CN106773187A - 判定液晶显示面板发黄等级的方法和装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种判定液晶显示面板发黄等级的方法和装置，该方法包括：制定判级标准；确定待测区域位置；采用光学测量仪记录确定的所述待测区域位置处的色坐标，所述色坐标包括中心区域的色坐标和发黄区域的色坐标；计算所述中心区域的色坐标与所述发黄区域的色坐标之间的差异；以及将所述差异与所述判级标准进行比对，确定发黄等级。本发明提供的判定液晶显示面板发黄等级的方法和装置，能迅速、准确的对待测液晶显示面板的周边发黄等级给出评估结果，提高了测试的精度和效率。
Description
技术领域
本发明涉及显示装置技术领域，尤其涉及一种判定液晶显示面板发黄等级的方法和装置。
背景技术
液晶显示面板件主要由阵列基板、彩膜基板、偏光片、背光源和液晶等几部分组成，在其制造工艺中，阵列基板和彩膜基板的成盒工艺是必要的一步。在成盒过程中，首先在基板上涂敷取向膜材料；通过相应的取向工艺，使基板上液晶分子按一定的方式进行排列；然后，经真空对盒过程将两基板定型。液晶显示面板的显示原理为利用电场对液晶分子进行取向控制，根据液晶分子的折射率各向异性，从而进行显示图像。
一般地，液晶显示面板的中心盒厚是由液晶量的多少决定，周边盒厚是由添加在封框胶里硅球尺寸决定的。盒厚的均一性是液晶显示面板品质的一个重要技术指标。当液晶显示面板的中心盒厚和周边盒厚的差异过大(≥0.05um)，宏观上就会表现出不良。差距差异过大就可能表现出周边发黄，当周边差距高于中心差距时表现出发黄，是由于差距增加，△nd变大，蓝光透过率降低、红光透过率增加，因此宏观表现为发黄。当周边差距低于中心差距较多时，周边玻璃会出现形变，导致部分区域差距增加，宏观情况也表现为发黄。周边发黄的严重程度与周边盒厚和中心区盒厚差异大小成正相关，差异越大，玻璃形变越大，发黄越严重，发黄区域越宽，对应的周边发黄级别就越高。
目前现行的针对周边发黄等级判定的通行方法是，通过人眼目测进行人工判定发黄级别。具体方法是，首先通过人眼挑选出具有不同程度周边发黄现象的标准样品液晶显示面板，分别评定出对应的周边发黄等级。其次，点亮待测液晶显示面板，测试人员凭借标准样品，依据人眼进行主观判定待测液晶显示面板样品的周边发黄等级。这种方法的缺点如下：第一，依靠测试人员的眼睛去主观判定，不同测试人员判定存在差异，随意性强；第二，因为设备数量的局限性不能同时点亮待测样品和所有标准样品(标准样品的选择也具有主管随意性)。而且，这样由于人脑对标准画面记忆的偏差也会造成对发黄等级的错误判定。
发明内容
鉴于现有技术中的上述问题，本发明的目的在于提供一种判定液晶显示面板发黄等级的方法和装置，能够准确的判定被测液晶显示面板件的周边发黄等级，避免了目前使用的人眼判定周边发黄等级而带来的人为误差，确保了测试的准确性和客观性。
为达上述目的，本发明采用以下技术方案。
一种判定液晶显示面板发黄等级的方法，包括：制定判级标准；确定所述液晶显示面板的待测区域位置；采用光学测量仪记录确定的所述待测区域位置处的色坐标，所述色坐标包括中心区域的色坐标和发黄区域的色坐标；计算所述中心区域的色坐标与所述发黄区域的色坐标之间的差异；以及将所述差异与所述判级标准进行比对，确定发黄等级。
其中，所述制定判级标准包括：设定标准液晶显示面板的坐标点；采用所述光学测量仪测量所述标准液晶显示面板的中心色坐标和发黄区域的色坐标；计算所述标准液晶显示面板的中心色坐标和发黄区域的色坐标之间的差异，根据该差异确定不同的级别，形成所述判级标准。
其中，所述设定标准液晶显示面板的坐标点包括：设定零点坐标，设定标准液晶显示面板相对所述零点坐标的坐标点。
其中，所述确定待测区域位置包括：设定零点坐标，设定待测区域相对所述零点坐标的坐标点。
本发明还提供一种判定液晶显示面板发黄等级的装置，包括：测试平台，用于容纳待测样品；吸附加热板，设置于所述测试平台之上，用于加热和承载所述待测样品；光学测量仪探头，设置于所述吸附加热板上方，用于测量所述待测样品的色坐标；测试控制装置，与所述光学测量探头连接，控制测试的进行并且确定发黄等级。
其中，所述测试控制装置控制测试的进行并且确定发黄等级包括：控制零点设定和测试点设定。
其中，所述测试控制装置控制测试的进行并且确定发黄等级包括：控制所述光学测量探头移动，测量所述待测样品中心区域的色坐标和发黄区域的色坐标。
其中，所述测试控制装置控制测试的进行并且确定发黄等级还包括：计算所述待测样品中心区域的色坐标和发黄区域的色坐标并与判级标准进行比对，确定发黄等级。
其中，所述测试控制装置控制测试的进行并且确定发黄等级还包括：设定标准液晶显示面板的坐标点；采用所述光学测量仪测量所述标准液晶显示面板的中心色坐标和发黄区域的色坐标；计算所述标准液晶显示面板的中心色坐标和发黄区域的色坐标之间的差异，根据该差异确定不同的级别，形成所述判级标准。
本发明提供的判定液晶显示面板发黄等级的方法和装置，采用定量数据分析的方式，能准确的判定被测液晶显示面板的周边发黄等级，避免了目前使用的人眼判定周边发黄等级而带来的人为误差，确保了测试的准确性和客观性。
附图说明
图1示出盒厚与色坐标之间的关系示意图。
图2示出了根据本发明实施例的判定液晶显示面板发黄等级的流程图。
图3出了根据本发明实施例的设定液晶显示面板的发黄等级判定标准的流程图。
图4出了根据本发明实施例的判定液晶显示面板发黄等级的装置的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
实施例一
在液晶显示面板的制作中，由于中心区盒厚与周边盒厚不同，导致支撑差异性发生变化，液晶显示面板在点亮后会出现周边发黄现象出现。只要能准确的记录下周边区域与中心区域色坐标的变化值，加以计算，即可以准确的判定周边发黄等级。图1示出盒厚与色坐标之间的关系示意图，由图1可以得知，色坐标会随着盒厚值的增加而线性增加。因此在判定液晶显示面板的发黄等级时，只要测量出待测点的色坐标，即可判定出盒厚的变化，进而判定出待测点的发黄等级。接下来在本实施例中将详细描述判定液晶显示面板发黄等级的具体流程。
图2示出了根据本发明实施例的判定液晶显示面板发黄等级的流程图。如图2所示，根据本发明实施例的判定液晶显示面板发黄等级的方法包括如下的步骤。
首先在步骤S201中，制定判级标准。该判级标准可以在之前确定，在传统的方式中，作为标准画面的液晶显示面板的状态，需要依靠测试人员进行记忆，但是在本实施例中，判级标准制定之后可以记录在计算机中，作为具体的标准，为后继判定液晶显示面板的发黄等级提供统一的依据，不会出现误差。在优选的实施例中，判级标准的制定方法如图3所示。首先在步骤S301中，设定零点坐标；接着在步骤S302中，设定需要测试标准液晶显示面板区域的坐标点，以方便光学测量仪自动测量所需区域的色坐标，例如可以设定标准液晶显示面板的中心区域的坐标点A和周边发黄区域的坐标点B1，B2，B3……Bn，这里仅为举例，可以选取多个坐标点，根据制定标准的需要来选取待测位置的坐标点；然后，在步骤S303中，点亮液晶显示面板，光学测量仪(例如CM-H505光学小探头)根据编写完成的坐标点记录下各标准液晶显示面板样品中心色坐标和周边发黄区域色坐标，以上述中心区域的坐标点A和周边发黄区域的坐标点B为例，分别测出其色坐标为A(x，y)和B1(x1，y1)，B2(x2，y2)，B3(x3，y3)……Bn(xn，yn)；在步骤S303中，计算出标准液晶显示样品在周边发黄色区域的色坐标与各自中心色坐标差异的对应关系，例如计算x1-x和y1-y的值；最后，在步骤S305中，将这种周边发黄色区域的色坐标与各自中心色坐标差异定不同级别，如L0、L1、L2、L3、L4和L5等。例如如果x1-x和y1-y的值在某一范围内，将发黄等级定为L0，如果x1-x和y1-y的值在更大的一范围内，将发黄等级定为L1，以此类推。可以以同样的方法计算x2-x和y2-y的值、x3-x和y3-y等等，根据计算的结果定义判级标准。将该判级标准记录在计算机内，作为后继断液晶显示面板的发黄等级的依据。
制定判级标准之后，进行到步骤S202，对于待判定发黄等级的液晶显示面板，设定零点坐标，该零点坐标有助于后继确定待判级的液晶显示面板需要测试区域的坐标点。
接着在步骤S203中，设定待判级的液晶显示面板也就是待判级样品需要测试区域的坐标点，例如，可以设定待判级的液晶显示面板的中心区域的坐标点A’和周边发黄区域的坐标点B1’，B2’，B3’……Bn’，这里仅为举例，可以根据测量的需要选择一定数量的坐标点。
在步骤204中，点亮待判级液晶显示面板样品，光学测量仪(例如CM-H505光学小探头)根据在步骤S203中编写完成的坐标点记录下该待判级液晶显示面板样品中心色坐标A’(x0，y0)和周边发黄区域色坐标B1’(x10，y10)，B2’(x20，y20)，B3’(x30，y30)……Bn’(xn0，yn0)。
在步骤205中，计算判级液晶显示面板样品的中心区域的色坐标与发黄区域的色坐标之间的差异，假定中心区域坐标点的平均色坐标为(x0,y0)＝(0.30,0.32),发黄区域设定的坐标点的色坐标Bn’(xn0,yn0)＝(0.32,0.34),(0.33,0.36),(0.34,0.36)…(0.36,0.38)…(0.34,0.35),(0.33,0.36),(0.32,0.35)，规定xn-x0＞0.03&＜0.15且yn-y0＞0.03&＜0.2判定为发黄区域，同时计算机自动求出(xn,yn)avg，由发黄区域坐标点可计算出周边发黄宽度，由色坐标的平均值计算出发黄程度。
在步骤206中，将差异与判级标准进行比对，确定发黄等级。根据色坐标的变化数据进行分析，可以找到色坐标的变化△x,Δy和发黄等级的对应关系。取△x,Δy变化最大者与对应的中心坐标值比较，当差值小于0.03时，表示此时基本没有发黄现象，即无周边发黄现象发生，周边发黄等级为L0；当色坐标差值大于0.03时每增加0.005增加一个等级，宽度在L1水平的基础上每增加2mm增加一个等级，等级均可以此类推。
根据本实施例的判定液晶显示面板发黄等级的方法，用高精密光学测量仪，测试待判级液晶显示面板样品在点亮过后周边发黄区域的色坐标。根据测试画面的色坐标数据变化，记录发黄宽度和发黄程度，自动判定所测区域内发黄的等级。该方法采用定量数据分析的方式，能准确的判定被测液晶显示面板件的周边发黄等级，避免了目前使用的人眼判定周边发黄等级而带来的人为误差，确保了测试的准确性和客观性。
实施例二
在本实施例中将详细描述判定液晶显示面板发黄等级的装置。
图4出了根据本发明实施例的判定液晶显示面板发黄等级的装置的结构示意图。该装置可以实现自动测试并判定液晶显示面板的周边发黄等级。
如图4所示，该装置包括测试平台002、吸附加热板003、光学测量仪探头支撑架004、精密光学测量仪微探头005和测试控制装置006。该装置进行待测液晶显示面板的周边发黄等级的自动测试和判定的过程包括：将待测周边发黄等级的液晶显示面板件001平躺放置于测试平台002的吸附加热板003上面，并点亮待测面板，切换点灯画面至画面。编辑测试控制程序调整光学测量仪探头支撑架004至待测液液晶显示面板，使精密光学测量仪微探头005移动至待测液液晶显示面板最左下角(高度设定为5mm)，设定零点。在测试控制程序中编辑所需测试坐标点。其中，测试控制装置006包涵测试用软件程序，控制零点设定和测试点设定，光学微探头的移动，测量数据自动记录，测试数据的处理，级别判定等功能。这里的测试控制装置006可以具体实现为包括测试用软件的电脑等。
在测试中，点击开始按钮，测试控制装置006控制光学微探头首先移动到设定零点；再移动到设定的中心坐标点测定不同位置色坐标并记录，计算出中心位置平均色坐标(x0,y0)；再移动到设定发黄区域坐标点，测试色坐标，记录，并跟据上述方法计算出发黄区域宽度和发黄程度，并根据设定的判定标准，进行判级，然后结束测试，光学微探头归位。所述的判定标准可以在测试之前设定，设定的方式已经在实施例一中进行过详细的描述，在此不再赘述。
测试中液晶显示面板显示器必须固定，防止设定好的零点移动，造成测试失败，可以通过真空吸附来实现或机械固定。
在优选的实施方式中，测试平台温度可控，保证可以测试高温下液晶显示面板周边发黄的程度，这通过对测试平台加装温度控制器来实现，所述温度控制器(图中未示出)可以与图4中的吸热板003连接，对待测液晶显示面板的待测区域进行温度控制，实现不同温度下对液晶显示面板周边发黄程度的测试。
根据本实施例的测试液晶显示面板件周边发黄等级的装置，能迅速、准确的对待测液晶显示面板的周边发黄等级给出评估结果，提高了测试的精度和效率。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术的原理。本领域技术人员应当理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求决定。
Claims (9)
1.一种判定液晶显示面板发黄等级的方法，包括：
制定判级标准；
确定待测区域位置；
采用光学测量仪记录确定的所述待测区域位置处的色坐标，所述色坐标包括中心区域的色坐标和发黄区域的色坐标；
计算所述中心区域的色坐标与所述发黄区域的色坐标之间的差异；以及
将所述差异与所述判级标准进行比对，确定发黄等级。
2.如权利要求1所述的方法，其中所述制定判级标准包括：
设定标准液晶显示面板的坐标点；
采用所述光学测量仪测量所述标准液晶显示面板的中心色坐标和发黄区域的色坐标；
计算所述标准液晶显示面板的中心色坐标和发黄区域的色坐标之间的差异，根据该差异确定不同的级别，形成所述判级标准。
3.如权利要求2所述的方法，其中所述设定标准液晶显示面板的坐标点包括：设定零点坐标，设定标准液晶显示面板相对所述零点坐标的坐标点。
4.如权利要求1所述的方法，其中所述确定待测区域位置包括：设定零点坐标，设定待测区域相对所述零点坐标的坐标点。
5.一种判定液晶显示面板发黄等级的装置，包括：测试平台，用于容纳待测样品；吸附加热板，设置于所述测试平台之上，用于加热和承载所述待测样品；光学测量仪探头，设置于所述吸附加热板上方，用于测量所述待测样品的色坐标；测试控制装置，与所述光学测量探头连接，控制测试的进行并且确定发黄等级。
6.如权利要求5所述的装置，其中所述测试控制装置控制测试的进行并且确定发黄等级包括：控制零点设定和测试点设定。
7.如权利要求5所述的装置，其中所述测试控制装置控制测试的进行并且确定发黄等级包括：控制所述光学测量探头移动，测量所述待测样品中心区域的色坐标和发黄区域的色坐标。
8.如权利要求6所述的装置，所述测试控制装置控制测试的进行并且确定发黄等级还包括：计算所述待测样品中心区域的色坐标和发黄区域的色坐标并与判级标准进行比对，确定发黄等级。
9.如权利要求7所述的装置，所述测试控制装置控制测试的进行并且确定发黄等级还包括：设定标准液晶显示面板的坐标点；采用所述光学测量仪测量所述标准液晶显示面板的中心色坐标和发黄区域的色坐标；计算所述标准液晶显示面板的中心色坐标和发黄区域的色坐标之间的差异，根据该差异确定不同的级别，形成所述判级标准。
Priority Applications (1)
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