CN107003352B - 测试头的清洁方法以及测试系统 - Google Patents

测试头的清洁方法以及测试系统 Download PDF

Info

Publication number
CN107003352B
CN107003352B CN201780000197.0A CN201780000197A CN107003352B CN 107003352 B CN107003352 B CN 107003352B CN 201780000197 A CN201780000197 A CN 201780000197A CN 107003352 B CN107003352 B CN 107003352B
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
cleaning
test head
tested
equipment
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201780000197.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN107003352A (zh
Inventor
黄旭坤
张伟宏
李亮
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Goodix Technology Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen Goodix Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Goodix Technology Co Ltd filed Critical Shenzhen Goodix Technology Co Ltd
Publication of CN107003352A publication Critical patent/CN107003352A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN107003352B publication Critical patent/CN107003352B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2863—Contacting devices, e.g. sockets, burn-in boards or mounting fixtures
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08—CLEANING
    • B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B1/00—Cleaning by methods involving the use of tools
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/94—Investigating contamination, e.g. dust
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K7/00—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns
    • G06K7/10—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation
    • G06K7/10009—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation sensing by radiation using wavelengths larger than 0.1 mm, e.g. radio-waves or microwaves
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K7/00—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns
    • G06K7/10—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation
    • G06K7/10544—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation by scanning of the records by radiation in the optical part of the electromagnetic spectrum
    • G06K7/10821—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation by scanning of the records by radiation in the optical part of the electromagnetic spectrum further details of bar or optical code scanning devices
    • G06K7/10861—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation by scanning of the records by radiation in the optical part of the electromagnetic spectrum further details of bar or optical code scanning devices sensing of data fields affixed to objects or articles, e.g. coded labels
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N2021/8411—Application to online plant, process monitoring

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Artificial Intelligence (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Cleaning In General (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本发明实施例涉及测试技术领域，特别涉及一种测试头的清洁方法以及测试系统。测试头的清洁方法，应用于测试系统，测试系统包括多个被测设备、测试头、至少一清洁设备以及用于放置多个被测设备的传输设备；测试头的清洁方法包括：将至少一清洁设备放置在传输设备上；获取被传输至测试位置的设备的识别信息；根据识别信息判断被传输至测试位置的设备是否为清洁设备；当被传输至测试位置的设备为清洁设备时，启动预设的清洁程序，以利用清洁设备清洁测试头。采用本发明的测试头清洁方法，能够通过在传送设备上放置的清洁设备对测试头进行清洁，在测试过程中对测试头自动化清洁，不仅避免了人工清洁测试头的危险性，而且不影响测试效率。

