CN107099949A - 底线检测装置、底线检测方法及缝纫机 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种缝纫机底线检测装置,属于缝纫机部件技术领域,其解决了目前底线检测装置结构不稳定的问题。底线检测装置,包括梭壳和位于梭壳内的梭芯,所述的梭芯包括绕线柱和位于绕线柱两端的凸缘,其特征在于,所述的梭壳上具有检测口一和检测口二,所述的凸缘上具有均可转动至检测口一和检测口二的检测部一和检测部二;底线检测装置还包括用于正对检测口一设置的发射器一和接收器一,还包括用于正对检测口二设置的发射器二和接收器二。在本底线检测装置中,因为只有接收器一和接收器二依次接收到反射信号后,梭芯才会转动一圈,即使受到干扰也不容易影响底线检测装置的检测结果,从而使得本底线检测装置的结构较为稳定。
Description
技术领域
本发明属于缝纫机部件技术领域,涉及一种底线检测装置、底线检测方法及缝纫机。
背景技术
中国实用新型专利(授权公告号:CN203904645U,授权公告日:20141029)公开了一种缝纫机底线线量检测装置,缝纫机包括底板、安装在底板内的旋梭、以及用于控制电机的电控模块,旋梭包括梭壳和收容在梭壳中的梭芯,梭芯包括绕线柱和设置绕线柱两端的凸缘,两个凸缘中,至少有一个凸缘的外表面上设有第一表面部和第二表面部,梭壳的外壁上开设有一透光孔,第一表面部或第二表面部从该透光孔处露出;还包括一固定在底板内的传感器,该传感器包括用于发射光线的发射器和用于接收光线的接收器,传感器的接收器和发射器均正对从透光孔处露出的第一表面部或第二表面部,第一表面部和第二表面部的反射光线能力不同;传感器与一信号处理模块相连接,该信号处理模块又与电控模块相连接。该第一表面部的材料为吸光性材料,第二表面部的材料为反光性材料。
当梭芯上粘有油污或线头的时候,会对检测装置造成干扰,造成信号读取错误,其结构不稳定。
发明内容
本发明根据上述问题,提出了一种结构稳定的底线检测装置,其技术方案如下:
底线检测装置,包括梭壳和位于梭壳内的梭芯,所述的梭芯包括绕线柱和位于绕线柱两端的凸缘,其特征在于,所述的梭壳上具有检测口一和检测口二,所述的凸缘上具有均可转动至检测口一和检测口二的检测部一和检测部二;底线检测装置还包括用于正对检测口一设置的发射器一和接收器一,还包括用于正对检测口二设置的发射器二和接收器二。
当检测部一和检测部二依次经过检测口一时,发射器一发射信号至检测口一处,接收器一收到了信号变化。但梭芯的凸缘有可能被污染或其它因素影响,以至于接收器一收到了多个信号变化值,此时,底线检测装置中若只有一个接收器,在一个实施例中,那么接收器将会误判梭芯转动多圈。但在本底线检测装置中,由于在检测口二处设置了发射器二和接收器二,当检测部一和检测部二依次经过检测口二处时,发射器二发射信号至检测口二处,接收器二收到了信号变化,只有在接收器一收到了信号变化,并且接着接收器二收到了信号变化,底线检测装置才判断梭芯转动了一圈。因此,即使接收器一和接收器二在梭芯只转动一圈的过程中均收到了多个信号变化值,也不影响底线检测装置的检测结果,从而使得本底线检测装置的结构较为稳定。
在上述的底线检测装置中,所述的发射器一和发射器二为红外发射器;所述的接收器一和接收器二为红外接收器;或者,所述的发射器一和发射器二为激光发射器;所述的接收器一和接收器二为激光接收器;
所述的检测部一和检测部二为下列技术方案中的一种:
一、检测部一为亮面,检测部二为不反光表面;
二、检测部一为斜面,检测部二为平面;
