CN115343876A - 显示面板的对位方法、显示面板的对位系统及显示面板 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种显示面板的对位方法、显示面板的对位系统及显示面板，包括步骤：将矩形金属框套接在彩膜基板上，与彩膜基板上的氧化铟锡薄膜电性连接，控制触控传感器靠近氧化铟锡薄膜形成电容作为触控检测点；基于触控传感器获取的电信号，计算所述触控检测点相对第一电流接入点的第一相对位置；计算第一相对位置和第二相对位置的相对位置差值；基于相对位置差值转换得到控制信号；根据控制信号控制彩膜基板移动，直至第一相对位置与第二相对位置一致；移动触控传感器的位置，重复测量步骤，计算步骤和控制步骤以完成第二次位置调整；将矩形金属框从所述彩膜基板去除。本申请能够使取消了黑矩阵层的彩膜基板与阵列基板之间的能够准确对位。

Description

显示面板的对位方法、显示面板的对位系统及显示面板

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的对位方法、显示面板的对位系统及显示面板。

背景技术

液晶显示面板通常由彩膜基板与阵列基板进行对组形成，为了简化制程工艺，有一种显示面板，将彩膜基板侧黑矩阵层取消了，并且彩色滤光层等膜层也制作在阵列基板上。

而彩膜基板的黑矩阵层除了进行遮光以外，还有一个重要的作用就是在进行显示面板对组过程中起到对位标记，使彩膜基板和阵列基板之间实现准确对位，而由于目前的工艺中取消了彩膜基板上的黑矩阵层，彩膜基板上没有明显的对位标记，导致在显示面板对盒工艺中，彩膜基板与阵列基板之间对位困难，容易出现对位误差。

因此，如何使取消了黑矩阵层，甚至不设置对位标记的彩膜基板与阵列基板之间的能够准确对位成为本领域亟需解决的问题。

发明内容

本申请的目的是提供一显示面板的对位方法、显示面板的对位系统及显示面板，使取消了黑矩阵层的彩膜基板与阵列基板之间的能够准确对位。

本申请公开了一种显示面板的对位方法，所述显示面板的对位方法包括：固定步骤：固定阵列基板，并检测位于所述阵列基板的四个角落的对位标记的位置，形成四个所述对位标记的坐标信息；准备步骤：将矩形金属框套接在彩膜基板上，与所述彩膜基板上的氧化铟锡薄膜电性连接，并给位于所述矩形金属框四个角落的四个电流接入点提供恒电流；测量步骤：控制触控传感器靠近所述氧化铟锡薄膜形成电容作为触控检测点；基于所述触控传感器获取的电信号，计算所述触控检测点相对第一电流接入点的第一相对位置；计算步骤：基于所述坐标信息计算所述触控检测点与所述第一对位标记的第二相对位置；计算第一相对位置和第二相对位置的相对位置差值；基于相对位置差值转换得到控制信号；控制步骤：根据所述控制信号控制所述彩膜基板移动，直至第一相对位置与第二相对位置一致；对组调整步骤：移动所述触控传感器的位置，重复测量步骤，计算步骤和控制步骤以完成第二次位置调整；去除步骤：将所述矩形金属框从所述彩膜基板去除。

可选的，所述对组调整步骤至少执行两次，且所述对位方法至少基于四个所述对位标记中的三个得到控制信号以调整所述彩膜基板的位置。

可选的，显示面板的对位方法，所述固定步骤包括：固定所述阵列基板，使得所述对位标记的位置固定；以及，通过电荷耦合器件图像传感器获取四个所述对位标记的坐标信息。

可选的，所述固定步骤包括：固定平台固定所述阵列基板，使得所述对位标记的位置固定；以及，通过获取所述固定平台的参数信息或所述显示面板的参数信息，获取四个所述对位标记的坐标信息。

可选的，所述测量步骤包括：将所述触控传感器靠近所述氧化铟锡薄膜，并与所述氧化铟锡薄膜形成电容作为触控检测点；所述触控传感器通过所述触控检测点获取从四个所述电流接入点流入的电流信号；以及基于电流信号的强度与所述触控检测点到四个所述电流接入点的距离成正比，计算所述触控检测点相对第一电流接入点的第二坐标信息。

可选的，所述基于电流信号的强度与触控检测点到四个电流接入点的距离成正比，计算触控检测点相对第一电流接入点的第二坐标信息的步骤中，采用的公式为电流比例运算公式：I_ul/W1＝I.ur/(W-W1)；I_ur/L1＝I_lr/(L-L1)；其中，I_ul为触控检测点检测到从第一电流接入点流入的电流信号大小；I_ur为触控检测点检测到从第二电流接入点流入的电流信号大小；I_lr为触控检测点检测到从第四电流接入点流入的电流信号大小；W为第一电流接入点到第二电流接入点的距离；W1为触控检测点沿第一电流接入点到第二电流接入点方向，与第一电流接入点的距离；L为第二电流接入点到第四电流接入点的距离，L1为触控检测点沿第二电流接入点到第四电流接入点方向，与第二电流接入点的距离。

本申请还公开了一种显示面板的对位系统，用于执行上述的所述显示面板的对位方法，包括：固定平台、移动平台、矩形金属框、触控传感器、传感器控制器、处理器以及控制器，所述固定平台用于固定所述阵列基板；所述移动平台用于固定所述彩膜基板，并将所述彩膜基板移动到预设位置；所述矩形金属框用于套接在所述彩膜基板上，所述矩形金属框与所述氧化铟锡薄膜电性连接，所述矩形金属框的四个角落为电流接入点，用于接入恒电流；所述触控传感器用于检测所述触控检测点和所述电流接入点的第一相对位置形成第一相对位置信息；所述传感器控制器用于控制所述触控传感器移动；所述处理器用于接收第一相对位置信息，和第二相对位置信息，并计算相对位置差值以及基于相对位置差值输出控制信号；以及所述控制器用于接收控制信号，并通过所述移动平台控制所述彩膜基板移动；其中，所述阵列基板的四个角落分别设置有四个对位标记；四个所述电流接入点和四个所述对位标记的位置相匹配。

可选的，所述传感器控制器与所述处理器连接，所述处理器还用于根据所述传感器控制器的控制参数，计算所述触控检测点与所述对位标记的相对位置。

可选的，所述显示面板的对位系统还包括电荷耦合器件图像传感器，所述电荷耦合器件图像传感器用于获取所述对位标记的坐标信息。

本申请还公开了一种显示面板，采用上述的所述显示面板的对位方法进行对组形成，包括：阵列基板和彩膜基板，所述阵列基板的四个角落分别设置有四个对位标记；以及所述彩膜基板与所述阵列基板相对设置，所述彩膜基板远离所述阵列基板的表面设置有氧化铟锡薄膜，所述氧化铟锡薄膜在所述阵列基板上的正投影覆盖四个所述对位标记，且所述彩膜基板不设置对位标记。

本申请通过先行获取四个对位标记的坐标信息；然后通过将矩形金属框，外接恒电流的四个电流接入点，以及触控传感器实现了对位调整，具体的，四个对位标记固定情况下，触控传感器和氧化铟锡薄膜形成的触控检测点与四个对位标记的相对位置是可以计算的；同时，由于矩形金属框在通入电流的情况下，与氧化铟锡薄膜在四个角落处形成电极，当触控传感器靠近氧化铟锡薄膜时，触控传感器与氧化铟锡薄膜之间就会形成电容作为触控检测点，触控传感器从触控检测点吸走了电流，使得触控检测点处的电势降低，在触控检测点的位置就会发生电荷损失引起电流变化，为恢复电荷损失，电荷从四个电流接入点补充进来，利用触控传感器获取电流变化产生的电信号可以计算触控检测点相对第一电流接入点的第一相对位置；如此，基于第一相对位置和第二相对位置就能够计算出触控检测点和四个对位标记的相对位置，与触控检测点和四个电流接入点的相对位置是否一致，不一致时，可以计算第一相对位置和第二相对位置的相对位置差值；基于相对位置差值转换得到输出控制信号；根据控制信号控制彩膜基板移动，直至第一相对位置与第二相对位置一致(其中，默认的，保持触控传感器的位置不动，彩膜基板保持Z轴方向平行，而仅在X轴和Y轴方向移动)；如一次调整不能对齐，则可以移动所述触控传感器的位置，重复测量步骤，计算步骤和控制步骤进行第二次位置调整，多次调整，即可在彩膜基板不存在对位标记的情况下，实现阵列基板和彩膜基板的准确对位，保证显示面板的品质。

附图说明

所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步地理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本申请的实施方式，并与文字描述一起来阐释本申请的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：

图1为本申请显示面板的对位方法的一实施例的流程图；

图2为本申请显示面板的对位方法一实施例中固定步骤的一流程图；

图3为本申请显示面板的对位方法一实施例中固定步骤的另一流程图；

图4为本申请显示面板的对位方法一实施例中测量步骤的部分流程图

图5为本申请显示面板的对位方法一实施例中触控传感器检测的示意图；

图6为本申请显示面板的对位方法一实施例中触控传感器检测的等效电路图；

图7为本申请显示面板的对位方法一实施例中触控检测点到四个电流接入点的距离的示意图：

图8为本申请显示面板的对位系统的一实施例的示意图；

图9为本申请显示面板的一实施例的示意图。

其中，10、对位系统；100、固定平台；200、移动平台；300、矩形金属框；310、电流接入点；311、第一电流接入点；312、第二电流接入点；313、第三电流接入点；314、第四电流接入点；400、触控传感器；410、触控检测点；500、传感器控制器；600、处理器；700、控制器；800、电荷耦合器件图像传感器；900、显示面板；910、彩膜基板；911、氧化铟锡薄膜；920、阵列基板；921、对位标记；923、第一对位标记；924、第二对位标记；925、第三对位标记；926、第四对位标记。

具体实施方式

需要理解的是，这里所使用的术语、公开的具体结构和功能细节，仅仅是为了描述具体实施例，是代表性的，但是本申请可以通过许多替换形式来具体实现，不应被解释成仅受限于这里所阐述的实施例。

在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示相对重要性，或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，除非另有说明，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征；“多个”的含义是两个或两个以上。术语“包括”及其任何变形，意为不排他的包含，可能存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。

另外，“中心”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系的术语，是基于附图所示的方位或相对位置关系描述的，仅是为了便于描述本申请的简化描述，而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，或是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

现有的显示面板，有一部分的显示面板，例如IPS显示面板，由于彩膜基板没有公共电极，而当其中阵列基板的彩膜基板的色阻层转而制备在阵列基板上，甚至间隔单元也形成在阵列基板上时，该彩膜基板的内侧仅需要制备黑矩阵层，而制备黑矩阵层的主要原因是为了非显示区遮光，以及对位标记，而如果在阵列基板一侧已经制备遮光层的话，彩膜基板侧的黑矩阵层就可以仅发挥对位标记的作用，因此，本申请发明人就考虑，如果黑矩阵层仅作为对位标记的话，太浪费了，是否可以取消黑矩阵层，甚至不再在彩膜基板侧设置对位标记，而如此设计将导致显示面板存在对位的困难，本申请即提供了当彩膜基板侧不再设置黑矩阵层，甚至取消对位标记时，仍能够准确对位的方法。下面参考附图1-7和可选的实施例对本申请作详细说明。

图1为本申请显示面板的对位方法的一实施例的流程图，如图1所示，本申请公开了一种显示面板的对位方法，显示面板的对位方法包括：

S1：固定步骤：固定阵列基板920，并检测位于阵列基板920的四个角落的对位标记921的位置，形成四个对位标记921的坐标信息；

S2:准备步骤：将矩形金属框300套接在彩膜基板910上，与彩膜基板910上的氧化铟锡薄膜911电性连接，并给位于矩形金属框300四个角落的四个电流接入点310提供恒电流；

S3:测量步骤：控制触控传感器400靠近氧化铟锡薄膜911形成电容作为触控检测点410；基于触控传感器400获取的电信号，计算触控检测点410相对第一电流接入点311的第一相对位置；

S4:计算步骤：基于坐标信息计算触控检测点410与第一对位标记923的第二相对位置；计算第一相对位置和第二相对位置的相对位置差值；基于相对位置差值转换得到控制信号；

S5:控制步骤：根据控制信号控制彩膜基板910移动，直至第一相对位置与第二相对位置一致；

S6:对组调整步骤：移动触控传感器400的位置，重复测量步骤，计算步骤和控制步骤以完成第二次位置调整；

S7:去除步骤：将矩形金属框300从彩膜基板910去除；其中，阵列基板920的四个角落分别设置有对位标记921；彩膜基板910远离阵列基板920的表面铺设有氧化铟锡薄膜911；四个电流接入点310和四个对位标记921的位置相匹配。