Description

测试头的清洁方法以及测试系统
技术领域
本发明实施例涉及测试技术领域，特别涉及一种测试头的清洁方法以及测试系统。
背景技术
随着指纹识别技术的快速发展，指纹识别芯片已经广泛的应用于智能终端设备，如手机、笔记本电脑等。在实际生产中，需要对指纹识别芯片进行测试，测试流程中包含测试头按压的步骤，在测试流程中必须保持测试头的洁净。
在实现本发明过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：现有技术中，通过人工对测试头进行清洁，清洁时需要暂停测试流程，影响测试效率；测试系统结构紧凑，难以轻易接触到测试头，如不暂停测试流程，人工清洁测试头具有一定危险性。
发明内容
本发明实施方式的目的在于提供一种测试头的清洁方法以及测试系统，能够通过在传送设备上放置的清洁设备对测试头进行清洁，在测试过程中对测试头自动化清洁，不仅避免了人工清洁测试头的危险性，而且不影响测试效率。
为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种测试头的清洁方法，应用于测试系统，测试系统包括多个被测设备、测试头、至少一清洁设备以及用于放置多个被测设备的传输设备；测试头的清洁方法包括：将至少一清洁设备放置在传输设备上；获取被传输至测试位置的设备的识别信息；根据识别信息判断被传输至测试位置的设备是否为清洁设备；当被传输至测试位置的设备为清洁设备时，启动预设的清洁程序，以利用清洁设备清洁测试头。
本发明的实施方式还提供了一种测试系统，其特征在于，包括：多个被测设备、测试头、传输设备、检测设备、控制设备以及至少一清洁设备；控制设备电连接于测试头、传输设备、检测设备以及被测设备；传输设备上放置有多个被测设备与清洁设备；测试头设置于传输设备的一侧且对应于测试位置；其中，测试头用于测试被传输测试位置的被测设备；检测设备对应于测试位置，用于获取被传输至测试位置的设备的识别信息；控制设备用于根据识别信息判断被传输至测试位置的设备是否为清洁设备；当被传输至测试位置的设备为清洁设备时，控制设备启动预设的清洁程序，以利用清洁设备清洁测试头。
本发明实施方式相对于现有技术而言，提供了一种测试头的清洁方法，将清洁设备放置在传输设备上，当通过设备的识别信息判断出被传送到测试位置的设备为清洁设备时，启动预设的清洁程序，利用清洁设备清洁测试头。据此，可以在测试过程中对测试头自动化清洁，不仅避免了人工清洁测试头的危险性，而且不影响测试效率。
另外，获取被传输至测试位置的设备的识别信息中，具体包括：读取设备上的识别标签以获取识别信息。本实施方式中，提供了获取识别设备识别信息的具体方法，以满足实际设计需求。
另外，获取被传输至测试位置的设备的识别信息中，具体包括：拍摄设备的图像；对设备的图像进行分析，以获取识别信息。本实施方式中，提供了获取设备识别信息的另外一种方法，便于测试人员根据需求选择。
另外，传输设备上放置有多个清洁设备，且相邻放置的两个清洁设备之间的被测设备的数目相同。本实施方式中，提供了一种具体的清洁方式，即对测试头进行例行清洁，每当测试头测试一定数量的被测设备后，便利用清洁设备对其进行清洁，确保了测试头的洁净。
另外，在将至少一清洁设备放置在传输设备上之前，还包括：检测测试头上是否存在异物；其中，当检测到测试头上存在异物时，将清洁设备放置在传输设备。本实施方式中，提供了另一种具体的清洁方式，即对测试头进行主动清洁；主动对测试头是否需要被清洁进行检测，只有当检测测试头上存在异物时，才将清洁设备放置在传输设备上，以对测试头进行清洁，从而可以更精确的进行清洁操作。
另外，当被传输至测试位置的设备为被测设备时，启动预设的测试程序，以利用测试头对被测设备进行测试；检测测试头上是否存在异物中，具体包括：监控采用测试头测试的被测设备的测试记录；若判断出连续被记录为测试失败的被测设备的数目大于或等于预设数目，则判定测试头上存在异物。本实施方式提供了检测测试头上是否存在异物的具体方法，便于进行实际操作。
附图说明
