CN106011784A - 一种利用微波等离子体化学气相沉积制备α相碳化钼晶体的方法 - Google Patents

一种利用微波等离子体化学气相沉积制备α相碳化钼晶体的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN106011784A
CN106011784A CN201610389645.8A CN201610389645A CN106011784A CN 106011784 A CN106011784 A CN 106011784A CN 201610389645 A CN201610389645 A CN 201610389645A CN 106011784 A CN106011784 A CN 106011784A
Authority
CN
China
Prior art keywords
cavity
molybdenum carbide
microwave
carbide crystal
phase molybdenum
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201610389645.8A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106011784B (zh
Inventor
赵洪阳
马志斌
蔡康
高攀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shandong Xingqiang Chemical Industry Technology Research Institute Co Ltd
Original Assignee
Wuhan Institute of Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wuhan Institute of Technology filed Critical Wuhan Institute of Technology
Priority to CN201610389645.8A priority Critical patent/CN106011784B/zh
Publication of CN106011784A publication Critical patent/CN106011784A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106011784B publication Critical patent/CN106011784B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/22Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
    • C23C16/30Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
    • C23C16/32Carbides
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/50Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges
    • C23C16/511Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges using microwave discharges

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

本发明属于二维晶体制备领域。一种利用微波等离子体化学气相沉积制备α相碳化钼晶体的方法,其特征在于包括如下步骤:1)将清洗后的硅片置于制备相碳化钼晶体的装置的腔体中,对腔体抽真空;2)向腔体内通入氢气,调节微波功率、氢气流量和气压,腔体内部气体吸收微波能量激发产生等离子体;3)使等离子体包裹硅片并对硅片加热;调节真空微调阀,使腔内气压保持在一定范围之内;4)待等离子体状态稳定,依次通入甲烷、六氟化钼,调节气体流量和配比;反应结束后,关闭微波源,待腔体冷却,取出样品,得到α相碳化钼晶体。该方法制备的碳化钼晶体的纯度较高,有利于研究其电学、超导等特性,所制得的样品表现出低温超导特性。

Description

一种利用微波等离子体化学气相沉积制备α相碳化钼晶体的方法
技术领域
本发明属于二维晶体制备领域,具体涉及一种微波等离子体化学气相沉积装置制备α相碳化钼晶体的方法。
背景技术
随着石墨烯和类石墨烯二维材料的发现,二维材料因其独特的结构和复合形式,所表现出优异的性质而备受关注,当材料减薄到一定厚度时,会出现电子结构的变化,导致能带隙发生改变而改善电子跃迁方式。二维材料在电子光学器件,催化,电化学,光电探测等方面具有广泛的应用。过渡族金属碳化物(TMCs),如碳化钼(Mo2C)是一类具有特殊性质和应用的材料,在晶体结构中,金属键和共价键的结合使材料表现出高强度,高化学稳定性,耐酸碱腐蚀,较高的电导和热导率等优异性质。近年来,对于碳化钼的研究已从制备工艺到复杂电子结构的讨论。
据报道,碳化钼晶体在10K的温度下会出现超导转变,然而相关的研究结果不尽相同,其主要原因在于,碳化钼晶体的制备方法存在一定缺陷。传统的碳化钼晶体制备方法,大多数使用甲烷和氢气的混合气体还原钼的氧化物,产物为粉末状的碳化钼晶体,由于反应时间和反应程度难以把握,导致产物中含有石墨和无定性碳。然而,含碳化合物等杂质组分的存在将大大影响碳化钼的性能。虽然,使用不同的碳源物质,如二甲醚,丁烷等,可以有效减少碳化钼中的含碳杂质组分,但碳化钼和含碳组分的团聚,将影响碳化钼的比表面积和催化性能。因此,需要提供一种制备高质量碳化钼晶体的方法。
发明内容
本发明的目的在于提供一种利用微波等离子体化学气相沉积制备α相碳化钼晶体的方法,该方法制备的碳化钼晶体的纯度较高,有利于研究其电学、超导等特性。
为实现上述目的,本发明所采取的技术方案是:一种利用微波等离子体化学气相沉积制备α相碳化钼晶体的方法,其特征在于包括如下步骤:
1)将清洗后的硅片置于制备相碳化钼晶体的装置的腔体中,对腔体抽真空(至真空度为10-100Pa);
2)向腔体内通入氢气,调节微波功率、氢气流量和气压(氢气的气压),腔体内部气体吸收微波能量激发产生等离子体;
3)调节基片台高度,使等离子体包裹硅片并对硅片加热,温度由微波能量产生的热量决定;调节真空微调阀(真空微调阀设在真空管道上),使腔内气压保持在一定范围之内;
4)待等离子体状态稳定,依次通入甲烷、六氟化钼,调节气体流量和配比(甲烷、六氟化钼的体积配比为CH4:MoF6=1:2);反应结束后,关闭微波源,待腔体冷却,取出样品,得到α相碳化钼晶体。
所述步骤1)中,使用乙醇、丙酮溶液对硅片进行超声清洗。
所述步骤1)中,制备相碳化钼晶体的装置,包括基片台1、金属法兰2、腔体3;基片台1位于腔体3内,基片台1安装在升降机构上,腔体3上设有进气口4、真空泵抽气口5,真空泵抽气口5由真空管道与真空泵相连,真空管道上设有真空微调阀;腔体3的中部设有石英玻璃管7,腔体3上固定有上下金属法兰,上金属法兰位于石英玻璃管7的上方,下金属法兰位于石英玻璃管7的下方,腔体3由上下金属法兰2与压缩矩形波导相连,压缩矩形波导6与微波发生器相连。
所述步骤2)中,微波功率为800-1200W,氢气流量为100-400sccm,工作气压为10kPa。
所述步骤3)中,腔内气压为10-25kPa。
所述步骤4)中,甲烷的流量0.5-2.0sccm,六氟化钼的流量1-4sccm,反应时间6-24h。
本发明首次采用微波等离子体化学气相沉积法(MPCVD),利用甲烷/氢气混合气体还原六氟化钼,从而制备高质量碳化钼晶体(本发明首次利用六氟化钼作为钼源,通过微波激发反应气体产生等离子体,合成碳化钼晶体,在硅片上生长碳化钼晶体)。微波等离子体化学气相沉积法使用高频微波作为能量源,使得气相组分能够获得较高能量,从而增加气相组分离化几率。该方法具有微波功率可调,沉积气压较低,源物质摄入量便于控制等优点。
与现有技术相比,本发明的优点在于:采用微波等离子体对气相组分进行还原,由于微波能量密度大,功率高,使气体较容易离解,且基团具有较高活性。此外,等离子体覆盖在基片上方,给基片提供了足够的温度,等离子体的自加热模式,促进了基团在硅片表面的沉积。通过该方法制备的碳化钼为纯相的α相Mo2C,α相碳化钼晶体的质量纯度≧95%,该样品有利于电学、光学等性能的测试和表征,所制得的样品表现出低温超导特性,在温度为6.83K出现了超导转变。
附图说明
图1为本发明制备的碳化钼晶体的XRD谱图。
图2为本发明制备的碳化钼晶体的低温超导磁性测试曲线图。
图3为本发明制备相碳化钼晶体的装置的结构示意图。
图3中:1-基片台;2-金属法兰;3-腔体;4-进气口;5-真空泵抽气口;6-压缩矩形波导;7-石英玻璃管。
具体实施方式
下面结合附图和实施例进一步对本发明进行说明,但本发明的内容不仅仅局限于下面的实施例。
下述实施例中,如图3所示,所述步骤1)中,制备相碳化钼晶体的装置,包括基片台1、金属法兰2、腔体3;基片台1位于腔体3内,基片台1安装在升降机构上(基片台1可升降),腔体3上设有进气口4、真空泵抽气口5,氢气、甲烷、六氟化钼由进气口4导入,真空泵抽气口5由真空管道与真空泵相连(用于抽腔体3内的空气至真空),真空管道上设有真空微调阀,腔体3的中部(接近硅片的位置)设有石英玻璃管7(腔体3为圆形,腔体3的中部为石英玻璃管7),腔体3上固定有上下金属法兰,上金属法兰位于石英玻璃管7的上方,下金属法兰位于石英玻璃管7的下方,腔体3由上下金属法兰2与压缩矩形波导相连(上下金属法兰用橡胶圈与石英玻璃管7进行密封),压缩矩形波导6与微波发生器相连(微波发生器产生的微波能量由压缩矩形波导6经石英玻璃管7进入腔体3内)。2.45GHz微波通过矩形波导进行传输并在腔体内耦合,气体进入腔体后,吸收微波能量激发产生等离子体。
实施例1
(1)依次使用乙醇、丙酮溶液对硅基片进行超声清洗,去除表面杂质。随后,将硅片置于基片台上方中心位置,密封金属法兰,对腔体抽真空。
(2)向腔体内通入氢气,调节微波功率,氢气流量和气压,气体吸收微波能量激发产生等离子体,使用的工艺参数为:氢气流量200sccm,工作气压为10kPa,微波功率800W。
(3)调节基片台高度,使等离子体包裹硅片并对硅基片加热(温度为600℃-800℃,温度由微波能量产生的热量决定)。调节真空微调阀,使腔内气压保持在约11kPa。
(4)待等离子体状态稳定,依次通入甲烷、六氟化钼,调节气体流量和配比(甲烷、六氟化钼的体积配比为CH4:MoF6=1:2)。反应结束后,关闭微波源,待腔体冷却,取出样品,实验中使用的工艺参数分别为:甲烷1.0sccm,六氟化钼2.0sccm,沉积时间8h。
图1为本实施例制备的碳化钼晶体的XRD谱图,其物质的相结构通过与标准X射线衍射数据JCPDS 35-0787对比,证实为α相碳化钼晶体。α相碳化钼晶体的质量纯度为96%。
利用振动样品磁强计VSM,测试了样品的超导特性,在温度为6.83K处出现了超导转变,对样品施加10Oe磁场实现了超导态向正常态的转变。证实了该方法所制得的样品具备一定的超导特性。
实施例2
(1)依次使用乙醇、丙酮溶液对硅基片进行超声清洗,去除表面杂质。随后,将硅片置于基片台上方中心位置,密封金属法兰,对腔体抽真空。
(2)向腔体内通入氢气,调节微波功率,氢气流量和气压,气体吸收微波能量激发产生等离子体,使用的工艺参数为:氢气流量300sccm,工作气压为10kPa,微波功率1000W。
(3)调节基片台高度,使等离子体包裹硅片并对硅基片加热(温度为600℃-800℃)。调节真空微调阀,使腔内气压保持在约15kPa。
(4)待等离子体状态稳定,依次通入甲烷、六氟化钼,调节气体流量和配比(甲烷、六氟化钼的体积配比为CH4:MoF6=1:2)。反应结束后,关闭微波源,待腔体冷却,取出样品,实验中使用的工艺参数分别为:甲烷1.2sccm,六氟化钼2.4sccm,沉积时间10h。相碳化钼晶体的质量纯度为96%。
图2为本实施例制备的碳化钼晶体的低温超导磁性测试曲线,在6.83K附近出现了超导转变,与相关报道中的7K出现超导转变接近。说明通过本方法制备的碳化钼晶体具备一定的超导特性。
实施例3
(1)依次使用乙醇、丙酮溶液对硅基片进行超声清洗,去除表面杂质。随后,将硅片置于基片台上方中心位置,密封金属法兰,对腔体抽真空。
(2)向腔体内通入氢气,调节微波功率,氢气流量和气压,气体吸收微波能量激发产生等离子体,使用的工艺参数为:氢气流量300sccm,工作气压为10kPa,微波功率1200W。
(3)调节基片台高度,使等离子体包裹硅片并对硅基片加热(温度为600℃-800℃)。调节真空微调阀,使腔内气压保持在约20kPa。
(4)待等离子体状态稳定,依次通入甲烷、六氟化钼,调节气体流量和配比(甲烷、六氟化钼的体积配比为CH4:MoF6=1:2)。反应结束后,关闭微波源,待腔体冷却,取出样品,实验中使用的工艺参数分别为:甲烷1.5sccm,六氟化钼3.0sccm,沉积时间12h。相碳化钼晶体的质量纯度为97%。
利用振动样品磁强计VSM,测试了样品的超导特性,在温度为6.83K处出现了超导转变,对样品施加10Oe磁场实现了超导态向正常态的转变。证实了该方法所制得的样品具备一定的超导特性,与文献中报道的7K接近。
实施例4
(1)依次使用乙醇、丙酮溶液对硅基片进行超声清洗,去除表面杂质。随后,将硅片置于基片台上方中心位置,密封金属法兰,对腔体抽真空。
(2)向腔体内通入氢气,调节微波功率,氢气流量和气压,气体吸收微波能量激发产生等离子体,使用的工艺参数为:氢气流量100sccm,工作气压为10kPa,微波功率800W。
(3)调节基片台高度,使等离子体包裹硅片并对硅基片加热(温度为600℃-800℃)。调节真空微调阀,使腔内气压保持在约10kPa。
(4)待等离子体状态稳定,依次通入甲烷、六氟化钼,调节气体流量和配比(甲烷、六氟化钼的体积配比为CH4:MoF6=1:2)。反应结束后,关闭微波源,待腔体冷却,取出样品,实验中使用的工艺参数分别为:甲烷0.5sccm,六氟化钼1.0sccm,沉积时间6h。相碳化钼晶体的质量纯度为95%。
利用振动样品磁强计VSM,测试了样品的超导特性,在温度为6.82K处出现了超导转变,对样品施加10Oe磁场实现了超导态向正常态的转变。证实了该方法所制得的样品具备一定的超导特性,与文献中报道的7K接近。
实施例5
(1)依次使用乙醇、丙酮溶液对硅基片进行超声清洗,去除表面杂质。随后,将硅片置于基片台上方中心位置,密封金属法兰,对腔体抽真空。
(2)向腔体内通入氢气,调节微波功率,氢气流量和气压,气体吸收微波能量激发产生等离子体,使用的工艺参数为:氢气流量400sccm,工作气压为10kPa,微波功率1200W。
(3)调节基片台高度,使等离子体包裹硅片并对硅基片加热(温度为600℃-800℃)。调节真空微调阀,使腔内气压保持在约25kPa。
(4)待等离子体状态稳定,依次通入甲烷、六氟化钼,调节气体流量和配比(甲烷、六氟化钼的体积配比为CH4:MoF6=1:2)。反应结束后,关闭微波源,待腔体冷却,取出样品,实验中使用的工艺参数分别为:甲烷2.0sccm,六氟化钼4.0sccm,沉积时间25h。相碳化钼晶体的质量纯度为96%。
利用振动样品磁强计VSM,测试了样品的超导特性,在温度为6.82K处出现了超导转变,对样品施加10Oe磁场实现了超导态向正常态的转变。证实了该方法所制得的样品具备一定的超导特性,与文献中报道的7K接近。

Claims (6)

1.一种利用微波等离子体化学气相沉积制备α相碳化钼晶体的方法,其特征在于包括如下步骤:
1)将清洗后的硅片置于制备相碳化钼晶体的装置的腔体中,对腔体抽真空至真空度为10-100Pa;
2)向腔体内通入氢气,调节微波功率、氢气流量和气压,腔体内部气体吸收微波能量激发产生等离子体;
3)调节基片台高度,使等离子体包裹硅片并对硅片加热;使腔内气压保持在一定范围之内;
4)待等离子体状态稳定,依次通入甲烷、六氟化钼,调节气体流量和配比;反应结束后,关闭微波源,待腔体冷却,取出样品,得到α相碳化钼晶体。
2.根据权利要求1所述的一种利用微波等离子体化学气相沉积制备α相碳化钼晶体的方法,其特征在于:所述步骤1)中,使用乙醇、丙酮溶液对硅片进行超声清洗。
3.根据权利要求1所述的一种利用微波等离子体化学气相沉积制备α相碳化钼晶体的方法,其特征在于:所述步骤2)中,微波功率为800-1200W,氢气流量为100-400sccm,工作气压为10kPa。
4.根据权利要求1所述的一种利用微波等离子体化学气相沉积制备α相碳化钼晶体的方法,其特征在于:所述步骤3)中,腔内气压为10kPa-25kPa。
5.根据权利要求1所述的一种利用微波等离子体化学气相沉积制备α相碳化钼晶体的方法,其特征在于:所述步骤4)中,甲烷、六氟化钼的体积配比为CH4:MoF6=1:2,甲烷的流量0.5-2.0sccm,六氟化钼的流量1-4sccm,反应时间6-24h。
6.根据权利要求1所述的一种利用微波等离子体化学气相沉积制备α相碳化钼晶体的方法,其特征在于:所述步骤1)中,制备相碳化钼晶体的装置,包括基片台(1)、金属法兰(2)、腔体(3);基片台(1)位于腔体(3)内,基片台(1)安装在升降机构上,腔体(3)上设有进气口(4)、真空泵抽气口(5),真空泵抽气口(5)由真空管道与真空泵相连,真空管道上设有真空微调阀;腔体(3)的中部设有石英玻璃管(7),腔体(3)上固定有上下金属法兰,上金属法兰位于石英玻璃管(7)的上方,下金属法兰位于石英玻璃管(7)的下方,腔体(3)由上下金属法兰(2)与压缩矩形波导相连,压缩矩形波导(6)与微波发生器相连。
CN201610389645.8A 2016-06-03 2016-06-03 一种利用微波等离子体化学气相沉积制备α相碳化钼晶体的方法 Expired - Fee Related CN106011784B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610389645.8A CN106011784B (zh) 2016-06-03 2016-06-03 一种利用微波等离子体化学气相沉积制备α相碳化钼晶体的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610389645.8A CN106011784B (zh) 2016-06-03 2016-06-03 一种利用微波等离子体化学气相沉积制备α相碳化钼晶体的方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106011784A true CN106011784A (zh) 2016-10-12
CN106011784B CN106011784B (zh) 2018-07-17

Family

ID=57090491

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610389645.8A Expired - Fee Related CN106011784B (zh) 2016-06-03 2016-06-03 一种利用微波等离子体化学气相沉积制备α相碳化钼晶体的方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106011784B (zh)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107338476A (zh) * 2017-07-31 2017-11-10 武汉工程大学 一种在mpcvd制备碳化钼晶体时利用在直流电弧引入钼源的方法
CN107352543A (zh) * 2017-07-13 2017-11-17 东莞理工学院 一种碳化钼微纳米粉体的制备方法
CN107937980A (zh) * 2017-12-01 2018-04-20 武汉工程大学 一种利用双基片台mpcvd反应装置将人体头发作为碳源生长出单晶金刚石的方法
CN111905784A (zh) * 2020-08-06 2020-11-10 常熟理工学院 一种制备碳化钼催化材料的方法
CN112062606A (zh) * 2020-07-23 2020-12-11 李新中 一种氢气分离提纯膜及其制备方法和应用

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1540718A (en) * 1975-03-21 1979-02-14 Fulmer Res Inst Ltd Hard coating and its method of formation

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1540718A (en) * 1975-03-21 1979-02-14 Fulmer Res Inst Ltd Hard coating and its method of formation

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
GIANFRANCO DI GIUSEPPE等: "Thin film deposition of Mo and Mo-compounds by PECVD from Mo(CO)6 and MoF6 as precursors: characterization of films and thermodynamic analysis", 《JOURNAL OF ELECTROANALYTICAL CHEMISTRY》 *
靳广洲 等: "碳化钼的制备与标准", 《无机材料学报》 *

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107352543A (zh) * 2017-07-13 2017-11-17 东莞理工学院 一种碳化钼微纳米粉体的制备方法
CN107338476A (zh) * 2017-07-31 2017-11-10 武汉工程大学 一种在mpcvd制备碳化钼晶体时利用在直流电弧引入钼源的方法
CN107937980A (zh) * 2017-12-01 2018-04-20 武汉工程大学 一种利用双基片台mpcvd反应装置将人体头发作为碳源生长出单晶金刚石的方法
CN112062606A (zh) * 2020-07-23 2020-12-11 李新中 一种氢气分离提纯膜及其制备方法和应用
CN111905784A (zh) * 2020-08-06 2020-11-10 常熟理工学院 一种制备碳化钼催化材料的方法
CN111905784B (zh) * 2020-08-06 2022-11-25 常熟理工学院 一种制备碳化钼催化材料的方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN106011784B (zh) 2018-07-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106011784A (zh) 一种利用微波等离子体化学气相沉积制备α相碳化钼晶体的方法
US8470400B2 (en) Graphene synthesis by chemical vapor deposition
CN102102220B (zh) 金刚石(111)面上的石墨烯制备方法
CN103086370A (zh) 一种石墨烯条带的低温化学气相沉积制备方法
CN105506575A (zh) 一种低温纳米/超纳米金刚石薄膜的制造设备和方法
CN108101028A (zh) 一种在6H/4H-SiC硅面上利用复合金属辅助生长石墨烯的方法
KR20210018855A (ko) 고효율 화학 기상 증착법 그래핀 주름 제거 방법
CN108878257A (zh) 一种降低碳化硅外延表面缺陷密度的方法
Qin et al. The optoelectronic properties of silicon films deposited by inductively coupled plasma CVD
Liu et al. Fabrication of diamond tips by the microwave plasma chemical vapor deposition technique
CN109852944A (zh) 基于微波等离子体化学气相沉积的石墨烯制备方法
CN109913857A (zh) 一种掺杂结构金刚石薄膜及其制备方法
CN105862131B (zh) 一种利用mpcvd制备碳化钼晶体时钼的引入方法
CN113584458B (zh) 一种利用微波等离子体化学气相沉积技术在钽铌酸钾晶体上制备金刚石薄膜的方法
Chen et al. The interface microstructure and band alignment of hexagonal boron nitride/diamond heterojunctions
CN115838585A (zh) 一种石墨烯负载铁六边形纳米片复合吸波材料的制备方法
CN103060907B (zh) 一种在绝缘材料上制备单晶石墨烯的方法
CN111676450B (zh) 基于离子束溅射沉积的六方氮化硼厚膜及制备方法和应用
CN111519186B (zh) 一种铁磁/石墨烯外延界面及其低温制备方法
CN108914086B (zh) 铁掺杂金刚石稀磁半导体及其制备方法
CN110357631B (zh) 基于微波处理的化学气相转化工艺制备碳化硅部件的方法及设备
Yuan et al. Growth and application of MoSe2 in solar cells
CN112919472B (zh) 一种碳化钼二维材料的制备方法及其应用
TW202118732A (zh) 碳化矽粉體的純化方法
CN110228806A (zh) 利用等离子增强化学气相沉积法制备石墨烯薄膜的方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20201124

Address after: Building G4, Dazhuang international, Science City, Huangpu District, Guangzhou City, Guangdong Province

Patentee after: Tian Huihui

Address before: 430074, No. 693 Xiong Chu street, Hongshan District, Hubei, Wuhan

Patentee before: WUHAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY

TR01 Transfer of patent right
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20201221

Address after: No.25-1, Gangcheng Road, dongyinggang Economic Development Zone, Hekou District, Dongying City, Shandong Province

Patentee after: Shandong Xingqiang Chemical Industry Technology Research Institute Co., Ltd

Address before: 510700 building G4, Dazhuang international, Science City, Huangpu District, Guangzhou City, Guangdong Province

Patentee before: Tian Huihui

TR01 Transfer of patent right
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20180717

Termination date: 20210603

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee