CN106226270A - 检测图像传感器表面脏污缺陷的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种检测图像传感器表面脏污缺陷的方法。该检测图像传感器表面脏污缺陷的方法包括以下步骤：步骤S10：采用远心平行光源对图像传感器的表面进行照射；步骤S20：开启图像传感器，对图像传感器的表面进行成像操作，并采集图像传感器的表面及形成表面脏污缺陷粒子的图像数据；步骤S30：根据图像数据判断图像传感器的表面是否存在表面脏污缺陷的检测结果。应用本发明的技术方案可以解决现有技术中应用均匀发光的发光光源进行图像传感器表面脏污缺陷检测容易发生漏检情况的问题。

Description

检测图像传感器表面脏污缺陷的方法
技术领域
本发明涉及电子元件检测技术领域，具体地，涉及一种检测图像传感器表面脏污缺陷的方法。
背景技术
在现有技术中，对图像传感器进行表面脏污缺陷检测时，通过均匀发光的发光光源放置于被测图像传感器上方约5厘米处，发光光源发出光线照射在图像传感器表面，以使表面脏污缺陷成像来进行检测。这种方式的缺点是：由于承载脏污缺陷的表面可能是图像传感器的感光面或者是位于图像传感器上方的滤光片的表面，而均匀发光的发光光源发出的光线经背光漫反射之后对形成表面脏污的粒子造成边界效应，使得所得到粒子图像的边缘极其模糊，容易发生漏检情况。
发明内容
本发明的目的在于提供一种检测图像传感器表面脏污缺陷的方法，旨在解决现有技术中应用均匀发光的发光光源进行图像传感器表面脏污缺陷检测容易发生漏检情况的问题。
为解决上述技术问题，本发明的技术方案是：提供一种检测图像传感器表面脏污缺陷的方法，包括以下步骤：
步骤S10：采用远心平行光源对图像传感器的表面进行照射；
步骤S20：开启图像传感器，对图像传感器的表面进行成像操作，并采集图像传感器的表面及形成表面脏污缺陷粒子的图像数据；
步骤S30：根据图像数据判断图像传感器的表面是否存在表面脏污缺陷的检测结果。
可选地，在采集图像数据之前，步骤S01：在检测处理模块中预先设置图像处理算法；在采集完成图像数据之后及在根据图像数据判断得到图像传感器的表面是否存在表面脏污缺陷的检测结果之前，步骤S02：检测处理模块通过图像处理算法分析图像数据以得到分析结果。
可选地，在根据图像数据判断图像传感器的表面是否存在表面脏污缺陷的过程中，检测处理模块将分析结果与图像处理算法的无表面脏污缺陷的算法数据进行比对，以得到图像传感器的表面是否存在表面脏污缺陷的检测结果。
可选地，在采用远心平行光源对图像传感器的表面进行照射的过程中，控制远心平行光源所发出的光垂直照射图像传感器的表面。
本发明中，应用本发明的检测方法来对图像传感器的表面进行脏污检测，使得图像传感器的表面上的脏污缺陷粒子的图像成像对比明显，从而更容易地判断出表面脏污的情况，减少对于脏污缺陷的漏检情况，以达到在使用图像传感器进行成像工作前，可以确保图像传感器的表面洁净度的目的。
附图说明
图1是本发明的检测图像传感器表面脏污缺陷的方法的实施例的流程框图；
图2是本发明的用于检测图像传感器表面脏污缺陷的设备系统的结构示意图；
图3是本发明采集所得到的图像传感器的表面的成像效果视图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者间接连接至该另一个元件上。
还需要说明的是，本实施例中的左、右、上、下等方位用语，仅是互为相对概念或是以产品的正常使用状态为参考的，而不应该认为是具有限制性的。
如图2所示，本发明中用于进行检测图像传感器表面脏污缺陷的检测系统中，待检测的图像传感器组件包括微型摄像头模组PCB件2、微型摄像头模组连接器3、微型摄像头模组图像传感器4、图像传感器感光面5、微型摄像头模组滤光片6、滤光片7和脏污缺陷粒子8，以上零部件连接组合形成图像成像设备的图像传感器部分。一般地，待读取的图像物件放置在滤光片7之上，然后通电启动图像成像设备进行成像操作，通过微型摄像头模组图像传感器4进行成像扫描感应，再通过微型摄像头模组PCB件2和微型摄像头模组连接器3进行传递数据。如果滤光片7的表面以及图像传感器感光面5存在脏污缺陷，则会影响对目标成像物的成像精度。因此，需要对图像传感器表面进行进行脏污缺陷的检测，并且检测结果来对图像传感器的表面进行清洁。
如图1和图2所示，本发明的检测图像传感器表面脏污缺陷的方法包括以下步骤：
步骤S10：采用远心平行光源1对图像传感器4的表面进行照射；
步骤S20：开启图像传感器4，对图像传感器4的表面进行成像操作，并采集图像传感器4的表面及形成表面脏污缺陷粒子8的图像数据；
步骤S30：根据图像数据判断图像传感器4的表面是否存在表面脏污缺陷的检测结果。
本方法通过远心平行光源1来照明图像传感器4的表面，提高了图像传感器4的表面上的脏污缺陷粒子8的轮廓对比度，从而获得更加清晰的图像传感器4的表面上的图像，然后根据采集获得的图像传感器4的表面的图像来判断图像传感器4的表面的脏污缺陷的情况。应用本发明的检测方法来对图像传感器4的表面进行脏污检测，使得图像传感器4的表面上的脏污缺陷粒子8的图像成像对比明显，从而更容易地判断出表面脏污的情况，减少对于脏污缺陷的漏检情况，以达到在使用图像传感器4进行成像工作前，可以确保图像传感器4的表面洁净度的目的。
在对图像传感器4的表面进行脏污缺陷的检测工作之前，工作人员首先需要完成图像处理算法的编写工作，在编写图像处理算法的过程中，将明确的图像传感器4的表面符合洁净度要求的数据编写成图像处理数据中的无表面脏污缺陷的算法数据，然后，工作人员进行步骤S01操作，在检测处理模块中预先设置图像处理算法，再将远心平行光源1打开并照射向图像传感器4的表面，并且打开图像传感器4的电源进行获取图像传感器4的表面的图像成像数据，如图3所示，其实远心平行光源1照射图像传感器4后开启图像传感器4所得到成像效果图，此时，图像上形成无脏污缺陷区域为高亮度，有缺陷区域为灰度。在采集完成图像数据之后及在根据图像数据判断得到图像传感器的表面是否存在表面脏污缺陷的检测结果之前，检测处理模块自动进行步骤S02：检测处理模块通过图像处理算法分析图像数据以得到分析结果。
优选地，工作人员控制远心平行光源1所发出的光垂直照射图像传感器的表面，因远心平行光源1与图像传感器4的表面之间的背光漫射将光线反射在了物体(即脏污缺陷粒子8)的侧面，往往使得物体看起来比实物小，而远心平行光源1的平行光线可以大幅减少这种反射，因而降低边缘效应，进一步提高此时图像传感器4对脏污缺陷粒子8的成像效果，使得对图像传感器4的表面的脏污缺陷情况的判断更加简易、准确，从而避免了发生漏检脏污缺陷的情况。
在采集得到图像传感器4的表面上的有关脏污缺陷检测的图像数据之后，检测处理模块将分析结果与图像处理算法的无表面脏污缺陷的算法数据进行比对，然后得到图像传感器的表面是否存在表面脏污缺陷的检测结果。在进行比对图像数据时，利用检测处理模块，即计算机结合图像处理算法的处理微机，对图像数据与之前在检测处理模块中针对符合要求的图像传感器4的算法数据进行比对，从而达到快速比对、快速得到所检测的脏污缺陷检测结果。
以上仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种检测图像传感器表面脏污缺陷的方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤S10：采用远心平行光源对图像传感器的表面进行照射；
步骤S20：开启所述图像传感器，对所述图像传感器的表面进行成像操作，并采集所述图像传感器的表面及形成表面脏污缺陷粒子的图像数据；
步骤S30：根据所述图像数据判断所述图像传感器的表面是否存在表面脏污缺陷的检测结果。
2.如权利要求1所述的检测图像传感器表面脏污缺陷的方法，其特征在于，在采集所述图像数据之前，步骤S01：在检测处理模块中预先设置图像处理算法；在采集完成所述图像数据之后及在根据所述图像数据判断得到所述图像传感器的表面是否存在表面脏污缺陷的检测结果之前，步骤S02：所述检测处理模块通过所述图像处理算法分析所述图像数据以得到分析结果。
3.如权利要求2所述的检测图像传感器表面脏污缺陷的方法，其特征在于，在根据所述图像数据判断所述图像传感器的表面是否存在表面脏污缺陷的过程中，所述检测处理模块将所述分析结果与所述图像处理算法的无表面脏污缺陷的算法数据进行比对，以得到所述图像传感器的表面是否存在表面脏污缺陷的检测结果。
4.如权利要求1至3中任一项所述的检测图像传感器表面脏污缺陷的方法，其特征在于，在采用远心平行光源对图像传感器的表面进行照射的过程中，控制所述远心平行光源所发出的光垂直照射所述图像传感器的表面。
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