一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。
图1是根据本发明第一实施方式的测试头的清洁方法的具体流程图；
图2是根据本发明第二实施方式中以第一种方式获取设备识别信息的测试头的清洁方法的具体流程图；
图3是根据本发明第二实施方式中以第二种方式获取设备识别信息的测试头的清洁方法的具体流程图；
图4是根据本发明第三实施方式的测试头的清洁方法的具体流程图；
图5是根据本发明第四实施方式的测试头的清洁方法的主动清洁模式的具体流程图；
图6根据本发明第五实施方式的测试系统的方框示意图；
图7是根据本发明第六实施方式的测试系统的第二种实现方式的方框示意图；
图8是根据本发明第七实施方式的测试系统的方框示意图；
图9是根据本发明第八实施方式的测试系统的方框示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明的各实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本发明各实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本申请所要求保护的技术方案。
本发明的第一实施方式涉及一种测试头的清洁方法，应用于包括多个被测设备、测试头以及用于放置多个被测设备的传输设备的测试系统。测试头的清洁方法的具体流程如图1所示。
步骤101，将清洁设备放置在传输设备上。
具体而言，在传输设备上依次排列放置着多个设备，放置的设备可以是被测设备或者清洁设备，传送设备将多个设备依次传送至测试位置，测试头对传送至测试位置的设备进行测试。需要说明的是，放置清洁设备的数量至少为一个(也可以大于一个，例如五个)。
步骤102，获取被传输至测试位置的设备的识别信息。
具体而言，在设备被传输至测试位置，便进行设备的识别信息的获取。
步骤103，判断被传输至测试位置的设备是否为清洁设备。
具体而言，清洁设备与被测设备虽采用了相同的大小规格以便于放置于传输设备，但是清洁设备与被测设备上的识别信息是不同的。在测试系统中，已经预设了清洁设备的识别信息，当获取的被传输至测试位置的设备的识别与预设的清洁设备的识别信息匹配时，则判定该设备为清洁设备，进入步骤104，启动预设的清洁程序。
实际上，在测试系统中，对被测设备的测试及对测试头的清洁是结合在一起的，以实现在测试的过程中自动化清洁。因此，若获取的被传输至测试位置的设备的识别与预设的清洁设备的识别信息不匹配，说明该设备不是清洁设备，则判定该设备为被测设备。此时，测试头对该设备进行按压测试。其中，按压测试的具体方式，例如：可以控制测试头朝向被测设备运动，接触被测设备后返回，即模拟人的手指按压一次。
步骤104，启动预设的清洁程序，以利用清洁设备清洁测试头。
具体而言，当判断被传输至测试位置的设备为清洁设备时，启动预设的清洁程序，以利用清洁设备清洁测试头。其中，对测试头进行清洁的具体方式，例如：可以控制测试头接触清洁设备若干次，以清除测试头上的异物。
本实施方式中，清洁设备与测试头接触的一面附着一层特殊材料，可以通过接触的方式吸附掉测试头上的异物。
本实施方式相对于现有技术而言，提供了一种测试头的清洁方法，将清洁设备放置在传输设备上，当通过设备的识别信息判断出被传送到测试位置的设备为清洁设备时，启动预设的清洁程序，利用清洁设备清洁测试头；从而实现了在测试过程中对测试头的自动化清洁，不仅避免了现有技术中人工清洁测试头的危险性，而且对测试效率没有影响。
上面各种方法的步骤划分，只是为了描述清楚，实现时可以合并为一个步骤或者对某些步骤进行拆分，分解为多个步骤，只要包括相同的逻辑关系，都在本专利的保护范围内；对算法中或者流程中添加无关紧要的修改或者引入无关紧要的设计，但不改变其算法和流程的核心设计都在该专利的保护范围内。
本发明的第二实施方式涉及一种测试头的清洁方法。本实施例是对第一实施例的细化，主要细化之处在于：本发明的第二实施方式中，对第一实施方式中步骤102：获取被传输至测试位置的设备的识别信息，进行了具体说明，提供了两种获取设备识别信息的方式。
