CN102928432A - 模仁成型面检测方法 - Google Patents

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王子威
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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Abstract

本发明涉及一种模仁成型面检测方法。该方法包括以下步骤：提供一高倍率显微镜；将用于成型镜片的模仁放置于该显微镜的载物台，且该模仁成型面朝向该显微镜的物镜；调节该显微镜的粗准焦螺旋，直到能观察到该成型面的模糊影像；调节该显微镜的细准焦螺旋，直到能观察到该成型面的清晰影像；若观察到该成型面上有缺陷，则从该显微镜的载物台上取下该模仁，并对该模仁存在缺陷的区域进行修补，而后再将该修补过的模仁放置于该显微镜的载物台上进行检测；若观察到该成型面不存在缺陷，则从该显微镜的载物台上取下该模仁以备用。

Description

模仁成型面检测方法
技术领域
本发明涉及一种模仁成型面检测方法。
背景技术
相机日益贴近人们的日常生活。相机一般包括镜头模组和影像感测模组。穿过镜头模组的光线入射至影像感测模组，从而形成影像。镜头模组的成像品质直接影响着相机的成像品质。在镜头模组的制造过程中，镜头模组成像品质的优劣主要由镜头模组内各个镜片之间交互影响出的光学结果来决定。而镜片主要采用射出成型或者压铸成型方法制成。在射出成型或者压铸成型方法中，用于成型镜片的模仁成型面是否存在缺陷直接影响着转印出来的镜片的品质。常见的模仁成型面检测方法一般是人眼直接对模仁面进行观测。
然而，有些缺陷（例如细小刀痕）人眼无法分辨出来，直接使得采用有缺陷的模仁制成之镜片的品质较差。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种检测较为准确的模仁成型面检测方法。
一种模仁成型面检测方法包括以下步骤：
提供一高倍率显微镜；
将用于成型镜片的模仁放置于该显微镜的载物台，且该模仁成型面朝向该显微镜的物镜；
调节该显微镜的粗准焦螺旋，以粗调该物镜与该模仁成型面的间的距离，直到能观察到该成型面的模糊影像；
调节该显微镜的细准焦螺旋，以细调该物镜与该模仁成型面的间的距离，直到能观察到该成型面的清晰影像;
若观察到该成型面上有缺陷，则从该显微镜的载物台上取下该模仁，并对该模仁存在缺陷的区域进行修补，而后再将该修补过的模仁放置于该显微镜的载物台上进行检测；
若观察到该成型面不存在缺陷，则从该显微镜的载物台上取下该模仁以备用。
与现有技术相比，本发明实施方式提供的模仁成型面检测方法通过高倍率显微镜来检测模仁成型面是否存在缺陷，使得人眼未能发现的缺陷可以快速地被找出，进而有助于提高模仁及镜片的品质。
附图说明
图1是本发明实施方式提供的模仁成型面检测方法的流程图。
具体实施方式
请参阅图1，本发明较佳实施方式提供的模仁成型面检测方法包括以下步骤：
提供一倍率为500的高倍率显微镜；
将用于成型镜片的模仁放置于该显微镜的载物台，且该模仁成型面朝向该显微镜的物镜；
调节该显微镜的粗准焦螺旋，以粗调该物镜与该模仁成型面的间的距离，直到能观察到该成型面的模糊影像；
调节该显微镜的细准焦螺旋，以细调该物镜与该模仁成型面的间的距离，直到能观察到该成型面的清晰影像；
若观察到该成型面上有缺陷，则从该显微镜的载物台上取下该模仁，并对该模仁存在缺陷的区域进行修补，而后再将该修补过的模仁放置于该显微镜的载物台上进行检测；
若观察到该成型面不存在缺陷，则从该显微镜的载物台上取下该模仁以备用。
需要说明的是，本发明中的高倍率显微镜指的是倍率大于或者等于500的显微镜，例如，600、700或更高的倍率。
本实施方式中，通过人眼通过该显微镜的目镜来观察该成型面是否存在缺陷。
当然，该显微镜也可以连接一个显示器(图未示)。该显微镜将该模仁成型面的影像信息传递给该显示器，以便于观察。
本发明实施方式提供的模仁成型面检测方法通过倍率等于或者高于500的显微镜来检测模仁成型面是否存在缺陷，使得人眼未能发现的缺陷可以快速地被找出，进而有助于提高模仁及镜片的品质。
可以理解的是，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术构思做出其它各种相应的改变与变形，而所有这些改变与变形都应属于本发明权利要求的保护范围。

Claims (3)

1.一种模仁成型面检测方法，包括以下步骤：
提供一高倍率显微镜；
将用于成型镜片的模仁放置于该显微镜的载物台，且该模仁成型面朝向该显微镜的物镜；
调节该显微镜的粗准焦螺旋，以粗调该物镜与该模仁成型面的间的距离，直到能观察到该成型面的模糊影像；
调节该显微镜的细准焦螺旋，以细调该物镜与该模仁成型面的间的距离，直到能观察到该成型面的清晰影像；
若观察到该成型面上有缺陷，则从该显微镜的载物台上取下该模仁，并对该模仁存在缺陷的区域进行修补，而后再将该修补过的模仁放置于该显微镜的载物台上进行检测；
若观察到该成型面不存在缺陷，则从该显微镜的载物台上取下该模仁以备用。
2.如权利要求1所述的模仁成型面检测方法，其中，该高倍率显微镜的倍率为500、600或者700。
3.如权利要求1或2所述的模仁成型面检测方法，其中，该高倍率显微镜连接一个显示器，该显示器用来显示该成型面的影像。
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SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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