CN107203448B - 一种测试PCIe switch芯片暴力热插拔功能的方法及系统 - Google Patents

一种测试PCIe switch芯片暴力热插拔功能的方法及系统 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种测试PCIe switch芯片暴力热插拔功能的方法及系统，该系统包括：CPLD、以及分别与CPLD连接的PCIe设备和PCIe switch芯片，CPLD将PCIe设备被暴力热拔出时的设备在位信息对应的寄存器的值，和PCIe设备被暴力热插入时的设备在位信息对应的寄存器的值，按照预设周期在寄存器内交替更换，对PCIe设备的暴力热插拔场景进行模拟，PCIe switch芯片从寄存器读取设备在位信息，并根据读取的设备在位信息对应的设备动作，对PCIe设备进行相应的处理。本发明通过CPLD模拟PCIe设备暴力热插拔的场景，实现了人力的解放，从而节约了人力成本。

Description

一种测试PCIe switch芯片暴力热插拔功能的方法及系统
技术领域
本发明涉及暴力热插拔安全技术领域，更具体的说，涉及一种测试PCIeswitch芯片暴力热插拔功能的方法及系统。
背景技术
PCIe(PeripheralComponent Interconnect express，一种高速串行计算机扩展总线标准)设备是一种支持暴力热插拔功能的设备，比如现有技术中的PCIe固态硬盘(Solid State Drives，SSD)，其暴力热插拔功能主要通过PCIe switch芯片实现。PCIeswitch芯片根据检测到的PCIe设备暴力热插拔时的信号变化，对PCIe设备的暴力热插拔动作进行判定并进行相应的处理，以避免连接PCIe设备的系统出现宕机等问题。为保证PCIeswitch芯片暴力热插拔功能的可靠性，通常需要对PCIe switch芯片暴力热插拔功能进行测试。
传统测试方案中，一般将待测试PCIe switch芯片与NVMe(Non-Volatile Memoryexpress，一种接口协议)SSD连接，然后通过人工手动插拔NVMe SSD来检测PCIe switch芯片的暴力热插拔功能是否正常，实现对PCIe switch芯片暴力热插拔功能的测试。
然而，由于人工每次手动插拔NVMe SSD的过程都相对繁琐和费力，因此，手动插拔到一定次数后，手臂都会有酸痛的感觉，所以如何提供一种测试PCIeswitch芯片暴力热插拔功能的方法及系统，以解放人力是本领域技术人员亟需解决的技术问题。
发明内容
有鉴于此，本发明公开一种测试PCIe switch芯片暴力热插拔功能的方法及系统，以实现人力解放，节约人力成本。
一种测试PCIe switch芯片暴力热插拔功能的系统，所述系统包括：复杂可编程逻辑器件CPLD、以及分别与所述CPLD连接的PCIe设备和PCIe switch芯片，其中，所述CPLD包括计数器和寄存器；
所述CPLD用于将所述PCIe设备被暴力热拔出时的设备在位信息对应的寄存器的值，和所述PCIe设备被暴力热插入时的设备在位信息对应的寄存器的值，按照预设周期在所述寄存器内交替更换，对所述PCIe设备的暴力热插拔场景进行模拟；
所述PCIe switch芯片用于从所述寄存器读取设备在位信息，并根据读取的设备在位信息对应的设备动作，对所述PCIe设备进行相应的处理，其中，所述设备动作包括：暴力热拔动作和暴力热插动作。
优选的，还包括：与所述PCIe switch芯片连接的中央处理器CPU；
所述CPU，用于在所述PCIe switch芯片确定读取的设备在位信息为暴力热拔动作时，接收所述PCIe switch芯片生成并输出的中断信息，并根据所述中断信息中携带的所述PCIe设备的标识，停止对所述PCIe设备进行读/写操作；其中，所述中断信息用于指示所述PCIe switch芯片与所述PCIe设备已断开连接；
所述CPU，还用于在所述PCIe switch芯片确定读取的设备在位信息为暴力热插动作时，接收所述PCIe switch芯片生成并输出的连接信息，并根据所述连接信息中携带的所述PCIe设备的标识，对所述PCIe设备进行读/写操作；其中，所述连接信息用于指示所述PCIe switch芯片与所述PCIe设备已连接。
一种测试PCIe switch芯片暴力热插拔功能的方法，所述方法由系统执行，所述系统包括：复杂可编程逻辑器件CPLD、以及分别与所述CPLD连接的PCIe设备和PCIe switch芯片，其中，所述CPLD包括计数器和寄存器；
所述方法包括：
