此进行形式和细节上的各种变化。

Claims (6)

1.一种柔性显示器的弯折显示异常的改善方法，其特征在于，包括步骤：
侦测弯折显示时柔性面板中每个像素的驱动薄膜晶体管的特性参数；
根据侦测到的每个像素的驱动薄膜晶体管的特性参数计算出所述柔性面板的弯折位置；
对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素显示的图像进行图像视觉修正，并对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素的驱动薄膜晶体管的特性参数进行修正，
其中，实现步骤“侦测弯折显示时柔性面板中每个像素的驱动薄膜晶体管的特性参数”的具体方法包括：侦测弯折显示时柔性面板中每个像素的驱动薄膜晶体管的栅极电压和/或迁移率，
实现步骤“对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素的驱动薄膜晶体管的特性参数进行修正”的具体方法包括：对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素的驱动薄膜晶体管的迁移率和/或沟道宽长比和/或等效电容进行修正。
2.根据权利要求1所述的改善方法，其特征在于，实现步骤“对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素显示的图像进行图像视觉修正”的具体方法包括：对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素显示的图像进行图像锐化处理。
3.一种柔性显示器的弯折显示异常的改善装置，其特征在于，包括：
侦测模块，用于侦测弯折显示时柔性面板中每个像素的驱动薄膜晶体管的特性参数；
弯折位置计算模块，用于根据侦测到的每个像素的驱动薄膜晶体管的特性参数计算出所述柔性面板的弯折位置；
处理模块，用于对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素显示的图像进行图像视觉修正，并对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素的驱动薄膜晶体管的特性参数进行修正，
其中，所述处理模块进一步用于对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素的驱动薄膜晶体管的迁移率和/或沟道宽长比和/或等效电容进行修正，
所述侦测模块进一步用于侦测弯折显示时柔性面板中每个像素的驱动薄膜晶体管的栅极电压和/或迁移率。
4.根据权利要求3所述的改善装置，其特征在于，所述处理模块进一步用于对所述柔性面板的位于所述弯折位置处的像素显示的图像进行图像锐化处理。
5.一种柔性显示器，其特征在于，包括：
柔性面板，包括多个像素，所述像素包括驱动薄膜晶体管以及与所述驱动薄膜晶体管连接的有机发光二极管；
电源电压器，被构造为向所述驱动薄膜晶体管提供电源正极电压，并向所述有机发光二极管提供电源负极电压；
权利要求3或4所述的改善装置，被构造为当柔性面板弯折显示时对所述柔性面板的位于弯折位置处的像素进行修正，以产生修正信号；
时序控制器，用于根据修正信号对其产生的扫描控制信号和数据控制信号进行修正；
扫描驱动器，用于根据修正后的扫描控制信号产生修正扫描电压，并向所述像素提供所述修正扫描电压；
数据驱动器，用于根据修正后的数据控制信号产生修正数据电压，并向所述像素提供所述修正数据电压。
6.根据权利要求5所述的柔性显示器，其特征在于，所述像素还包括第二薄膜晶体管、第三薄膜晶体管、存储电容器、读取线和开关控制线；
所述驱动薄膜晶体管的源极连接有机发光二极管的阳极，所述驱动薄膜晶体管的漏极连接到电源电压器，以接收电源正极电压；所述驱动薄膜晶体管的栅极连接到第二薄膜晶体管的漏极；有机发光二极管的阴极连接到电源电压器，以接收电源负极电压；第二薄膜晶体管的栅极连接到扫描线，且其源极连接到数据线；存储电容器连接在驱动薄膜晶体管的源极和栅极之间；第三薄膜晶体管的栅极连接到开关控制线，第三薄膜晶体管的源极连接到读取线，第三薄膜晶体管的漏极连接到第一薄膜晶体管的源极，读取线连接到所述改善装置。
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