CN106610686A - 电压校正电路及电压校正系统 - Google Patents

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Abstract

一种电压校正电路及电压校正系统。该电压校正电路包含待校正电压输出电路、放大器、电源切换指示电路及内置自我测试电路。待校正电压输出电路根据待校正电压选择信号选择第一待校正电压源以输出待校正电压。放大器的两输入端分别接收待校正电压及对应于第一待校正电压源的参考电压。电源切换指示电路根据参考电压、放大器的输出端的电压以及指示电压以输出电源切换信号。指示电压与待校正电压之间具有固定电压差。内置自我测试电路根据电源切换信号更新待校正电压选择信号以使待校正电压输出电路改以选择第二待校正电压源。

Description

电压校正电路及电压校正系统
技术领域
本发明涉及一种电压校正电路，尤其涉及一种可自动更新待校正电压的电压校正电路。
背景技术
由于集成电路的功能日趋复杂，在同一集成电路内部常需要不同电位的电压源来驱动不同的功能元件。然而在经过复杂的半导体工艺之后，各个半导体元件的特性可能会有些许差异，使得这些集成电路内部的电压源所产生的电压常会与目标值有所差异。举例来说，应提供1.5V电压的电压源可能因为工艺的差异，导致在原先预定的参数条件下，实际上输出的电压可能仅有1.2V。为了避免因为电压不匹配导致功能元件无法正常工作，在集成电路制作完成之后，还需要经过校正的步骤以校调各电压源的设定参数，使得集成电路中各个电压源实际上输出的电压能够更加接近目标值。
在现有技术中，为缩短校正所需的时间，常会在集成电路内部设置内置自我测试(Built-In Self-Test，BIST)电路，并与外部的测试器相连接。测试器可提供集成电路所需的电压目标值，而内置自我测试电路则会将电压目标值与电压源实际输出的电压加以比较，并持续更改电压源的设定参数，直到电压源实际输出的电压与目标值足够接近，才以当下的设定参数作为其电压源的设定参数。而在测试的过程中，为了使测试器与内置自我测试电路之间能够得知彼此的状态以进行对应的步骤，例如测试器需得知内置自我测试电路是否已完成校正以确定是否需提供下一组电压目标值，而内置自我测试电路则需得知是测试器是否以更新电压目标值以确定是否需切换至另一待测电压源以校正其设定参数…等等。因此在集成电路中常需要预留一组通信用的总线，以确保两者之间能够互相沟通。而在现有技术当中，通信用的总线可能包含多达8个引脚。由于集成电路对外部电路的引脚数量会影响到集成电路所能使用的封装壳体，而会大大地影响集成电路最终所需的空间，因此如何减少测试器及自我测试电路之间所需的引脚数量即成为一个有待解决的问题。
发明内容
本发明的一实施例提供一种电压校正电路。电压校正电路包含待校正电压输出电路、第一放大器、电源切换指示电路及内置自我测试电路。待校正电压输出电路包含多个待校正电压源，且待校正电压输出电路可根据待校正电压选择信号选择多个待校正电压源中的第一待校正电压源，并根据第一待校正电压源输出待校正电压。第一放大器具有第一输入端、第二输入端及输出端，第一放大器的第一输入端接收待校正电压，第一放大器的第二输入端接收对应于第一待校正电压源的参考电压。电源切换指示电路耦接于第一放大器的输出端，电源切换指示电路接收并根据指示电压、参考电压及第一放大器的输出端的电压以输出电源切换信号。其中指示电压与待校正电压之间具有第一固定电压差。内置自我测试电路耦接于电源切换指示电路、第一放大器及待校正电压输出电路，内置自我测试电路根据电源切换信号更新待校正电压选择信号以使待校正电压输出电路改以选择多个待校正电压源中的第二待校正电压源。
本发明的另一实施例提供一种电压校正系统。电压校正系统包含电压校正电路及控制器。电压校正电路包含待校正电压输出电路、第一放大器、电源切换指示电路及内置自我测试电路。
待校正电压输出电路包含多个待校正电压源，且待校正电压输出电路根据待校正电压选择信号选择多个待校正电压源中的第一待校正电压源以输出待校正电压。第一放大器具有第一输入端、第二输入端及输出端，第一放大器的第一输入端接收待校正电压，第一放大器的第二输入端接收对应于第一待校正电压源的参考电压。电源切换指示电路耦接于第一放大器的输出端，且电源切换指示电路接收并根据指示电压、参考电压及第一放大器的输出端的电压以输出电源切换信号。其中指示电压与待校正电压之间具有第一固定电压差。内置自我测试电路，耦接于电源切换指示电路、第一放大器及待校正电压输出电路。内置自我测试电路根据第一放大器的输出端的电压输出校正完成信号，并根据电源切换信号更新待校正电压选择信号以使待校正电压输出电路改以选择多个待校正电压源中的第二待校正电压源。测试器提供对应于第一待校正电压源的参考电压，并根据校正完成信号调整参考电压。调整后的参考电压会对应至第二待校正电压源。
附图说明
图1为本发明一实施例的电压校正电路的示意图。
图2为本发明另一实施例的电压校正电路的示意图。
图3为本发明一实施例的电压校正系统的示意图。
附图标记说明
10 芯片
100、200 电压校正电路
110 待校正电压输出电路
112A、112B、112C 待校正电压源
114 多工器
120 第一放大器
130 电源切换指示电路
132 第二放大器
134、254 异或门
140 内置自我测试电路
150 压差元件
M1 晶体管
SCV 待校正电压选择信号
SCHG 电源切换信号
VC、VCA、VCA1、VCA2 待校正电压
Vref 参考电压
VI 指示电压
300 电压校正系统
250 指示电压输出电路
252A、252B、252C 指示电压源
310 控制器
P1、P2 引脚
Sdone 校正完成信号
具体实施方式
图1为本发明一实施例的电压校正电路100的示意图。在图1的实施例中，电压校正电路100是设置在芯片10内部用以校正芯片10所需的电压电源的电路。电压校正电路100包含待校正电压输出电路110、第一放大器120、电源切换指示电路130及内置自我测试(Built-In Self-Test，BIST)电路140。
待校正电压输出电路110包含多个待校正电压源112A、112B及112C，待校正电源112A、112B及112C可用以提供芯片10所需的不同电压。举例来说待校正电源112A可用以提供1.5V的电压，112B可用以提供1.2V的电压，而112C可用以提供1.8V的电压，也就是说，待校正电源112A的目标电压可为1.5V，待校正电源112B的目标电压可为1.2V，而待校正电源112C的目标电压可为1.8V。由于实际的半导体工艺可能会造成待校正电源112A、112B及112C的电路特性不如预期，因此若仅根据预设的参数设定待校正电源112A、112B及112C，则待校正电源112A、112B及112C实际上输出的电压可能会与各自的目标电压有不少的差距，而需要进行校正。
待校正电压输出电路110可根据待校正电压选择信号SCV选择待校正电压源112A、112B及112C中欲进行校正的待校正电压源。举例来说，在图1中，待校正电压输出电路110可包含多工器114。多工器114可耦接于待校正电压源112A、112B及112C，并可根据待校正电压选择信号SCV导通校正电压源112A、112B及112C中的一校正电压源与待校正电压输出电路110的输出端的电性连接以输出待校正电压VC。例如当欲对校正电压源112A进行校正时，亦即当选择待校正电压源112A作为第一待校正电压源并进行校正时，待校正电压选择信号SCV即会使多工器114导通待校正电压源112A与待校正电压输出电路110的输出端的电性连接。
第一放大器120可具有第一输入端、第二输入端及输出端。第一放大器120的第一输入端可接收待校正电压VC，第一放大器120的第二输入端则可接收对应于第一待校正电压源112A的参考电压Vref，亦即1.5V。在本发明的一实施例中，参考电压Vref是由外部电路所提供。
内置自我测试电路140可耦接于第一放大器120及待校正电压输出电路110，并可以根据第一放大器120的输出端的电压控制待校正电压输出电路110以进行校正。换言之，当内置自我测试电路140欲对待校正电压源112A进行校正时，内置自我测试电路140会先送出对应的待校正电压选择信号SCV，使得待校正电压输出电路110可根据待校正电压源112A输出的待校正电压VCA输出待校正电压VC。
待校正电压源112A可先根据原来预设的参数设定输出待校正电压VCA，而内置自我测试电路140即可通过第一放大器120的输出端的电压得知待校正电压VC与参考电压Vref之间的大小关系。在本发明的部分实施例中，第一放大器120的第一输入端可为正端，而第一放大器120的第二输入端可为负端。在此情况下，当待校正电压VC大于参考电压Vref时，第一放大器120的输出端的电压即为高电位，而当待校正电压VC小于参考电压Vref时，第一放大器120的输出端的电压即为低电位。
举例来说，当待校正电压VC为1.32V而参考电压Vref为1.5V时，第一放大器120的输出端的电压为低电位，此时内置自我测试电路140可控制待校正电压输出电路110以调整待校正电压源112A的参数设定，使得待校正电压源112A输出较高的待校正电压VCA1，例如调整后的待校正电压VCA1可能为1.44V。由于待校正电压VCA1仍然较参考电压Vref小，因此内置自我测试电路140还可继续调整待校正电压源112A的参数设定使得待校正电压源112A输出更高的待校正电压VCA2，例如为1.56V。也就是说，待校正电压源112A可根据内置自我测试电路140的控制，依序输出多个待校正电压VCA、VCA1及VCA2。
由于经过再次提升后的待校正电压VCA2会大于参考电压Vref，因此第一放大器120的输出端的电压会变为高电位。内置自我测试电路140可在第一放大器120的输出端的电压由低电位变为高电位时，判定待校正电压源112A已完成校正，并将当时所使用的参数记录下来作为待校正电压源112A的校正后的预设参数，而当待校正电压源112A使用此校正后的预设参数时，待校正电压源112A所输出的电压即会比校正前更接近其目标电压。
在本发明的实施例中，内置自我测试电路140亦可在第一放大器120的输出端的电压由高电位变为低电位，可在第一放大器120的输出端的电压转变时，又或者仅在待校正电压VC与参考电压Vref足够接近时，才判断待校正电压源112A已完成校正。
待校正电压源112A完成校正之后，内置自我测试电路140即可选择待校正电压输出电路110中的下一个待校正电压源来进行校正。然而在进行下一个待校正电压源的校正程序之前，内置自我测试电路140必须先确定参考电压Vref已经被对应地更新为下一个待校正电压源的目标电压，接着才能重复上述步骤来进行校正。此时内置自我测试电路140即可通过电源切换指示电路130所输出电源切换信号SCHG来得知参考电压Vref是否已经被对应地更新。
电源切换指示电路130耦接于第一放大器120的输出端，且电源切换指示电路130可接收并根据指示电压VI、参考电压Vref及第一放大器的输出端的电压以输出电源切换信号SCHG，其中指示电压VI与待校正电压VC之间具有第一固定电压差ΔV1，例如为0.2V。
在图1的实施例中，电源切换指示电路130可包含第二放大器132及异或(Exclusive OR，XOR)门134。第二放大器132可具有第一输入端、第二输入端及输出端。第二放大器132的第一输入端用以接收指示电压VI，第二放大器132的第二输入端用以接收参考电压Vref。在此实施例中，第二放大器132的第一输入端为正端，而第二放大器132的第二输入端为负端。异或门134可具有第一输入端、第二输入端及输出端，异或门134的第一输入端耦接于第一放大器120的输出端，异或门134的第二输入端耦接于第二放大器132的输出端，而异或门134的输出端可输出电源切换信号SCHG。
若第一待校正电压源的目标电压与下一个欲校正的第二待校正电压源的目标电压之间具有第二固定电压差ΔV2，则第二固定电压差ΔV2应大于待校正电压VC及指示电压VI之间的第一固定电压差ΔV1。此外若多个第一待校正电压VCA、VCA1及VCA2彼此间具有第三固定电压差ΔV3，例如为0.12V，则第三固定电压差ΔV3应不大于第一固定电压差ΔV1。
表1为本发明一实施例中，电压校正电路100在待校正电压源112A完成校正后的不同时段内，参考电压Vref、待校正电压VC、指示电压VI、第一放大器120的输出端、第二放大器132的输出端及电源切换信号SCHG的电压。
表1
根据表1的实施例，在时段T1中，待校正电压源112A已完成校正，然而参考电压Vref尚未更新，仍旧为待校正电压源112A的目标电压1.5V，而待校正电压VC为1.56V。此时第一放大器120的输出端的电压为高电位H，且由于指示电压VI与待校正电压VC之间具有第一固定电压差ΔV1，亦即指示电压VI为1.36V小于参考电压Vref，因此第二放大器132的输出端的电压为低电位L，导致异或门134输出端的电压为高电位H，亦即电源切换信号SCHG为高电位H。
在时段T2中，第一待校正电压源112A已完成校正，且参考电压Vref已变为下一个待校正电压源的目标电压，例如当选择待校正电压源112B作为下一个待校正的第二待校正电压源时，参考电压Vref会被更新至待校正电压源112B的目标电压1.2V。此时由于内置自我测试电路140尚未更新待校正电压选择信号SCV，因此待校正电压VC仍为待校正电压源112A所输出的待校正电压VCA2，即1.56V，而第一放大器120的输出端的电压仍为高电位H。
此外，由于第二固定电压差ΔV2会大于第一固定电压差ΔV1，亦即待校正电压源112A的目标电压1.5V与待校正电压源112B的目标电压1.2V之间的第二固定电压差ΔV2为0.3V，而会大于第一固定电压差ΔV1的0.2V，因此指示电压VI会大于更新后的参考电压Vref，使得第二放大器132的输出端的电压也会变为高电位H，进而导致异或门134的输出端的电压变为低电位L，亦即电源切换信号SCHG为低电位L。
表2为本发明另一实施例中，电压校正电路100在待校正电压源112A完成校正后的不同时段内，参考电压Vref、待校正电压VC、指示电压VI、第一放大器120的输出端、第二放大器132的输出端及电源切换信号SCHG的电压。
表2
根据表2的实施例，在时段T1中，待校正电压源112A已完成校正，然而参考电压Vref仍为待校正电压源112A的目标电压1.5V，而待校正电压VC为1.56V。此时第一放大器120的输出端的电压为高电位H，且由于指示电压VI会小于参考电压Vref，因此第二放大器132的输出端的电压为低电位L，导致异或门134输出端的电压为高电位H，亦即电源切换信号SCHG为高电位H。
在时段T3中，待校正电压源112A已完成校正，而参考电压Vref也已变下一个待校正电压源的目标电压，例如当选择待校正电压源112C作为下一个待校正的第二待校正电压源时，参考电压Vref会被更新至待校正电压源112C的目标电压1.8V。此时由于内置自我测试电路140尚未更新待校正电压选择信号SCV，因此待校正电压VC仍为待校正电压源112A所输出的待校正电压VCA2，即1.56V，而由于第二固定电压差ΔV2会大于第一固定电压差ΔV1，亦即待校正电压源112A的目标电压1.5V与待校正电压源112C的目标电压1.8V之间的第二固定电压差ΔV2为0.3V，而会大于第一固定电压差ΔV1的0.2V，因此待校正电压VC会小于更新后的参考电压Vref，使得第一放大器120的输出端的电压变为低电位L。
此外，由于指示电压VI也会小于更新后的参考电压Vref，因此第二放大器132的输出端的电压仍为低电位L，导致异或门134的输出端的电压变为低电位L，亦即电源切换信号SCHG为低电位L。
换言之，在表1或表2的实施例中，不论是选择待校正电压源112B或待校正电压源112C做为下一个待校正电压源，只要待校正电压源112B或待校正电压源112C与待校正电压源112A的目标电压间的固定电压差会大于待校正电压VC及指示电压VI之间的第一固定电压差ΔV1，则当参考电压Vref已更新为下一个待校正电压源的目标电压时，电源切换信号SCHG都会由高电位H变为低电位L。因此内置自我测试电路140可根据电源切换信号SCHG的电位判断由外部电路所提供的参考电压Vref是否已被更新，并在电源切换信号SCHG由高电位H变为低电位L时，更新待校正电压选择信号SCV，以使待校正电压输出电路110改以选择待校正电压源112B或112C做为下一个待校正的第二待校正电压源。
在本发明的部分实施例中，电压校正电路100还包含压差元件150。压差元件150可耦接于待校正电压输出电路110及第二放大器132的第一输入端，且压差元件150可接收并根据待校正电压VC以输出指示电压VI。在图1的实施例中，压差元件150为晶体管M1。晶体管M1具有第一端、第二端及控制端，晶体管M1的第一端可接收待校正电压VC，晶体管M1的第二端可输出指示电压VI，而晶体管M1的控制端可耦接于晶体管M1的第一端。如此一来，晶体管M1即可等效为二极管，而晶体管M1的第二端的电压与晶体管M1的第一端之间的第一固定电压差ΔV1即为等效二极管的导通电压。在本发明的部分实施例中，为了满足不同系统的需求，使用者亦可选择不同种类的晶体管，例如具有超低导通电压的晶体管。如此一来，即便各个待校正电压源112A、112B及112C的目标电压彼此间的电压差较小，电压校正电路100仍然能够正常运作。
在本发明的部分实施例中，电压校正电路100的压差元件150亦可直接使用二极管来实作，并使二极管的阳极接收待校正电压VC，而使二极管的阴极输出指示电压VI。
图2为本发明一实施例的电压校正电路200的示意图。电压校正电路200与电压校正电路100的结构相似，差别在于电压校正电路200包含指示电压输出电路250。指示电压输出电路250与待校正电压输出电路110的架构相似，而可包含多个指示电压源252A、252B及252C及多工器254。指示电压源252A、252B及252C会分别对应到待校正电压源112A、112B及112C，且指示电压源252A、252B及252C所输出的电压会分别与待校正电压源112A、112B及112C所输出的电压相差第一固定电压差ΔV1。指示电压输出电路250可同样根据待校正电压选择信号SCV选择对应的指示电压源252A、252B及252C以输出指示电压VI。举例来说，当待校正电压输出电路110根据待校正电压选择信号SCV选择待校正电压源112A时，指示电压输出电路250会根据待校正电压选择信号SCV选择指示电压源252A以输出指示电压VI。
由于指示电压输出电路250是通过不同的指示电压源252A、252B及252C来产生指示电压VI，因此使用者可根据系统的需要设定指示电压输出电路250，以调整指示电压VI与待校正电压VC之间的第一固定电压差ΔV1的大小，以确保第一固定电压差ΔV1会小于第二固定电压差ΔV2，并使第一固定电压差ΔV1大于或等于第三固定电压差ΔV3。在本发明的一较佳实施例中，第三固定电压差ΔV3可等于第一固定电压差ΔV1，在此情况下，指示电压源252A、252B及252C可与待校正电压源112A、112B及112C具有相同的构造，但两组电压源之间的设定参数(trim code)会相差一级。举例来说，在上述过程中，当待校正电压源112A根据设定参数输出1.44V的待校正电压VCA1时，指示电压源252A会根据待校正电压源112A前次所使用的设定参数输出1.32V的指示电压VI，而当待校正电压源112A根据下一级的设定参数输出1.56V的待校正电压VCA2时，指示电压源252A则会根据前次待校正电压源112A所使用的设定参数输出1.44V的指示电压VI。如此一来，指示电压源252A、252B及252C即可与待校正电压源112A、112B及112C具有相同的构造，而无须另外设计指示电压源252A、252B及252C的电路。
如此一来，电压校正电路200亦可根据电源切换信号SCHG的电位判断由外部电路所提供的参考电压Vref是否已被更新，并在电源切换信号SCHG由高电位H变为低电位L时，更新待校正电压选择信号SCV，使得待校正电压输出电路110改以选择待下一个待校正电压源。
图3为本发明一实施例的电压校正系统300的示意图。电压校正系统包含电压校正电路100及测试器310。电压校正电路100是设置于芯片10内，而测试器310则是设置于芯片的外部并通过芯片10的引脚与芯片10内部的电压校正电路100相连接。亦即测试器310可由外部经由芯片10的引脚P1提供对应于欲校正的待校正电压源的参考电压Vref，例如待校正电压源112A的目标电压1.5V。
而内置自我测试电路140会在完成待校正电压源112A的校正程序后经由芯片10的引脚P2输出校正完成信号Sdone至测试器310。测试器310则可根据校正完成信号Sdone调整参考电压Vref，使得调整后的参考电压Vref会对应至下一个待校正的第二待校正电压源，例如待校正电压源112B。而当参考电压Vref被更新至待校正电压源112B的目标电压1.2V时，电源切换指示电路130即会根据上述的操作原理更新电源切换信号SCHG。而电压校正电路100即可根据电源切换信号SCHG的电位判断测试器310所提供的参考电压Vref是否已被更新，并在电源切换信号SCHG由高电位H变为低电位L时，更新待校正电压选择信号SCV，使得待校正电压输出电路110改以选择待待校正电压源112B，以进行后续的校正程序。
综上所述，本发明的实施例所提供的电压校正电路及电压校正系统可通过电源切换指示电路判断参考电压是否已被对应地更新，以使电压校正电路能够进行接续的校正程序，而无须利用额外的外部线路来更新状态，因此能够解决现有技术中，因为引脚数量过多所造成集成电路所需空间过大或接线不易的问题。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡依本发明权利要求所做的均等变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。

Claims (15)

1.一种电压校正电路，包含：
一待校正电压输出电路，包含多个待校正电压源，该待校正电压输出电路用以根据一待校正电压选择信号选择该些待校正电压源中一第一待校正电压源，并根据该第一待校正电压源输出一待校正电压；
一第一放大器，具有一第一输入端用以接收该待校正电压，一第二输入端用以接收对应于该第一待校正电压源的一参考电压，及一输出端；
一电源切换指示电路，耦接于该第一放大器的该输出端，用以接收并根据一指示电压、该参考电压及该第一放大器的该输出端的电压以输出一电源切换信号，其中该指示电压与该待校正电压之间具有一第一固定电压差；及
一内置自我测试电路，耦接于该电源切换指示电路、该第一放大器及该待校正电压输出电路，用以根据该电源切换信号更新该待校正电压选择信号以使该待校正电压输出电路改以选择该些待校正电压源中一第二待校正电压源。
2.如权利要求1所述的电压校正电路，其中该电源切换指示电路包含：
一第二放大器，具有一第一输入端用以接收该指示电压，一第二输入端用以接收该参考电压，及一输出端；及
一异或门，具有一第一输入端耦接于该第一放大器的该输出端，一第二输入端耦接于该第二放大器的该输出端，及一输出端用以输出该电源切换信号。
3.如权利要求1或2所述的电压校正电路，其中当该电源切换信号由一高电位变为一低电位时，更新该待校正电压选择信号。
4.如权利要求2所述的电压校正电路，还包含：
一压差元件，耦接于该待校正电压输出电路及该第二放大器的该第一输入端，用以接收并根据该待校正电压以输出该指示电压。
5.如权利要求4所述的电压校正电路，其中该压差元件为一晶体管，具有一第一端用以接收该待校正电压，一第二端用以输出该指示电压，及一控制端耦接于该晶体管的该第一端。
6.如权利要求4所述的电压校正电路，其中该压差元件为一二极管，具有一阳极用以接收该待校正电压，及一阴极用以输出该指示电压。
7.如权利要求1所述的电压校正电路，还包含：
一指示电压输出电路，包含多个指示电压源，该指示电压输出电路用以根据该待校正电压选择信号选择该些指示电压源中对应于该第一待校正电压源的一指示电压源以输出该指示电压。
8.如权利要求1所述的电压校正电路，其中该第一待校正电压源的一目标电压与该第二待校正电压源的一目标电压间具有一第二固定电压差，该第二固定电压差大于该第一固定电压差。
9.如权利要求1所述的电压校正电路，其中该待校正电压输出电路还包含：
一多工器，耦接于该些待校正电压源，用以根据该待校正电压选择信号导通该些待校正电压源中的一校正电压源与该待校正电压输出电路的一输出端的电性连接以输出该待校正电压。
10.如权利要求9所述的电压校正电路，其中该第一待校正电压源用以依序输出多个待校正电压，该第一待校正电压源输出的该些待校正电压彼此间具有一第三固定电压差。
11.如权利要求10所述的电压校正电路，其中该第一固定电压差大于或等于该第三固定电压差。
12.一种电压校正系统，包含：
一电压校正电路，包含
一待校正电压输出电路，包含多个待校正电压源，该待校正电压输出电路用以根据一待校正电压选择信号选择该些待校正电压源中一第一待校正电压源以输出一待校正电压；
一第一放大器，具有一第一输入端用以接收该待校正电压，一第二输入端用以接收对应于该第一待校正电压源的一参考电压，及一输出端；
一电源切换指示电路，耦接于该第一放大器的该输出端，用以接收并根据一指示电压、该参考电压及该第一放大器的该输出端的电压以输出一电源切换信号，其中该指示电压与该待校正电压之间具有一第一固定电压差；及
一内置自我测试电路，耦接于该电源切换指示电路、该第一放大器及该待校正电压输出电路，用以根据该第一放大器的该输出端的电压输出一校正完成信号，及根据该电源切换信号更新该待校正电压选择信号以使该待校正电压输出电路改以选择该些待校正电压源中一第二待校正电压源；及
一测试器，用以提供对应于该第一待校正电压源的该参考电压，及根据该校正完成信号调整该参考电压，其中调整后的该参考电压对应至该第二待校正电压源。
13.如权利要求12所述的电压校正系统，其中该内置自我测试电路当该第一放大器的该输出端的电压由一高电位变为一低电位或由该低电位变为该高电位后，更新该校正完成信号。
14.如权利要求12所述的电压校正系统，其中该电压校正电路设置于一芯片内，该测试器是经由该芯片的一第一引脚提供该参考电压，及该测试器是经由该芯片的一第二引脚接收该校正完成信号。
15.如权利要求12所述的电压校正电路，其中该第一待校正电压源的一目标电压与该第二待校正电压源的一目标电压间具有一第二固定电压差，该第二固定电压差大于该第一固定电压差。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110209305A (zh) * 2019-06-26 2019-09-06 京东方科技集团股份有限公司 电压输入校正电路及触控面板

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017042876A1 (ja) * 2015-09-08 2017-03-16 三菱電機株式会社 炉内核計装装置
US10014899B2 (en) * 2016-07-15 2018-07-03 Texas Instruments Incorporated System and method for built-in self-test of electronic circuits
CN111446949B (zh) * 2019-01-16 2024-03-01 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 上电复位电路和集成电路

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5087832A (en) * 1989-09-19 1992-02-11 Fujitsu Limited Balanced signal receiving circuit
US7764114B2 (en) * 2007-07-23 2010-07-27 Samsung Electronics Co., Ltd. Voltage divider and internal supply voltage generation circuit including the same
CN101814833A (zh) * 2009-02-20 2010-08-25 精工电子有限公司 电压调节器
CN102662425A (zh) * 2012-06-07 2012-09-12 电子科技大学 一种基于数字校正带隙基准电路
US8278952B2 (en) * 2007-12-31 2012-10-02 Powerchip Technology Corporation Voltage adjusting circuits and voltage adjusting methods

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW538398B (en) * 2000-10-31 2003-06-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Liquid crystal display device, electroluminescent display device, method of driving the devices, and method of evaluating subpixel arrangement patterns
JP3593982B2 (ja) * 2001-01-15 2004-11-24 ソニー株式会社 アクティブマトリクス型表示装置およびアクティブマトリクス型有機エレクトロルミネッセンス表示装置、並びにそれらの駆動方法
JP2003295821A (ja) * 2002-02-01 2003-10-15 Seiko Epson Corp 電気光学装置、その駆動方法、及び電子機器
US6801028B2 (en) * 2002-11-14 2004-10-05 Fyre Storm, Inc. Phase locked looped based digital pulse converter
CN1820295A (zh) * 2003-05-07 2006-08-16 东芝松下显示技术有限公司 El显示装置及其驱动方法
FR2886746B1 (fr) * 2005-06-06 2007-08-10 Atmel Corp Regulation du niveau de tension de sortie

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5087832A (en) * 1989-09-19 1992-02-11 Fujitsu Limited Balanced signal receiving circuit
US7764114B2 (en) * 2007-07-23 2010-07-27 Samsung Electronics Co., Ltd. Voltage divider and internal supply voltage generation circuit including the same
US8278952B2 (en) * 2007-12-31 2012-10-02 Powerchip Technology Corporation Voltage adjusting circuits and voltage adjusting methods
CN101814833A (zh) * 2009-02-20 2010-08-25 精工电子有限公司 电压调节器
CN102662425A (zh) * 2012-06-07 2012-09-12 电子科技大学 一种基于数字校正带隙基准电路

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110209305A (zh) * 2019-06-26 2019-09-06 京东方科技集团股份有限公司 电压输入校正电路及触控面板
CN110209305B (zh) * 2019-06-26 2022-07-05 京东方科技集团股份有限公司 电压输入校正电路及触控面板

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