所述CPLD将所述PCIe设备被暴力热拔出时的设备在位信息对应的寄存器的值，和所述PCIe设备被暴力热插入时的设备在位信息对应的寄存器的值，按照预设周期在所述寄存器内交替更换，对所述PCIe设备的暴力热插拔场景进行模拟；
所述PCIe switch芯片从所述寄存器读取设备在位信息，并根据读取的设备在位信息对应的设备动作，对所述PCIe设备进行相应的处理，其中，所述设备动作包括：暴力热拔动作和暴力热插动作。
优选的，当所述系统还包括中央处理器CPU时，所述方法还包括：
所述CPU在所述PCIe switch芯片确定读取的设备在位信息为暴力热拔动作时，接收所述PCIe switch芯片生成并输出的中断信息，并根据所述中断信息中携带的所述PCIe设备的标识，停止对所述PCIe设备进行读/写操作；其中，所述中断信息用于指示所述PCIeswitch芯片与所述PCIe设备已断开连接；
所述CPU在所述PCIe switch芯片确定读取的设备在位信息为暴力热插动作时，接收所述PCIe switch芯片生成并输出的连接信息，并根据所述连接信息中携带的所述PCIe设备的标识，对所述PCIe设备进行读/写操作；其中，所述连接信息用于指示所述PCIeswitch芯片与所述PCIe设备已连接。
从上述的技术方案可知，本发明公开了一种测试PCIe switch芯片暴力热插拔功能的方法及系统，该系统包括：CPLD、以及分别与CPLD连接的PCIe设备和PCIe switch芯片，CPLD将PCIe设备被暴力热拔出时的设备在位信息对应的寄存器的值，和PCIe设备被暴力热插入时的设备在位信息对应的寄存器的值，按照预设周期在寄存器内交替更换，对PCIe设备的暴力热插拔场景进行模拟，PCIe switch芯片从寄存器读取设备在位信息，并根据读取的设备在位信息对应的设备动作，对PCIe设备进行相应的处理。本发明通过CPLD模拟PCIe设备暴力热插拔的场景，代替了传统人工插拔PCIe设备的过程，从而不仅实现了人力的解放，节约了人力成本，而且还可以增加测试时长和次数，增加测试的可靠性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据公开的附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例公开的一种测试PCIe switch芯片暴力热插拔功能的系统的结构示意图；
图2为本发明实施例公开的另一种测试PCIe switch芯片暴力热插拔功能的系统的结构示意图；
图3为本发明实施例公开的一种测试PCIe switch芯片暴力热插拔功能的方法流程图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例公开了一种测试PCIe switch芯片暴力热插拔功能的方法及系统，以实现人力解放，节约人力成本。
参见图1，本发明一实施例公开的一种测试PCIe switch芯片暴力热插拔功能的系统的结构示意图，该系统包括：CPLD(omplex Programmable Logic Device，复杂可编程逻辑器件)11、以及分别与CPLD11连接的PCIe设备12和PCIe switch芯片13，其中，CPLD11包括计数器和寄存器；
具体的：
CPLD11用于将所述PCIe设备12被暴力热拔出时的设备在位信息对应的寄存器的值，和所述PCIe设备12被暴力热插入时的设备在位信息对应的寄存器的值，按照预设周期在所述寄存器内交替更换，对所述PCIe设备12的暴力热插拔场景进行模拟。
在实际中，CPLD11与PCIe设备12可以通过GPIO(General Purpose Input Output，通用输入/输出)接口连接，当CPLD11与PCIe设备12连接后，CPLD11首先会通过GPIO接口读取PCIe设备12被暴力热拔出时的设备在位信息，以及PCIe设备12被暴力热插入时的设备在位信息，并进行存储；然后启动计数器开始计时，将PCIe设备12被暴力热拔出时的设备在位信息对应的寄存器的值，通常为0，和PCIe设备12被暴力热插入时的设备在位信息对应的寄存器的值，通过为1，按照预设周期在寄存器内交替更换，即，周期性的模拟PCIe设备12的暴力热拔动作和暴力热插动作。
PCIe switch芯片13用于从所述寄存器读取设备在位信息，并根据读取的设备在位信息对应的设备动作，对所述PCIe设备12进行相应的处理，其中，所述设备动作包括：暴力热拔动作和暴力热插动作。
在实际中，PCIe switch芯片13通过与CPLD11的连接总线，从寄存器读取寄存器的值，从而得到与寄存器的值相对应的设备在位信息，并根据读取的设备在位信息确定PCIe设备12的设备动作，从而对PCIe设备12进行相应的处理。
需要说明的是，PCIe设备12的作用是：当PCIe switch芯片13获得设备在位信息后，与PCIe设备12建立重新连接。
综上可知，本发明通过CPLD11模拟PCIe设备暴力热插拔的场景，代替了传统人工插拔PCIe设备的过程，从而不仅实现了人力的解放，节约了人力成本，而且还可以增加测试时长和次数，增加测试的可靠性。
为进一步优化上述实施例，参见图2，本发明另一实施例公开的一种测试PCIeswitch芯片暴力热插拔功能的系统的结构示意图，在图1所示实施例的基础上，还包括：CPU(Central Processing Unit，中央处理器)14；
CPU14与PCIe switch芯片13连接，用于在PCIe switch芯片13确定读取的设备在位信息为暴力热拔动作时，接收所述PCIe switch芯片13生成并输出的中断信息，并根据所述中断信息中携带的所述PCIe设备的标识，停止对所述PCIe设备12进行读/写操作；其中，所述中断信息用于指示所述PCIeswitch芯片13与所述PCIe设备12已断开连接；
可选地，作为本发明的一个实施例，当CPU14接收PCIe switch芯片13发送的中断信息时，CPU14仍保留PCIe设备12的PCIe资源，其中，PCIe资源包括PCIe设备12对应的厂商的身份标识符ID、PCIe设备的ID、PCIe设备所需的总线的ID、PCIe设备所具有的功能的ID和PCIe设备的内存空间的地址资源。
所述CPU14，还用于在所述PCIe switch芯片13确定读取的设备在位信息为暴力热插动作时，接收所述PCIe switch芯片13生成并输出的连接信息，并根据所述连接信息中携带的所述PCIe设备12的标识，对所述PCIe设备12进行读/写操作；其中，所述连接信息用于指示所述PCIe switch芯片13与所述PCIe设备12已连接。
本发明实施例中对CPLD11的数量不做限定，可以为一个、两个或多个。
综上可知，本发明通过CPLD11模拟PCIe设备暴力热插拔的场景，代替了传统人工插拔PCIe设备的过程，从而不仅实现了人力的解放，节约了人力成本，而且还可以增加测试时长和次数，增加测试的可靠性。
与上述系统实施例相对应，本发明还公开了一种测试PCIe switch芯片暴力热插拔功能的方法。
参见图3，本发明一实施例公开的一种测试PCIe switch芯片暴力热插拔功能的方法流程图，该方法由系统执行，所述系统包括：CPLD(omplex Programmable Logic Device，复杂可编程逻辑器件)、以及分别与所述CPLD连接的PCIe设备和PCIe switch芯片，其中，所述CPLD包括计数器和寄存器；
所述方法包括：
步骤S101、所述CPLD将所述PCIe设备被暴力热拔出时的设备在位信息对应的寄存器的值，和所述PCIe设备被暴力热插入时的设备在位信息对应的寄存器的值，按照预设周期在所述寄存器内交替更换，对所述PCIe设备的暴力热插拔场景进行模拟；
在实际中，CPLD11与PCIe设备12可以通过GPIO(General Purpose Input Output，通用输入/输出)接口连接，当CPLD11与PCIe设备12连接后，CPLD11首先会通过GPIO接口获取PCIe设备12被暴力热拔出时的设备在位信息，以及PCIe设备12被暴力热插入时的设备在位信息，并进行存储；然后启动计数器开始计时，将PCIe设备12被暴力热拔出时的设备在位信息对应的寄存器的值，和PCIe设备12被暴力热插入时的设备在位信息对应的寄存器的值，按照预设周期在寄存器内交替更换，即，周期性的模拟PCIe设备12的暴力热拔动作和暴力热插动作。
步骤S102、所述PCIe switch芯片从所述寄存器读取设备在位信息，并根据读取的设备在位信息对应的设备动作，对所述PCIe设备进行相应的处理，其中，所述设备动作包括：暴力热拔动作和暴力热插动作。
在实际中，PCIe switch芯片13通过与CPLD11的连接总线，从寄存器读取寄存器的值，从而得到与寄存器的值相对应的设备在位信息，并根据读取的设备在位信息确定PCIe设备12的设备动作，从而对PCIe设备12进行相应的处理。
综上可知，本发明通过CPLD11模拟PCIe设备暴力热插拔的场景，代替了传统人工插拔PCIe设备的过程，从而不仅实现了人力的解放，节约了人力成本，而且还可以增加测试时长和次数，增加测试的可靠性。
为进一步优化上述实施例，当系统还包括中央处理器CPU时，所述方法还包括：
所述CPU在所述PCIe switch芯片确定读取的设备在位信息为暴力热拔动作时，接收所述PCIe switch芯片生成并输出的中断信息，并根据所述中断信息中携带的所述PCIe设备的标识，停止对所述PCIe设备进行读/写操作；其中，所述中断信息用于指示所述PCIeswitch芯片与所述PCIe设备已断开连接；
所述CPU在所述PCIe switch芯片确定读取的设备在位信息为暴力热插动作时，接收所述PCIe switch芯片生成并输出的连接信息，并根据所述连接信息中携带的所述PCIe设备的标识，对所述PCIe设备进行读/写操作；其中，所述连接信息用于指示所述PCIeswitch芯片与所述PCIe设备已连接。
可选地，作为本发明的一个实施例，当CPU接收PCIe switch芯片发送的中断信息时，CPU仍保留PCIe设备的PCIe资源，其中，PCIe资源包括PCIe设备对应的厂商的身份标识符ID、PCIe设备的ID、PCIe设备所需的总线的ID、PCIe设备所具有的功能的ID和PCIe设备的内存空间的地址资源。
综上可知，本发明通过CPLD11模拟PCIe设备暴力热插拔的场景，代替了传统人工插拔PCIe设备的过程，从而不仅实现了人力的解放，节约了人力成本，而且还可以增加测试时长和次数，增加测试的可靠性。
最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (4)

1.一种测试PCIe switch芯片暴力热插拔功能的系统，其特征在于，所述系统包括：复杂可编程逻辑器件CPLD、以及分别与所述CPLD连接的PCIe设备和PCIe switch芯片，其中，所述CPLD包括计数器和寄存器；
所述CPLD用于将所述PCIe设备被暴力热拔出时的设备在位信息对应的寄存器的值，和所述PCIe设备被暴力热插入时的设备在位信息对应的寄存器的值，按照预设周期在所述寄存器内交替更换，对所述PCIe设备的暴力热插拔场景进行模拟；
所述PCIe switch芯片用于从所述寄存器读取设备在位信息，并根据读取的设备在位信息对应的设备动作，对所述PCIe设备进行相应的处理，其中，所述设备动作包括：暴力热拔动作和暴力热插动作。
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括：与所述PCIe switch芯片连接的中央处理器CPU；
所述CPU，用于在所述PCIe switch芯片确定读取的设备在位信息为暴力热拔动作时，接收所述PCIe switch芯片生成并输出的中断信息，并根据所述中断信息中携带的所述PCIe设备的标识，停止对所述PCIe设备进行读/写操作；其中，所述中断信息用于指示所述PCIe switch芯片与所述PCIe设备已断开连接；
所述CPU，还用于在所述PCIe switch芯片确定读取的设备在位信息为暴力热插动作时，接收所述PCIe switch芯片生成并输出的连接信息，并根据所述连接信息中携带的所述PCIe设备的标识，对所述PCIe设备进行读/写操作；其中，所述连接信息用于指示所述PCIeswitch芯片与所述PCIe设备已连接。
3.一种测试PCIe switch芯片暴力热插拔功能的方法，其特征在于，所述方法由系统执行，所述系统包括：复杂可编程逻辑器件CPLD、以及分别与所述CPLD连接的PCIe设备和PCIeswitch芯片，其中，所述CPLD包括计数器和寄存器；
所述方法包括：
所述CPLD将所述PCIe设备被暴力热拔出时的设备在位信息对应的寄存器的值，和所述PCIe设备被暴力热插入时的设备在位信息对应的寄存器的值，按照预设周期在所述寄存器内交替更换，对所述PCIe设备的暴力热插拔场景进行模拟；
所述PCIe switch芯片从所述寄存器读取设备在位信息，并根据读取的设备在位信息对应的设备动作，对所述PCIe设备进行相应的处理，其中，所述设备动作包括：暴力热拔动作和暴力热插动作。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，当所述系统还包括中央处理器CPU时，所述方法还包括：
所述CPU在所述PCIe switch芯片确定读取的设备在位信息为暴力热拔动作时，接收所述PCIe switch芯片生成并输出的中断信息，并根据所述中断信息中携带的所述PCIe设备的标识，停止对所述PCIe设备进行读/写操作；其中，所述中断信息用于指示所述PCIeswitch芯片与所述PCIe设备已断开连接；
所述CPU在所述PCIe switch芯片确定读取的设备在位信息为暴力热插动作时，接收所述PCIe switch芯片生成并输出的连接信息，并根据所述连接信息中携带的所述PCIe设备的标识，对所述PCIe设备进行读/写操作；其中，所述连接信息用于指示所述PCIe switch芯片与所述PCIe设备已连接。
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107678997B (zh) * 2017-09-27 2021-06-29 郑州云海信息技术有限公司 Pcie插卡的热插拔方法、系统、装置和可读存储介质
CN107766213A (zh) * 2017-09-29 2018-03-06 郑州云海信息技术有限公司 一种实现nvme硬盘点灯的方法及系统
CN107844165B (zh) * 2017-11-03 2020-12-22 曙光信息产业(北京)有限公司 硬盘热插拔实现装置
CN108052428A (zh) * 2017-12-08 2018-05-18 郑州云海信息技术有限公司 一种测试pcie卡热插拔功能的测试方法
CN108628714B (zh) * 2018-04-27 2022-02-01 上海晨兴希姆通电子科技有限公司 移动终端的测试方法及系统
CN109933475A (zh) * 2019-03-19 2019-06-25 浪潮商用机器有限公司 一种硬盘热插拔处理系统、方法及装置
CN109947686A (zh) * 2019-03-22 2019-06-28 浪潮商用机器有限公司 一种pcie系统、热拔插处理方法及相关装置
CN110502464A (zh) * 2019-07-26 2019-11-26 苏州浪潮智能科技有限公司 一种热拔插处理方法、装置、设备、系统及可读存储介质
CN112749036B (zh) * 2021-01-07 2022-07-08 苏州浪潮智能科技有限公司 固态盘暴力热拔出操作的处理方法、装置、系统及介质
CN114064541B (zh) * 2022-01-18 2022-04-22 苏州浪潮智能科技有限公司 一种硬盘模拟插拔方法、装置、设备及存储介质
CN114925011B (zh) * 2022-05-24 2023-07-14 苏州浪潮智能科技有限公司 一种解决pcie热插拔槽位无法识别设备的方法和装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001273060A (ja) * 2000-03-02 2001-10-05 Internatl Business Mach Corp <Ibm> コンピュータ・バックプレーンのホット・プラグ回路の製造テスト
US6704827B1 (en) * 2001-03-08 2004-03-09 Sun Microsystems, Inc. Hot plug interface (HPI) test fixture
CN102508755A (zh) * 2011-09-26 2012-06-20 迈普通信技术股份有限公司 一种模拟接口卡热插拔的装置和方法
CN105354162A (zh) * 2015-11-02 2016-02-24 烽火通信科技股份有限公司 基于Linux实现PCIE设备热插拔的方法及装置
CN106326160A (zh) * 2015-06-26 2017-01-11 华为技术有限公司 处理系统和处理方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001273060A (ja) * 2000-03-02 2001-10-05 Internatl Business Mach Corp <Ibm> コンピュータ・バックプレーンのホット・プラグ回路の製造テスト
US6704827B1 (en) * 2001-03-08 2004-03-09 Sun Microsystems, Inc. Hot plug interface (HPI) test fixture
CN102508755A (zh) * 2011-09-26 2012-06-20 迈普通信技术股份有限公司 一种模拟接口卡热插拔的装置和方法
CN106326160A (zh) * 2015-06-26 2017-01-11 华为技术有限公司 处理系统和处理方法
CN105354162A (zh) * 2015-11-02 2016-02-24 烽火通信科技股份有限公司 基于Linux实现PCIE设备热插拔的方法及装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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《低电压热插拔控制——由凌特公司提供的高性能模拟解决方案》;凌特公司;《电子设计技术》;20060731(第7期);第99-102页 *

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