CN106526344A - 电子产品测试装置及系统 - Google Patents

Abstract

本公开是关于一种电子产品测试装置及系统。该电子产品测试装置，包含：一载板；一连接装置，包含一第一电连接结构及一第二电连接结构，分别设置于该载板上且位于该载板的相对两端；一转换装置设置于该载板上，包含一转换结构和一驱动结构，该转换结构具有三个有效位置，该驱动结构用于驱动该转换结构进行位置切换。本公开可以实现与不同测试系统的连接的切换。

Description

电子产品测试装置及系统

技术领域

本公开涉及电子产品测试技术领域，尤其涉及一种电子产品测试装置及包括该电子产品测试装置的电子产品测试系统。

背景技术

一般而言，生产厂商依据不同规格及需求制造的各类电子产品，都需要对其进行相关测试以确保产品品质。例如，可以将待检测电子产品连接于电子产品测试装置，电子产品测试装置通过各道测试流程来实现不同的测试工序。不同的测试工序例如可以包括性能测试、老化测试等，根据这些测试工序的结果即可初步判断电子产品在各种环境下的可靠性。

参考如图1中所示，上述电子产品以电源设备为例，其传统测试流程为：产品性能测试—产品老化测试—产品性能测试。前端的产品性能测试内容例如包括低压(90-135Vac)性能测试以及短路测试等，产品老化测试内容例如包括高温测试和重载测试等，后端的产品性能测试内容例如包括过电压保护测试和高压(180-264Vac)性能测试等。

现有技术中，产品性能测试过程中和产品老化测试过程中所需要使用的电子产品测试装置并不相同。即在产品性能测试时，需要一种电子产品测试装置连接至产品性能测试系统；在产品老化测试时，需要另一种电子产品测试装置连接至产品老化测试系统。

因此，图1中前后端的产品性能测试可以在一条产线上进行，而产品老化测试则需要在产线外进行。这样，待测电子产品在前端产品性能测试工序与产品老化测试工序的转换过程中以及产品老化测试工序与后端产品性能测试工序的转换过程中就需要换线；目前的换线一般是采用人工进行干预，需要进行一次或多次拆卸、安装及搬运等。因此整个产品测试流程十分复杂，造成人力和作业时间的浪费，不利于电子产品生产成本的降低、生产周期的缩短以及生产效率的提高。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题，本公开提供一种电子产品测试装置及包括该电子产品测试装置的电子产品测试系统，用于至少在一定程度上克服由于相关技术的限制和缺陷而导致的一个或多个问题。

根据本公开实施例的第一方面，提供一种电子产品测试装置，包含：

一载板；

一连接装置，包含一第一电连接结构及一第二电连接结构，分别设置于该载板上且位于该载板的相对两端；

一转换装置设置于该载板上，包含一转换结构和一驱动结构，该转换结构具有三个有效位置，该驱动结构用于驱动该转换结构进行位置切换；其中：

该驱动结构驱动该转换结构位于一第一有效位置时，该转换结构与该第一电连接结构相连，实现一第一测试系统与待测电子产品的电连接，

该驱动结构驱动该转换结构位于一第二有效位置时，该转换结构与该第二电连接结构相连，实现一第二测试系统与待测电子产品的电连接，

该驱动结构驱动该转换结构位于一第三有效位置时，该电子产品测试装置停止对待测电子产品的检测。

本公开的一种示例性实施例中，还包括：

一限位结构，设置于该载板，用于将该转换结构的运动范围限定在该第一有效位置和该第二有效位置之间。

本公开的一种示例性实施例中，其中：

该第一测试系统包含一第一测试电源及一第一测试设备；

该第二测试系统包含一第二测试电源及一第二测试设备；且

通过该转换结构的位置变换，同时切换输入电源与输出测试结果。

本公开的一种示例性实施例中，其中：

该第一电连接结构以及该第二电连接结构分别为金手指结构，该转换结构具有与所述金手指结构适配的插槽。

本公开的一种示例性实施例中，其中：

该转换结构具有金手指结构，该第一电连接结构以及该第二电连接结构为插槽，分别与所述金手指结构适配。

该第一电连接结构以及该第二电连接结构分别为金手指结构，该转换结构具有与该些金手指结构适配的插槽；或者，

该转换结构具有金手指结构，该第一电连接结构以及该第二电连接结构为插槽，分别与该些金手指结构适配。

本公开的一种示例性实施例中，还包括：

一薄膜电路，形成在该载板上，用于实现该转换结构与该待测电子产品的电性连接。

本公开的一种示例性实施例中，该载板包括相对的第一面和第二面；该载板的第一面用于承载该待测电子产品，该转换装置设于该载板的第二面。

本公开的一种示例性实施例中，该驱动结构与该转换结构相连，该驱动结构为一气动驱动器、一液压驱动器或一电动驱动器。

本公开的一种示例性实施例中，该气动驱动器包含一气缸及一感测器，该感测器用于检测该气缸的位置，以确认该转换结构的位置。

根据本公开实施例的第二方面，提供一种电子产品测试系统，包括：

承载机架，设于一老化室内；

上述任意一种电子产品测试装置，设于该承载机架；

控制系统，与所述电子产品测试装置中的驱动结构连接，用于控制该驱动结构驱动该转换结构进行位置切换；

一产品性能测试系统，用作该第一测试系统；以及

一产品老化测试系统，用作该第二测试系统。

本公开的一种示例性实施例中，该承载机架为多层结构，每一层均设置有该电子产品测试装置。

本公开的一种示例性实施例中，各层电子产品测试装置中的待测电子产品之间均通过金手指结构以及对应的插槽电性连接。

本公开的示例性实施例中，通过设置多个电连接结构以及包含转换结构和驱动结构的转换装置，从而可以实现与不同测试系统的连接的切换。因此，该电子产品测试装置可以适用于不同的测试工序，避免现有技术中由于不同测试工序中电子产品测试装置需求不同而进行的换线，进而可以避免换线所需的人工干预，简化产品测试流程，减少人力和作业时间的浪费，降低生产成本，缩短生产周期以及提高生产效率。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是现有技术中一种电子产品测试的流程示意图。

图2是本公开示例性实施例中一种电子产品测试装置的结构示意图。

图3A是本公开示例性实施例中一种电子产品测试装置在第一有效位置时的结构示意图。

图3B是本公开示例性实施例中一种电子产品测试装置在第二有效位置时的结构示意图。

图3C是本公开示例性实施例中一种电子产品测试装置在第三有效位置时的结构示意图。

图4是本公开示例性实施例中电子产品测试装置的局部结构示意图。

图5是现有技术中电子产品测试装置的线路示意图。

图6是本公开示例性实施例中一种电子产品测试系统的结构示意图。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例性实施例。然而，示例性实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施方式；相反，提供这些实施方式使得本公开更全面和完整，并将示例性实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中，为了清晰，夸大、变形或简化了部件的结构。在图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略它们的详细描述。

此外，所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本公开的实施例的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本公开的技术方案而没有所述特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、结构、材料等。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构、材料或者操作以避免模糊本公开的各方面。

本示例性实施例中首先提供了一种电子产品测试装置，该电子产品测试装置适用于对电源设备等电子产品的测试。参考图2-图3，本示例性实施例中的电子产品测试装置10可以包含一载板111、一连接装置以及一转换装置设置在载板111上。当然，本领域技术人员也可以根据需要增加更多的组件，本示例性实施例中对此不做特殊限定。

载板111可为PCB板，用于承载固定其他组件。本示例性实施例中，该载板111包括相对的第一面和第二面；该载板111的第一面可以用于承载该待测电子产品，该转换装置可以设于该载板111的第二面。连接装置主要包含一第一电连接结构121及一第二电连接结构122，分别设置于该载板111上且位于该载板111的相对两端；例如，第一电连接结构121位于载板111的上端，第二电连接结构122位于载板111的下端。

转换装置设置于该载板111上，其主要包含一转换结构131和一驱动结构132，该转换结构131具有三个有效位置，该驱动结构132用于驱动该转换结构131进行位置切换。该第一电连接结构121用于连接第一类型的测试工序，例如电性连接实现产品性能测试的第一测试系统211。该第二电连接结构122用于连接第二类型的测试工序，例如电性连接实现产品老化测试的第二测试系统212。当待测电子产品置于本示例性实施例中的电子产品测试装置10上时，该转换结构131可以与待测电子产品电性连接，该驱动结构132与转换结构131相连。该驱动结构132可以为一气动驱动器、一液压驱动器或一电动驱动器等具备驱动能力的部件。以气动驱动器为例，其可以包含一气缸及一感测器，该感测器用于检测该气缸的驱动杆的位置，以间接确认该转换结构131的位置。气动驱动器相对于继电器、机械手等驱动部件具有成本低、空间小、维护方便的优点。

如图3A所示，该驱动结构132驱动该转换结构131位于一第一有效位置时，该转换结构131与该第一电连接结构121相连，实现第一测试系统211与待测电子产品的电连接，从而可以进行第一类型的测试工序。如图3B所示，该驱动结构132驱动该转换结构131位于一第二有效位置时，该转换结构131与该第二电连接结构122相连，实现一第二测试系统212与待测电子产品的电连接，从而可以进行第二类型的测试工序。如图3C中所示，该驱动结构132驱动该转换结构131位于一第三有效位置时，该电子产品测试装置10停止对待测电子产品的检测。

本示例性实施例中的电子产品测试装置10，通过设置多个电连接结构以及包含转换结构131和驱动结构132的转换装置，从而可以实现与不同测试系统的连接的切换，保证输入电源和输出测试结果的同时切换。因此，该电子产品测试装置10可以适用于不同的测试工序，避免现有技术中由于不同测试工序中电子产品测试装置需求不同而进行的换线，进而可以避免换线所需的人工干预，简化产品测试流程，减少人力和作业时间的浪费，降低生产成本，缩短生产周期以及提高生产效率。

继续参考图2-图3，该电子产品测试装置10还可以包括一设置于该载板111的限位结构141。限位机构用于将该转换结构131的运动范围限定在该第一有效位置和该第二有效位置之间。图中，转换结构131上设置有一开口，该限位结构141可以为设置于该载板111上的凸块，当该转换结构131运动至该第一有效位置时，该凸块抵在开口的上边缘，限制其进行进一步的运动；当该转换结构131运动至该第二有效位置时，该凸块抵在开口的下边缘，限制其进行进一步的运动。此外，在开口的上下边缘或凸块上还可以设置一缓冲件，以减少转换结构131和第一电连接结构121及一第二电连接结构122之间硬接触造成的损伤。本领域技术人员容易理解的是，上述限位结构141还可以有多种其他实现方式，因此并不以本示例性实施例中所列举的方式为限。

参考图4，第一测试系统211可以包含一第一测试电源2111以及一第一测试设备2112。例如，第一测试电源2111可以为一交流电源，第一测试设备2112可以为一性能测试设备。本示例性实施例中的产品性能测试可以包括低压(90-135Vac)性能测试、短路测试、过电压保护测试以及高压(180-264Vac)性能测试等。第二测试系统212可以包含一第二测试电源以及一第二测试设备。例如，第二测试电源可以为市电电网，第二测试设备可以为一老化测试设备。本示例性实施例中的产品老化测试可以包括高温测试和重载测试等。通过上述转换结构131的位置变换，可以同时选择切换输入何种电源与选择切换输出何种测试设备的测试结果。

如图5中所示，现有技术中产品性能测试以及产品老化测试的装置中需要大量的线路。一方面，大量的线路占用空间大且损耗大；另一方面，线路中进行接线的工作流程为：裁线—剥线—铜线焊接点通过涌焊炉加锡固定—人工焊接，接线过程耗时耗力。

一方面，如图4所示，该转换结构131可以具有金手指结构1311，该第一电连接结构121以及该第二电连接结构122相应的为插槽1211，分别与该些金手指结构1311适配。通过金手指结构1311以及相应的插槽1211可以实现即插即用。当然，在本公开的其他示例性实施例中，也可以是该第一电连接结构121以及该第二电连接结构122分别为金手指结构，该转换结构131具有与该些金手指结构适配的插槽，或者，该转换结构131和该第一电连接结构121以及该第二电连接结构122直接具有其他形式的即插即用接口等，因此并不以本示例性实施例中所列举的方式为限。通过即插即用式的接口，安装维修简单方便，同时不存在线损的问题。

另一方面，本示例性实施例中，可以在载板111上形成薄膜电路构成的集成电路，利用薄膜电路构成的集成电路替代现有技术中的线路实现该转换结构131与该待测电子产品的电性连接，不但结构简单、集成度较高，而且通过合理设置薄膜电路厚度以及宽度可以有效降低线损。

进一步的，本示例性实施例中还提供了一种电子产品测试系统。该电子产品测试系统可以包括至少一承载机架、至少一上述任意一种电子产品测试装置10、至少一控制系统以及两种不同的测试系统。以图6中所示为例，该电子产品测试系统可以包括：两组承载机架30，设于一老化室20内，每一该承载机架30可以为多层结构，每一层均设置有该电子产品测试装置10。例如，64个上述示例性实施例中的电子产品测试装置10均匀设于该承载机架30的各层；一控制系统40，与各该电子产品测试装置10中的该驱动结构132连接，用于控制该驱动结构132驱动该转换结构131进行位置切换；两种不同的测试系统可以包括一用作该第一测试系统211的产品性能测试系统，以及一用作该第二测试系统212的产品老化测试系统。为了实现多个待测电子装置对应一个测试系统进行测试，产品性能测试中各电子产品测试装置10为并联，产品老化测试中各电子产品测试装置10为串联。为了实现上述连接以及控制产品测试中的漏损量，本示例性实施例中，各层电子产品测试装置10中的待测电子产品之间可以通过金手指结构以及对应的插槽等即插即用接口电性连接。

由于采用的电子产品测试装置可以适用于不同的测试工序，因此该电子产品测试系统相应的能够避免现有技术中由于不同测试工序中电子产品测试装置需求不同而进行的换线，进而可以避免换线所需的人工干预。

以上所述仅为本公开的较佳实施例，并不用以限制本公开，凡在本公开的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本公开的保护范围之内。

Claims (12)

1.一种电子产品测试装置，其特征在于，包含：

一载板；

一连接装置，包含一第一电连接结构及一第二电连接结构，分别设置于该载板上且位于该载板的相对两端；

一转换装置设置于该载板上，包含一转换结构和一驱动结构，该转换结构具有三个有效位置，该驱动结构用于驱动该转换结构进行位置切换；其中：

该驱动结构驱动该转换结构位于一第一有效位置时，该转换结构与该第一电连接结构相连，实现一第一测试系统与待测电子产品的电连接，

该驱动结构驱动该转换结构位于一第二有效位置时，该转换结构与该第二电连接结构相连，实现一第二测试系统与待测电子产品的电连接，

该驱动结构驱动该转换结构位于一第三有效位置时，该电子产品测试装置停止对待测电子产品的检测。

2.根据权利要求1所述的电子产品测试装置，其特征在于，还包括：

一限位结构，设置于该载板，用于将该转换结构的运动范围限定在该第一有效位置和该第二有效位置之间。

3.根据权利要求1所述的电子产品测试装置，其特征在于，其中：

该第一测试系统包含一第一测试电源及一第一测试设备；

该第二测试系统包含一第二测试电源及一第二测试设备；且

通过该转换结构的位置变换，同时切换输入电源与输出测试结果。

4.根据权利要求3所述的电子产品测试装置，其特征在于，其中：

该第一电连接结构以及该第二电连接结构分别为金手指结构，该转换结构具有与所述金手指结构适配的插槽。

5.根据权利要求3所述的电子产品测试装置，其特征在于，其中：

该转换结构具有金手指结构，该第一电连接结构以及该第二电连接结构为插槽，分别与所述金手指结构适配。

6.根据权利要求1所述的电子产品测试装置，其特征在于，还包括：

一薄膜电路，形成在该载板上，用于实现该转换结构与该待测电子产品的电性连接。

7.根据权利要求1所述的电子产品测试装置，其特征在于，该载板包括相对的第一面和第二面；该载板的第一面用于承载该待测电子产品，该转换装置设于该载板的第二面。

8.根据权利要求1-7任意一项所述的电子产品测试装置，其特征在于，该驱动结构与该转换结构相连，该驱动结构为一气动驱动器、一液压驱动器或一电动驱动器。

9.根据权利要求8所述的电子产品测试装置，其特征在于，该气动驱动器包含一气缸及一感测器，该感测器用于检测该气缸的位置，以确认该转换结构的位置。

10.一种电子产品测试系统，其特征在于，包括：

承载机架，设于一老化室内；

根据权利要求1-9任意一项所述的电子产品测试装置，设于该承载机架；

控制系统，与所述电子产品测试装置中的驱动结构连接，用于控制该驱动结构驱动该转换结构进行位置切换；

一产品性能测试系统，用作该第一测试系统；以及

一产品老化测试系统，用作该第二测试系统。

11.根据权利要求10所述的电子产品测试系统，其特征在于，该承载机架为多层结构，每一层均设置有该电子产品测试装置。

12.根据权利要求11所述的电子产品测试系统，其特征在于，各层电子产品测试装置中的待测电子产品之间均通过金手指结构以及对应的插槽电性连接。