CN106950771B - 一种阵列基板、显示面板及显示装置 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供一种阵列基板、显示面板及显示装置,涉及显示技术领域,可以避免使U形结构的TFT的源极与漏极电连接。该阵列基板包括衬底,设置于所述衬底上的栅线、数据线、薄膜晶体管,所述薄膜晶体管的漏极与所述数据线电连接;所述漏极包括U形部分;所述U形部分的底部与所述栅线和所述薄膜晶体管的栅极无交叠;所述薄膜晶体管的源极与所述U形部分的底部之间的距离范围为2.2~2.5μm。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种阵列基板、显示面板及显示装置。
背景技术
在显示技术领域,薄膜晶体管(Thin Film Transistor,简称TFT)作为制作显示装置的重要器件,对显示装置的显示品质起着重要作用。
其中,U形结构的TFT因可实现较大的工作电流而被广泛应用。U形结构的TFT的漏极包括U形部分,所述U形部分包括直部和底部,所述U形部分的底部呈弯折状,由于所述U形部分的底部在工艺制作过程中工艺参数较难管控,难以达到工艺要求,容易与源极电连接,从而对TFT特性产生不良影响。
因此,需对U形结构的TFT进行改进,以避免源极与漏极电连接。
发明内容
本发明的实施例提供一种阵列基板、显示面板及显示装置,可以避免使U形结构的TFT的源极与漏极电连接。
为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:
第一方面,提供一种阵列基板,包括衬底,设置于所述衬底上的栅线、数据线、薄膜晶体管,所述薄膜晶体管的漏极与所述数据线电连接;所述漏极包括U形部分;所述U形部分的底部与所述栅线和所述薄膜晶体管的栅极无交叠;所述薄膜晶体管的源极与所述U形部分的底部之间的距离范围为2.2~2.5μm。
优选的,所述源极与所述U形部分的底部之间的区域,与所述栅线和所述栅极无交叠。
优选的,第n行所述栅线靠近第n-1行所述栅线设置;针对任一列所述薄膜晶体管,第n行所述薄膜晶体管的所述U形部分与第n-1行所述薄膜晶体管的所述U形部分底部共用,且共用部分设置于第n行所述栅线和第n-1行所述栅线之间;n为正偶数。
优选的,所述栅极由所述栅线的一部分充当。
优选的,所述源极包括依次连接设置的第一支部、第二支部、以及第三支部;所述第一支部靠近所述U形部分的内表面设置,所述第二支部的宽度大于所述第一支部的宽度、且小于所述第三支部的宽度。
优选的,当所述栅线设置在所述数据线靠近所述衬底一侧时,所述栅线的宽度为X;所述数据线与所述栅线在所述衬底上的正投影未重合的区域,所述数据线的宽度为Y;所述数据线与所述栅线在所述衬底上的正投影重合的区域,所述数据线的宽度范围为Y+0.5~Y+1μm。
优选的,当所述数据线设置在所述栅线靠近所述衬底一侧时,所述数据线的宽度为Y;所述栅线与所述数据线在所述衬底上的正投影未重合的区域,所述栅线的宽度为X;所述栅线与所述数据线在所述衬底上的正投影重合的区域,所述栅线的宽度范围为X+0.5~X+1μm。
第二方面,提供一种显示面板,包括第一方面所述的阵列基板。
优选的,所述显示面板为液晶显示面板;或者,所述显示面板为OLED显示面板。
第三方面,提供一种显示装置,包括第一方面所述的阵列基板。
本发明实施例提供一种阵列基板、显示面板及显示装置,所述阵列基板包括TFT、栅线、以及数据线,一方面,通过使源极与U形部分的底部之间的距离H增加0.2~0.5μm,达到2.2~2.5μm,相对于SSM技术,可以避免源极与U形部分的底部电连接;另一方面,通过使U形部分的底部与栅线及TFT的栅极无交叠,相对于MSM技术中,U形部分100的底部与栅线11及栅极10完全重叠,本发明可以使U形部分的底部与栅极及栅线之间的交叠面积减小到0,即使由于距离H增大、宽度I不变,导致漏的面积增大,从而使U形部分的直部与栅极及栅线的交叠面积增大,但U形部分的直部处增大的交叠面积,远远小于U形部分的底部处减小的交叠面积,因此,相较于MSM技术,漏极与栅极及栅线之间的交叠面积减小,漏极与栅极及栅线之间的寄生电容也随之减小,进而使得电路中的负载降低,像素的充放电性能提高,功耗减小。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为现有技术提供的一种阵列基板的结构示意图一;
图2为现有技术提供的一种阵列基板的结构示意图二;
图3为本发明实施例提供的一种阵列基板的结构示意图一;
图4为本发明实施例提供的一种阵列基板的俯视示意图一;
图5为本发明实施例提供的一种阵列基板的结构示意图二;
图6为本发明实施例提供的一种阵列基板的俯视示意图二;
图7为本发明实施例提供的一种阵列基板的俯视示意图三;
图8为图7中D区域的放大图;
图9为本发明实施例提供的一种阵列基板的俯视示意图四;
图10为本发明实施例提供的一种阵列基板的俯视示意图五;
图11为本发明实施例提供的一种阵列基板的俯视示意图六;
图12为本发明实施例提供的一种阵列基板的俯视示意图七。
附图标记:
01-衬底;10-栅极;11-栅线;20-源极;21-第一支部;22-第二支部;23-第三支部;30-漏极;31-数据线;40-像素电极;50-有源层;60-栅绝缘层;100-U形部分。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
背景技术中提到的问题:U形结构的TFT中,源极易与漏极的U形部分的底部电连接。相关技术可参考单缝隙掩模板(Single Slit Mask,简称SSM)技术,如图1所示,该技术中,源极20到所述U形部分各个位置的距离均相等,约为2μm。所述U形部分包括直部(图1中的A区域和B区域)和底部(图1中的C区域),其中,所述U形部分的底部呈弯折状,在工艺制作过程中工艺参数较难管控,难以达到工艺要求,容易与源极20电连接,从而对TFT特性产生不良影响。
如图2所示,可采用多缝隙掩模板(Multitle Slit Mask,简称MSM)技术对上述问题进行改进,该技术在不改变所述U形部分的底部宽度I、以及源极20到所述U形部分的直部的距离J的基础上,增大所述U形部分的底部到源极20的距离H,虽然该技术可以避免源极20与所述U形部分的底部电连接,但是申请人发现:相对于SSM技术,该方案存在增大功耗的技术问题,即:所述U形部分的底部到源极20之间的距离H增大、所述U形部分的底部宽度I不变,导致漏极30的面积增大,漏极30与栅极10、漏极30与栅线11之间的交叠面积也随之增大,从而使得漏极30与栅极10及栅线11之间的寄生电容增大,即增大了电路中的负载,像素的充放电性能因负载的增大而降低,进而增大功耗。
针对上述的SSM技术和MSM技术,本发明实施例提供了一种新的技术方案,可有效解决SSM技术和MSM技术中存在的技术问题,具体方案如下:
本发明提供一种阵列基板,如图3和图4所示,包括衬底01,设置于衬底01上的栅线11、数据线31、TFT,TFT的漏极30与数据线31电连接;漏极30包括U形部分100;U形部分100的底部与栅线11和TFT的栅极10无交叠;TFT的源极20与U形部分100的底部之间的距离H的范围为2.2~2.5μm。
此处,相对于SSM技术,本发明仅使源极20与U形部分100的底部之间的距离H增大0.2~0.5μm,U形部分100的底部宽度I、以及源极20到U形部分100的直部的距离J保持不变。
在此基础上,如图3所示,TFT还包括设置于栅极10远离衬底01一侧的栅绝缘层60、以及栅绝缘层60远离衬底01一侧的有源层50。如图4所示,漏极30还包括用于与数据线31电连接的部分,该部分的一端与数据线31连接,另一端与U形部分100连接;所述阵列基板还包括与源极20电连接的像素电极40。
需要说明的是,第一,不对TFT的类型进行限定,可以是非晶硅、金属氧化物、多晶硅、有机等类型的TFT。
第二,在阵列基板上,可以先设置栅极10、栅线11,再设置源极20、漏极30、以及数据线31;也可以先设置源极20、漏极30、以及数据线31,再设置栅极10、栅线11。
第三,不对源极20和漏极30的材料进行限定,只要源极20和漏极30可以导电即可,例如可以是金属材料。
本发明实施例提供一种阵列基板,所述阵列基板包括TFT、栅线11、以及数据线31,一方面,通过使源极20与U形部分100的底部之间的距离H增加0.2~0.5μm,达到2.2~2.5μm,相对于SSM技术,可以避免源极20与U形部分100的底部电连接;另一方面,通过使U形部分100的底部与栅线11及TFT的栅极10无交叠,相对于MSM技术中,U形部分100的底部与栅线11及栅极10完全重叠,本发明可以使U形部分100的底部与栅极10及栅线11之间的交叠面积减小到0,即使由于距离H增大、宽度I不变,导致漏极30的面积增大,从而使U形部分100的直部与栅极10及栅线11的交叠面积增大,但U形部分100的直部处增大的交叠面积,远远小于U形部分100的底部处减小的交叠面积,因此,相较于MSM技术,漏极30与栅极10及栅线11之间的总交叠面积减小,漏极30与栅极10及栅线11之间的寄生电容也随之减小,进而使得电路中的负载降低,像素的充放电性能提高,功耗减小。