如图2所示，为本实施例中提供的以第一种方式获取设备识别信息的测试头的清洁方法的具体流程图。
其中，步骤201与步骤101对应大致相同，步骤203、步骤204与步骤103、步骤104对应大致相同，在此处不再赘述；不同之处在于，本实施例中步骤202：获取被传输至测试位置的设备的识别信息，具体为：
读取设备上的识别标签以获取识别信息。
具体而言，设备上一般带有识别标签，当设备被传送至测试位置时，通过读取设备上的识别标签可以获取设备的识别信息。其中，识别标签可以是射频标签、条形码或者二维码等。
需要说明的是，清洁设备与被测设备上的识别标签可以为相同类型的，也可以为不同类型的。例如，清洁设备上的识别标签为射频标签，被测设备上的识别标签为条形码。如使用不同类型的识别标签，则不用考虑清洁设备与被测设备出现相同识别信息的情况，而使用相同类型的识别标签，在编码时就需要注意区分设备类型，以免清洁设备与被测设备出现相同识别信息的情况。本实施方式对此不作任何限制，可以根据测试系统的不同来设置。
如图3所示，为本实施例中提供的以第二种方式获取设备识别信息的测试头的清洁方法的具体流程图。
其中，步骤301与步骤101对应大致相同，步骤303、步骤304与步骤103、步骤104对应大致相同，在此处不再赘述；不同之处在于，本实施例中步骤302：获取被传输至测试位置的设备的识别信息，包括：
步骤3021，拍摄设备的图像。
具体而言，当设备被传输至测试位置时，拍摄测试位置上的设备的图像。
步骤3022，对设备的图像进行分析，以获取设备的识别信息。
具体而言，对拍摄的设备的图像进行分析，获取图像中包含的特殊图案或者颜色等信息，用获取的信息作为设备的识别信息。
本实施例中，预先在清洁设备的外表面设置特殊图形，或者将清洁设备的颜色和被测设备设置的不一样，从而可以根据清洁设备上的特殊图形或者清洁设备的颜色来进行识别。
具体而言，当传输设备上的某一个设备被传输至测试位置时，拍摄位于测试位置的该设备的图像，并对该设备的图像进行分析，若从图像中识别出特殊图形或者识别出该设备的颜色为预设的清洁设备的颜色，则判定被传输至测试位置的设备为清洁设备。例如，预先将清洁设备设为红色、被测设备设为绿色，当获取被传输至测试位置的设备的识别信息为红色时，则认为该设备为清洁设备。
本实施方式提供了被传输至测试位置的设备的识别信息的具体获取方式，是对第一实施方式的完善说明，以满足实际设计需求。同时，提供了多种方案，便于测试人员根据需求选择。
本发明的第三实施方式涉及一种测试头的清洁方法，本实施方式是对第一实施方式的改进，主要改进之处在于：提供了利用清洁设备清洁测试头的两种工作模式。
本实施方式提供的第一种工作模式：例行清洁模式，具体流程图请参考图1。
本实施方式在步骤101：将清洁设备放置在传输设备上中，在传输设备上放置多个清洁设备，且相邻放置的两个清洁设备之间的被测设备的数目相同。例如，在测试流程中，每隔五个被测设备放置一个清洁设备，测试头在测试五个被测设备后，利用清洁设备对测试头进行清洁，从而保持了测试头的洁净。需要说明的是，本实施方式对相邻放置的两个清洁设备之间的被测设备的数目不作任何限制，可以根据实际经验设置。
本实施方式提供的第二种工作模式：主动清洁模式，具体流程图请参考图4。
其中，步骤402至步骤405与步骤101至步骤104对应大致相同，在此处不再赘述；不同之处在于，本实施例新增加步骤401，具体解释如下：
步骤401，检测测试头上是否存在异物。
具体而言，在将清洁设备放置在传输设备上之前，先对测试头上是否有异物进行检测。当检测到测试头上存在异物时，说明测试头需要被清洁，才在传输设备上放入清洁设备，主动对测试头进行清洁，可以更精确的进行清洁操作。
本实施方式提供的测试头清洁方法与第一实施方式相比，设定了利用清洁设备清洁测试头的工作模式，提供了两种工作模式：例行清洁模式和主动清洁模式，便于测试人员灵活选择。相应地，本实施方式中提到的相关技术细节也可应用在第二实施方式中。
