CN105954666B - 动态数据的快速写入方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种动态数据的快速写入方法，包含的步骤为：第一步，在编写测试向量时，预先设置一个虚拟的测试向量数据，并将该测试向量数据预先载入到逻辑测试仪的SQPG中；第二步，在对待测芯片进行测试时，产生动态数据，将该动态数据存入数据寄存器中；第三步，比较数据寄存器中的动态数据与SQPG中预先存入的虚拟测试向量数据，筛选出不一致的数据，确定SQPG中需要替换的数据的地址；第四步，选中上一步中确定的地址，将寄存器中的对应地址的动态数据写入SQPG中的相应地址中，替换掉该地址中的原虚拟的测试向量数据，形成新的测试向量数据；第五步，运行替换后的新的测试向量数据。本发明提高了动态数据的写入速度，提高集成电路的测试效率。

Description

动态数据的快速写入方法
技术领域
本发明涉及半导体集成电路测试领域，特别是指一种针对大规模集成电路测试，一种动态数据的快速写入方法。
背景技术
大规模集成电路的测试，通常是对待测芯片预先设置好一些测试数据写入芯片，然后检测芯片处理之后的数据。在对芯片进行测试之前，测试向量已经生成并且编译完毕。但是，对于一些特殊应用，需要在测试过程中获得一个动态的数据，并且把该数据写入到芯片内部。针对逻辑测试仪来讲，只能通过根据该动态数据，重新生成测试向量，重新编译，之后再写入芯片的方式。如图1所示，其测试流程为：获取动态数据1，生成新的测试向量1，进行编码编译，载入SQPG(Sequential Pattern Generator,时序变量生成器),再写入芯片；获得动态数据2，生成新的测试向量2，进行编码编译，载入SQPG,再将动态数据2写入芯片。这样极大降低了产线上针对大批量芯片同测的效率，动态数据越多，效率越低。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种动态数据的快速写入方法，针对大批量的芯片，能提高动态数据的写入速度，减少测试时间。
为解决上述问题，本发明提供一种动态数据的快速写入方法，包含如下的步骤：
第一步，在编写测试向量时，预先设置一个初始的虚拟的测试向量数据(DummyPattern)，并将该测试向量数据预先载入到逻辑测试仪的SQPG中；
第二步，在对待测芯片进行测试时，产生动态数据，将该动态数据存入数据寄存器(DR)中；
第三步，比较数据寄存器中的动态数据与SQPG中预先存入的虚拟测试向量数据，筛选出不一致的数据，确定SQPG中需要替换的数据的地址；
第四步，选中上一步中确定的地址，将寄存器中的对应地址的动态数据写入SQPG中的相应地址中，替换掉该地址中的原虚拟的测试向量数据，形成新的测试向量数据；
第五步，运行替换后的新的测试向量数据。
所述第四步，替换掉相应地址的数据之后的SQPG中的数据，形成的新的测试向量数据与数据寄存器中的动态数据保持一致。
在测试过程中，产生其他的新的动态数据，则将所述步骤循环进行；每产生一次新的动态数据，则再循环一次，以使SQPG中的测试向量数据与动态数据保持一致。
本发明所述的动态数据的快速写入方法，通过预先在SQPG中设置虚拟测试向量数据，在测试过程中动态数据产生之后，比较动态数据与虚拟测试数据，仅需替换掉不一致的数据，而不需要对全部地址的数据重新整体写入一遍，大大提高了动态数据的写入速度，节省时间。
附图说明
图1是现有的动态数据写入流程图；
图2是本发明提出的动态数据写入流程图。
具体实施方式
本发明提供一种动态数据的快速写入方法，如图2所示，包含如下的步骤：
第一步，在编写测试向量时，预先设置一个虚拟的测试向量数据，并将该测试向量数据预先载入到逻辑测试仪的SQPG中；
第二步，在对待测芯片进行测试时，产生动态数据1，将该动态数据1存入数据寄存器(DR)中；
第三步，比较数据寄存器中的动态数据1与SQPG中预先存入的虚拟测试向量数据，筛选出不一致的数据，以确定SQPG中需要替换的数据的地址；
第四步，选中上一步中确定的地址，将寄存器中的对应地址的动态数据1写入SQPG中的相应地址中，替换掉该地址中的原虚拟的测试向量数据，形成新的测试向量数据。形成的新的测试向量数据与数据寄存器中的动态数据1保持一致。
第五步，动态数据写入SQPG成功，运行替换后的新的测试向量数据，即可对芯片进行测试。
在测试过程中，可能会产生其他的新的动态数据，如产生新的动态数据2，则将所述步骤循环进行。即将动态数据2写入数据寄存器DR中(由于是在测试过程的循环，SQPG中已经存在上一次的测试向量数据，如动态数据1，可作为初始的虚拟测试向量数据，因此循环过程中第一步可省略)，然后比较动态数据2与SQPG中的数据，替换不一致的数据形成新的测试向量数据，继续运行测试程序。每产生一次新的动态数据，则再循环一次，以使SQPG中的测试向量数据与动态数据保持一致。
通过上述方法，在每次动态数据刷新时，仅需替换SQPG中不一致的数据，较少了数据写入量，节省数据写入时间，提高了测试效率。
以上仅为本发明的优选实施例，并不用于限定本发明。对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (3)

1.一种动态数据的快速写入方法，其特征在于：包含如下的步骤：
第一步，在编写测试向量时，预先设置一个虚拟的测试向量数据，并将该测试向量数据预先载入到逻辑测试仪的SQPG中；
第二步，在对待测芯片进行测试时，产生动态数据，将该动态数据存入数据寄存器中；
第三步，比较数据寄存器中的动态数据与SQPG中预先存入的虚拟测试向量数据，筛选出不一致的数据，确定SQPG中需要替换的数据的地址；
第四步，选中上一步中确定的地址，将寄存器中的对应地址的动态数据写入SQPG中的相应地址中，替换掉该地址中的原虚拟的测试向量数据，形成新的测试向量数据；
第五步，运行替换后的新的测试向量数据。
2.如权利要求1所述的动态数据的快速写入方法，其特征在于：所述第四步，替换掉相应地址的数据之后的SQPG中的数据，形成的新的测试向量数据与数据寄存器中的动态数据保持一致。
3.如权利要求1所述的动态数据的快速写入方法，其特征在于：在测试过程中，产生其他的新的动态数据，则将所述步骤循环进行；每产生一次新的动态数据，则再循环一次，以使SQPG中的测试向量数据与动态数据保持一致。
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