优选的,如图5和图6所示,源极20与U形部分100的底部之间的区域,与栅线11和栅极10无交叠。
本发明实施例通过使源极20与U形部分100的底部之间的区域,与栅线11和栅极10无交叠,可进一步减小漏极30与栅极10、漏极30与栅线11之间的交叠面积,从而降低漏极30与栅极10及栅线11之间的寄生电容,使得电路中的负载降低,进而提高像素的充放电性能,进一步减小功耗。
优选的,如图7和图8所示,第n行栅线11靠近第n-1行栅线11设置;针对任一列TFT,第n行TFT的U形部分100与第n-1行TFT的U形部分100底部共用,且共用部分设置于第n行栅线11和第n-1行栅线11之间;n为正偶数。
本发明实施例中,由于第n行TFT和第n-1行TFT的U形部分100底部共用,可以减小TFT的尺寸,使像素的开口率提高。
优选的,如图9所示,栅极10由栅线11的一部分充当。
本发明实施例中,将栅线11的一部分用作栅极10,具有简化工艺的优点。
优选的,如图10所示,源极20包括依次连接设置的第一支部21、第二支部22、以及第三支部23;第一支部21靠近U形部分100的内表面设置,第二支部22的宽度大于第一支部21的宽度、且小于第三支部23的宽度。
此处,像素电极40通过过孔与第三支部23电连接。
需要说明的是,第一支部21、第二支部22、以及第三支部23的宽度由具体工艺决定,不同工艺对应的宽度可能不同。
本发明实施例中,在不影响源极20正常功能的情况下,使第一支部21的宽度尽可能小,可增加TFT的沟道长度,避免沟道长度太短,影响TFT特性;第二支部22相较于第一支部21的宽度稍大,可以避免由于先设置栅极10和栅线11,再设置源极20,造成源极20爬坡时断线的风险;由于第三支部23需通过过孔与像素电极40电连接,为了保证源极20与像素电极40的接触面积,过孔的尺寸一般比较大,因此,在不影响TFT尺寸、以及阵列基板开口率的情况下,第三支部23的宽度应尽可能大。
优选的,如图11所示,当栅线11设置在数据线31靠近衬底01一侧时,栅线11的宽度为X;数据线31与栅线11在衬底01上的正投影未重合的区域,数据线31的宽度为Y;数据线31与栅线11在衬底01上的正投影重合的区域,数据线31的宽度范围为Y+0.5~Y+1μm。
需要说明的是,栅线11的宽度X、数据线31和栅线11在衬底01上的正投影未重合区域的数据线31的宽度Y,由具体的工艺决定,不同工艺对应的X值和Y值可能不同。
本发明实施例中,当栅线11设置在数据线31靠近衬底01一侧时,在数据线31与栅线11在衬底01上的正投影重合的区域,使数据线31的宽度增加0.5~1μm,可以避免由于先设置栅线11,再设置数据线31,造成数据线31爬坡时断线的风险。
优选的,如图12所示,当数据线31设置在栅线11靠近衬底01一侧时,数据线31的宽度为Y;栅线11与数据线31在衬底01上的正投影未重合的区域,栅线11的宽度为X;栅线11与数据线31在衬底01上的正投影重合的区域,栅线11的宽度范围为X+0.5~X+1μm。
需要说明的是,数据线31的宽度Y、栅线11和数据线31在衬底01上的正投影未重合区域的栅线11的宽度X,由具体的工艺决定,不同工艺对应的X值和Y值可能不同。
本发明实施例中,当数据线31设置在栅线11靠近衬底01一侧时,在栅线11与数据线31在衬底01上的正投影重合的区域,使栅线11的宽度增加0.5~1μm,可以避免由于先设置数据线31,再设置栅线11,造成栅线11爬坡时断线的风险。
本发明还提供一种显示面板,包括本发明前述任一实施例提供的阵列基板。
本发明实施例提供一种显示面板,所述显示面板包括阵列基板,所述阵列基板包括TFT、栅线11、以及数据线31,一方面,通过使源极20与U形部分100的底部之间的距离H增加0.2~0.5μm,达到2.2~2.5μm,相对于SSM技术,可以避免源极20与U形部分100的底部电连接;另一方面,通过使U形部分100的底部与栅线11及TFT的栅极10无交叠,相对于MSM技术中,U形部分100的底部与栅线11及栅极10完全重叠,本发明可以使U形部分100的底部与栅极10及栅线11之间的交叠面积减小到0,即使由于距离H增大、宽度I不变,导致漏极30的面积增大,从而使U形部分100的直部与栅极10及栅线11的交叠面积增大,但U形部分100的直部处增大的交叠面积,远远小于U形部分100的底部处减小的交叠面积,因此,相较于MSM技术,漏极30与栅极10及栅线11之间的总交叠面积减小,漏极30与栅极10及栅线11之间的寄生电容也随之减小,进而使得电路中的负载降低,像素的充放电性能提高,功耗减小。
优选的,显示面板为液晶显示面板;或者,显示面板为OLED(Organic Light-Emitting Diode,简称有机发光二极管)显示面板。
此处,当显示面板为液晶显示面板时,其包括阵列基板、对盒基板以及设置在二者之间的液晶层。其中,对盒基板可以包括黑矩阵、彩膜、以及公共电极。此处,彩膜可以设置在对盒基板上,也可设置在阵列基板上;公共电极可以设置在阵列基板上,也可设置在对盒基板上。
当显示面板为OLED显示面板时,其包括阵列基板和封装基板。其中,阵列基板可以包括TFT,与TFT的漏极30电连接的阳极、阴极、以及位于阳极和阴极之间的有机材料功能层。
本发明实施例中,若将所述显示面板应用于显示装置,则显示装置既可以是液晶显示装置,也可以是OLED显示装置。
本发明还提供一种显示装置,包括本发明前述任一实施例提供的阵列基板。
需要说明的是,所述显示装置至少可以包括液晶显示装置和OLED显示装置,例如该显示装置可以为液晶显示器、液晶电视、数码相机、手机或平板电脑等任何具有显示功能的产品或者部件。
此处,若所述显示装置为液晶显示装置,则所述显示装置除液晶显示面板外,还包括背光源,所述背光源用于给所述液晶显示面板提供光线。所述背光源可以是直下式背光源,也可以是侧入式背光源。
其中,直下式背光源包括背板、胶框、设置在背板上的光源、设置在光源上的扩散板、以及设置在扩散板出光侧的光学膜片。此外,还可以包括设置在背板与光源之间的反射片;侧入式背光源包括背板、胶框、设置在背板上的导光板、设置在导光板出光侧的光学膜片、以及设置在导光板一侧的光源。此外,还可以包括设置在背板与导光板之间的反射片。
本发明实施例提供一种显示装置,具有与前述显示面板相同的技术效果,在此不再赘述。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (8)
1.一种阵列基板,包括衬底,设置于所述衬底上的栅线、数据线、薄膜晶体管,所述薄膜晶体管的漏极与所述数据线电连接;其特征在于,所述漏极包括U形部分;所述U形部分的底部与所述栅线和所述薄膜晶体管的栅极无交叠;
所述薄膜晶体管的源极与所述U形部分的底部之间的距离范围为2.2~2.5μm;
当所述栅线设置在所述数据线靠近所述衬底一侧时,所述栅线的宽度为X;
所述数据线与所述栅线在所述衬底上的正投影未重合的区域,所述数据线的宽度为Y;所述数据线与所述栅线在所述衬底上的正投影重合的区域,所述数据线的宽度范围为Y+0.5~Y+1μm;
当所述数据线设置在所述栅线靠近所述衬底一侧时,所述数据线的宽度为Y;
所述栅线与所述数据线在所述衬底上的正投影未重合的区域,所述栅线的宽度为X;所述栅线与所述数据线在所述衬底上的正投影重合的区域,所述栅线的宽度范围为X+0.5~X+1μm。
2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述源极与所述U形部分的底部之间的区域,与所述栅线和所述栅极无交叠。
3.根据权利要求1或2所述的阵列基板,其特征在于,第n行所述栅线靠近第n-1行所述栅线设置;
针对任一列所述薄膜晶体管,第n行所述薄膜晶体管的所述U形部分与第n-1行所述薄膜晶体管的所述U形部分底部共用,且共用部分设置于第n行所述栅线和第n-1行所述栅线之间;n为正偶数。
4.根据权利要求3所述的阵列基板,其特征在于,所述栅极由所述栅线的一部分充当。
5.根据权利要求3所述的阵列基板,其特征在于,所述源极包括依次连接设置的第一支部、第二支部、以及第三支部;所述第一支部靠近所述U形部分的内表面设置,所述第二支部的宽度大于所述第一支部的宽度、且小于所述第三支部的宽度。
6.一种显示面板,其特征在于,包括权利要求1-5任一项所述的阵列基板。
7.根据权利要求6所述的显示面板,其特征在于,所述显示面板为液晶显示面板;或者,所述显示面板为OLED显示面板。
8.一种显示装置,其特征在于,包括权利要求1-5任一项所述的阵列基板。
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