本发明的第四实施方式涉及一种测试头的清洁方法，本实施例是对第三实施例的细化，主要细化之处在于：本发明的第四实施方式中，对第三实施方式主动清洁模式中的步骤401：检测测试头上是否存在异物，进行了具体说明。
本实施方式提供的测试头的清洁方法的具体流程图如图5所示。
其中，步骤502至步骤505与步骤402至步骤405对应大致相同，在此处不再赘述；不同之处在于，本实施例中步骤501：获取被传输至测试位置的设备的识别信息，包括：
步骤5011，监控采用测试头测试的被测设备的测试记录。
具体而言，在测试流程中，会对每个测试头测试的被测设备的测试结果进行监控并记录。其中，测试结果分为测试成功和测试失败。
于实际中，可以通过计数器来记录并显示测试失败的被测设备的数目。
步骤5012，判断连续被记录为测试失败的被测设备的数目是否大于或等于预设数目。若是，则进入步骤502；若否，则直接结束。
具体而言，根据监控的测试记录，可以判断连续被记录为测试失败的被测设备的数目是否大于或等于预设数目。当连续被记录为测试失败的被测设备的数目是大于或等于预设数目时，则认为测试头上存在异物，需要进行清洁。于实际中，因为被测设备连续测试失败的可能性非常，因此，当同一个测试头测试的被测设备连续被记录为测试失败时，可以认为是测试头上存在异物。
于实际中，还可以采用第二实施方式中获取设备的识别信息同样的方法来检测测试头上是否存在异物。即，拍摄测试头的图像，并对测试头的图像进行分析，以此，判断测试头上是否存在异物。
本实施方式提供的测试头清洁方法与第三实施方式相比，提供了检测测试头上是否存在异物的具体方法，便于进行实际操作。
本发明的第五实施方式涉及一种测试系统，如图6所示。测试系统包括：多个被测设备1、测试头2、传输设备3、检测设备4、控制设备5以及至少一清洁设备6。控制设备5电连接于测试头2、传输设备3、检测设备4以及被测设备1。
传输设备3上放置有多个被测设备1与清洁设备6；测试头2设置于传输设备3的一侧且对应于测试位置；检测设备4对应于测试位置，与测试头正对。
实际上，在测试系统中，对被测设备的测试及对测试头的清洁是结合在一起的，即在测试的过程中实现自动化清洁；具体过程如下：
在传输设备3上放置被测设备1与清洁设备6，传输设备3依次传送设备到测试位置，此时检测设备4获取被传输至测试位置的设备的识别信息，检测设备4将获取的识别信息发送到控制设备5，控制设备5根据获取的识别信息判断被传输至测试位置的设备是否为清洁设备6；当控制设备5判断被传输至测试位置的设备为清洁设备6时，控制设备5启动预设的清洁程序，控制测试头2多次与清洁设备6接触，以利用清洁设备6清洁测试头2；当检测到该设备不是清洁设备6时，则说明该设备是被测设备1，控制设备5控制测试头2测试被传输测试位置的被测设备1。
需要说明的是，本实施例中，控制设备5连接于被传送至测试位置的被测设备1(即当被测设备1传输至测试位置时，控制设备5与该被测设备1自动连接)，以保证能够对被传送至测试位置的被测设备1进行测试；然实际上不限于此，可以根据实际的测试系统的设计需要设计(例如，当被测设备1被放置于传输设备3时，即与控制设备5相连接)。
不难发现，本实施方式为与第一实施方式相对应的系统实施例，本实施方式可与第一实施方式互相配合实施。第一实施方式中提到的相关技术细节在本实施方式中依然有效，为了减少重复，这里不再赘述。相应地，本实施方式中提到的相关技术细节也可应用在第一实施方式中。
本实施方式相对于现有技术而言，提供了一种测试系统，将清洁设备放置在传输设备上，当通过设备的识别信息判断出被传送到测试位置的设备为清洁设备时，启动预设的清洁程序，利用清洁设备清洁测试头，避免了人工清洁测试头的危险性。在测试过程中对测试头自动化清洁，不影响测试效率。
本发明的第六实施方式涉及一种测试系统。本实施例是对第一实施例的细化，主要细化之处在于：在本实施方式中，对检测设备4进行了具体化介绍。