三、检测部一为凸缘的外侧面且凸缘的外侧面为亮面;检测部二为凸缘上的通孔或凸缘边缘处的缺口,另一侧凸缘的内侧面为不反光表面;
四、检测部一为凸缘的外侧面且凸缘的外侧面为不反光表面,检测部二为凸缘上的通孔或凸缘边缘处的缺口,另一侧凸缘的内侧面为亮面。
在方案一种,检测部一为亮面,当发射器一或发射器二发射光信号至检测部一上时,检测部一将光信号反射至接收器一或接收器二上;检测部二为不反光表面,当发射器一或发射器二发射光信号至检测部二上时,检测部二将光信号吸收。
在方案二中,检测部一为斜面,当发射器一或发射器二发射光信号至检测部一上时,检测部一将光信号偏角度反射,使得接收器一或接收器二接收不到反射的光信号;检测部二为平面,当发射器一或发射器二发射光信号至检测部二上时,检测部二将光信号反射,接收器一或接收器二接收到反射的光信号。
在方案三种,检测部一为凸缘的外侧面且凸缘的外侧面为亮面,当发射器一或发射器二发射光信号至检测部一上时,检测部一将光信号反射至接收器一或接收器二上;检测部二为凸缘上的通孔或凸缘边缘处的缺口,另一侧凸缘的内侧面为不反光表面,当发射器一或发射器二发射光信号,光信号穿过检测部二并到达另一侧凸缘的内侧面或到达梭芯上的线,光信号被吸收;
在方案四种,检测部一为凸缘的外侧面且凸缘的外侧面为不反光表面,当发射器一或发射器二发射光信号至检测部一上时,检测部一将光信号吸收;检测部二为凸缘上的通孔或凸缘边缘处的缺口,另一侧凸缘的内侧面为亮面,当发射器一或发射器二发射光信号,光信号穿过检测部二并到达另一侧凸缘的内侧面或到达梭芯上的具有反光性能的线,接收器一或接收器二接收到反射的光信号。
在上述的底线检测装置中,所述的发射器一和发射器二为超声波发射器;所述的接收器一和接收器二为超声波接收器;所述的检测部一和检测部二的表面在绕线柱的轴向上的高度不同。
通过设置检测部一和检测部二不同的高度,检测部一经过检测口一时,接收器一接收到的发射器一发射的信号的返回信号,与检测部二经过检测口一时,接收器二接收到的发射器二发射的信号的返回信号不同;照样,在检测口二处,接收器二接收到的检测部一和检测部二的返回信号不同,因此产生梭芯的转动信号。
在上述的底线检测装置中,所述的检测部一为凸缘的外侧面,所述的检测部二为凸缘外侧面上的凹口;
或者,所述的检测部一为凸缘的外侧面,所述的检测部二为凸缘上的通孔或凸缘边缘处的缺口。
在第一种方案中,由于设置凸缘外侧面上的凹口作为检测部二,使得检测部二的设置不影响梭芯转动,并且,凸缘外侧面的高度和凸缘上凹口底面的高度不同,使得接收器一和接收器二作为传感器能够识别。在第二种方案中,信号穿过检测部二,从梭芯的线上返回或另一侧的凸缘内表面返回,使得接收器一和接收器二作为传感器能够识别。
根据本发明的目的,本发明还提出了一种记录结果更准确的底线检测方法,其技术方案如下:
底线检测方法,其特征在于,梭芯位于梭壳内,梭壳上具有检测口一和检测口二;梭芯包括绕线柱和凸缘,凸缘上具有检测部一和检测部二,所述的凸缘上具有均可转动至检测口一和检测口二的检测部一和检测部二;底线检测装置还包括用于正对检测口一设置的发射器一和接收器一,还包括用于正对检测口二设置的发射器二和接收器二;
A、梭芯转动,检测部一和检测部二依次经过检测口一,接收器一接收到发射器一发射信号的反射信号的变化;
B、梭芯继续转动,检测部一和检测部二依次经过检测口二,接收器二接收到发射器二发射信号的反射信号的变化;
C、记录梭芯转动了一圈。
在本底线检测方法中,即使检测过程中收到油污或线头等因素的干扰,使得检测口一和检测口二处在一次检测过程中收到了多个信号变化值,也不影响梭芯转动圈数的正确记录,从而使得本底线检测方法记录结果更准确。
