CN107270962A - 磁环的来料检验方法 - Google Patents

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何保明
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Pubei Fortis Electronic Technology Co Ltd
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Abstract

本发明提供一种磁环的来料检验方法,包括以下步骤:目测:磁环有无变形、破裂、结晶体等;尺寸:根据规格要求,用卡尺测量出磁环的内径、外径和高,并记录下来;参数稳定性:在抽选的磁环绕上相同匝数的铜芯线,记取每个磁环常温下的参数值并标识,放入烘箱内,并将铜芯线伸出烘箱外,最后用万用表测量每个磁环在温度变化5‑10℃下参数值;另外抽选部分磁环,置入烘箱中,加温到100℃恒定4小时,恢复至常温后用磁性分选仪测量其参数值;将抽检情况记录在来料检验报告表上,并判定允收或退货。本发明特地制定磁环的来料检验方法,利用烘箱升温来测量抽选的磁环以观察其参数稳定性,进一步地加强品质监督,提高供货质量,促使生产效率提高。

Description

磁环的来料检验方法
技术领域
本发明涉及日用电器领域,具体涉及一种磁环的来料检验方法。
背景技术
IQC即来料品质检验,指对采购进来的原材料、部件或产品做品质确认和查核,即在供应商送原材料或部件时通过抽样的方式对产品进行检验,并最后做出判断该批产品是接收还是退换。
IQC是企业产品在生产前的第一个控制品质的关卡,如把不合格品放到制程中,则会导致制程或最终产品的不合格,造成巨大的损失。IQC不仅影响到公司最终产品的品质,还影响到各种直接或间接成本。
在制造业中,对产品品质有直接影响的通常为设计、来料、制程、储运四大主项,一般来说设计占25%,来料占50%,制程占20%,储运1%到5%。综上所述,来料检验对公司产品质量占压倒性的地位,所以要把来料品质控制升到一个战略性地位来对待。
现有技术中,对于磁环的来料检验方法尚未见报道。
发明内容
本发明的目的是克服上述现有技术的不足之处,提供一种磁环的来料检验方法,以提高供货质量。
为达到上述目的,本发明采用如下技术方案:一种磁环的来料检验方法,包括以下步骤:步骤1:目测:磁环有无变形、破裂、结晶体等;步骤2:尺寸:根据规格要求,用卡尺测量出磁环的内径、外径和高,并记录下来;步骤3:参数稳定性:首先在抽选的磁环绕上相同匝数的铜芯线,再记取每个磁环常温下的参数值并在磁环上贴上标识,把磁环都放入烘箱内,并将磁环上的铜芯线伸出烘箱外,最后用万用表测量每个磁环在温度变化5-10℃下参数值;步骤4:另外抽选部分磁环,置入烘箱中,加温到100℃恒定4小时,恢复至常温后用磁性分选仪测量其参数值;步骤5:将抽检情况记录在来料检验报告表上,并判定允收或退货。
进一步地,退货依据:变形、高度偏高、破损、有结晶体。
更进一步地,判定为退货时,需将磁环进行全检,挑出良品,将坏品退货。
进一步地,磁环参数额定值为≤0。
本发明的有益效果:本发明特地制定磁环的来料检验方法,利用烘箱升温来测量抽选的磁环以观察其参数稳定性,进一步地加强品质监督,提高供货质量,促使生产效率提高。
本发明的其它优点、目标和特征将部分通过下面的说明体现,部分还将通过对本发明的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。
具体实施方式
结合下列实施例对本发明做进一步的详细说明,以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。
本发明磁环的来料检验方法,包括以下步骤:
步骤1:目测:磁环有无变形、破裂、结晶体等。
步骤2:尺寸:根据规格要求,用卡尺测量出磁环的内径、外径和高,并记录下来。
步骤3:参数稳定性:首先在抽选的磁环绕上相同匝数的铜芯线,再记取每个磁环常温下的参数值并在磁环上贴上标识,把磁环都放入烘箱内,并将磁环上的铜芯线伸出烘箱外,最后用万用表测量每个磁环在温度变化5-10℃下参数值,磁环参数额定值为≤0。
步骤4:另外抽选部分磁环,置入烘箱中,加温到100℃恒定4小时,恢复至常温后用磁性分选仪测量其参数值。
步骤5:将抽检情况记录在来料检验报告表上,并判定允收或退货。符合规格要求的,允收;有下列情形的退货:变形、高度偏高、破损、有结晶体。
判定为退货时,需将磁环进行全检,挑出良品,将坏品退货。
以下为磁环的规格要求:
尽管本发明的实施方案已公开如上,但其并不仅仅限于说明书和实施方式中所列运用,它完全可以被适用于各种适合本发明的领域,对于熟悉本领域的人员而言,可容易地实现另外的修改,因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下,本发明并不限于特定的细节和这里示出与描述的实施例。

Claims (4)

1.一种磁环的来料检验方法,其特征在于包括以下步骤:
步骤1:目测:磁环有无变形、破裂、结晶体等;
步骤2:尺寸:根据规格要求,用卡尺测量出磁环的内径、外径和高,并记录下来;
步骤3:参数稳定性:首先在抽选的磁环绕上相同匝数的铜芯线,再记取每个磁环常温下的参数值并在磁环上贴上标识,把磁环都放入烘箱内,并将磁环上的铜芯线伸出烘箱外,最后用万用表测量每个磁环在温度变化5-10℃下参数值;
步骤4:另外抽选部分磁环,置入烘箱中,加温到100℃恒定4小时,恢复至常温后用磁性分选仪测量其参数值;
步骤5:将抽检情况记录在来料检验报告表上,并判定允收或退货。
2.根据权利要求1所述的磁环的来料检验方法,其特征在于:退货依据:变形、高度偏高、破损、有结晶体。
3.根据权利要求2所述的磁环的来料检验方法,其特征在于:判定为退货时,需将磁环进行全检,挑出良品,将坏品退货。
4.根据权利要求1所述的磁环的来料检验方法,其特征在于:磁环参数额定值为≤0。
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Title
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