CN106547132A - 液晶盒制造装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种液晶盒制造装置及方法。装置包括制造设、测量设备和调整设备。制造设备用于将第一基板和第二基板叠加组合为一体,以形成液晶盒;测量设备用于分别测量第一基板的四个角的顶点在预定二维坐标系中的坐标值以及第二基板的四个角的顶点在预定二维坐标系中的坐标值,并生成第一测量结果,其中,预定二维坐标系所对应的平面与液晶盒所对应的平面平行;调整设备用于根据第一测量结果调整第一基板和第二基板的相对位置,以使第一基板的四个角的顶点在预定二维坐标系中的坐标值与第二基板的四个角的顶点在预定二维坐标系中的坐标值的第一偏差值处于预定范围内。本发明能实现液晶盒的第一基板和第二基板精准对位。
Description
【技术领域】
本发明涉及显示技术领域,特别涉及一种液晶盒制造装置及方法。
【背景技术】
传统的液晶盒一般包括薄膜晶体管阵列基板和彩膜基板,所述薄膜晶体管阵列基板和所述彩膜基板叠加组合为一体。
由于所述液晶盒是通过将所述薄膜晶体管阵列基板和所述彩膜基板叠加组合来形成的,因此所述薄膜晶体管阵列基板和所述彩膜基板可能存在对位不准确的问题。
在所述薄膜晶体管阵列基板和所述彩膜基板对位不准确的情况下,由所述液晶盒形成的显示面板所显示的图像会出现漏光、串色色偏、开口率降低等现象。
故,有必要提出一种新的技术方案,以解决上述技术问题。
【发明内容】
本发明的目的在于提供一种液晶盒制造装置及方法,其能实现液晶盒的两基板精准对位。
为解决上述问题,本发明的技术方案如下:
一种液晶盒制造装置,所述装置包括:制造设备,用于将第一基板和第二基板叠加组合为一体,以形成液晶盒;测量设备,用于分别测量所述第一基板的四个角的顶点在预定二维坐标系中的坐标值以及所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值,并生成第一测量结果,其中,所述预定二维坐标系所对应的平面与所述液晶盒所对应的平面平行;调整设备,用于根据所述第一测量结果调整所述第一基板和所述第二基板的相对位置,以使所述第一基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值与所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值的第一偏差值处于预定范围内。
在上述液晶盒制造装置中,所述第一测量结果包括第一坐标值组合和第二坐标值组合;所述第一坐标值组合包括第一坐标值、第二坐标值、第三坐标值和第四坐标值;所述第二坐标值组合包括第五坐标值、第六坐标值、第七坐标值和第八坐标值。
在上述液晶盒制造装置中,所述第一基板的四个角的顶点分别为第一顶点、第二顶点、第三顶点和第四顶点,所述第一坐标值、所述第二坐标值、所述第三坐标值和所述第四坐标值分别为所述第一顶点、所述第二顶点、所述第三顶点和所述第四顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值;所述第二基板的四个角的顶点分别为第五顶点、第六顶点、第七顶点和第八顶点,所述第五坐标值、所述第六坐标值、所述第七坐标值和所述第八坐标值分别为所述第五顶点、所述第六顶点、所述第七顶点和所述第八四顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值。
在上述液晶盒制造装置中,所述装置还包括:计算设备,用于根据所述第一测量结果计算调整值组合,其中,所述调整值组合包括至少一调整值;所述调整设备用于根据所述调整值组合调整所述第一基板和所述第二基板的相对位置,以使所述第一基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值与所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值的第一偏差值处于预定范围内。
在上述液晶盒制造装置中,所述调整值组合包括第一调整值、第二调整值、第三调整值和第四调整值;所述第一调整值用于调整所述第一顶点和所述第五顶点的相对位置,所述第二调整值用于调整所述第二顶点和所述第六顶点的相对位置,所述第三调整值用于调整所述第三顶点和所述第七顶点的相对位置,所述第四调整值用于调整所述第四顶点和所述第八顶点的相对位置。
一种液晶盒制造方法,所述方法包括以下步骤:A、将第一基板和第二基板叠加组合为一体,以形成液晶盒;B、分别测量所述第一基板的四个角的顶点在预定二维坐标系中的坐标值以及所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值,并生成第一测量结果,其中,所述预定二维坐标系所对应的平面与所述液晶盒所对应的平面平行;C、根据所述第一测量结果调整所述第一基板和所述第二基板的相对位置,以使所述第一基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值与所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值的第一偏差值处于预定范围内。