根据本发明的目的,本发明还提出了一种缝纫机,其技术方案如下:
缝纫机,其特征在于,包括上述的底线检测装置。
该缝纫机中使用了上述底线检测装置,因而缝纫机运行更为稳定。
在本底线检测装置中,因为只有接收器一和接收器二依次接收到反射信号后,梭芯才会转动一圈,即使接收器一和接收器二在梭芯只转动一圈的过程中均收到了多个信号变化值,也不影响底线检测装置的检测结果,从而使得本底线检测装置的结构较为稳定。
附图说明
图1是底线检测装置一种实施例的结构示意图;
图2是梭壳处的结构示意图;
图3是正常底线检测过程示意图;
图4是另一种情况中底线检测过程示意图;
图中,1、梭芯;11、绕线柱;12、凸缘;13、检测部一;14、检测部二;21、发射器一;22、接收器一;31、发射器二;32、接收器二;4、梭壳;41、检测口一;42、检测口二。
具体实施方式.
实施例一
如图1和图2所示,本底线检测装置包括梭壳4和位于梭壳4内的梭芯1。梭芯1包括绕线柱11和位于绕线柱11两端的凸缘12,梭壳4上具有检测口一41和检测口二42,凸缘12上具有均可转动至检测口一41和检测口二42的检测部一13和检测部二14。底线检测装置还包括用于正对检测口一41设置的发射器一21和接收器一22,还包括用于正对检测口二42设置的发射器二31和接收器二32。
发射器一21和发射器二31为红外发射器;接收器一22和接收器二32为红外接收器;检测部一13和检测部二14为下列技术方案中的一种:
一、检测部一13为亮面,检测部二14为不反光表面;在方案一种,检测部一13为亮面,当发射器一21或发射器二31发射光信号至检测部一13上时,检测部一13将光信号反射至接收器一22或接收器二32上;检测部二14为不反光表面,当发射器一21或发射器二31发射光信号至检测部二14上时,检测部二14将光信号吸收。
二、检测部一13为斜面,检测部二14为平面;在方案二中,检测部一13为斜面,当发射器一21或发射器二31发射光信号至检测部一13上时,检测部一13将光信号偏角度反射,使得接收器一22或接收器二32接收不到反射的光信号;检测部二14为平面,当发射器一21或发射器二31发射光信号至检测部二14上时,检测部二14将光信号反射,接收器一22或接收器二32接收到反射的光信号。
三、检测部一13为凸缘12的外侧面且凸缘12的外侧面为亮面,;检测部二14为凸缘12上的通孔或凸缘12边缘处的缺口,另一侧凸缘12的内侧面为不反光表面;在方案三种,检测部一13为凸缘12的外侧面且凸缘12的外侧面为亮面,当发射器一21或发射器二31发射光信号至检测部一13上时,检测部一13将光信号反射至接收器一22或接收器二32上;检测部二14为凸缘12上的通孔或凸缘12边缘处的缺口,另一侧凸缘12的内侧面为不反光表面,当发射器一21或发射器二31发射光信号,光信号穿过检测部二14并到达另一侧凸缘12的内侧面或到达梭芯1上的线,光信号被吸收。
四、检测部一13为凸缘12的外侧面且凸缘12的外侧面为不反光表面,检测部二14为凸缘12上的通孔或凸缘12边缘处的缺口,另一侧凸缘12的内侧面为亮面。在方案四种,检测部一13为凸缘12的外侧面且凸缘12的外侧面为不反光表面,当发射器一21或发射器二31发射光信号至检测部一13上时,检测部一13将光信号吸收;检测部二14为凸缘12上的通孔或凸缘12边缘处的缺口,另一侧凸缘12的内侧面为亮面,当发射器一21或发射器二31发射光信号,光信号穿过检测部二14并到达另一侧凸缘12的内侧面或到达梭芯1上的具有反光性能的线,接收器一22或接收器二32接收到反射的光信号。
当检测部一13和检测部二14依次经过检测口一41时,发射器一21发射信号至检测口一41处,接收器一22收到了信号变化。如图3所示,正常检测过程中,此信号值变化一次,图中示意从低电平到高电平,再从高电平回到低电平。
但梭芯1的凸缘12有可能被污染或其它因素影响,以至于接收器一22收到了多个信号变化值,如图4所示,此时,底线检测装置中若只有一个接收器,在一个实施例中,那么接收器将会误判梭芯1转动多圈。
但在本底线检测装置中,由于在检测口二42处设置了发射器二31和接收器二32,当检测部一13和检测部二14依次经过检测口二42处时,发射器二31发射信号至检测口二42处,接收器二32收到了信号变化,只有在接收器一22收到了信号变化,并且接着接收器二32收到了信号变化,底线检测装置才判断梭芯1转动了一圈。因此,即使接收器一22和接收器二32在梭芯1只转动一圈的过程中均收到了多个信号变化值,也不影响底线检测装置的检测结果,从而使得本底线检测装置的结构较为稳定。
实施例二
本实施例与实施例一大致相同,不同的地方在于,在本实施例中,发射器一21和发射器二31为激光发射器;接收器一22和接收器二32为激光接收器。
实施例三
本实施例与实施例一大致相同,不同的地方在于,在本实施例中,发射器一21和发射器二31为超声波发射器;接收器一22和接收器二32为超声波接收器;检测部一13和检测部二14的表面在绕线柱11的轴向上的高度不同。
具体的,在本实施例中,检测部一13为凸缘12的外侧面,检测部二14为凸缘12外侧面上的凹口。在此方案中,由于设置凸缘12外侧面上的凹口作为检测部二14,使得检测部二14的设置不影响梭芯1转动,并且,凸缘12外侧面的高度和凸缘12上凹口底面的高度不同,使得接收器一22和接收器二32作为传感器能够识别。
作为另一种方案,检测部一13为凸缘12的外侧面,检测部二14为凸缘12上的通孔或凸缘12边缘处的缺口。在此方案中,信号穿过检测部二14,从梭芯1的线上返回或另一侧的凸缘12内表面返回,使得接收器一22和接收器二32作为传感器能够识别。
通过设置检测部一13和检测部二14不同的高度,检测部一13经过检测口一41时,接收器一22接收到的发射器一21发射的信号的返回信号,与检测部二14经过检测口一41时,接收器二32接收到的发射器二31发射的信号的返回信号不同;照样,在检测口二42处,接收器二32接收到的检测部一13和检测部二14的返回信号不同,因此产生梭芯1的转动信号。
根据本发明的目的,本发明还提出了一种记录结果更准确的底线检测方法,其技术方案如下:
底线检测方法,梭芯1位于梭壳4内,梭壳4上具有检测口一41和检测口二42;梭芯1包括绕线柱11和凸缘12,凸缘12上具有检测部一13和检测部二14,凸缘12上具有均可转动至检测口一41和检测口二42的检测部一13和检测部二14;底线检测装置还包括用于正对检测口一41设置的发射器一21和接收器一22,还包括用于正对检测口二42设置的发射器二31和接收器二32;
A、梭芯1转动,检测部一13和检测部二14依次经过检测口一41,接收器一22接收到发射器一21发射信号的反射信号的变化;
B、梭芯1继续转动,检测部一13和检测部二14依次经过检测口二42,接收器二32接收到发射器二31发射信号的反射信号的变化;
C、记录梭芯1转动了一圈。
