CN111366580A - 一种自动光学检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种自动光学检测方法，包含有下列步骤：将待测物输送至检测定位点；在所述待测物到达所述检测定位点之后，启动条形码扫描机读取所述待测物的条形码，由此取得所述待测物的序号；选择使用第一影像采集器或第二影像采集器对所述待测物进行影像采集，其中，所述第一影像采集器具有影像处理功能，所述第二影像采集器并未具有影像处理功能；采集所述待测物的影像，通过所述第一影像采集器或所述第二影像采集器分别对所述待测物的影像进行判读；将影像数据和判读结果传送至终端。通过本发明的自动光学检测方法，提高了生产效率。

Description

一种自动光学检测方法
技术领域
本发明涉及光学检测领域，特别是涉及一种自动光学检测方法。
背景技术
就自动光学检测技术(Automatic Optical Inspection，AOI)来说，传统的检测步骤是先利用输送带将待测物(如电路板)运送至检测定位点，接着通过设置在检测定位点的影像采集器采集待测物的影像之后，再将所采集到的影像数据传送至计算机，由作业人员进行后续的影像储存及缺陷判读。
然而，有时候为了对应不同的产品需求，在生产现场可能会配置多种不同的影像采集器(如CCD、CMOS或Webcam)或多套控制系统，但是这些不同的影像采集器之间往往具有系统兼容性的问题，除了容易造成维修人员的困扰及维护成本上的增加之外，同时也很难共同搭配成一贯化的生产作业流程，如此势必会对生产效率及产品良率造成负面的影响。
因此本领域技术人员致力于开发一种提高生产效率的自动光学检测方法。
发明内容
有鉴于现有技术的上述缺陷，本发明所要解决的技术问题是提供一种提高生产效率的自动光学检测方法。
为实现上述目的，本发明提供了一种自动光学检测方法，包含有下列步骤：
1)将待测物输送至检测定位点；在所述待测物到达所述检测定位点之后，启动条形码扫描机读取所述待测物的条形码，由此取得所述待测物的序号；
2)选择使用第一影像采集器或第二影像采集器对所述待测物进行影像采集，其中，所述第一影像采集器具有影像处理功能，所述第二影像采集器并未具有影像处理功能；
3)采集所述待测物的影像，通过所述第一影像采集器或所述第二影像采集器分别对所述待测物的影像进行判读；
4)将影像数据和判读结果传送至终端。
较佳的，在步骤3)中，当选择使用所述第二影像采集器时，操作影像分析单元对所述待测物的影像进行分析处理并判读是否存有不良点，当选择使用所述第一影像采集器时，通过所述第一影像采集器所内建的影像处理功能对所述待测物的影像进行分析处理并判读是否存有不良点。
较佳的，在步骤4)中，在使用所述终端的过程中，假如发现所述待测物的影像在经过所述第一影像采集器的分析处理之后判断有出现不良点时，操作所述影像分析单元对所述待测物的影像进行第二 次的分析处理并判读是否存有不良点。
较佳的，在步骤4)中，所述终端将所取得的影像数据上传至数据库内进行备份。
较佳的，在步骤4)中，所述终端将判读结果上传至生产现场管控系统，该生产现场管控系统进一步控制自动输送设备进行分流。
本发明的有益效果是：本发明的自动光学检测系统，其能够提高生产效率、维持产品良率以 及降低维护成本。
附图说明
图1是本发明一具体实施方式自动光学检测方法的流程图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明：
如图1所示，本发明实施例公开了一种自动光学检测方法，包含有下列步骤：
1)将待测物输送至检测定位点；在所述待测物到达所述检测定位点之后，启动条形码扫描机读取所述待测物的条形码，由此取得所述待测物的序号；
2)选择使用第一影像采集器或第二影像采集器对所述待测物进行影像采集，其中，所述第一影像采集器具有影像处理功能，所述第二影像采集器并未具有影像处理功能；
3)采集所述待测物的影像，通过所述第一影像采集器或所述第二影像采集器分别对所述待测物的影像进行判读；
4)将影像数据和判读结果传送至终端。
在本实施例中，在步骤3)中，当选择使用所述第二影像采集器时，操作影像分析单元对所述待测物的影像进行分析处理并判读是否存有不良点，当选择使用所述第一影像采集器时，通过所述第一影像采集器所内建的影像处理功能对所述待测物的影像进行分析处理并判读是否存有不良点。
在本实施例中，在步骤4)中，在使用所述终端的过程中，假如发现所述待测物的影像在经过所述第一影像采集器的分析处理之后判断有出现不良点时，操作所述影像分析单元对所述待测物的影像进行第二 次的分析处理并判读是否存有不良点。
在本实施例中，在步骤4)中，所述终端将所取得的影像数据上传至数据库内进行备份。
在本实施例中，在步骤4)中，所述终端将判读结果上传至生产现场管控系统，该生产现场管控系统进一步控制自动输送设备进行分流。
通过本发明的自动光学检测方法，其能够提高生产效率、维持产品良率以 及降低维护成本。
以上详细描述了本发明的较佳具体实施例。应当理解，本领域的普通技术人员无需创造性劳动就可以根据本发明的构思作出诸多修改和变化。因此，凡本技术领域中技术人员依本发明的构思在现有技术的基础上通过逻辑分析、推理或者有限的实验可以得到的技术方案，皆应在由权利要求书所确定的保护范围内。

Claims (5)

1.一种自动光学检测方法，其特征在于，包含有下列步骤：
1)将待测物输送至检测定位点；在所述待测物到达所述检测定位点之后，启动条形码扫描机读取所述待测物的条形码，由此取得所述待测物的序号；
2)选择使用第一影像采集器或第二影像采集器对所述待测物进行影像采集，其中，所述第一影像采集器具有影像处理功能，所述第二影像采集器并未具有影像处理功能；
3)采集所述待测物的影像，通过所述第一影像采集器或所述第二影像采集器分别对所述待测物的影像进行判读；
4)将影像数据和判读结果传送至终端。
2.如权利要求1所述的自动光学检测方法，其特征在于，在步骤3)中，当选择使用所述第二影像采集器时，操作影像分析单元对所述待测物的影像进行分析处理并判读是否存有不良点，当选择使用所述第一影像采集器时，通过所述第一影像采集器所内建的影像处理功能对所述待测物的影像进行分析处理并判读是否存有不良点。
3.如权利要求1所述的自动光学检测方法，其特征在于，在步骤4)中，在使用所述终端的过程中，假如发现所述待测物的影像在经过所述第一影像采集器的分析处理之后判断有出现不良点时，操作所述影像分析单元对所述待测物的影像进行第二 次的分析处理并判读是否存有不良点。
4.如权利要求1所述的自动光学检测方法，其特征在于，在步骤4)中，所述终端将所取得的影像数据上传至数据库内进行备份。
5.如权利要求1所述的自动光学检测方法，其特征在于，在步骤4)中，所述终端将判读结果上传至生产现场管控系统，该生产现场管控系统进一步控制自动输送设备进行分流。
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104515862A (zh) * 2015-01-20 2015-04-15 环旭电子股份有限公司 自动光学检测方法及实施该方法的自动光学检测系统
TWI531787B (zh) * 2015-01-20 2016-05-01 An automatic optical detection method and an automatic optical detection system for carrying out the method
CN108627457A (zh) * 2017-03-21 2018-10-09 德律科技股份有限公司 自动光学检测系统及其操作方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104515862A (zh) * 2015-01-20 2015-04-15 环旭电子股份有限公司 自动光学检测方法及实施该方法的自动光学检测系统
TWI531787B (zh) * 2015-01-20 2016-05-01 An automatic optical detection method and an automatic optical detection system for carrying out the method
CN108627457A (zh) * 2017-03-21 2018-10-09 德律科技股份有限公司 自动光学检测系统及其操作方法

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Applicant before: DONGGUAN JIYANG AUTOMATION SCIENCE & TECHNOLOGY Co.,Ltd.

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