在上述液晶盒制造方法中,所述第一测量结果包括第一坐标值组合和第二坐标值组合;所述第一坐标值组合包括第一坐标值、第二坐标值、第三坐标值和第四坐标值;所述第二坐标值组合包括第五坐标值、第六坐标值、第七坐标值和第八坐标值。
在上述液晶盒制造方法中,所述第一基板的四个角的顶点分别为第一顶点、第二顶点、第三顶点和第四顶点,所述第一坐标值、所述第二坐标值、所述第三坐标值和所述第四坐标值分别为所述第一顶点、所述第二顶点、所述第三顶点和所述第四顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值;所述第二基板的四个角的顶点分别为第五顶点、第六顶点、第七顶点和第八顶点,所述第五坐标值、所述第六坐标值、所述第七坐标值和所述第八坐标值分别为所述第五顶点、所述第六顶点、所述第七顶点和所述第八四顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值。
在上述液晶盒制造方法中,在所述步骤B之后,以及在所述步骤C之前,所述方法还包括以下步骤:D、根据所述第一测量结果计算调整值组合,其中,所述调整值组合包括至少一调整值;所述步骤C为:根据所述调整值组合调整所述第一基板和所述第二基板的相对位置,以使所述第一基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值与所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值的第一偏差值处于预定范围内。
在上述液晶盒制造方法中,所述调整值组合包括第一调整值、第二调整值、第三调整值和第四调整值;所述第一调整值用于调整所述第一顶点和所述第五顶点的相对位置,所述第二调整值用于调整所述第二顶点和所述第六顶点的相对位置,所述第三调整值用于调整所述第三顶点和所述第七顶点的相对位置,所述第四调整值用于调整所述第四顶点和所述第八顶点的相对位置。
相对现有技术,由于本发明在将液晶盒的第一基板和第二基板叠加组合为一体后对所述第一基板和所述第二基板的角的顶点的位置进行测量,并根据测量结果对所述第一基板与所述第二基板的相对位置进行调整,因此能实现液晶盒的两基板精准对位。
为让本发明的上述内容能更明显易懂,下文特举优选实施例,并配合所附图式,作详细说明如下。
【附图说明】
图1为本发明的液晶盒制造装置的框图;
图2为本发明的液晶盒制造方法的流程图。
【具体实施方式】
本说明书所使用的词语“实施例”意指实例、示例或例证。此外,本说明书和所附权利要求中所使用的冠词“一”一般地可以被解释为“一个或多个”,除非另外指定或从上下文可以清楚确定单数形式。
术语“第一基板”是指包括第一玻璃基板、扫描线、数据线、薄膜晶体管开关、像素电极,但是不包括彩膜层(Color Filter)的显示器件基板,相对应地,术语“第二基板”是指包括第二玻璃基板、黑色矩阵层(Black Matrix)、彩膜层、共通电极的显示器件基板。
或者,术语“第一基板”是指包括第一玻璃基板、扫描线、数据线、薄膜晶体管开关、像素电极、彩膜层的显示器件基板,相对应地,术语“第二基板”是指包括第二玻璃基板、黑色矩阵层(Black Matrix)、共通电极,但是不包括彩膜层的显示器件基板。
参考图1,图1为本发明的液晶盒制造装置的框图。
本发明的液晶盒制造装置包括制造设备101、测量设备102和调整设备104。
所述制造设备101用于将第一基板和第二基板叠加组合为一体,以形成液晶盒。
所述测量设备102用于分别测量所述第一基板的四个角的顶点在预定二维坐标系中的坐标值以及所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值,并生成第一测量结果,其中,所述预定二维坐标系所对应的平面与所述液晶盒所对应的平面平行。
所述调整设备104用于根据所述第一测量结果调整所述第一基板和所述第二基板的相对位置,以使所述第一基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值与所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值的第一偏差值处于预定范围内。
所述测量设备102用于通过图像分析技术测量所述第一基板的四个角的顶点在预定二维坐标系中的坐标值以及所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值,并生成第一测量结果。具体地,所述测量设备102用于通过拍摄叠加组合为一体的所述第一基板和所述第二基板的图像,并对所述图像进行分析(识别),以对所述第一基板的四个角的顶点和所述第二基板的四个角的顶点进行定位,并获取所述第一基板的四个角的顶点在预定二维坐标系中的坐标值以及所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值,并生成所述第一测量结果。
或者,所述测量设备102用于通过超声波技术测量所述第一基板的四个角的顶点在预定二维坐标系中的坐标值以及所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值,并生成所述第一测量结果。所述测量设备102用于通过向叠加组合为一体的所述第一基板和所述第二基板发送超声波,接收所述超声波的反射声波,根据所述超声波和/或所述反射声波对所述第一基板的四个角的顶点和所述第二基板的四个角的顶点进行定位,并获取所述第一基板的四个角的顶点在预定二维坐标系中的坐标值以及所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值,并生成所述第一测量结果。
所述调整设备104用于根据所述第一测量结果对所述第一基板和/或所述第二基板进行旋转和/或平移,以使所述第一基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值与所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值的第一偏差值处于预定范围内。
具体地,所述调整设备104用于固定所述第一基板、所述第二基板中的一者,然后根据所述第一测量结果对所述第一基板、所述第二基板中的另一者进行旋转和/或平移。
在本发明的液晶盒制造装置中,所述第一测量结果包括第一坐标值组合和第二坐标值组合。
所述第一坐标值组合包括第一坐标值、第二坐标值、第三坐标值和第四坐标值。
所述第二坐标值组合包括第五坐标值、第六坐标值、第七坐标值和第八坐标值。
在本发明的液晶盒制造装置中,所述第一基板的四个角的顶点分别为第一顶点、第二顶点、第三顶点和第四顶点,所述第一坐标值、所述第二坐标值、所述第三坐标值和所述第四坐标值分别为所述第一顶点、所述第二顶点、所述第三顶点和所述第四顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值。
所述第二基板的四个角的顶点分别为第五顶点、第六顶点、第七顶点和第八顶点,所述第五坐标值、所述第六坐标值、所述第七坐标值和所述第八坐标值分别为所述第五顶点、所述第六顶点、所述第七顶点和所述第八四顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值。
在本发明的液晶盒制造装置中,所述装置还包括计算设备103。
所述计算设备103用于根据所述第一测量结果计算调整值组合,其中,所述调整值组合包括至少一调整值。
所述调整设备104用于根据所述调整值组合调整所述第一基板和所述第二基板的相对位置,以使所述第一基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值与所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值的第一偏差值处于预定范围内。
在本发明的液晶盒制造装置中,所述调整值组合包括第一调整值、第二调整值、第三调整值和第四调整值。
所述第一调整值用于调整所述第一顶点和所述第五顶点的相对位置,所述第二调整值用于调整所述第二顶点和所述第六顶点的相对位置,所述第三调整值用于调整所述第三顶点和所述第七顶点的相对位置,所述第四调整值用于调整所述第四顶点和所述第八顶点的相对位置。
所述调整设备104用于根据所述第一调整值、所述第二调整值、所述第三调整值、所述第四调整值依次调整所述第一顶点的位置和/或所述第五顶点的位置、所述第二顶点的位置和/或所述第六顶点的位置、所述第三顶点的位置和/或所述第七顶点的位置、所述第四顶点的位置和/或所述第八顶点的位置。
作为一种改进,本发明的液晶盒制造装置还包括控制设备。
所述控制设备用于根据所述测量设备102所生成的第一测量结果检验所述第一基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值与所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值的第一偏差值是否处于所述预定范围内;
所述计算设备103用于在所述第一偏差值处于所述预定范围外时,根据所述第一测量结果计算所述调整值组合。
所述控制设备还用于在所述调整设备104调整完所述第一基板和所述第二基板的相对位置后,控制所述测量设备102再次测量所述第一基板的四个角的顶点在预定二维坐标系中的坐标值以及所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值;
所述控制设备还用于根据所述测量设备102所生成的第二测量结果检验所述第一基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值与所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值的第二偏差值是否处于所述预定范围内;
所述计算设备103用于在所述第二偏差值处于所述预定范围外时,根据所述第二测量结果计算所述调整值组合。
所述控制设备还用于控制所述调整设备104根据所述调整值组合调整所述第一基板和所述第二基板的相对位置。
参考图2,图2为本发明的液晶盒制造方法的流程图。
本发明的液晶盒制造方法包括以下步骤:
A(步骤201)、所述制造设备101将第一基板和第二基板叠加组合为一体,以形成液晶盒。
B(步骤202)、所述测量设备102分别测量所述第一基板的四个角的顶点在预定二维坐标系中的坐标值以及所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值,并生成第一测量结果,其中,所述预定二维坐标系所对应的平面与所述液晶盒所对应的平面平行。
C(步骤204)、所述调整设备104根据所述第一测量结果调整所述第一基板和所述第二基板的相对位置,以使所述第一基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值与所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值的第一偏差值处于预定范围内。
所述步骤B为:
所述测量设备102通过图像分析技术测量所述第一基板的四个角的顶点在预定二维坐标系中的坐标值以及所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值,并生成第一测量结果。具体地,所述测量设备102通过拍摄叠加组合为一体的所述第一基板和所述第二基板的图像,并对所述图像进行分析(识别),以对所述第一基板的四个角的顶点和所述第二基板的四个角的顶点进行定位,并获取所述第一基板的四个角的顶点在预定二维坐标系中的坐标值以及所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值,并生成所述第一测量结果。
或者,所述测量设备102通过超声波技术测量所述第一基板的四个角的顶点在预定二维坐标系中的坐标值以及所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值,并生成所述第一测量结果。所述测量设备102通过向叠加组合为一体的所述第一基板和所述第二基板发送超声波,接收所述超声波的反射声波,根据所述超声波和/或所述反射声波对所述第一基板的四个角的顶点和所述第二基板的四个角的顶点进行定位,并获取所述第一基板的四个角的顶点在预定二维坐标系中的坐标值以及所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值,并生成所述第一测量结果。
所述步骤C为:
所述调整设备104根据所述第一测量结果对所述第一基板和/或所述第二基板进行旋转和/或平移,以使所述第一基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值与所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值的第一偏差值处于预定范围内。
具体地,所述调整设备104固定所述第一基板、所述第二基板中的一者,然后根据所述第一测量结果对所述第一基板、所述第二基板中的另一者进行旋转和/或平移。
在本发明的液晶盒制造方法中,所述第一测量结果包括第一坐标值组合和第二坐标值组合。
所述第一坐标值组合包括第一坐标值、第二坐标值、第三坐标值和第四坐标值。
所述第二坐标值组合包括第五坐标值、第六坐标值、第七坐标值和第八坐标值。
在本发明的液晶盒制造方法中,所述第一基板的四个角的顶点分别为第一顶点、第二顶点、第三顶点和第四顶点,所述第一坐标值、所述第二坐标值、所述第三坐标值和所述第四坐标值分别为所述第一顶点、所述第二顶点、所述第三顶点和所述第四顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值。
所述第二基板的四个角的顶点分别为第五顶点、第六顶点、第七顶点和第八顶点,所述第五坐标值、所述第六坐标值、所述第七坐标值和所述第八坐标值分别为所述第五顶点、所述第六顶点、所述第七顶点和所述第八四顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值。
在本发明的液晶盒制造方法中,在所述步骤B之后,以及在所述步骤C之前,所述方法还包括以下步骤:
D(步骤203)、所述计算设备103根据所述第一测量结果计算调整值组合,其中,所述调整值组合包括至少一调整值。
所述步骤C为:
所述调整设备104根据所述调整值组合调整所述第一基板和所述第二基板的相对位置,以使所述第一基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值与所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值的第一偏差值处于预定范围内。
在本发明的液晶盒制造方法中,所述调整值组合包括第一调整值、第二调整值、第三调整值和第四调整值。
所述第一调整值用于调整所述第一顶点和所述第五顶点的相对位置,所述第二调整值用于调整所述第二顶点和所述第六顶点的相对位置,所述第三调整值用于调整所述第三顶点和所述第七顶点的相对位置,所述第四调整值用于调整所述第四顶点和所述第八顶点的相对位置。
所述步骤C为:
所述调整设备104根据所述第一调整值、所述第二调整值、所述第三调整值、所述第四调整值依次调整所述第一顶点的位置和/或所述第五顶点的位置、所述第二顶点的位置和/或所述第六顶点的位置、所述第三顶点的位置和/或所述第七顶点的位置、所述第四顶点的位置和/或所述第八顶点的位置。
作为一种改进,所述方法还包括以下步骤:
E、所述控制设备根据所述测量设备102所生成的第一测量结果检验所述第一基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值与所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值的第一偏差值是否处于所述预定范围内;
所述步骤D为:
所述计算设备103在所述第一偏差值处于所述预定范围外时,根据所述第一测量结果计算所述调整值组合。
所述方法还包括以下步骤:
F、所述控制设备在所述调整设备104调整完所述第一基板和所述第二基板的相对位置后,控制所述测量设备102再次测量所述第一基板的四个角的顶点在预定二维坐标系中的坐标值以及所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值;
G、所述控制设备根据所述测量设备102所生成的第二测量结果检验所述第一基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值与所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值的第二偏差值是否处于所述预定范围内;
H、所述计算设备103在所述第二偏差值处于所述预定范围外时,根据所述第二测量结果计算所述调整值组合。
由于本发明在将液晶盒的第一基板和第二基板叠加组合为一体后对所述第一基板和所述第二基板的角的顶点的位置进行测量,并根据测量结果对所述第一基板与所述第二基板的相对位置进行调整,因此能实现液晶盒的两基板精准对位。
综上所述,虽然本发明已以优选实施例揭露如上,但上述优选实施例并非用以限制本发明,本领域的普通技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,均可作各种更动与润饰,因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。
Claims (10)
1.一种液晶盒制造装置,其特征在于,所述装置包括:
制造设备,用于将第一基板和第二基板叠加组合为一体,以形成液晶盒;
测量设备,用于分别测量所述第一基板的四个角的顶点在预定二维坐标系中的坐标值以及所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值,并生成第一测量结果,其中,所述预定二维坐标系所对应的平面与所述液晶盒所对应的平面平行;
调整设备,用于根据所述第一测量结果调整所述第一基板和所述第二基板的相对位置,以使所述第一基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值与所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值的第一偏差值处于预定范围内。
2.根据权利要求1所述的液晶盒制造装置,其特征在于,所述第一测量结果包括第一坐标值组合和第二坐标值组合;
所述第一坐标值组合包括第一坐标值、第二坐标值、第三坐标值和第四坐标值;
所述第二坐标值组合包括第五坐标值、第六坐标值、第七坐标值和第八坐标值。
3.根据权利要求2所述的液晶盒制造装置,其特征在于,所述第一基板的四个角的顶点分别为第一顶点、第二顶点、第三顶点和第四顶点,所述第一坐标值、所述第二坐标值、所述第三坐标值和所述第四坐标值分别为所述第一顶点、所述第二顶点、所述第三顶点和所述第四顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值;
所述第二基板的四个角的顶点分别为第五顶点、第六顶点、第七顶点和第八顶点,所述第五坐标值、所述第六坐标值、所述第七坐标值和所述第八坐标值分别为所述第五顶点、所述第六顶点、所述第七顶点和所述第八四顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值。
4.根据权利要求3所述的液晶盒制造装置,其特征在于,所述装置还包括:
计算设备,用于根据所述第一测量结果计算调整值组合,其中,所述调整值组合包括至少一调整值;
所述调整设备用于根据所述调整值组合调整所述第一基板和所述第二基板的相对位置,以使所述第一基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值与所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值的第一偏差值处于预定范围内。
5.根据权利要求4所述的液晶盒制造装置,其特征在于,所述调整值组合包括第一调整值、第二调整值、第三调整值和第四调整值;
所述第一调整值用于调整所述第一顶点和所述第五顶点的相对位置,所述第二调整值用于调整所述第二顶点和所述第六顶点的相对位置,所述第三调整值用于调整所述第三顶点和所述第七顶点的相对位置,所述第四调整值用于调整所述第四顶点和所述第八顶点的相对位置。
6.一种液晶盒制造方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
A、将第一基板和第二基板叠加组合为一体,以形成液晶盒;
B、分别测量所述第一基板的四个角的顶点在预定二维坐标系中的坐标值以及所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值,并生成第一测量结果,其中,所述预定二维坐标系所对应的平面与所述液晶盒所对应的平面平行;
C、根据所述第一测量结果调整所述第一基板和所述第二基板的相对位置,以使所述第一基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值与所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值的第一偏差值处于预定范围内。
7.根据权利要求6所述的液晶盒制造方法,其特征在于,所述第一测量结果包括第一坐标值组合和第二坐标值组合;
所述第一坐标值组合包括第一坐标值、第二坐标值、第三坐标值和第四坐标值;
所述第二坐标值组合包括第五坐标值、第六坐标值、第七坐标值和第八坐标值。
8.根据权利要求7所述的液晶盒制造方法,其特征在于,所述第一基板的四个角的顶点分别为第一顶点、第二顶点、第三顶点和第四顶点,所述第一坐标值、所述第二坐标值、所述第三坐标值和所述第四坐标值分别为所述第一顶点、所述第二顶点、所述第三顶点和所述第四顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值;
所述第二基板的四个角的顶点分别为第五顶点、第六顶点、第七顶点和第八顶点,所述第五坐标值、所述第六坐标值、所述第七坐标值和所述第八坐标值分别为所述第五顶点、所述第六顶点、所述第七顶点和所述第八四顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值。
9.根据权利要求8所述的液晶盒制造方法,其特征在于,在所述步骤B之后,以及在所述步骤C之前,所述方法还包括以下步骤:
D、根据所述第一测量结果计算调整值组合,其中,所述调整值组合包括至少一调整值;
所述步骤C为:
根据所述调整值组合调整所述第一基板和所述第二基板的相对位置,以使所述第一基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值与所述第二基板的四个角的顶点在所述预定二维坐标系中的坐标值的第一偏差值处于预定范围内。
10.根据权利要求9所述的液晶盒制造方法,其特征在于,所述调整值组合包括第一调整值、第二调整值、第三调整值和第四调整值;
所述第一调整值用于调整所述第一顶点和所述第五顶点的相对位置,所述第二调整值用于调整所述第二顶点和所述第六顶点的相对位置,所述第三调整值用于调整所述第三顶点和所述第七顶点的相对位置,所述第四调整值用于调整所述第四顶点和所述第八顶点的相对位置。
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