在本底线检测方法中,即使检测过程中收到油污或线头等因素的干扰,使得检测口一41和检测口二42处在一次检测过程中收到了多个信号变化值,也不影响梭芯1转动圈数的正确记录,从而使得本底线检测方法记录结果更准确。
根据本发明的目的,本发明还提出了一种缝纫机,其技术方案如下:
缝纫机,包括上述的底线检测装置。
Claims (6)
1.底线检测装置,包括梭壳(4)和位于梭壳(4)内的梭芯(1),所述的梭芯(1)包括绕线柱(11)和位于绕线柱(11)两端的凸缘(12),其特征在于,所述的梭壳(4)上具有检测口一(41)和检测口二(42),所述的凸缘(12)上具有均可转动至检测口一(41)和检测口二(42)的检测部一(13)和检测部二(14);底线检测装置还包括用于正对检测口一(41)设置的发射器一(21)和接收器一(22),还包括用于正对检测口二(42)设置的发射器二(31)和接收器二(32)。
2.根据权利要求1所述的底线检测装置,其特征在于,所述的发射器一(21)和发射器二(31)为红外发射器;所述的接收器一(22)和接收器二(32)为红外接收器;或者,所述的发射器一(21)和发射器二(31)为激光发射器;所述的接收器一(22)和接收器二(32)为激光接收器;
所述的检测部一(13)和检测部二(14)为下列技术方案中的一种:
一、检测部一(13)为亮面,检测部二(14)为不反光表面;
二、检测部一(13)为斜面,检测部二(14)为平面;
三、检测部一(13)为凸缘(12)的外侧面且凸缘(12)的外侧面为亮面;检测部二(14)为凸缘(12)上的通孔或凸缘(12)边缘处的缺口,另一侧凸缘(12)的内侧面为不反光表面;
四、检测部一(13)为凸缘(12)的外侧面且凸缘(12)的外侧面为不反光表面,检测部二(14)为凸缘(12)上的通孔或凸缘(12)边缘处的缺口,另一侧凸缘(12)的内侧面为亮面。
3.根据权利要求1所述的底线检测装置,其特征在于,所述的发射器一(21)和发射器二(31)为超声波发射器;所述的接收器一(22)和接收器二(32)为超声波接收器;所述的检测部一(13)和检测部二(14)的表面在绕线柱(11)的轴向上的高度不同。
4.根据权利要求3所述的底线检测装置,其特征在于,所述的检测部一(13)为凸缘(12)的外侧面,所述的检测部二(14)为凸缘(12)外侧面上的凹口;
或者,所述的检测部一(13)为凸缘(12)的外侧面,所述的检测部二(14)为凸缘(12)上的通孔或凸缘(12)边缘处的缺口。
5.底线检测方法,其特征在于,梭芯(1)位于梭壳(4)内,梭壳(4)上具有检测口一(41)和检测口二(42);梭芯(1)包括绕线柱(11)和凸缘(12),凸缘(12)上具有检测部一(13)和检测部二(14),所述的凸缘(12)上具有均可转动至检测口一(41)和检测口二(42)的检测部一(13)和检测部二(14);底线检测装置还包括用于正对检测口一(41)设置的发射器一(21)和接收器一(22),还包括用于正对检测口二(42)设置的发射器二(31)和接收器二(32);底线检测方法的步骤包括:
A、梭芯(1)转动,检测部一(13)和检测部二(14)依次经过检测口一(41),接收器一(22)接收到发射器一(21)发射信号的反射信号的变化;
B、梭芯(1)继续转动,检测部一(13)和检测部二(14)依次经过检测口二(42),接收器二(32)接收到发射器二(31)发射信号的反射信号的变化;
C、记录梭芯(1)转动了一圈。
6.缝纫机,其特征在于,包括权利要求1-4中任一项所述的底线检测装置。
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