CN106908449B - 一种通过测量液晶玻璃板缺陷深度寻找产生缺陷的工段的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种通过测量液晶玻璃板缺陷深度寻找产生缺陷的工段的方法，液晶玻璃板中有缺陷，该方法包括：通过显微镜观察确定对应面焦距和缺陷焦距，通过下式计算缺陷距离基准面的深度：深度＝液晶玻璃板的厚度×对应面焦距÷缺陷焦距；按照距离液晶玻璃板外表面的深度，将液晶玻璃板内部划分为A区域、D区域和F区域，缺陷在A区域时，表明铂金区的净化工段产生了缺陷；缺陷在F区域时：表明成型区的固化工段产生了缺陷；缺陷在D区域时：表明池炉区的熔融工段产生了缺陷。本发明能够准确测量得到缺陷在玻璃板中的深度位置，通过缺陷深度数据找到产生缺陷的工段，进而消除工段中问题，提升良品率。
Description
技术领域
本发明涉及液晶玻璃技术领域，具体地，涉及一种通过测量液晶玻璃板缺陷深度寻找产生缺陷的工段的方法。
背景技术
配料、池炉、铂金、成型等各工序在正常生产中均会产生各种类型的玻璃缺陷，受液晶玻璃行业高精细的特殊要求，各种微小的缺陷均可能造成产品废弃，严重影响产能并影响产品销售。当缺陷较多时在用户产品中会导致用户良率下降。在之前玻璃生产过程中，当缺陷产生后，由检验人员进行缺陷取样，由池炉操作人员进行缺陷检测，主要对缺陷类型进行简单区别划分,但在液晶玻璃生产过程中，同种缺陷多个工序均可能产生，通过缺陷检测类型判定而制定缺陷对策方案，无法有效的为缺陷对策提供充分的证明，无法进行准确排除；以单一缺陷类型进行对策，在对策过程中可能造成误调整，造成新的变量产生，对生产稳定性造成影响，无法满足液晶玻璃生产工艺稳定性要求。
发明内容
本发明的目的是提供一种通过测量液晶玻璃板缺陷深度寻找产生缺陷的工段的方法，该方法能够准确测量得到缺陷在玻璃板中的深度位置，为缺陷分析提供深度数据，进而寻找到造成缺陷的异常工段，排查异常工段的问题，提升良品率，提升对策效率，提高生产稳定性。
为了实现上述目的，本发明提供一种通过测量液晶玻璃板缺陷深度寻找产生缺陷的工段的方法，液晶玻璃板中有缺陷，其中，该方法包括：a、在液晶玻璃板外表面对缺陷位置进行标记，带有标记的液晶玻璃板的外表面为基准面，液晶玻璃板的另一个外表面为对应面；b、用显微镜通过基准面观察对应面，调整显微镜使对应面在显微镜的观察视野中清晰，记录此时的焦距为对应面焦距；c、用显微镜通过基准面观察缺陷，调整显微镜使缺陷在显微镜的观察视野中清晰，记录此时的焦距为缺陷焦距；d、通过下式计算缺陷距离基准面的深度：深度＝液晶玻璃板的厚度×对应面焦距÷缺陷焦距；e、将液晶玻璃板内部划分为A区域、D区域和F区域，A区域为液晶玻璃板两个外表面分别至内部延伸玻璃板厚度12.5％的区域，F区域为液晶玻璃板中央分别至两侧延伸玻璃板厚度12.5％的区域，D区域为A区域和F区域之外的液晶玻璃板内部区域；f、缺陷在A区域时，表明铂金区的净化工段产生了缺陷；缺陷在F区域时，表明成型区的固化工段产生了缺陷；缺陷在D区域，表明池炉区的熔融工段产生了缺陷。
可选地，所述基准面和所述对应面为液晶玻璃板互相平行的两个外表面。
可选地，步骤d中所述液晶玻璃板的厚度通过刻度尺或游标卡尺测得。
可选地，步骤b中通过调整显微镜的粗准焦螺旋和/或细准焦螺旋使得对应面在显微镜的观察视野中清晰。
可选地，步骤b中通过调整显微镜的细准焦螺旋使得对应面在显微镜的观察视野中清晰。
可选地，步骤c中通过调整显微镜的粗准焦螺旋和/或细准焦螺旋使得缺陷在显微镜的观察视野中清晰。
可选地，步骤c中通过调整显微镜的细准焦螺旋使得缺陷在显微镜的观察视野中清晰。
可选地，步骤d中所述的深度的单位与所述液晶玻璃板的厚度的单位一致。
可选地，所述深度和所述液晶玻璃板的厚度的单位为厘米或毫米。
可选地，步骤b中的所述对应面焦距和步骤c中的所述缺陷焦距通过显微镜的粗准焦螺旋和/或细准焦螺旋读得。
本发明的方法能够准确计算出液晶玻璃板中缺陷所在的深度位置，适合对玻璃质量要求较高的液晶玻璃生产，通过缺陷深度数据寻找到存在异常的工段，排查问题工段，提升产品良品率，提升了缺陷对策效率。
本发明的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
附图是用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明，但并不构成对本发明的限制。在附图中：
图1是本发明的通过测量液晶玻璃板缺陷深度寻找产生缺陷的工段的方法一种具体实施方式中液晶玻璃板区域划分的结构示意图。
具体实施方式
以下对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。
本发明提供了一种通过测量液晶玻璃板缺陷深度寻找产生缺陷的工段的方法，液晶玻璃板中有缺陷，其中，该方法包括：a、在液晶玻璃板外表面对缺陷位置进行标记，带有标记的液晶玻璃板的外表面为基准面，液晶玻璃板的另一个外表面为对应面；b、用显微镜通过基准面观察对应面，调整显微镜使对应面在显微镜的观察视野中清晰，记录此时的焦距为对应面焦距；c、用显微镜通过基准面观察缺陷，调整显微镜使缺陷在显微镜的观察视野中清晰，记录此时的焦距为缺陷焦距；d、通过下式计算缺陷距离基准面的深度：深度＝液晶玻璃板的厚度×对应面焦距÷缺陷焦距；e、将液晶玻璃板内部划分为A区域、D区域和F区域，A区域为液晶玻璃板两个外表面分别至内部延伸玻璃板厚度12.5％的区域，F区域为液晶玻璃板中央分别至两侧延伸玻璃板厚度12.5％的区域，D区域为A区域和F区域之外的液晶玻璃板内部区域；f、缺陷在A区域时，表明铂金区的净化工段产生了缺陷；缺陷在F区域时，表明成型区的固化工段产生了缺陷；缺陷在D区域时，表明池炉区的熔融工段产生了缺陷。
在液晶玻璃板生产过程中，出现了带有缺陷的液晶玻璃板之后，可以对缺陷玻璃板进行缺陷分析，通过缺陷的特点找到造成缺陷的原因，排除生产过程中存在的问题，进而提升后续液晶玻璃板的生产良品率。首先可以通过显微镜观察结合步骤d中的公式计算得出缺陷的深度数值，按照步骤e中的区域划分确定缺陷属于哪个区域，当缺陷是在A区域时，说明造成该缺陷的原因是铂金区的净化工段出现了问题，判断净化工段存在问题之后，我们可以对铂金区进行问题排查，消除造成缺陷的原因，提升液晶玻璃板的良品率；当缺陷是在F区域时，说明造成缺陷的原因是成型区的固化工段存在异常，我们可以重点对成型区进行问题排查，消除造成缺陷的原因；当缺陷是在D区域时，表明造成缺陷的原因是池炉区的熔融工段存在异常，通过对池炉区进行问题排查，消除造成缺陷的原因，推升液晶玻璃板生产的良品率。
根据本发明，所述基准面和所述对应面可以为液晶玻璃板互相平行的两个外表面。
根据本发明，步骤d中所述液晶玻璃板的厚度可以通过刻度尺或游标卡尺测得。
对于较厚的液晶玻璃板可以通过刻度尺测量玻璃板厚度，对于比较薄的液晶玻璃板可以通过游标卡尺测量玻璃板的厚度，或者也可以通过其他测量工具测量液晶玻璃板的厚度。
根据本发明，步骤b中可以通过调整显微镜的粗准焦螺旋和/或细准焦螺旋使得对应面在显微镜的观察视野中清晰。
在调整显微镜使对应面在视野中清晰的过程中，我们可以先调整粗准焦螺旋使视野调整到最为清晰的状态，然后再调整细准焦螺旋使视野到达最佳清晰的状态。
根据本发明，步骤b中可以通过调整显微镜的细准焦螺旋使得对应面在显微镜的观察视野中清晰。
如果通过显微镜观察对应面时，最开始时显微镜的视野已经比较清晰，调整粗准焦螺旋的话，显微镜的视野反而变得模糊，此时，可以直接通过调整细准焦螺旋使对应面在显微镜中的视野清晰。
根据本发明，步骤c中可以通过调整显微镜的粗准焦螺旋和/或细准焦螺旋使得缺陷在显微镜的观察视野中清晰。
在调整显微镜使缺陷在视野中清晰的过程中，我们可以先调整粗准焦螺旋使视野调整到最为清晰的状态，然后再调整细准焦螺旋使视野到达最佳清晰的状态。
根据本发明，步骤c中可以通过调整显微镜的细准焦螺旋使得缺陷在显微镜的观察视野中清晰。
如果通过显微镜观察缺陷时，最开始时显微镜的视野已经比较清晰，调整粗准焦螺旋的话，显微镜的视野反而变得模糊，此时，可以直接通过调整细准焦螺旋使缺陷在显微镜中的视野清晰。
根据本发明，步骤d中所述的深度的单位与所述液晶玻璃板的厚度的单位可以一致。
通过步骤d中的公式可以看出缺陷距离基准面深度的单位与液晶玻璃板厚度的单位可以一致。
根据本发明，所述深度和所述液晶玻璃板的厚度的单位可以为厘米或毫米。
根据本发明，步骤b中的所述对应面焦距和步骤c中的所述缺陷焦距可以通过显微镜的粗准焦螺旋和/或细准焦螺旋读得。
如上所述，在确定缺陷焦距和对应面焦距时可以通过同时调整粗准焦螺旋和细准焦螺旋或者可以通过单独调整粗准焦螺旋或可以通过单独调整细准焦螺旋获得。
通过显微镜观察结合本发明的公式可以计算得到液晶玻璃板中缺陷的深度数值，由深度数值可以判定缺陷位于液晶玻璃板中哪个深度区域，进而可以确定造成缺陷的原因是液晶玻璃板生产的哪个工段存在异常，对问题工段进行排查后，提升产品良品率，提升玻璃品质，提升对策效率，提高生产稳定性。
以下通过实施例进行进一步详细说明本发明。
以下实施例中使用的显微镜为OLYMPUS厂家的BX51型号的显微镜。
实施例1
随机抽取10分钟内在线生产的所有0.4T液晶玻璃板中的带有缺陷的液晶玻璃板，统计该批次液晶玻璃板的良品率为初始良品率，通过刻度尺测量玻璃板厚度为0.4mm；在液晶玻璃板外表面对缺陷位置进行标记，带有标记的液晶玻璃板的外表面为基准面，液晶玻璃板的另一个外表面为对应面；用显微镜通过基准面观察对应面，调整显微镜的粗准焦螺旋和细准焦螺旋，使对应面在显微镜的观察视野中清晰，记录此时的焦距20为对应面焦距；用显微镜通过基准面观察缺陷，调整显微镜的粗准焦螺旋和细准焦螺旋使缺陷在显微镜的观察视野中清晰，记录此时的焦距260为缺陷焦距；通过下式：深度＝液晶玻璃板的厚度×对应面焦距÷缺陷焦距，计算得出缺陷距离基准面的深度为0.03mm，确定缺陷所在液晶玻璃板的区域为A区域，进而确定造成缺陷的原因是铂金区的净化工段存在异常，对铂金区的净化工段进行问题排除后继续生产液晶玻璃板，统计排除问题后生产液晶玻璃板的良品率，并记为改进良品率。
实施例2
随机抽取10分钟内在线生产的所有0.5T液晶玻璃板中的带有缺陷的液晶玻璃板，统计该批次液晶玻璃板的良品率为初始良品率，通过游标卡尺测量玻璃板厚度为0.5mm；在液晶玻璃板外表面对缺陷位置进行标记，带有标记的液晶玻璃板的外表面为基准面，液晶玻璃板的另一个外表面为对应面；用显微镜通过基准面观察对应面，调整显微镜的细准焦螺旋，使对应面在显微镜的观察视野中清晰，记录此时的焦距100为对应面焦距；用显微镜通过基准面观察缺陷，调整显微镜的粗准焦螺旋和细准焦螺旋使缺陷在显微镜的观察视野中清晰，记录此时的焦距320为缺陷焦距；通过下式：深度＝液晶玻璃板的厚度×对应面焦距÷缺陷焦距，计算得出缺陷距离基准面的深度为0.16mm，确定缺陷所在液晶玻璃板的区域为D区域，进而确定造成缺陷的原因是池炉区的熔融工段存在异常，对池炉区进行问题排除之后继续生产液晶玻璃板，统计排除问题后生产液晶玻璃板的良品率，并记为改进良品率。
实施例3
随机抽取15分钟内在线生产的所有0.7T液晶玻璃板中的带有缺陷的液晶玻璃板，统计该批次液晶玻璃板的良品率为初始良品率，通过刻度尺测量玻璃板厚度为0.7mm；在液晶玻璃板外表面对缺陷位置进行标记，带有标记的液晶玻璃板的外表面为基准面，液晶玻璃板的另一个外表面为对应面；用显微镜通过基准面观察对应面，调整显微镜的粗准焦螺旋和细准焦螺旋，使对应面在显微镜的观察视野中清晰，记录此时的焦距245为对应面焦距；用显微镜通过基准面观察缺陷，调整显微镜的粗准焦螺旋和细准焦螺旋使缺陷在显微镜的观察视野中清晰，记录此时的焦距450为缺陷焦距；通过下式：深度＝液晶玻璃板的厚度×对应面焦距÷缺陷焦距，计算得出缺陷距离基准面的深度为0.38mm，确定缺陷所在液晶玻璃板的区域为F区域，进而确定造成缺陷的原因是成型区的固化工段存在异常，对成型区进行问题排除后，继续生产液晶玻璃板，统计排除问题后生产液晶玻璃板的良品率，并记为改进良品率。
对比例
随机抽取10分钟内在线生产的所有0.7T中的带有缺陷的液晶玻璃板，统计该批次液晶玻璃板的良品率为初始良品率，将缺陷液晶玻璃板切割为两部分，恰使其中的缺陷暴露出来，然后通过刻度尺测量缺陷距离液晶玻璃板外表面的深度距离，确定缺陷位于液晶玻璃板的A区域，进而确定造成缺陷的原因是铂金区的净化工段存在异常，对铂金区的净化工段进行问题排除后继续生产液晶玻璃板，统计排除问题后生产液晶玻璃板的良品率，并记为改进良品率。
实施例1-3及对比例的初始良品率及改进良品率记录在表1中，通过实施例1-3和对比例并结合表1中数据可看出，实施例1-3通过本发明的测量方法计算得出缺陷距离液晶玻璃板表面的深度距离后，确定缺陷属于液晶玻璃板中哪个深度区域，找出存在异常的生产工段，将对应工段进行问题排除之后能够使液晶玻璃板的良品率得到大幅度的提升，而且本发明的方法简单、操作方便、易于实施；通过对比例的方法也能对异常工序进行问题排查，但是在测量液晶玻璃板中缺陷的深度时，需要将液晶玻璃板切割为两部分，而且切割后恰好漏出其中的缺陷，使缺陷能够通过刻度尺直接测量，该方法复杂，操作难度大，需要多次施工才能切割后暴露出缺陷。
表1 液晶玻璃板的生产良品率表
| 初始良品率 | 改进良品率 | |
| 实施例1 | 70％ | 93％ |
| 实施例2 | 50％ | 95％ |
| 实施例3 | 65％ | 93％ |
| 对比例 | 65％ | 88％ |
以上详细描述了本发明的优选实施方式，但是，本发明并不限于上述实施方式中的具体细节，在本发明的技术构思范围内，可以对本发明的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本发明的保护范围。
另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合，为了避免不必要的重复，本发明对各种可能的组合方式不再另行说明。
此外，本发明的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合，只要其不违背本发明的思想，其同样应当视为本发明所公开的内容。
Claims (10)
1.一种通过测量液晶玻璃板缺陷深度寻找产生缺陷的工段的方法，液晶玻璃板中有缺陷，其中，该方法包括：
a、在液晶玻璃板外表面对缺陷位置进行标记，带有标记的液晶玻璃板的外表面为基准面，液晶玻璃板的另一个外表面为对应面；
b、用显微镜通过基准面观察对应面，调整显微镜使对应面在显微镜的观察视野中清晰，记录此时的焦距为对应面焦距；
c、用显微镜通过基准面观察缺陷，调整显微镜使缺陷在显微镜的观察视野中清晰，记录此时的焦距为缺陷焦距；
d、通过下式计算缺陷距离基准面的深度：
深度＝液晶玻璃板的厚度×对应面焦距÷缺陷焦距；
e、将液晶玻璃板内部划分为A区域、D区域和F区域，A区域为液晶玻璃板两个外表面分别至内部延伸玻璃板厚度12.5％的区域，F区域为液晶玻璃板中央分别向厚度方向的两侧延伸玻璃板厚度12.5％的区域，D区域为A区域和F区域之外的液晶玻璃板内部区域；
f、缺陷在A区域时，表明铂金区的净化工段产生了缺陷；
缺陷在F区域时，表明成型区的固化工段产生了缺陷；
缺陷在D区域，表明池炉区的熔融工段产生了缺陷。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述基准面和所述对应面为液晶玻璃板互相平行的两个外表面。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤d中所述液晶玻璃板的厚度通过刻度尺或游标卡尺测得。
4.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤b中通过调整显微镜的粗准焦螺旋和/或细准焦螺旋使得对应面在显微镜的观察视野中清晰。
5.根据权利要求4所述的方法，其中，步骤b中通过调整显微镜的细准焦螺旋使得对应面在显微镜的观察视野中清晰。
6.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤c中通过调整显微镜的粗准焦螺旋和/或细准焦螺旋使得缺陷在显微镜的观察视野中清晰。
7.根据权利要求6所述的方法，其中，步骤c中通过调整显微镜的细准焦螺旋使得缺陷在显微镜的观察视野中清晰。
8.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤d中所述的深度的单位与所述液晶玻璃板的厚度的单位一致。
9.根据权利要求8所述的方法，其中，所述深度和所述液晶玻璃板的厚度的单位为厘米或毫米。
10.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤b中的所述对应面焦距和步骤c中的所述缺陷焦距通过显微镜的粗准焦螺旋和/或细准焦螺旋读得。
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