在本实施方式的第一种实现方式中(测试系统的方框图可请参考图6)，检测设备4可以为射频读取器，清洁设备的识别信息储存在射频识别标签中，射频识别标签设置在清洁设备6上；或者，检测设备4也可以为扫码器，清洁设备6的识别信息以条形码的形式表示，条形码设置在清洁设备6上。
在本实施方式的第二种实现方式中，测试系统的方框图如图7，检测设备4包括摄像头41与图像处理芯片42，以获取的设备识别信息。具体而言，摄像头41用于拍摄设备的图像；图像处理芯片42用于对设备的图像进行分析，并获取设备的识别信息。
由于第二实施方式与本实施方式相互对应，因此本实施方式可与第二实施方式互相配合实施。第二实施方式中提到的相关技术细节在本实施方式中依然有效，在第二实施方式中所能达到的技术效果在本实施方式中也同样可以实现，为了减少重复，这里不再赘述。相应地，本实施方式中提到的相关技术细节也可应用在第二实施方式中。
本实施方式提供的测试头清洁方法与第一实施方式相比，提供了被传输至测试位置的设备的识别信息的具体获取方式，是对第一实施方式的完善说明，以满足实际设计需求。同时，提供了多种方案，便于测试人员根据需求选择。
本发明的第七实施方式涉及一种测试系统，本实施方式是对第五实施方式的改进，主要改进之处在于：请参考图8，测试系统还包括：机械手7；机械手7电连接与控制设备5。
本实施方式中，控制设备5可以控制机械手7将清洁设备6放置在传输设备3上。具体的，根据清洁设备清洁测试头的两种工作模式(例行清洁模式与主动清洁模式)，控制设备5对机械手7的控制方式可以有以下两种方式：
第一种方式(对应于例行清洁模式的控制方式)，在传输设备3上放置多个清洁设备6，且相邻放置的两个清洁设备之间的被测设备的数目相同；即，控制设备5控制机械手7间歇性地抓取清洁设备6放置在传输设备3。
第二种方式(对应于主动清洁模式的控制方式)，控制设备5还用于检测测试头2上是否存在异物；其中，当检测到测试头2上存在异物时，需要将清洁设备6放置在传输设备3；即，控制设备5还用于在检测到测试头2上存在异物时，控制机械手7将清洁设备6放置在传输设备3上。
由于第三实施方式与本实施方式相互对应，因此本实施方式可与第三实施方式互相配合实施。第三实施方式中提到的相关技术细节在本实施方式中依然有效，在第三实施方式中所能达到的技术效果在本实施方式中也同样可以实现，为了减少重复，这里不再赘述。相应地，本实施方式中提到的相关技术细节也可应用在第三实施方式中。
本实施方式提供的测试头清洁方法与第五实施方式相比，设定了利用清洁设备清洁测试头的工作模式，提供了两种工作模式：例行清洁模式和主动清洁模式，便于测试人员灵活选择。相应地，本实施方式中提到的相关技术细节也可应用在第六实施方式中。
本发明的第八实施方式涉及一种测试系统，本实施方式是对第七实施方式的改进，主要改进之处在于：请参考图9，测试系统还包括：存储设备8。
存储设备8连接于控制设备5。
存储设备8用于储存测试头2测试的被测设备1的测试记录；
控制设备8还用于监控测试记录；
控制设备5在判断出连续被记录为测试失败的被测设备1的数目大于或等于预设数目，判定测试头2上存在异物。
由于第四实施方式与本实施方式相互对应，因此本实施方式可与第四实施方式互相配合实施。第四实施方式中提到的相关技术细节在本实施方式中依然有效，在第四实施方式中所能达到的技术效果在本实施方式中也同样可以实现，为了减少重复，这里不再赘述。相应地，本实施方式中提到的相关技术细节也可应用在第四实施方式中。
本实施方式提供的测试头清洁方法与第七实施方式相比，提供了检测测试头上是否存在异物的具体方法，便于进行实际操作。
本领域技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一个设备(可以是单片机，芯片等)或处理器(processor)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
本领域的普通技术人员可以理解，上述各实施方式是实现本发明的具体实施例，而在实际应用中，可以在形式上和细节上对其作各种改变，而不偏离本发明的精神和范围。

Claims (13)

1.一种测试头的清洁方法，其特征在于，应用于测试系统，所述测试系统包括多个被测设备、测试头、至少一清洁设备以及用于放置所述多个被测设备的传输设备；所述测试头的清洁方法包括：
将至少一清洁设备放置在所述传输设备上；
获取被传输至测试位置的设备的识别信息；
根据所述识别信息判断被传输至所述测试位置的设备是否为所述清洁设备；
当被传输至所述测试位置的设备为所述清洁设备时，启动预设的清洁程序，以利用所述清洁设备清洁所述测试头；
其中，所述清洁设备与所述被测设备采用了相同的大小规格且所述清洁设备与所述被测设备上的识别信息不同。
2.根据权利要求1所述的测试头的清洁方法，其特征在于，所述获取被传输至所述测试位置的设备的识别信息中，具体包括：
读取所述设备上的识别标签以获取所述识别信息。
3.根据权利要求1所述的测试头的清洁方法，其特征在于，所述获取被传输至所述测试位置的设备的识别信息中，具体包括：
拍摄所述设备的图像；
对所述设备的图像进行分析，以获取所述识别信息。
4.根据权利要求1所述的测试头的清洁方法，其特征在于，所述传输设备上放置有多个清洁设备，且相邻放置的两个清洁设备之间的被测设备的数目相同。
5.根据权利要求1所述的测试头的清洁方法，其特征在于，在所述将至少一清洁设备放置在所述传输设备上之前，还包括：
检测所述测试头上是否存在异物；
其中，当检测到所述测试头上存在异物时，将所述清洁设备放置在所述传输设备。
6.根据权利要求5所述的测试头的清洁方法，其特征在于，当被传输至所述测试位置的设备为所述被测设备时，启动预设的测试程序，以利用所述测试头对所述被测设备进行测试；
所述检测所述测试头上是否存在异物中，具体包括：
监控采用所述测试头测试的被测设备的测试记录；
若判断出连续被记录为测试失败的被测设备的数目大于或等于预设数目，则判定所述测试头上存在异物。
7.一种测试系统，其特征在于，包括：多个被测设备、测试头、传输设备、检测设备、控制设备以及至少一清洁设备；所述控制设备电连接于所述测试头、传输设备、所述检测设备以及所述被测设备；
所述传输设备上放置有所述多个被测设备与所述清洁设备；
所述测试头设置于所述传输设备的一侧且对应于测试位置；其中，所述测试头用于测试被传输所述测试位置的被测设备；
所述检测设备对应于所述测试位置，用于获取被传输至所述测试位置的设备的识别信息；
所述控制设备用于根据所述识别信息判断被传输至所述测试位置的设备是否为所述清洁设备；当被传输至所述测试位置的设备为所述清洁设备时，所述控制设备启动预设的清洁程序，以利用所述清洁设备清洁所述测试头；
其中，所述清洁设备与所述被测设备采用了相同的大小规格且所述清洁设备与所述被测设备上的识别信息不同。
8.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于，所述检测设备为射频读取器，所述清洁设备的识别信息储存在射频识别标签中，所述射频识别标签设置在所述清洁设备上；
或者，所述检测设备为扫码器，所述清洁设备的识别信息以条形码的形式表示，所述条形码设置在所述清洁设备上。
9.根据权利要求7所 述的测试系统，其特征在于，所述检测设备包括摄像头与图像处理芯片；
所述摄像头用于拍摄所述设备的图像；
所述图像处理芯片用于对所述设备的图像进行分析，并获取所述设备的识别信息。
10.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于，所述清洁设备的数目为多个，且相邻放置的两个清洁设备之间的被测设备的数目相同。
11.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于，所述控制设备还用于检测所述测试头上是否存在异物；
其中，当检测到所述测试头上存在异物时，将所述清洁设备放置在所述传输设备。
12.根据权利要求11所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括存储设备，所述存储设备连接于所述控制设备；
所述存储设备用于储存所述测试头测试的被测设备的测试记录；
所述控制设备还用于监控所述测试记录；所述控制设备在判断出连续被记录为测试失败的被测设备的数目大于或等于预设数目，判定所述测试头上存在异物。
13.根据权利要求11所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括机械手，所述机械手电连接于所述控制设备；
所述控制设备还用于在检测到所述测试头上存在异物时，控制所述机械手将所述清洁设备放置在所述传输设备上。
CN201780000197.0A 2017-03-22 2017-03-22 测试头的清洁方法以及测试系统 Active CN107003352B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/CN2017/077773 WO2018170806A1 (zh) 2017-03-22 2017-03-22 测试头的清洁方法以及测试系统

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN107003352A CN107003352A (zh) 2017-08-01
CN107003352B true CN107003352B (zh) 2020-11-06

Family

ID=59436519

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201780000197.0A Active CN107003352B (zh) 2017-03-22 2017-03-22 测试头的清洁方法以及测试系统

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN107003352B (zh)
WO (1) WO2018170806A1 (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6886429B2 (ja) * 2018-06-04 2021-06-16 株式会社東海理化電機製作所 生体情報センサ装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001343426A (ja) * 2000-05-31 2001-12-14 Seiko Epson Corp 半導体装置の検査方法
CN101474626A (zh) * 2008-01-03 2009-07-08 尚富煜科技股份有限公司 激光清洁系统及其方法
CN102435760A (zh) * 2011-12-16 2012-05-02 上海依达医疗器械有限公司 冰点渗透压测定仪探头的自动洁净装置
CN103008265A (zh) * 2011-09-21 2013-04-03 旺矽科技股份有限公司 探针清洁装置以及使用其的在线探针清洁方法
CN203299342U (zh) * 2013-04-26 2013-11-20 苏州日月新半导体有限公司 自洁式测试装置
CN103691703A (zh) * 2013-12-12 2014-04-02 京东方科技集团股份有限公司 一种清洁装置以及自动清洁系统
CN105598038A (zh) * 2016-02-01 2016-05-25 董振海 试管分拣扫描识别装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001326258A (ja) * 2000-05-17 2001-11-22 Tokyo Seimitsu Co Ltd プローブカードの触針のクリーニング方法
JP2003270290A (ja) * 2002-03-12 2003-09-25 Seiko Instruments Inc 半導体検査装置
JP2010019816A (ja) * 2008-07-14 2010-01-28 Fujitsu Ltd プローブ検査システム、プローブ検査装置およびプローブ検査方法
WO2010008030A1 (ja) * 2008-07-18 2010-01-21 日本電産リード株式会社 ピン先端部のクリーニング機構を有する基板検査装置
KR101033776B1 (ko) * 2009-08-03 2011-05-13 주식회사 탑 엔지니어링 클리너를 구비한 어레이 테스트 장치
CN104931543A (zh) * 2015-06-29 2015-09-23 上海华力微电子有限公司 一种探针卡清针方法及清针系统

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001343426A (ja) * 2000-05-31 2001-12-14 Seiko Epson Corp 半導体装置の検査方法
CN101474626A (zh) * 2008-01-03 2009-07-08 尚富煜科技股份有限公司 激光清洁系统及其方法
CN103008265A (zh) * 2011-09-21 2013-04-03 旺矽科技股份有限公司 探针清洁装置以及使用其的在线探针清洁方法
CN102435760A (zh) * 2011-12-16 2012-05-02 上海依达医疗器械有限公司 冰点渗透压测定仪探头的自动洁净装置
CN203299342U (zh) * 2013-04-26 2013-11-20 苏州日月新半导体有限公司 自洁式测试装置
CN103691703A (zh) * 2013-12-12 2014-04-02 京东方科技集团股份有限公司 一种清洁装置以及自动清洁系统
CN105598038A (zh) * 2016-02-01 2016-05-25 董振海 试管分拣扫描识别装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO2018170806A1 (zh) 2018-09-27
CN107003352A (zh) 2017-08-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100699866B1 (ko) 로트 및 트레이 확인을 통한 반도체 소자의 연속검사 방법
WO2018195795A1 (zh) 测试方法、测试服务器及系统
CN107003352B (zh) 测试头的清洁方法以及测试系统
CN114429256A (zh) 数据监测方法、装置、电子设备及存储介质
CN111323432A (zh) 芯片外观不良识别设备和方法以及芯片测试系统和方法
TWI531787B (zh) An automatic optical detection method and an automatic optical detection system for carrying out the method
CN111832983A (zh) 一种资产录入信息的检测方法、装置及系统
CN117786165A (zh) 巡检事件的提取处理方法及相关服务器和介质程序
US11121912B2 (en) Method and apparatus for processing information
CN116596000A (zh) Rfid读写器的测试方法、标签、存储介质以及电子设备
CN106844211A (zh) 一种软件测试方法、装置及系统
CN109344799B (zh) 物品识别方法、装置及设备、存储介质、电子装置
CN110389293B (zh) 用于电子器件测试台认证的装置和方法
CN110493818B (zh) 无线保真模块的检测方法、装置、存储介质及电子装置
US20120166113A1 (en) Detecting use of a proper tool to install or remove a processor from a socket
CN112948634A (zh) 一种用于确定目标物品的监控视频的方法与设备
JP3673552B2 (ja) 実装基板検査方法とその装置
CN216771532U (zh) 基于图像识别的ai自动分析与记录试验仪器状态的装置
CN112363901B (zh) 硬盘性能检测方法、装置、系统、存储介质及电子装置
CN111552634A (zh) 前端系统的测试方法、装置及存储介质
CN113252697B (zh) 一种物料质量检测方法、设备及计算机可读存储介质
CN111366580A (zh) 一种自动光学检测方法
CN116016241B (zh) 一种设备指纹信息识别方法、装置、存储介质及电子设备
US20220207877A1 (en) Method for detecting objects and their state, apparatus and storage medium applying method, and electronic device
CN114298990B (zh) 一种车载摄像装置的检测方法、装置、存储介质及车辆

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant