CN106940306A - 利用uv光照的隐形眼镜缺陷检测 - Google Patents

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Abstract

利用UV光照的隐形眼镜缺陷检测。一种用于检测隐形眼镜镜片材料中的缺陷的系统包括：摄像机，其具有镜头和数字图像输出，用于检测悬浮在盐溶液中的所述镜片，其中，所述摄像机的数字图像输出仅包括由在对应于所述镜片材料的荧光发射所产生的光的光谱的一部分的色谱中的光形成的图像；第一紫外光源，其用于照射所述镜片，并且在所述镜片中激发荧光发射；第一滤光器，其用于过滤来自受到紫外光照射的镜片的发射光；以及计算机，其具有相关联的存储器，用于接收来自所述摄像机的数字图像输出的输入，以及表示经分析的数字图像的输出，其中所述经分析的数字图像包括在所述镜片材料中检测到的任何缺陷的可见标记。

Description

利用UV光照的隐形眼镜缺陷检测
技术领域
本发明涉及一种用于检测悬浮在装有盐溶液的容器中的眼镜镜片中的缺陷的装置。更具体地，本发明涉及一种利用紫外光照检测眼镜镜片品质的装置和方法。
背景技术
本发明涉及一种自动生产线上的检测系统。更具体地，本发明涉及利用紫外光照射眼镜镜片的眼镜镜片的检测系统和方法。镜片在密封程序之前在容器中受到检测。
眼镜镜片封装在通常被称为吸塑包装(blister pack)的小容器内。这种容器典型地包含单个浸没在盐溶液中的眼镜镜片。现有技术的系统公开了使用背光和正面光形式的LED光照的检测系统。由于受污染的盐溶液和溶液中的气泡，这种类型的检测系统在检测镜片中的非常细小的裂缝、气泡和边缘缺陷方面受到一定限制，所述受污染的盐溶液和溶液中的气泡影响检测质量并且由于软件必须进行更多的图像分析以区分真的和假的缺陷而显著地增加检测时间。而且，典型的LED光照系统难以突出镜片材料中的畸变(deformities)，特别是如果畸变是沿着光照轴线而定向的话。必须采用例如改变光照角度、改变光照波长结合多图像采集的复杂方法才能够详细分析不同图像来检测非常细微的缺陷。尽管有这些附加的繁杂步骤以检测细微的缺陷，但仍存在这样的情况：这种检测将许多良好的镜片检测为不合格品，这增加了制造商的损失。还存在这样的情况：检测系统将有缺陷的镜片检测为良好的，这种情况下顾客将遇到有问题的镜片。
一种已知现象是，一些荧光材料能够吸收在近紫外光谱的辐射的电磁能量，并且将之以可见光光谱内的较长的波长发射。这种现象使得能够对包括荧光染料或色素的物体进行各种检测，所述物体受到紫外辐射源照射并且将通过在可见光谱中的发光而再次辐射。
众所周知的事实是，在隐形眼镜的制造过程中使用荧光色素或化合物。典型地使用荧光化合物，从而实验室能够识别和检测材料，防止复制，并且识别隐形眼镜制造中使用基础材料的伪造品。镜片材料的伪造和替换以及误导性广告已成为普遍现象。荧光是光致发光的过程，通过该光致发光的过程，在电磁光谱的紫外或可见光区域的短波长的光被吸收并以较长波长再次辐射。再次发射发生在光谱的可见光区域。隐形眼镜镜片材料中的荧光化合物在紫外光下展示出荧光现象。荧光从隐形眼镜镜片材料中的色素发出，在镜片的抛光光学表面内反射，并且在镜片边缘或由缺陷或其他畸变导致的任意边缘处聚集。荧光现象在材料的边缘处以及材料破损或者其物理特性被扰乱的地方尤其明显。当利用标准LED光照或红外光照照射材料时，荧光是不可见的。但是利用紫外光照照射相同材料时，荧光是明显的。因此，材料中的缺陷，诸如空隙、气泡或破口在通过摄像机而采集的数字图像上将显示为亮的(像素)，这是因为从代表缺陷的材料部分中很少或没有发射出在荧光波长的光。因此，本发明特别适于检测着色的镜片材料中的缺陷，即使在这些空隙可能不能被肉眼检测的情况下。
需要一种能够生成悬浮在盐溶液中的隐形眼镜的一致增强的图像的装置和方法，从而能够可靠地和稳健地检测镜片中的边缘缺陷、损坏和气泡。这是本发明的目的。
发明内容
本发明的装置和方法解决现有技术中所见的至少一些困难。
本发明的一个目的是，提供一种用于检测悬浮在盐溶液中的隐形眼镜的装置，以检测隐形眼镜中的边缘和任何畸变。本发明设置高分辨率摄像机和镜头以采集受到UV光照射的隐形眼镜的高品质图像。UV光主要激发隐形眼镜镜片材料或者隐形眼镜镜片材料中存在的荧光色素。具有可见光谱中的较长波长的再次发射的光穿过适当的滤光器以防止摄像机拾取杂散光或其他光谱的光。
本发明另一个目的是提供一种装置和方法，其利用紫外(365nm)波长光照下的辐射现象，以用于检测隐形眼镜的缺陷，诸如破口、损坏和任何畸变。
本发明另一个目的是提供一种与基于UV LED的光照模块集成的装置，所述装置能够电子地控制光照以在任意给定情况下发射短脉冲光。
本发明另一个目的是提供一种与基于UV LED的光照模块集成的装置，所述装置能够电子地控制光强以适合不同的检测指标。
本发明另一个目的是提供一种能够选通(strobing)基于UV LED的光照模块的装置，以保持从一个脉冲至另一个脉冲的非常一致和稳定的光强。
本发明另一个目的是提供一种改进的检测隐形眼镜的方法，其中利用紫外光照射镜片，并且利用位于摄像机镜头前方的特定波长滤色器(例如542nm)来采集图像。
本发明另一个目的是提供一种装置以采集隐形眼镜的高分辨率图像，从而能够对在隐形眼镜边缘处和隐形眼镜区域内的缺陷的检测进行增强分析。
而本发明的另一个方面是提供一种用作线上检测模块的装置，所述装置易于集成到自动检测系统中。
本发明的其它特征和目的将从下文中的具体实施方式以及附图中变得明显。
附图说明
参考示出本发明的可能设置的附图，将便于进一步描述本发明。本领域技术人员应当理解，本发明的其他设置是可能的，并且因此附图的特殊性不应被理解为代替本发明的前述说明的一般性。
图1示出了根据本发明的光学和光照系统的示图；
图2示出了现有技术的光学和光照系统的示图；
图3示出了利用包括标准LED光照模块的图2中的检测系统所采集的在边缘处的有缺陷的镜片的眼镜镜片图像。
图4示出了图3中区域B1的放大图像。
图5示出了利用包括紫外LED光照模块的图1中的检测系统所采集的在边缘处的有缺陷的镜片的眼镜镜片图像。
图6示出了图5中区域B1的放大图像。
图7示出了利用包括标准LED光照模块的图2中的检测系统所采集的在边缘处的有缺陷的镜片的眼镜镜片图像。
图8示出了图7中区域B2的放大图像。
图9示出了利用包括紫外LED光照模块的图1中的检测系统所采集的在边缘处的有缺陷的镜片的眼镜镜片图像。
图10示出了图9中区域B2的放大图像。
图11示出了利用包括标准LED光照模块的图2中的检测系统所采集的在边缘处的有缺陷的镜片的眼镜镜片图像。
图12示出了图11中区域B3的放大图像。
图13示出了利用包括紫外LED光照模块的图1中的检测系统所采集的在边缘处的有缺陷的镜片的眼镜镜片图像。
图14示出了图13中区域B3的放大图像。
图15示出了利用包括标准LED光照模块的图2中的检测系统所采集的在边缘处的有缺陷的镜片的眼镜镜片图像。
图16示出了图15中区域B4的放大图像。
图17示出了利用包括紫外LED光照模块的图1中的检测系统所采集的在边缘处的有缺陷的镜片的眼镜镜片图像。
图18示出了图17中区域B4的放大图像。
具体实施方式
参考图1，并且根据本发明的构造实施方案，用于检测边缘处的缺陷、在镜片材料中的气泡和破损以及其他畸变的系统100和方法包括具有镜头210的摄像机220，所述摄像机适当地集成到计算机，所述计算机用于对通过镜头210看到的由摄像机220采集的图像进行分析。摄像机220可以包括与快门或选通控制电子模块(未示出)的操作(如本领域中公知的)同步地发射紫外光的集成的或分离的光照模块130。
此外，根据本发明，包括第一滤光器110，所述第一滤光器设置在摄像机220的镜头210上，使得任何进入镜头210的光必须首先通过第一滤光器110。将第一滤光器110选择为阻挡包括激发被检测的隐形眼镜150的荧光的波长的那些波长的光。因此，摄像机220获得包括通过荧光效应发射的光、但不包括通过第一滤光器110滤除的光谱的细节的图像。本领域普通技术人员将认识到第一滤光器110的布置，无论布置在摄像机220的镜头210前面还是后面，都不影响本发明的操作。
此外，本发明可包括一个紫外(UV)光源130，或可替换地包括多个紫外光源，所述多个紫外光源设置成围绕摄像机220的镜头210的阵列，以便提供在多个入射角度的对检测目标的全面UV光照。UV光源130可包括多个UV发光二极管(LED)，所述多个UV发光二极管以足够激发被检查的悬浮在盐溶液140中的隐形眼镜150中的荧光发射的波长发射光，盐溶液和隐形眼镜都保持在容器120中。容器材料120可包括但不限于半透明或磨砂的塑料材料。
根据本发明的一个实施方案，可以选择用于照射隐形眼镜的LED以发射在对于给定镜片材料类型用于激发荧光发射所需的光谱中的辐射。因此，可以选择不同的滤光器来改变基于UV LED阵列210的激发光光谱，或者可以选择LED阵列，从而对应于所需的激发光光谱。
而根据本发明的另一个实施方案，基于UV LED的光照模块可以与摄像机220的操作同步而通电以发射光，从而减少用于操作UV LED所需的电功率，延长LED的使用寿命，并且消除图像采集中的拖影(smear)。这可以通过使用商用电子选通控制器(未示出)与摄像机220图像采集过程同步地将编程时间脉冲传送到LED阵列来实现。
摄像机220获得这样的图像：其包括通过由于UV光源130而产生的荧光效应而经由镜片150发射的光，但不包括通过第一滤光器110滤除的光谱的细节。
图2的装置涉及通常设计用于检测隐形眼镜的缺陷的现有技术。图2中的装置200与图1所示的本发明的装置100不同，其中，与图1的位于待检测物体150的上方的正面光UVLED光照130相比，图2的背光或一般LED光照160位于检测的物体150的下方。
以上对本发明的实施方案的详细描述主要是为了理解清晰，而不应由其理解或暗示不必要的限制。通过阅读本说明书，对本发明中的各种实施方案的修改对于本领域技术人员来说将变得显而易见，并且可以在不脱离由本发明所附权利要求所包括的本发明的范围的情况下做出。由此，将看到本发明的多个目的得以实现，且获得了其他优点。由于在不脱离本发明的范围的情况下可以对上述结构和方法做出很多改变，因此包含在上述描述中所有内容旨在解释为说明性的而非限制性的。
下面将对本发明优选的实施方案中的几个示例进行描述。
图3示出了利用图2所示的装置200所采集的眼镜镜片图像，如图3所示，在框B1所显示的区域中看到一种破损边缘形式的可能缺陷。图4示出了框B1(图3)的放大图像。眼镜镜片的边缘显示为在边缘具有小的且不明显的破损的黑色边缘。根据检测参数，图4的边缘可能或可能不被检测为缺陷。这种模棱两可会导致眼镜镜片被检测为“好”或“差”的镜片。可能需要对图像做更多的分析，而这会导致延迟的检测结果。
图5示出了图3的相同眼镜镜片的图像，但是该图像利用图1所示的装置100采集。图5中通过框B1标记的区域放大显示在图6中。由于当曝露于装置100中使用的UV LED光照时的荧光现象，眼镜镜片的边缘显示为白色边缘。显然，表示眼镜镜片边缘的白色圆形线示出了不连续的白线，这表示在镜片边缘有缺陷。通过软件的进一步分析，镜片的在图6中表示边缘的白线上的破损被准确和一致地检测为不连续边缘。
图7示出了利用图2所示装置200采集的眼镜镜片图像。如图7所示，在框B2显示的区域中看到镜片材料中气泡形式的可能的缺陷。图8示出了框B2(图7)的放大图像。气泡显示为在镜片边缘的圆形缺陷。根据检测参数，图8的气泡可能或可能不被检测为缺陷。这种模棱两可会导致眼镜镜片被检测为“好”或“差”的镜片。可能需要对图像做更多的分析，而这会导致延迟的检测结果。
图9示出了图7的相同眼镜镜片的图像，但是该图像利用图1所示的装置100采集。图9中通过框B2标记的区域放大显示在图10中。由于当曝露于装置100中使用的UV LED光照时的荧光现象，眼镜镜片的边缘显示为白色边缘。而且显然，表示眼镜镜片内的气泡边缘的半圆形白色圆形线非常突出，并且可以得到可靠且重复地检测。重要的是，可以注意到，在软件算法的进一步分析下，由于图像得到显著增强，诸如气泡、任意杂质粒子等的的直径的测量很容易实现。
图11示出了利用图2所示装置200采集的眼镜镜片图像。隐形眼镜位于容器120中的一处，其中隐形眼镜与盐溶液的边缘重合。如图11所示，在区域B3观察到气泡缺陷。图12示出了框B3(图11)的放大图像。可以看到一个模糊的气泡非常接近于镜片和盐溶液的黑色边缘。气泡显示为在镜片边缘的圆形缺陷。根据检测参数，图12的气泡可能或可能不被检测为缺陷。这种模棱两可会导致眼镜镜片被检测为“好”或“差”的镜片。可能需要对图像做更多的分析，而这会导致延迟的检测结果。
图13示出了图11的相同眼镜镜片的图像，但是该图像利用图1所示的装置100采集。图13中通过框B3标记的区域放大显示在图14中。由于当曝露于装置100中使用的UV LED光照时的荧光现象，眼镜镜片的边缘显示为白色边缘。显然，表示眼镜镜片内的气泡边缘的半圆形白色圆形线得到显著增强，而没有如图2中所观察的那样融合到盐溶液的背景中。分析软件准确检测到图14中的气泡，此外，气泡被重复且一致地精确定位以确保被检侧产品的确定的品质。
图15示出了利用图2所示装置200采集的眼镜镜片图像。如图15所示，在框区域B4观察到可能的裂缝缺陷。图16示出了框B4(图15)的放大图像。B4中的区域的一部分显示出黑线，该黑线在某些部分是不连续的且在其他部分是模糊的。这种缺陷的检测会导致不可靠的结果。
图17示出了图15的相同眼镜镜片的图像，但是该图像利用图1所示的装置100采集。在图17中通过框B4标记的区域放大显示在图18中。图18的框B4中的看到的缺陷呈现为类似于可能的裂缝，当曝露于装置100中使用的UV LED光照时，呈现为类似于突出的黑线。显然，该线是高对比度而连续的，这使得当通过检测系统进行分析时，可以可靠且重复地检测缺陷。
在不脱离本发明精神或所附权利要求范围的情况下可以做出各种修改。鉴于上述情况，将看到本发明的多个目的得到实现并获得了其它优点。在不脱离本发明范围的情况下，本领域技术人员将能够对上述装置和方法做出很多改变。上述说明中包含的所有内容旨在被解释为说明性的而并非限制性的。

Claims (9)

1.一种用于检测隐形眼镜镜片材料中的缺陷的系统，包括：
摄像机，其具有镜头和数字图像输出，用于检查悬浮在盐溶液中的所述镜片，其中，所述摄像机的数字图像输出仅包括由在这样的色谱中的光形成的图像，所述色谱对应于通过所述镜片的材料的荧光发射产生的光的光谱的一部分；
第一紫外光源，其用于照射所述镜片，并且在镜片中激发荧光发射；
第一滤光器，其用于过滤来自受到紫外光照射的镜片的发射光；以及
计算机，其具有相关联的存储器，用于接收来自所述摄像机的数字图像输出的输入，和表示经分析的数字图像的输出，其中所述经分析的数字图像包括对在所述镜片的材料中检测到的任何缺陷的可见标记。
2.根据权利要求1所述的用于检测隐形眼镜镜片材料中的缺陷的系统，其中所述光源包括紫外光发光二极管阵列。
3.根据权利要求2所述的用于检测隐形眼镜镜片材料中的缺陷的系统，其中所述紫外光发光二极管阵列围绕所述摄像机的镜头设置。
4.根据权利要求1所述的用于检测隐形眼镜镜片材料中的缺陷的系统，进一步包括选通控制器，所述选通控制器能够在与所述摄像机的图像采集的同步操作中对所述光源进行通电。
5.根据权利要求4所述的用于检测隐形眼镜镜片材料中的缺陷的系统，进一步包括选通控制器中的功能，其能够在与所述摄像机的图像采集的同步操作中利用不同的定时脉冲对所述光源进行通电。
6.一种用于检测具有荧光材料的镜片的材料中的缺陷的方法，包括下述步骤：
利用第一光谱中的光照射所述镜片，所述第一光谱设计成激发所述镜片的材料在第二光谱中的光的光发射；
采集所述镜片的图像，所述镜片的图像代表由所述镜片的材料的荧光发射所导致的第二光谱的光；
分析所述图像，以确定表示所述镜片中的缺陷的像素；以及
提供具有对所述镜片的材料中检测到的任何缺陷的可见标记的所述经分析的数字图像。
7.根据权利要求6所述的用于检测镜片材料中的缺陷的方法，进一步包括利用对比色标出所述数字图像中的任何缺陷。
8.根据权利要求7所述的用于检测镜片材料中的缺陷的方法，进一步包括标出所述数字图像中大于预定面积的任何缺陷。
9.根据权利要求7所述的用于检测镜片材料中的缺陷的方法，进一步包括标出所述数字图像中大于预定长度的任何缺陷。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110997494A (zh) * 2017-06-08 2020-04-10 爱尔康公司 用于检测接收座内存在或不存在眼科镜片的方法
KR102194289B1 (ko) * 2019-03-18 2020-12-22 주식회사 유니온커뮤니티 청색 또는 보라색 광을 차단하는 차단 성능을 검사하는 검사장치 및 그 검사방법
JPWO2022050151A1 (zh) * 2020-09-02 2022-03-10
JP7309225B2 (ja) * 2020-10-14 2023-07-18 イーメージ ヴィジョン ピーティーイー． エルティーディー． コンタクトレンズの欠陥分析及び追跡システム
US11861823B2 (en) * 2021-04-27 2024-01-02 Johnson & Johnson Vision Care, Inc. Microfluidic device and method for quantifying contact lens deposition

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1996030745A1 (en) * 1995-03-30 1996-10-03 Wesley-Jessen Corporation Inspection of optical components
EP1225441A2 (en) * 2001-01-23 2002-07-24 Menicon Co., Ltd. Method of obtaining particulars of ophthalmic lens
US20060163491A1 (en) * 2005-01-21 2006-07-27 Innovative Productivity, Inc. Fluorescent coating void detection system and method
CN101014850A (zh) * 2004-03-05 2007-08-08 奥博泰克有限公司 利用反射和荧光图像检查电路的系统和方法
US20110235339A1 (en) * 2007-12-20 2011-09-29 San-Woei Shyu Molded Fluorescence Plastic Lens and Manufacturing Method Thereof
JP2011215077A (ja) * 2010-04-01 2011-10-27 Asute Co Ltd 紫外線探傷灯
CN102834704A (zh) * 2011-02-23 2012-12-19 联达科技检测私人有限公司 隐形眼镜中的缺陷的检验
US20130169955A1 (en) * 2010-01-28 2013-07-04 Visionxtreme Pte Ltd Inspection of defects in a contact lens
US20150253257A1 (en) * 2014-03-05 2015-09-10 Novartis Ag Method for automatic inspect of contact lenses

Family Cites Families (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3189914A (en) * 1961-07-31 1965-06-15 Berry D Locke Fluorescent contact lens and method of locating same
US3981593A (en) * 1975-02-27 1976-09-21 Boyle Robert M Soft contact lens inspection device
US4632773A (en) * 1986-04-29 1986-12-30 Neefe Charles W Method of making a contact lens material which may be identified
US4695399A (en) * 1986-04-29 1987-09-22 Neefe Charles W Method of making a contact lens material which may be identified by colored fluorescence
JP2804308B2 (ja) 1989-09-14 1998-09-24 大日本印刷株式会社 エマルジョンマスク等の欠陥修正方法
US6914250B2 (en) * 1997-03-07 2005-07-05 Clare Chemical Research, Inc. Fluorometric detection using visible light
SG87848A1 (en) * 1998-11-05 2002-04-16 Johnson & Johnson Vision Prod Missing lens detection system and method
US6586740B1 (en) * 1999-12-15 2003-07-01 Bausch & Lomb Incorporated Method and apparatus for detecting lenses in package
US6757420B2 (en) * 1999-12-22 2004-06-29 Novartis Ag Inspection device for packages
JP2001215077A (ja) 2000-02-02 2001-08-10 Hitachi Ltd 除霜制御装置と制御方法、および冷蔵庫
GB2360730B (en) * 2000-03-31 2004-09-22 Bausch & Lomb Uk Ltd Apparatus and method for separating contact lens molds
WO2002047372A2 (en) 2000-12-04 2002-06-13 The University Of Vermont And State Agricultural College System and method for automated fringe counting using image information
JP4413440B2 (ja) * 2001-01-23 2010-02-10 株式会社メニコン 眼用レンズの厚み測定方法
JP2002243581A (ja) * 2001-02-13 2002-08-28 Menicon Co Ltd コンタクトレンズのレンズ姿勢検査方法
JP4727828B2 (ja) * 2001-02-21 2011-07-20 株式会社メニコン マーク付眼用レンズにおけるマーク読出方法
JP2005518537A (ja) * 2002-02-21 2005-06-23 ジョンソン・アンド・ジョンソン・ビジョン・ケア・インコーポレイテッド 光学素子検査方法及び装置
US20070296963A1 (en) * 2004-05-20 2007-12-27 Sepha Limited Methods and Apparatus for Inspecting the Sealing and Integrity of Blister Packages
JP4455216B2 (ja) * 2004-08-06 2010-04-21 キヤノン株式会社 検出装置
US7355700B2 (en) * 2004-12-10 2008-04-08 International Business Machines Corporation Automated inspection system and method
US7663742B2 (en) * 2005-11-24 2010-02-16 Novartis Ag Lens inspection system using phase contrast imaging
JP4988224B2 (ja) * 2006-03-01 2012-08-01 株式会社日立ハイテクノロジーズ 欠陥検査方法及びその装置
US20080013820A1 (en) * 2006-07-11 2008-01-17 Microview Technology Ptd Ltd Peripheral inspection system and method
US7477366B2 (en) * 2006-12-07 2009-01-13 Coopervision International Holding Company, Lp Contact lens blister packages and methods for automated inspection of hydrated contact lenses
US7847927B2 (en) * 2007-02-28 2010-12-07 Hitachi High-Technologies Corporation Defect inspection method and defect inspection apparatus
TWI420220B (zh) 2008-07-25 2013-12-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 投影裝置
US9282796B2 (en) * 2010-05-19 2016-03-15 Johnson & Johnson Vision Care, Inc. UV radiation control for disinfecting of ophthalmic lenses
EP2797734B1 (en) * 2011-12-31 2016-04-06 Novartis AG Method of making colored contact lenses
WO2013106196A1 (en) * 2011-12-31 2013-07-18 Novartis Ag Method of making contact lenses with identifying mark
US9952448B2 (en) * 2014-03-26 2018-04-24 Indizen Optical Technologies, S.L. Eyewear lens production by additive techniques
US9933632B2 (en) * 2014-03-26 2018-04-03 Indizen Optical Technologies, S.L. Eyewear lens production by multi-layer additive techniques
US10788393B2 (en) * 2014-05-15 2020-09-29 Emage Vision Pte. Ltd System and method for inspecting opthalmic lenses
SG10201501672PA (en) * 2015-03-05 2016-10-28 Emage Vision Pte Ltd Inspection of sealing quality in blister packages
CN108369291B (zh) * 2015-12-15 2021-07-20 爱尔康公司 用于将稳定的涂层施加在硅酮水凝胶接触镜片上的方法
US10768453B2 (en) * 2017-07-03 2020-09-08 Bolb Inc. Devices for cleaning contact lenses
MY202349A (en) * 2017-09-07 2024-04-24 Alcon Inc Contact lens inspection method and system

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1996030745A1 (en) * 1995-03-30 1996-10-03 Wesley-Jessen Corporation Inspection of optical components
JPH11503232A (ja) * 1995-03-30 1999-03-23 ウェズリー ジェッセン コーポレイション 光学部品の検査
EP1225441A2 (en) * 2001-01-23 2002-07-24 Menicon Co., Ltd. Method of obtaining particulars of ophthalmic lens
CN101014850A (zh) * 2004-03-05 2007-08-08 奥博泰克有限公司 利用反射和荧光图像检查电路的系统和方法
US20060163491A1 (en) * 2005-01-21 2006-07-27 Innovative Productivity, Inc. Fluorescent coating void detection system and method
US20110235339A1 (en) * 2007-12-20 2011-09-29 San-Woei Shyu Molded Fluorescence Plastic Lens and Manufacturing Method Thereof
US20130169955A1 (en) * 2010-01-28 2013-07-04 Visionxtreme Pte Ltd Inspection of defects in a contact lens
JP2011215077A (ja) * 2010-04-01 2011-10-27 Asute Co Ltd 紫外線探傷灯
CN102834704A (zh) * 2011-02-23 2012-12-19 联达科技检测私人有限公司 隐形眼镜中的缺陷的检验
US20150253257A1 (en) * 2014-03-05 2015-09-10 Novartis Ag Method for automatic inspect of contact lenses

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