本申请通过先行获取四个对位标记921的坐标信息；然后通过将矩形金属框300，外接恒电流的四个电流接入点310，以及触控传感器400实现了对位调整。

具体的，四个对位标记921固定情况下，触控传感器400和氧化铟锡薄膜911形成的触控检测点410与四个对位标记921的相对位置是可以计算的；同时，由于矩形金属框300在通入电流的情况下，与氧化铟锡薄膜911在四个角落处形成电极，当触控传感器400靠近氧化铟锡薄膜911时，触控传感器400与氧化铟锡薄膜911之间就会形成电容作为触控检测点410，触控传感器400从触控检测点410吸走了电流，使得触控检测点410处的电势降低，在触控检测点410的位置就会发生电荷损失引起电流变化，为恢复电荷损失，电荷从四个电流接入点310补充进来，利用触控传感器400获取电流变化产生的电信号可以计算触控检测点410相对第一电流接入点311的第一相对位置。

如此，基于第一相对位置和第二相对位置就能够计算出触控检测点410和四个对位标记921的相对位置，与触控检测点410和四个电流接入点310的相对位置是否一致，不一致时，可以计算第一相对位置和第二相对位置的相对位置差值；基于相对位置差值转换得到输出控制信号；根据控制信号控制彩膜基板910移动，直至第一相对位置与第二相对位置一致(其中，默认的，保持触控传感器400的位置不动，彩膜基板910保持Z轴方向平行，而仅在X轴和Y轴方向移动)；如一次调整不能对齐，则可以移动所述触控传感器400的位置，重复测量步骤，计算步骤和控制步骤进行第二次位置调整(这里的第二次位置调整，可以是其他三个电流接入点310和三个对位标记921中的任一一个)多次调整，即可在彩膜基板910不存在对位标记921的情况下，实现阵列基板920和彩膜基板910的准确对位，保证显示面板900的品质。

需要说明的是，彩膜基板910上的矩形金属框300与氧化铟锡薄膜911连接的四个电流接入点310，分别为第一电流接入点311、第二电流接入点312、第三电流接入点313以及第四电流接入点314，第一电流接入点311、第二电流接入点312、第三电流接入点313以及第四电流接入点314分别沿矩形金属框300的顺时针方向排布；而阵列基板920上的四个对位标记921分别为第一对位标记923、第二对位标记924、第三对位标记925以及第四对位标记926，第一对位标记923、第二对位标记924、第三对位标记925以及第四对位标记926分别沿阵列基板920的顺时针方向排布。

其中，制备的阵列基板920上的对位标记921和矩形金属框300的电流接入点310的要求是：第一电流接入点311和第二电流接入点312之间的距离等于第一对位标记923和第二对位标记924之间的距离，第三电流接入点313和第四电流接入点314之间的距离等于第三对位标记925和第四对位标记926的距离，第一电流接入点311和第四电流接入点314之间的距离等于第一对位标记923和第四对位标记926之间的距离，第二电流接入点312和第三电流接入点313之间的距离等于第二对位标记924和第三对位标记925之间的距离。

这样设计，可以使得在彩膜基板910和阵列基板920对组准确的情况下，第一电流接入点311与第一对位标记923的位置对应，第二电流接入点312与第二对位标记924的位置对应，第三电流接入点313与第三对位标记925的位置对应，第四电流接入点314与第四对位标记926的位置对应。

本实施例，对组调整步骤仅执行了一次，这是因为在乐观的情况下，仅根据两个触控检测点410获取的控制信号，控制彩膜基板910移动，就能够使彩膜基板910与阵列基板920对齐。

当然，在通常情况下，由于三个点才能确定一个平面，因此，优选的，对组调整步骤至少执行两次，且对组方法至少基于四个对位标记921中的三个得到控制信号以调整彩膜基板910的位置。具体的，在基于第一电流接入点311和第一对位标记923获取控制信号来控制彩膜基板910后，还需要基于其他三个电流接入点310和三个对位标记921中的至少两个来获取控制信号，以完成三点对位，这样的对位方法可以较好的保证彩膜基板910和阵列基板920的准确对组，有效的提高显示面板900的对组精度。当然，对组调整步骤执行越多次，对位的精度越高。

图2为本申请显示面板的对位方法一实施例中固定步骤的一流程图，如图2所示，固定步骤S1包括过程：

S11：固定平台100固定阵列基板920，使得对位标记921的位置固定；以及

S12：通过获取固定平台100的参数信息或显示面板900的参数信息，获取四个对位标记921的坐标信息。

本实施例中，将阵列基板920固定在具有确定位置的固定平台100上，使阵列基板920不会发生位置移动，确保了阵列基板920上的对位标记921的位置是固定的，避免由于阵列基板920发生位移使对位标记921的坐标作为参考坐标出现误差，以至于在彩膜基板910和阵列基板920对位时出现明显误差的情况发生。

而由于固定平台100的参数确定时，一般都是同一种显示面板900；而同一种显示面板900的具体参数信息是已知的，因此，通常情况下，固定好阵列基板920之后，就能够直接获得四个对位坐标的信息，简单方便，提升了对组效率。

当然，现有的制程工艺还是存在一定误差的，因此，为了更准确的检测阵列基板920上的对位标记921的坐标，可以采用如下的方案：

图3为本申请显示面板的对位方法一实施例中固定步骤的另一流程图，如图3所示，显示面板的对位方法中的固定步骤S1包括过程：

S111：固定阵列基板920，使得对位标记921的位置固定；以及

S112：通过电荷耦合器件图像传感器800获取四个对位标记921的坐标信息。

在将彩膜基板910与阵列基板920对组之前，需要先确定阵列基板920上对位标记921的位置，才能对彩膜基板910上触控检测点410的位置进行计算，因此，需要先将阵列基板920进行固定，以保证阵列基板920上的对位标记921具有固定的位置坐标形成对彩膜基板910上触控检测点410的位置参照。

为了更准确的采集到阵列基板920上四个对位标记921的坐标信息，可以采用电荷耦合器件图像传感器800对阵列基板920上的四个对位标记921进行图像采集，并将采集到的图像转为坐标信息，以保证阵列基板920上的对位标记921的坐标信息的准确性，而阵列基板920上的对位标记921的坐标信息越准确，那么测得的触控检测点410的坐标信息以及相对位置的差值就越准确，进一步提升了彩膜基板910调整位置的精度，提升了彩膜基板910与阵列基板920之间的对组精度。

图4为本申请显示面板的对位方法一实施例中测量步骤的部分流程图，如图4所示，测量步骤S3包括过程：

S31：将触控传感器400靠近氧化铟锡薄膜911，并与氧化铟锡薄膜911形成电容作为触控检测点410；

S32：触控传感器400通过触控检测点410获取从四个电流接入点310流入的电流信号；以及

S33：基于电流信号的强度与触控检测点410到四个电流接入点310的距离成正比，计算触控检测点410相对第一电流接入点311的第二坐标信息。

在将阵列基板920的四个对位标记921的坐标确定以后，就需要对彩膜基板910进行位置信息的确认，而确认彩膜基板910的位置信息，需要将触控传感器400靠近彩膜基板910的氧化铟锡薄膜911，由于矩形金属框300在通入电流的情况下，与氧化铟锡薄膜911在四个角落处形成电极，当触控传感器400靠近氧化铟锡薄膜911时，触控传感器400内置的电流与氧化铟锡薄膜911之间就会形成电容作为触控检测点410，触控传感器400从触控检测点410吸走了电流，使得触控检测点410处的电势较低，在触控检测点410的位置就会发生电荷损失引起电流变化，为恢复电荷损失，电荷从四个电流接入点310补充进来，这样就产生了在触控检测点410位置上的电流变化，触控传感器400通过触控检测点410获取从四个电流接入点310的电流信号，并根据电流信号的强度与触控检测点410到四个电流接入点310的距离成正比，计算出触控检测点410相对第一电流接入点311的第二坐标信息。

图5为本申请显示面板的对位方法一实施例中触控传感器检测的示意图；图6为本申请显示面板的对位方法一实施例中触控传感器检测的等效电路图；图7为本申请显示面板的对位方法一实施例中触控检测点到四个电流接入点的距离的示意图，结合图5至图7所示，基于电流信号的强度与触控检测点410到四个电流接入点310的距离成正比，计算触控检测点410相对第一电流接入点311的第二坐标信息的步骤中，采用的公式为电流比例运算公式：I_ul/W1＝I_ur/

(W-W1)；I_ur/L1＝I_lr/(L-L1)；本公式，涉及第一，第二和第四电流接入点，当实际检测过程，涉及到第三电流接入点313的对位时，公式对应调整。

其中，I_ul为触控检测点410检测到从第一电流接入点311流入的电流信号大小；I_ur为触控检测点410检测到从第二电流接入点312流入的电流信号大小；I_lr为触控检测点410检测到从第四电流接入点314流入的电流信号大小；W为第一电流接入点311到第二电流接入点312的距离；W1为触控检测点410沿第一电流接入点311到第二电流接入点312方向，与第一电流接入点311的距离；L为第二电流接入点312到第四电流接入点314的距离，L1为触控检测点410沿第二电流接入点312到第四电流接入点314方向，与第二电流接入点312的距离。通过上述计算方法可以准确的计算出触控检测点410相对第一电流接入点311的第二坐标信息，以方便根据坐标信息计算相对位置差值，调整彩膜基板910与阵列基板920的位置，实现彩膜基板910与阵列基板920之间的准确对组。

需要说明的是，本申请的触控检测点检测相对位置的技术仅做了相对的说明，本申请的检测技术可参考触控显示面板的触控屏检测技术，具体检测坐标的技术属于现有技术，不再过分赘述。

图8为本申请显示面板的对位系统的一实施例的示意图，如图8所示，本申请还公开了一种显示面板的对位系统10，用于执行上述的显示面板的对位方法，包括：固定平台100、移动平台200、矩形金属框300、触控传感器400、传感器控制器500、处理器600以及控制器700，固定平台100用于固定阵列基板920；移动平台200用于固定彩膜基板910，并将彩膜基板910移动到预设位置；矩形金属框300用于套接在彩膜基板910上，矩形金属框300与氧化铟锡薄膜911电性连接，矩形金属框300的四个角落为电流接入点310，用于接入恒电流；触控传感器400用于检测触控检测点410和电流接入点310的第一相对位置形成第一相对位置信息；传感器控制器500用于控制触控传感器400移动；处理器600用于接收第一相对位置信息，和第二相对位置信息，并计算相对位置差值以及基于相对位置差值输出控制信号；控制器700用于接收控制信号，并通过移动平台200控制彩膜基板910移动；其中，阵列基板920的四个角落分别设置有四个对位标记921；四个电流接入点310和四个对位标记921的位置相匹配。

在将彩膜基板910与阵列基板920进行对组之前，首先利用固定平台100将阵列基板920进行固定，使阵列基板920的位置不会发生移动，由于固定平台100以及阵列基板920的位置是确定的，因为可以较容易的得出阵列基板920上四个对位标记921的坐标位置，作为对位参考坐标。

在确定好阵列基板920的位置以后，就可以针对彩膜基板910进行调整，首先在彩膜基板910上套接一个矩形金属框300，使矩形金属框300与氧化铟锡薄膜911进行连接，并利用外接电源接入到矩形金属框300的四个角落；当外接电源对矩形金属框300供电时，电流从矩形金属框300的四个角落流入氧化铟锡薄膜911，使矩形金属框300与氧化铟锡薄膜911实现电性连接。

此时，可以通过传感器控制器500控制触控传感器400移动到靠近彩膜基板910的氧化铟锡薄膜911的位置，利用氧化铟锡薄膜911与触控传感器400之间形成电容，而作为触控检测点410，并且检测触控检测点410和电流接入点310的第一相对位置形成第一相对位置信息，利用处理器600接收第一相对位置信息，和第二相对位置信息，并计算相对位置差值以及基于相对位置差值输出控制信号；控制器700用于接收控制信号，并通过移动平台200控制彩膜基板910移动，使彩膜基板910弥补与阵列基板920的相对位置差值，使彩膜基板910的整个平面与阵列基板920对齐，此时，阵列基板920的四个角落上的四个对位标记921与彩膜基板910上的四个电流接入点310位置相匹配。进一步提升了彩膜基板910与阵列基板920的对组效率，此外不需要在彩膜基板910再额外制作对位标记921，减少了工序，节约了成本。

进一步的，传感器控制器500与处理器600连接，处理器600还用于根据传感器控制器500的控制参数，计算触控检测点410与对位标记921的相对位置。

此外，显示面板的对位系统10还包括电荷耦合器件图像传感器800，电荷耦合器件图像传感器800用于获取对位标记921的坐标信息。

通过高精度的电荷耦合器件图像传感器800采集对位标记921的图像，并将图像转为坐标信息，可以有效的提高获取对位坐标的精度，进一步提升后续对彩膜基板910和阵列基板920对组的精度，避免在彩膜基板910和阵列基板920之间对组时出现较大的开口率，提高对组后显示面板900的品质。

图9为本申请显示面板的一实施例的示意图，如图9所示，本申请还公开了一种显示面板900，采用上述的显示面板的对位方法进行对组形成，包括：阵列基板920和彩膜基板910，阵列基板920的四个角落分别设置有四个对位标记921；彩膜基板910与阵列基板920相对设置，彩膜基板910远离阵列基板920的表面设置有氧化铟锡薄膜911，氧化铟锡薄膜911在阵列基板920上的正投影覆盖四个对位标记921，且彩膜基板910不设置对位标记921。

本申请中的彩膜基板910上并不设置对位标记921，在彩膜基板910和阵列基板920进行对组工艺的过程中，先将阵列基板920固定在确定的位置上，通过先行获取四个对位标记921的坐标信息；然后通过将矩形金属框300，外接恒电流的四个电流接入点310，以及触控传感器400实现了对位调整，具体的，四个对位标记921固定情况下，触控传感器400和氧化铟锡薄膜911形成的触控检测点410与四个对位标记921的相对位置是可以计算的；同时，由于矩形金属框300在通入电流的情况下，与氧化铟锡薄膜911在四个角落处形成电极，当触控传感器400靠近氧化铟锡薄膜911时，触控传感器400与氧化铟锡薄膜911之间就会形成电容作为触控检测点410，触控传感器400从触控检测点410吸走了电流，使得触控检测点410处的电势降低，在触控检测点410的位置就会发生电荷损失引起电流变化，为恢复电荷损失，电荷从四个电流接入点310补充进来，利用触控传感器400获取电流变化产生的电信号可以计算触控检测点410相对第一电流接入点311的第一相对位置；如此，基于第一相对位置和第二相对位置就能够计算出触控检测点410和四个对位标记921的相对位置，与触控检测点410和四个电流接入点310的相对位置是否一致，不一致时，可以计算第一相对位置和第二相对位置的相对位置差值；基于相对位置差值转换得到输出控制信号；根据控制信号控制彩膜基板910移动，直至第一相对位置与第二相对位置一致(其中，默认的，保持触控传感器400的位置不动，彩膜基板910保持Z轴方向平行，而仅在X轴和Y轴方向移动)；如一次调整不能对齐，则可以移动所述触控传感器400的位置，重复测量步骤，计算步骤和控制步骤进行第二次位置调整，多次调整，即可在彩膜基板910不存在对位标记921的情况下，实现阵列基板920和彩膜基板910的准确对位，保证显示面板900的品质。

需要说明的是,本申请的发明构思可以形成非常多的实施例，但是申请文件的篇幅有限，无法一一列出，因而，在不相冲突的前提下,以上描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例，各实施例或技术特征组合之后，将会增强原有的技术效果。

以上内容是结合具体地可选实施方式对本申请所作的进一步详细说明，不能认定本申请的具体实施只局限于这些说明。对于本申请所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本申请的保护范围。

Claims (10)

1.一种显示面板的对位方法，其特征在于，所述显示面板的对位方法包括：

固定步骤：固定阵列基板，并检测位于所述阵列基板的四个角落的对位标记的位置，形成四个所述对位标记的坐标信息；

准备步骤：将矩形金属框套接在彩膜基板上，与所述彩膜基板上的氧化铟锡薄膜电性连接，并给位于所述矩形金属框四个角落的四个电流接入点提供恒电流；

测量步骤：控制触控传感器靠近所述氧化铟锡薄膜形成电容作为触控检测点；基于所述触控传感器获取的电信号，计算所述触控检测点相对第一电流接入点的第一相对位置；

计算步骤：基于所述坐标信息计算所述触控检测点与所述第一对位标记的第二相对位置；计算第一相对位置和第二相对位置的相对位置差值；基于相对位置差值转换得到控制信号；

控制步骤：根据所述控制信号控制所述彩膜基板移动，直至第一相对位置与第二相对位置一致；

对组调整步骤：移动所述触控传感器的位置，重复测量步骤，计算步骤和控制步骤以完成第二次位置调整；

去除步骤：将所述矩形金属框从所述彩膜基板去除。

2.如权利要求1所述的显示面板的对位方法，其特征在于，所述对组调整步骤至少执行两次，且所述对位方法至少基于四个所述对位标记中的三个得到控制信号以调整所述彩膜基板的位置。

3.如权利要求1所述的显示面板的对位方法，其特征在于，显示面板的对位方法，所述固定步骤包括：

固定所述阵列基板，使得所述对位标记的位置固定；以及

通过电荷耦合器件图像传感器获取四个所述对位标记的坐标信息。

4.如权利要求1所述的显示面板的对位方法，其特征在于，所述固定步骤包括：

固定平台固定所述阵列基板，使得所述对位标记的位置固定；以及

通过获取所述固定平台的参数信息或所述显示面板的参数信息，获取四个所述对位标记的坐标信息。

5.如权利要求1所述的显示面板的对位方法，其特征在于，所述测量步骤包括：

将所述触控传感器靠近所述氧化铟锡薄膜，并与所述氧化铟锡薄膜形成电容作为触控检测点；

所述触控传感器通过所述触控检测点获取从四个所述电流接入点流入的电流信号；以及

基于电流信号的强度与所述触控检测点到四个所述电流接入点的距离成正比，计算所述触控检测点相对第一电流接入点的第二坐标信息。

6.如权利要求5所述的显示面板的对位方法，其特征在于，所述基于电流信号的强度与触控检测点到四个所述电流接入点的距离成正比，计算触控检测点相对第一电流接入点的第二坐标信息的步骤中，采用的公式为电流比例运算公式：I_ul/W1＝I.ur/(W-W1)；I_ur/L1＝I_lr/(L-L1)；

其中，I_ul为触控检测点检测到从第一电流接入点流入的电流信号大小；I_ur为触控检测点检测到从第二电流接入点流入的电流信号大小；I_lr为触控检测点检测到从第四电流接入点流入的电流信号大小；W为第一电流接入点到第二电流接入点的距离；W1为触控检测点沿第一电流接入点到第二电流接入点方向，与第一电流接入点的距离；L为第二电流接入点到第四电流接入点的距离，L1为触控检测点沿第二电流接入点到第四电流接入点方向，与第二电流接入点的距离。

7.一种显示面板的对位系统，其特征在于，用于执行如权利要求1至6任意一项所述的显示面板的对位方法，包括：

固定平台，用于固定所述阵列基板；

移动平台，用于固定所述彩膜基板，并将所述彩膜基板移动到预设位置；

矩形金属框，用于套接在所述彩膜基板上，所述矩形金属框与所述氧化铟锡薄膜电性连接，所述矩形金属框的四个角落为电流接入点，用于接入恒电流；

触控传感器，用于检测所述触控检测点和所述电流接入点的第一相对位置形成第一相对位置信息；

传感器控制器，用于控制所述触控传感器移动；

处理器，用于接收第一相对位置信息，和第二相对位置信息，并计算相对位置差值以及基于相对位置差值输出控制信号；以及

控制器，用于接收控制信号，并通过所述移动平台控制所述彩膜基板移动；

其中，所述阵列基板的四个角落分别设置有四个对位标记；四个所述电流接入点和四个所述对位标记的位置相匹配。

8.如权利要求7所述的显示面板的对位系统，其特征在于，所述传感器控制器与所述处理器连接，所述处理器还用于根据所述传感器控制器的控制参数，计算所述触控检测点与所述对位标记的相对位置。

9.如权利要求7所述的显示面板的对位系统，其特征在于，所述显示面板的对位系统还包括电荷耦合器件图像传感器，所述电荷耦合器件图像传感器用于获取所述对位标记的坐标信息。

10.一种显示面板，采用如权利要求1至6任意一项所述的显示面板的对位方法进行对组形成，其特征在于，包括：

阵列基板，所述阵列基板的四个角落分别设置有四个对位标记；以及

彩膜基板，与所述阵列基板相对设置，所述彩膜基板远离所述阵列基板的表面设置有氧化铟锡薄膜，所述氧化铟锡薄膜在所述阵列基板上的正投影覆盖四个所述对位标记，且所述彩膜基板不设置对位标记。

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