TW201439751A

TW201439751A - 顯卡測試系統及顯卡測試方法

Info

Publication number: TW201439751A
Application number: TW102101913A
Authority: TW
Inventors: Chun-Sheng Chen
Original assignee: Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Priority date: 2013-01-10
Filing date: 2013-01-18
Publication date: 2014-10-16
Also published as: CN103927242A; US20140195697A1

Abstract

本發明涉及一種顯卡測試系統及方法。該系統用於對同時具有外接顯卡及集成顯卡之主機板進行顯卡功能檢測，並藉由一與集成顯卡可插拔相連之第一顯示器顯示檢測結果。該系統包括：第一檢測模組，在檢測狀態時，測試該外接顯卡之顯示功能；獲取模組，獲取該第一顯示器與該集成顯卡之連接狀態，判斷該第一顯示器是否與該集成顯卡電連接；屏蔽模組，當該第一顯示器與該集成顯卡電連接時，屏蔽該外接顯卡之顯示功能；重啟模組，重啟具有該顯卡作業系統之主機；及第二檢測模組，啟動測試程式檢測該集成顯卡之顯示功能。

Description

顯卡測試系統及顯卡測試方法

本發明涉及一種顯卡測試系統及顯卡測試方法。

目前，具有外接顯卡之主機板以其可插拔、易更換之便利性取代了具有集成顯卡之主機板，然而，對於原本具有集成顯卡之主機板而言，通常只能藉由更換整個主機板來達到擴展顯卡性能之目的，這造成了大量之資源浪費。鑑於上述情況，市面上已經出現將外接顯卡設置於原本具有集成顯卡之主機板上之相應技術與產品，使得原本僅具有集成顯卡之主機板能夠藉由擴展之外接顯卡處理圖像資料以便滿足用戶之需求。通常，具有集成與外接兩種顯卡之主機板在實際工作中被默認藉由外接顯卡進行顯示圖像處理。

為保證工作性能，針對上述具有集成與外接顯卡之主機板，在生產時均需要對其集成顯卡以及快捷外設互聯標準介面（Peripheral Component Interconnect Express，下稱PCIE）上插入之外接顯卡之顯示功能進行測試。在測試時，由於主機板是默認藉由外接顯卡實現顯示功能之。也就是說測試程式被優先寫入外接顯卡以檢測外接顯卡之顯示功能。而若要測試集成顯卡之功能，則需將外接顯卡從PCIE插槽上拔下，使集成顯卡獨立工作才能對集成顯卡之顯示功能進行測試。可見，由於在顯卡測試時需要將外接顯卡從PCIE插槽上拔下，造成了時間之浪費，測試效率較低。

有鑑於此，有必要提供一種測試效率較高之顯卡測試系統。

有必要提供一種測試效率較高之顯卡測試方法。

一種顯卡測試系統，用於對同時具有外接顯卡及集成顯卡之主機板進行顯卡功能檢測，並藉由一與該集成顯卡可插拔相連之第一顯示器顯示對該集成顯卡進行功能檢測之檢測結果，該顯卡測試系統運行於具有該主機板之主機中，並在一處理器之控制下執行，該顯卡測試系統包括：第一檢測模組，用於在檢測狀態時，測試該外接顯卡之顯示功能；獲取模組，用於獲取該第一顯示器與該集成顯卡之連接狀態，判斷該第一顯示器是否與該集成顯卡電連接；屏蔽模組，用於當該獲取模組之偵測結果顯示該第一顯示器與該集成顯卡電連接時，屏蔽該外接顯卡之顯示功能；重啟模組，用於重啟具有該顯卡測試裝置之主機；及第二檢測模組，用於啟動測試程式檢測該集成顯卡之顯示功能。

一種顯卡測試方法，用於對同時具有外接顯卡及集成顯卡之主機板進行顯卡功能檢測，並藉由一與該集成顯卡可插拔相連之第一顯示器顯示對該集成顯卡進行功能檢測之檢測結果，該顯卡測試系統運行於具有該主機板之主機中，並在一處理器之控制下執行，該顯卡測試方法包括：第一檢測步驟，進入顯卡檢測狀態時，檢測該外接顯卡之顯示功能；獲取步驟，獲取該第一顯示器與該集成顯卡之連接狀態，判斷該第一顯示器是否與該集成顯卡電連接；屏蔽步驟，當該獲取模組之偵測結果顯示該第一顯示器與該集成顯卡電連接時，屏蔽該外接顯卡之顯示功能；重啟步驟，重啟具有該顯卡測試裝置之主機；及第二檢測步驟，啟動測試程式檢測該集成顯卡之顯示功能。

與先前技術相較，本發明顯卡測試系統及其顯卡測試方法能夠檢測到該第一顯示器是否與該集成顯卡電連接，並在該第一顯示器與該集成顯卡電連接時，屏蔽該外接顯卡之顯示功能，重啟後將對該集成顯卡之功能進行檢測。實施本發明，不需要將該外接顯卡從該PCIE插槽上拔下，因此，達到了節約時間，提高檢測效率之技術效果。

1．．．顯卡測試裝置

a．．．主機板

3．．．第一顯示器

5．．．第二顯示器

10．．．記憶體

20．．．處理器

30．．．集成顯卡

40．．．外接顯卡

60．．．偵測電路

70．．．顯卡測試系統

80．．．PCIE插槽

90．．．連接器

31．．．被偵測引腳

71．．．第一檢測模組

72．．．獲取模組

73．．．屏蔽模組

74．．．重啟模組

75．．．第二檢測模組

721．．．任務管理子模組

91．．．偵測引腳

61．．．第一電源

62．．．輸入輸出晶片

63．．．BIOS晶片

R1．．．第一電阻

621．．．第一端

623．．．第二端

圖1為本發明顯卡測試裝置之測試環境之示意圖。

圖2為圖1所示顯卡測試裝置之結構框圖。

圖3為圖2所示偵測電路之一實施方式之電路圖。

圖4為本發明顯卡測試系統一變更實施方式之功能模組圖。

圖5為本發明顯卡測試方法一較佳實施方式之流程圖。

下面將結合附圖對本發明作具體介紹。請參閱圖1，圖1為本發明顯卡測試裝置之測試環境之示意圖。該顯卡測試裝置1能夠用於對能夠同時具有外接顯卡40及集成顯卡30之主機板a進行顯卡功能檢測，並將集成顯卡30之功能測試結果與外接顯卡40之功能測試結果分別藉由第一顯示器3與第二顯示器5進行觀察與顯示。其中，該集成顯卡30經由一連接器90及一視頻線與該第一顯示器3電連接，該外接顯卡40插接在一PCIE插槽80經由該主機板a上之另一連接器(圖未示)與該第二顯示器5電連接。在本實施方式中，該連接器90為視頻圖形陣列連接器（Video Graphics Array，VGA）。依據現有之主機板a之運行情況可知，當該集成顯卡30與該外接顯卡40均存在時，通常設定該外接顯卡40優先於該集成顯卡30作為處於運行中之顯卡工作，可見，在本顯卡測試裝置１中，預先設定外接顯卡40之運行優先順序高於集成顯卡30。

請參閱圖2，圖2為圖1所示顯卡測試裝置1之結構框圖。該顯卡測試裝置1包括記憶體10、處理器20、偵測電路60及顯卡測試系統70。該顯卡測試系統70可以以韌體之方式存儲於該記憶體10中，並在該處理器20之控制下執行。在本發明中，該顯卡測試裝置1可運行於一主機中，在主機之控制下執行操作。可以理解，該顯卡測試裝置1之記憶體10與處理器20可為該主機之處理器與記憶體。該偵測電路60用於偵測該第一顯示器3是否與該集成顯卡30電連接。該顯卡測試系統70用於在接收到進行顯卡測試之通用指令時，在該處理器20之控制下按照預設之運行優先順序優先執行測試程式以檢測該外接顯卡40之顯示功能，並在該外接顯卡40測試完畢且在該偵測電路60偵測到該集成顯卡30與該第一顯示器3處於連接狀態時，該顯卡測試系統70屏蔽該外接顯卡40之顯示功能，以便對集成顯卡30進行功能測試。

該顯卡測試系統70包括：第一檢測模組71、獲取模組72、屏蔽模組73、重啟模組74及第二檢測模組75。

該第一檢測模組71用於在檢測狀態時，測試該外接顯卡40之顯示功能。此時，可藉由觀測與該外接顯卡40相連之該第二顯示器5以辨別該外接顯卡40之顯示功能是否正常。可以理解地，該第一檢測模組71檢測該外接顯卡40時之檢測手段為習知檢測手段，在此不再贅述。

該獲取模組72用於獲取該第一顯示器3與該集成顯卡30之連接狀態。具體而言，在本實施方式中，該獲取模組72用於在該第一檢測模組71對該外接顯卡40之功能檢測完畢後發出偵測指令啟動該偵測電路60，並獲取該偵測電路60之偵測結果。

該屏蔽模組73用於當該獲取模組72之偵測結果顯示該第一顯示器3與該集成顯卡30電連接時，屏蔽該外接顯卡40之顯示功能，以便對集成顯卡30進行功能測試。

該重啟模組74用於重啟具有該顯卡測試裝置1之主機。該重啟模組74在該屏蔽模組73執行完畢後重啟該主機。

該第二檢測模組75用於在重啟後，啟動測試程式檢測該集成顯卡30之顯示功能。此時，可藉由觀測與該集成顯卡30相連之該第一顯示器3以辨別該集成顯卡30之顯示功能是否正常。同樣可以理解地，檢測該集成顯卡30之顯示功能時所用之檢測手段同樣為習知檢測手段，在此不再贅述。

請參閱圖3，為圖2所示偵測電路60一實施方式之電路圖。該偵測電路60包括第一電源61、第一電阻R1、輸入輸出晶片62及BIOS（Basic Input Output System，基本輸入輸出系統）晶片63。該輸入輸出晶片62包括第一端621及第二端623。該連接器90包括偵測引腳91，該偵測引腳91為該連接器90之第四引腳（Pin 4）。該第一顯示器3包括與該偵測引腳91對應之一被偵測引腳31，該被偵測引腳31連接一接地訊號；當該第一顯示器3與連接器90藉由視頻線電連接時，該偵測引腳91與該被偵測引腳31相連且接地。在本實施方式中，接地訊號作為一第一電壓訊號。

該偵測引腳91與該偵測電路60相連，用於偵測該偵測引腳91上之電壓值大小以生成相應之第二電壓訊號，該偵測電路60根據該第二電壓訊號判斷該第一顯示器3是否藉由該連接器90與該集成顯卡30相連。

該第一端621連接該偵測引腳91及該第一電阻R1之間之節點。該輸入輸出晶片62用於偵測該偵測引腳91之電壓值大小，並輸出相應之第二電壓訊號至該BIOS晶片63。在本實施方式中，該輸入輸出晶片62為SIO（Super Input Output，超級輸入輸出）晶片，該第一端621及該第二端623為通用輸入輸出（General Purpose Input Output, GPIO）埠。

該BIOS晶片63藉由該第二端623連接該輸入輸出晶片62，用於在接收到該獲取模組72發出之偵測指令後，控制該輸入輸出晶片62偵測該偵測引腳91之電壓值以生成該第二電壓訊號。該BIOS晶片63根據該第二電壓訊號判斷第一顯示器3是否藉由該連接器90與該集成顯卡30相連。具體地，當該第一顯示器3藉由該連接器90與該集成顯卡30相連時，該連接器90之該偵測引腳91與該第一顯示器3之該被偵測引腳31相連。此時，該第一電源61、該第一電阻R1及地之間形成了一個放電回路。則該偵測引腳91之電位與地相同，相應地，該輸入輸出晶片62輸出一低電平之第二電壓訊號。當該第一顯示器3未藉由該連接器90與該集成顯卡30電連接時，該偵測引腳91載入該第一電源61之電壓，相應地，該輸入輸出晶片62輸出一高電平之第二電壓訊號。在本實施方式中，該第一電阻之阻值為10K歐姆，該第一電源61之電壓值為3.3V，因此，在該第一顯示器3未藉由該連接器90與該集成顯卡30電連接時，該第二電壓訊號為3.3V。可以理解地，該第一電阻R1之電阻值及該第一電源61之電壓值可根據需要進行選取，以將該偵測引腳91之電壓值提高至與該第一電源61之電壓值相等。

另外，在本發明中，該第一顯示器3之該被偵測引腳31也可以不接地。該第一顯示器3之該被偵測引腳31也可以與一第二電源相連，該第二電源之電壓值明顯不同於該第一電源61之電壓值，比如該第二電源之電壓值可高於該第一電源61之電壓值。如，可與該第一顯示器3之電源引腳（如，其電壓值為12V）相連。當該第一顯示器3藉由該連接器90與該集成顯卡30電連接時，由於該偵測引腳91上載入一電壓值高於該第一電源61之電壓，則該輸入輸出晶片62輸出一高電平之第二電壓訊號。反之，當該第一顯示器3未藉由該連接器90連接到該集成顯卡30時，該連接器90之該偵測引腳91懸空，因此，該偵測引腳91上載入之電壓值基本等於該第一電源61之電壓值，該輸入輸出晶片62輸出一低電平之第二電壓訊號。該偵測電路60藉由判斷該第二電壓訊號之大小即可判斷該第一顯示器3是否藉由該連接器90與該集成顯卡30電連接。

由此可見，當該第一顯示器3未藉由該連接器90與該集成顯卡30電連接時，該輸入輸出晶片62輸出一具有第一電平之第二電壓訊號；當該第一顯示器3藉由該連接器90與該集成顯卡30電連接時，該輸入輸出晶片62輸出一具有第二電平之第二電壓訊號。該第二電平不同於該第一電平。該偵測電路60藉由該第二電壓訊號來偵測該第一顯示器3是否藉由該連接器90與該集成顯卡30電連接。

請參閱圖4，其為本發明顯卡測試系統一變更實施方式之功能模組圖。在本實施方式中，與前一實施方式之不同在於，本實施方式中不包括偵測電路60，相應地，該獲取模組72包括任務管理子模組721。該獲取模組72用於自作業系統端之任務管理子模組721中偵測該集成顯卡30是否與該第一顯示器3電連接。相應地，該獲取模組72用於獲取該第一顯示器3與該集成顯卡30之連接狀態。具體而言，在本實施方式中，該獲取模組72發出偵測指令至該任務管理子模組721以使該任務管理子模組721開始偵測該第一顯示器3是否與該集成顯卡30電連接。

下面對本發明顯卡測試方法進行介紹。請參閱圖5，為本發明顯卡測試方法一較佳實施方式之流程圖。該方法包括：

步驟S100，進入顯卡檢測狀態時，檢測該外接顯卡40之顯示功能。

步驟S200，獲取該第一顯示器3與該集成顯卡30之連接狀態，判斷該第一顯示器3是否與該集成顯卡30電連接。當該第一顯示器3與該集成顯卡30電連接時，執行步驟S300，當該第一顯示器3與該集成顯卡30未電連接時，結束。

步驟S300，屏蔽該外接顯卡40之顯示功能。

步驟S400，重啟具有該顯卡測試裝置1之主機。

步驟S500，運行測試程式檢測該集成顯卡30之顯示功能。

與先前技術相較，本發明顯卡測試系統及其顯卡測試方法能夠檢測到該第一顯示器3是否與該集成顯卡30電連接，並在該第一顯示器3與該集成顯卡30電連接時，屏蔽該外接顯卡40之顯示功能，重啟後將對該集成顯卡30之功能進行檢測。實施本發明，不需要將該外接顯卡40從該PCIE插槽80上拔下，因此，達到了節約時間，提高檢測效率之技術效果。

雖然本發明以優選實施方式揭示如上，然其並非用以限定本發明，任何本領域技術人員，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可做各種之變化，這些依據本發明精神所做之變化，都應包含在本發明所要求之保護範圍之內。