CN105790734B - 带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余d触发器 - Google Patents

带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余d触发器 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器,包括第一时钟电路、第一主锁存器、第一从锁存器,第二时钟电路、第二主锁存器、第二从锁存器,第三时钟电路、第三主锁存器、第三从锁存器,选择器电路、第一反相器电路、第二反相器电路,以及检错控制电路。本发明在传统三模冗余加固的D触发器结构的基础上,设计了检错控制电路对三模冗余结构中的三个基本触发器的输出进行控制,保证在任意时刻选择器都能判定得出正确的输出。检错控制电路能在三个基本触发器的其中一个输出发生翻转时,立刻对其进行恢复,避免了翻转的累积,从而避免了翻转累积引起的单粒子翻转,进一步提高了本发明的抗单粒子翻转能力。

Description

带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器
技术领域
本发明涉及一种三模冗余D触发器,特别涉及一种带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器。
背景技术
在宇宙空间中,存在大量高能粒子(质子、电子、重离子)和带电粒子。集成电路受这些高能粒子和带电粒子的轰击后,集成电路中会产生电子脉冲,可能使集成电路内部节点原有的电平发生翻转,此效应称为单粒子翻转(Signal Event Upset,SEU)。单粒子轰击集成电路的线性能量转移(Linear Energy Transfer,LET)值越高,产生的电子脉冲越强。航空、航天领域中使用的集成电路都会受到单粒子翻转的威胁,使集成电路工作不稳定,甚至产生致命的错误,因此开发先进的集成电路抗单粒子翻转加固技术尤为重要。
集成电路的抗单粒子翻转加固技术可以分为系统级加固、电路级加固和器件级加固。系统级加固的集成电路可靠性高,但版图面积大、功耗大、运行速度慢。器件级加固的集成电路运行速度快,版图面积小、功耗低,但器件级加固实现难度大,成本高。电路级加固的集成电路可靠性高,版图面积、功耗和运行速度优于系统级加固的集成电路,且实现难度和成本小于器件级加固的集成电路,是十分重要的集成电路抗单粒子翻转加固方法。
D触发器是时序逻辑电路中使用最多的单元之一,其抗单粒子翻转能力直接决定了集成电路的抗单粒子翻转能力。对D触发器进行电路级加固可以在较小的版图面积、功耗和成本下有效地提高集成电路的抗单粒子翻转能力。
传统的D触发器为主从D触发器,一般由主级锁存器和从级锁存器串联构成,锁存器的抗单粒子翻转加固是实现D触发器抗单粒子加固的有效方法。T.Clain等人在IEEETransaction on Nuclear Science(IEEE原子能科学学报)上发表的“Upset HardenedMemory Design for Submicron CMOS Technology”(在亚微米CMOS技术下的翻转加固存储单元设计)(1996年12月第6期43卷,第2874~2878页)提出了一种冗余加固的锁存器,该锁存器在经典锁存器结构的基础上增加了一个反相器和一个反馈回路,与原有反相器和反馈回路互为冗余电路。反相器中N管的输入和P管的输入分离,分别连接两个反馈回路,反馈回路中C2MOS电路的N管和P管的输入分别来自两个反相器的输出。该锁存器的信号输入和信号保存由C2MOS时钟电路控制。该冗余加固的锁存器优点在于:轰击一个节点时产生的翻转电平可以通过其冗余电路内对应节点的正确电平恢复到原来状态。该冗余加固的锁存器的不足在于:输入端两个互为冗余的C2MOS电路共用一个上拉PMOS管和一个下拉NMOS管,使反馈回路中C2MOS电路的输出节点与冗余电路对应节点之间存在一个间接通路,当单粒子轰击使该C2MOS电路输出节点的电平翻转,则该翻转电平会沿间接通路传播到冗余电路的对应节点,如果单粒子轰击的LET值较高,则两个互为冗余的电路均会发生电平翻转,最终使锁存器的输出也发生翻转。由两个该种冗余加固的锁存器串联组成的传统冗余加固的D触发器,当单粒子轰击的LET值较高,则两个互为冗余的电路也均会发生电平翻转,最终使传统冗余加固的D触发器的输出也发生翻转。R.Naseer等人在the 48th IEEE InternationalMidwest Symposium on Circuits and Systems(第48届IEEE电路和系统中西部国际会议)上发表的“The DF-DICE Storage Element for Immunity to Soft Errors”(对软错误免疫的DF-DICE存储单元)也提出了一种与上述锁存器结构类似的冗余加固的锁存器。此锁存器输入端的两个C2MOS电路是完全独立的,两个互为冗余的电路中对应节点不存在间接通路,克服了T.Clain等人提出的冗余加固的锁存器的不足之处。但R.Naseer等人提出的冗余加固的锁存器在反馈回路中使用了传输门结构,当一个节点受单粒子轰击发生翻转时,其冗余电路将正确电平通过传输门反馈至该节点。由于传输门结构的噪声容限较低,反馈回路的信号反馈能力较弱,当单粒子轰击的LET值较高时,反馈回路不能使该节点恢复正确电平,严重影响了该锁存器抗单粒子翻转能力。由两个该种冗余加固的锁存器串联组成的传统冗余加固的D触发器,当单粒子轰击的LET值较高时,也会因为反馈回路中的传输门结构,不能使该节点恢复正确电平,影响了该传统冗余加固的D触发器抗单粒子翻转能力。
专利号为CN101499788A的中国专利公开了一种抗单粒子翻转和单粒子瞬态脉冲的D触发器。该发明是一种结构类似于时间采样结构的D触发器,包括两个多路开关、两个延迟电路、两个保护门电路和三个反相器,实现了D触发器的抗单粒子翻转加固。由于采用延迟电路和保护门电路来屏蔽轰击产生的电子脉冲,当单粒子轰击的LET值较高时,电子脉冲宽度会大于延迟电路的延迟时间,使保护门电路的输出电平发生翻转,大大降低了该D触发器的抗单粒子翻转能力。
发明内容
本发明要解决的技术问题是,针对目前抗单粒子翻转的D触发器抗单粒子翻转能力不高的问题,提供一种带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器,它可以在较高LET值的单粒子轰击下正常工作而不产生单粒子翻转。
如图1所示,本发明提出的带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器由第一时钟电路、第一主锁存器、第一从锁存器,第二时钟电路、第二主锁存器、第二从锁存器,第三时钟电路、第三主锁存器、第三从锁存器,选择器电路、第一反相器电路、第二反相器电路,以及检错控制电路组成。因此,本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器的基本结构是三模冗余结构:第一时钟电路、第一主锁存器和第一从锁存器构成第一基本D触发器;第二时钟电路、第二主锁存器和第二从锁存器构成第二基本D触发器;第三时钟电路、第三主锁存器和第三从锁存器构成第三基本D触发器。
本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器共包含六十三个PMOS管和六十三个NMOS管,记第i PMOS管的栅极为Pgi,漏极为Pdi,源极为Psi;记第i NMOS管的栅极为Ngi,漏极为Ndi,源极为Nsi,i为整数,1≤i≤63。
本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器有两个输入端和两个输出端。两个输入端分别是CK即时钟信号输入端和D即数据信号输入端;两个输出端分别是Q和QN,Q和QN输出一对相反的数据信号。
第一时钟电路与第一主锁存器和第一从锁存器相连,第一时钟电路有一个输入端和两个输出端,输入端为CK,输出端为C1、CN1,C1和CN1为一对相反的时钟信号。第一时钟电路接收CK,第一级反相器和第二级反相器对CK进行缓冲后产生与CK反相的CN1和与CK同相的C1,并且把CN1和C1传入到第一主锁存器和第一从锁存器。
如图2所示,第一时钟电路为一个两级反相器,由第一级反相器和第二级反相器组成;第一级反相器由第一PMOS管和第一NMOS管组成,第一PMOS管的栅极Pg1连接CK,漏极Pd1连接第一NMOS管的漏极Nd1、Pg2、Ng2,并作为第一时钟电路的一个输出端CN1。第一NMOS管的栅极Ng1连接CK,漏极Nd1连接Pd1、Pg2、Ng2;第二级反相器由第二PMOS管和第二NMOS管组成,第二PMOS管的栅极Pg2连接CN1、Pd1、Nd1,漏极Pd2连接第二NMOS管的漏极Nd2,并作为时钟电路的另一个输出端C1。第二NMOS管的栅极Ng2连接CN1、Pd1、Nd1,漏极Nd2连接Pd2。第一PMOS管和第二PMOS管的衬底连接电源VDD,源极Ps1、Ps2连接电源VDD;第一NMOS管和第二NMOS管的衬底接地VSS,源极Ns1、Ns2也接地VSS。
第一主锁存器为普通锁存器,和第一从锁存器串联,并与第一时钟电路连接。第一主锁存器有三个输入端和一个输出端,三个输入端为D、C1、CN1,一个输出端为数据信号MO1。第一主锁存器从第一时钟电路接收时钟信号C1、CN1,从输入端接收数据信号D,向第一从锁存器输出数据信号MO1。在CK为低电平期间,CN1为高电平、C1为低电平,第一主锁存器开启,接收D并对其进行缓冲处理后输出与D同相的MO1;在CK为高电平期间,CN1为低电平、C1为高电平,第一主锁存器处于保存状态,保存前一个CK上升沿采样到的D并输出与D同相的MO1。
如图3所示,第一主锁存器由5个PMOS管即第三PMOS管、第四PMOS管、…、第七PMOS管,和5个NMOS管即第三NMOS管、第四NMOS管、…、第七NMOS管组成,第一主锁存器中所有PMOS管的衬底连接电源VDD,所有NMOS管的衬底接地VSS。第三PMOS管的栅极Pg3连接D,漏极Pd3连接第四PMOS管的源极Ps4,源极Ps3连接电源VDD;第四PMOS管的栅极Pg4连接C1,漏极Pd4连接第三NMOS管的漏极Nd3,并连接第五PMOS管的栅极Pg5、第五NMOS管的栅极Ng5、第七PMOS管的漏极Pd7和第六NMOS管的漏极Nd6,源极Ps4连接Pd3;第五PMOS管的栅极Pg5连接Ng5,并连接Pd4、Nd3、Pd7和Nd6,漏极Pd5连接第五NMOS管的漏极Nd5、Ng7、Pg6,并作为第一主锁存器的输出MO1,源极Ps5连接电源VDD;第六PMOS管的栅极Pg6连接Pd5、Nd5、Ng7、MO1,漏极Pd6连接第七PMOS管的源极Ps7,源极Ps6连接电源VDD;第七PMOS管的栅极Pg7连接CN1,漏极Pd7连接Nd6,并连接Pg5、Ng5、Pd4和Nd3,源极Ps7连接Pd6。第三NMOS管的栅极Ng3连接CN1,漏极Nd3连接Pd4,并连接Pg5、Ng5、Pd7和Nd6,源极Ns3连接第四NMOS管的漏极Nd4;第四NMOS管的栅极Ng4连接D,漏极Nd4连接Ns3,源极Ns4接地VSS;第五NMOS管的栅极Ng5连接Pg5,并连接Pd4、Nd3、Pd7和Nd6,漏极Nd5连接Pd5,源极Ns5接地VSS;第六NMOS管的栅极Ng6连接C1,漏极Nd6连接Pd7,并连接Pg5、Ng5、Pd4和Nd3,源极Ns6连接第七NMOS管的漏极Nd7;第七NMOS管的栅极Ng7连接Pd5、Nd5、Pg6、MO1,漏极Nd7连接Ns6,源极Ns7接地VSS。
第一从锁存器为带纠错功能的锁存器。第一从锁存器与第一主锁存器串联,并与第一时钟电路、检错控制电路和选择器电路连接。第一从锁存器有六个输入端和两个输出端,六个输入端为MO1、C1、CN1、EX、EXN和SO3,两个输出端为数据信号SO1、SO1N,SO1和SO1N为一对相反的数据信号。第一从锁存器从第一时钟电路接收时钟信号C1、CN1,从第一主锁存器接收数据信号MO1,从第三从锁存器接收SO3信号,从检错控制电路接收EX、EXN信号,向检错控制电路输出信号SO1、SO1N,向选择器电路输出SO1信号。在CK为低电平期间,CN1为高电平、C1为低电平,第一从锁存器处于保存状态,不接收第一主锁存器输出的MO1而是保存上一个CK下降沿采样到的MO1,同时利用检错控制电路产生的信号EX和EXN,以及第三从锁存器的输出信号SO3来保持第一从锁存器输出信号SO1和SO1N的稳定;在CK为高电平期间,CN1为低电平、C1为高电平,第一从锁存器开启并接收第一主锁存器的输出MO1,对MO1进行缓冲处理并输出与MO1同相的SO1和与MO1反相的SO1N。
如图4所示,第一从锁存器由十个PMOS管即第八PMOS管、第九PMOS管、…、第十七PMOS管,和十个NMOS管即第八NMOS管、第九NMOS管、…、第十七NMOS管组成,第一从锁存器中所有PMOS管的衬底连接电源VDD,所有NMOS管的衬底接地VSS。第八PMOS管的栅极Pg8连接MO1,漏极Pd8连接第九PMOS管的源极Ps9,源极Ps8连接电源VDD;第九PMOS管的栅极Pg9连接CN1,漏极Pd9连接第八NMOS管的漏极Nd8、Pd10、Nd10、Pd13、Nd12、Pg11、Ng11,并作为第一从锁存器的一个输出SO1N,源极Ps9连接Pd8;第十PMOS管的栅极Pg10连接EXN,漏极Pd10连接SO1N、Nd8、Pd9、Nd10、Pd13、Nd12、Pg11、Ng11,源极Ps10连接第十NMOS管的源极Ns10,并连接第十五PMOS管的栅极Pg15、第十五NMOS管的栅极Ng15、第十七PMOS管的漏极Pd17和第十六NMOS管的漏极Nd16;第十一PMOS管的栅极Pg11连接SO1N、Pd9、Nd8、Ng11、Pd10、Nd10、Pd13、Nd12,漏极Pd11连接第十一NMOS管的漏极Nd11、Pg12、Ng13、Pd14、Nd14,并作为第一从锁存器的一个输出SO1,源极Ps11连接电源VDD;第十二PMOS管的栅极Pg12连接SO1、Nd11、Pd11、Ng13、Pd14、Nd14,漏极Pd12连接第十三PMOS管的源极Ps13,源极Ps12连接电源VDD;第十三PMOS管的栅极Pg13连接C1,漏极Pd13连接SO1N、Nd12、Pg9、Nd8、Pd10、Nd10、Pg11、Ng11,源极Ps13连接Pd12;第十四PMOS管的栅极Pg14连接EXN,漏极Pd14连接SO1、Pd11、Nd11、Pg12、Ng13,源极Ps14连接第十四NMOS管的源极Ns14,并连接第十五PMOS管的漏极Pd15和第十五NMOS管的漏极Nd15;第十五PMOS管的栅极连接Ng15,并连接Ps10、Ns10、Pd17和Nd16,漏极Pd15连接Nd15,并连接Ps14和Ns14,源极Ps15连接电源VDD;第十六PMOS管的栅极Pg16连接SO3,漏极Pd16连接第十七PMOS管的源极Ps17,源极Ps16连接电源VDD;第十七PMOS管的栅极Pg17连接C1,漏极Pd17连接Nd16,并连接Ps10、Ns10、Pg15、Ng15,源极Ps17连接Pd16。第八NMOS管的栅极Ng8连接C1,漏极Nd8连接SO1N、Pd9、Pd10、Nd10、Pd13、Nd12、Pg11、Ng11,源极Ns8连接第九NMOS管的漏极Nd9;第九NMOS管的栅极Ng9连接MO1,漏极Nd9连接Ns8,源极Ns9连接地VSS;第十NMOS管的栅极Ng10连接EX,漏极Nd10连接SO1N、Pd9、Pd10、Nd8、Pd13、Nd12、Pg11、Ng11,源极Ns10连接Ps10,并连接Pg15、Ng15、Pd17和Nd16;第十一NMOS管的栅极Ng11连接SO1N、Pd9、Nd8、Pd10、Nd10、Pd13、Nd12、Pg11,漏极Nd11连接SO1、Pd11、Pg12、Ng13、Pd14、Nd14,源极Ns11连接地VSS;第十二NMOS管的栅极Ng12连接CN1,漏极Nd12连接SO1N、Pd9、Nd8、Pd10、Nd10、Pd13、Ng11、Pg11,源极Ns12连接第十三NMOS管的漏极Nd13;第十三NMOS管的栅极Ng13连接SO1、Pg12、Pd11、Nd11、Pd14、Nd14,漏极Nd13连接Ns12,源极Ns13连接地VSS;第十四NMOS管的栅极Ng14连接EX,漏极Nd14连接SO1、Pg12、Pd11、Nd11、Pd14、Ng13,源极Ns14连接Ps14,并连接Pd15和Nd15;第十五NMOS管的栅极Ng15连接Pg15,并连接Ps10、Ns10、Pd17和Nd16,漏极Nd15连接Pd15,并连接Ps14和Ns14,源极Ns15连接地VSS;第十六NMOS管的栅极Ng16连接CN1,漏极Nd16连接Pd17,并连接Ps10、Ns10、Pg15和Ng15,源极Ns16连接第十七NMOS管的漏极Nd17;第十七NMOS管的栅极Ng17连接SO3,漏极Nd17连接Ns16,源极Ns17连接地VSS。
第二时钟电路与第二主锁存器、第二从锁存器相连。第二时钟电路有一个输入端和两个输出端,输入端为时钟信号CK,输出端为时钟信号C2、CN2,C2和CN2为一对相反的时钟信号。第二时钟电路从输入端接收CK,对CK进行缓冲后分别产生与CK反相的CN2和与CK同相的C2,并且把CN2和C2传入到第二主锁存器和第二从锁存器。
如图5所示,第二时钟电路为一个两级反相器,由第三级反相器和第四级反相器组成;第三级反相器由第十八PMOS管和第十八NMOS管组成,第十八PMOS管的栅极Pg18连接CK,漏极Pd18连接第十八NMOS管的漏极Nd18、Pg19、Ng19,并作为第二时钟电路的一个输出端CN2;第十八NMOS管的栅极Ng18连接CK,漏极Nd18连接Pd18、Pg19、Ng19。第四级反相器由第十九PMOS管和第十九NMOS管组成,第十九PMOS管的栅极Pg19连接CN2、Pd18、Nd18、Ng19,漏极Pd19连接第十九NMOS管的漏极Nd19,并作为时钟电路的另一个输出端C2;第十九NMOS管的栅极Ng19连接CN2、Pd18、Nd18、Pg19,漏极Nd19连接Pd19。第十八PMOS管和第十九PMOS管的衬底连接电源VDD,源极Ps18、Ps19连接电源VDD;第十八NMOS管和第十九NMOS管的衬底接地VSS,源极Ns18、Ns19也接地VSS。
第二主锁存器为普通锁存器,第二主锁存器和第二从锁存器串联,与第二时钟电路连接。第二主锁存器有三个输入端和一个输出端,三个输入端为D、C2、CN2,一个输出端为数据信号MO2。第二主锁存器从第二时钟电路接收时钟信号C2、CN2,从输入端接收数据信号D,向第二从锁存器输出数据信号MO2。在CK为低电平期间,CN2为高电平、C2为低电平,第二主锁存器开启,接收D并对其进行缓冲处理后输出与D同相的MO2;在CK为高电平期间,CN2为低电平、C2为高电平,第二主锁存器处于保存状态,保存前二个CK上升沿采样到的D并输出与D同相的MO2。
如图6所示,第二主锁存器由五个PMOS管即第二十PMOS管、第二十一PMOS管、…、第二十四PMOS管,和五个NMOS管即第二十NMOS管、第二十一NMOS管、…、第二十四NMOS管组成,第二主锁存器中所有PMOS管的衬底连接电源VDD,所有NMOS管的衬底接地VSS。第二十PMOS管的栅极Pg20连接D,漏极Pd20连接第二十一PMOS管的源极Ps21,源极Ps20连接电源VDD;第二十一PMOS管的栅极Pg21连接C2,漏极Pd21连接第二十NMOS管的漏极Nd20,并连接第二十二PMOS管的栅极Pg22、第二十二NMOS管的栅极Ng22、第二十四PMOS管的漏极Pd24和第二十三NMOS管的漏极Nd23,源极Ps21连接Pd20;第二十二PMOS管的栅极Pg22连接Ng22,并连接Pd21、Nd20、Pd24和Nd23,漏极Pd22连接第二十二NMOS管的漏极Nd22、Ng24、Pg23,并作为第二主锁存器的输出MO2,源极Ps22连接电源VDD;第二十三PMOS管的栅极Pg23连接MO2、Pd22、Nd22、Ng24,漏极Pd23连接第二十四PMOS管的源极Ps24,源极Ps23连接电源VDD;第二十四PMOS管的栅极Pg24连接CN2,漏极Pd24连接Nd23,并连接Pg22、Ng22、Pd21和Nd20,源极Ps24连接Pd23。第二十NMOS管的栅极Ng20连接CN2,漏极Nd20连接Pd21,并连接Pg22、Ng22、Pd24和Nd23,源极Ns20连接第二十一NMOS管的漏极Nd21;第二十一NMOS管的栅极Ng21连接D,漏极Nd21连接Ns20,源极Ns21接地VSS;第二十二NMOS管的栅极Ng22连接Pg22,并连接Pd21、Nd20、Pd24和Nd23,漏极Nd22连接Pd22、Pg23、Ng24,源极Ns22接地VSS;第二十三NMOS管的栅极Ng23连接C2,漏极Nd23连接Pd24,并连接Pg22、Ng22、Pd21和Nd20,源极Ns23连接第二十四NMOS管的漏极Nd24;第二十四NMOS管的栅极Ng24连接MO2、Pg23、Pd22、Ns22,漏极Nd24连接Ns23,源极Ns24接地VSS。
第二从锁存器为带纠错功能的锁存器。第二从锁存器与第二主锁存器串联,并与第二时钟电路、检错控制电路和选择器电路连接。第二从锁存器有六个输入端和两个输出端,六个输入端为MO2、C2、CN2、EX、EXN和SO3,两个输出端为SO2、SO2N,SO2和SO2N为一对相反的数据信号。第二从锁存器从第二时钟电路接收信号C2、CN2,从第二主锁存器接收信号MO2,从第三从锁存器接收SO3信号,从检错控制电路接收EX、EXN信号,向检错控制电路输出信号SO2、SO2N,向选择器电路输出SO2信号。在CK为低电平期间,CN2为高电平、C2为低电平,第二从锁存器处于保存状态,不接收第二主锁存器输出的MO2而是保存上二个CK下降沿采样到的MO2,同时利用检错控制电路产生的信号EX和EXN,以及第三从锁存器的输出信号SO3来保持第二从锁存器输出信号SO2和SO2N的稳定;在CK为高电平期间,CN2为低电平、C2为高电平,第二从锁存器开启并接收第二主锁存器的输出MO2,对MO2进行缓冲处理并输出与MO2同相的SO2和与MO2反相的SO2N。
如图7所示,第二从锁存器由十个PMOS管即第二十五PMOS管、第二十六PMOS管、…、第三十四PMOS管,和十个NMOS管即第二十五NMOS管、第二十六NMOS管、…、第三十四NMOS管组成,第二从锁存器中所有PMOS管的衬底连接电源VDD,所有NMOS管的衬底接地VSS。第二十五PMOS管的栅极Pg25连接MO2,漏极Pd25连接第二十六PMOS管的源极Ps26,源极Ps25连接电源VDD;第二十六PMOS管的栅极Pg26连接CN2,漏极Pd26连接第二十五NMOS管的漏极Nd25、Pd27、Nd27、Pg28、Ng28、Pd30、Nd29,并作为第二从锁存器的一个输出SO2N,源极Ps26连接Pd25;第二十七PMOS管的栅极Pg27连接EXN,漏极Pd27连接SO2N、Nd25、Pd26、Nd27、Pg28、Ng28、Pd30、Nd29,源极Ps27连接第二十七NMOS管的源极Ns27,并连接第三十二PMOS管的栅极Pg32、第三十二NMOS管的栅极Ng32、第三十四PMOS管的漏极Pd34和第三十三NMOS管的漏极Nd33;第二十八PMOS管的栅极Pg28连接SO2N、Nd25、Pd26、Pd27、Nd27、Ng28、Pd30、Nd29,漏极Pd28连接第二十八NMOS管的漏极Nd28、Pg29、Ng30、Pd31、Nd31,并作为第二从锁存器的一个输出SO2,源极Ps28连接电源VDD;第二十九PMOS管的栅极Pg29连接SO2、Pd28、Nd28、Ng30、Pd31、Nd31,漏极Pd29连接第三十PMOS管的源极Ps30,源极Ps29连接电源VDD;第三十PMOS管的栅极Pg30连接C2,漏极Pd30连接SO2N、Pd26、Nd25、Pd27、Nd27、Pg28、Ng28、Nd29,源极Ps30连接Pd29;第三十一PMOS管的栅极Pg31连接EXN,漏极Pd31连接SO2、Pd28、Nd28、Pg29、Ng30、Nd31,源极Ps31连接第三十一NMOS管的源极Ns31,并连接第三十二PMOS管的漏极Pd32和第三十二NMOS管的漏极Nd32;第三十二PMOS管的栅极连接Ng32,并连接Ps27、Ns27、Pd34和Nd33、Ng32,漏极Pd32连接Nd32,并连接Ps31和Ns31,源极Ps32连接电源VDD;第三十三PMOS管的栅极Pg33连接SO3,漏极Pd33连接第三十四PMOS管的源极Ps34,源极Ps33连接电源VDD;第三十四PMOS管的栅极Pg34连接C2,漏极Pd34连接Nd33,并连接Ps27、Ns27、Pg32、Ng32,源极Ps34连接Pd33。第二十五NMOS管的栅极Ng25连接C2,漏极Nd25连接SO2N、Pd26、Pd27、Nd27、Pg28、Ng28、Pd30、Nd29,源极Ns25连接第二十六NMOS管的漏极Nd26;第二十六NMOS管的栅极Ng26连接MO2,漏极Nd26连接Ns25,源极Ns26连接地VSS;第二十七NMOS管的栅极Ng27连接EX,漏极Nd27连接SO2N、Pd26、Nd25、Pd27、Pg28、Ng28、Pd30、Nd29,源极Ns27连接Ps27,并连接Pg32、Ng32、Pd34和Nd33;第二十八NMOS管的栅极Ng28连接SO2N、Pd26、Nd25、Pd27、Nd27、Pg28、Pd30、Nd29,漏极Nd28连接SO2、Pd28、Pg29、Ng30、Pd31、Nd31,源极Ns28连接地VSS;第二十九NMOS管的栅极Ng29连接CN2,漏极Nd29连接SO2N、Pd26、Nd25、Pd27、Nd27、Pg28、Ng28、Pd30,源极Ns29连接第三十NMOS管的漏极Nd30;第三十NMOS管的栅极Ng30连接SO2、Pd28、Nd28、Pg29、Pd31、Nd31,漏极Nd30连接Ns29,源极Ns30连接地VSS;第三十一NMOS管的栅极Ng31连接EX,漏极Nd31连接SO2、Pd28、Nd28、Pg29、Ng30、Pd31,源极Ns31连接Ps31,并连接Pd32和Nd32;第三十二NMOS管的栅极Ng32连接Pg32,并连接Ps27、Ns27、Pd34和Nd33,漏极Nd32连接Pd32,并连接Ps31和Ns31,源极Ns32连接地VSS;第三十三NMOS管的栅极Ng33连接CN2,漏极Nd33连接Pd34,并连接Ps27、Ns27、Pg32和Ng32,源极Ns33连接第三十四NMOS管的漏极Nd34;第三十四NMOS管的栅极Ng34连接SO3,漏极Nd34连接Ns33,源极Ns34连接地VSS。
第三时钟电路与第三主锁存器、第三从锁存器相连。第三时钟电路有一个输入端和两个输出端,输入端为CK,输出端为C3、CN3,C3和CN3为一对相反的数据信号。第三时钟电路接收CK,第五级反相器和第六级反相器对CK进行缓冲后产生与CK反相的CN3和与CK同相的C3,并且把CN3和C3传入到第三主锁存器和第三从锁存器。
如图8所示,第三时钟电路为一个两级反相器,由第五级反相器和第六级反相器组成;第五级反相器由第三十五PMOS管和第三十五NMOS管组成,第三十五PMOS管的栅极Pg35连接CK,漏极Pd35连接第三十五NMOS管的漏极Nd35、Pg36、Ng36,并作为第二时钟电路的一个输出端CN3;第三十五NMOS管的栅极Ng35连接CK,漏极Nd35连接Pd35、Pg36、Ng36。第六级反相器由第三十六PMOS管和第三十六NMOS管组成,第三十六PMOS管的栅极Pg36连接CN3、Pd35、Nd35、Ng36,漏极Pd36连接第三十六NMOS管的漏极Nd36,并作为时钟电路的另一个输出端C3;第三十六NMOS管的栅极Ng36连接CN3、Pd35、Nd35、Ng36,漏极Nd36连接Pd36。第三十五PMOS管和第三十六PMOS管的衬底连接电源VDD,源极Ps35、Ps36连接电源VDD;第三十五NMOS管和第三十六NMOS管的衬底接地VSS,源极Ns35、Ns36也接地VSS。第三时钟电路接收CK,对其进行缓冲后分别产生与CK反相的CN3和与CK同相的C3,并且把CN3和C3传入到第三主锁存器和第三从锁存器。
第三主锁存器为普通锁存器,与第三从锁存器串联,并与第三时钟电路连接。第三主锁存器有三个输入端和一个输出端,三个输入端为D、C3、CN3,一个输出端为数据信号MO3。第三主锁存器从第三时钟电路接收时钟信号C3、CN3,从输入端接收数据信号D,向第三从锁存器输出数据信号MO3。在CK为低电平期间,CN3为高电平、C3为低电平,第三主锁存器开启,接收D并对其进行缓冲处理后输出与D同相的MO3;在CK为高电平期间,CN3为低电平、C3为高电平,第三主锁存器处于保存状态,保存前三个CK上升沿采样到的D并输出与D同相的MO3。
如图9所示,第三主锁存器由五个PMOS管即第三十七PMOS管、第三十八PMOS管、…、第四十一PMOS管,和五个NMOS管即第三十七NMOS管、第三十八NMOS管、…、第四十一NMOS管组成,第三主锁存器中所有PMOS管的衬底连接电源VDD,所有NMOS管的衬底接地VSS。第三十七PMOS管的栅极Pg37连接D,漏极Pd37连接第三十八PMOS管的源极Ps38,源极Ps37连接电源VDD;第三十八PMOS管的栅极Pg38连接C3,漏极Pd38连接第三十七NMOS管的漏极Nd37,并连接第三十九PMOS管的栅极Pg39、第三十九NMOS管的栅极Ng39、第四十一PMOS管的漏极Pd41和第四十NMOS管的漏极Nd40,源极Ps38连接Pd37;第三十九PMOS管的栅极Pg39连接Ng39,并连接Pd38、Nd37、Pd41和Nd40,漏极Pd39连接第三十九NMOS管的漏极Nd39、Pg40、Ng41,并作为第二主锁存器的输出MO3,源极Ps39连接电源VDD;第四十PMOS管的栅极Pg40连接MO3、Pd39、Nd39、Ng41,漏极Pd40连接第四十一PMOS管的源极Ps41,源极Ps40连接电源VDD;第四十一PMOS管的栅极Pg41连接CN3,漏极Pd41连接Nd40,并连接Pg39、Ng39、Pd38和Nd37,源极Ps41连接Pd40。第三十七NMOS管的栅极Ng37连接CN3,漏极Nd37连接Pd38,并连接Pg39、Ng39、Pd41和Nd40,源极Ns37连接第三十八NMOS管的漏极Nd38;第三十八NMOS管的栅极Ng38连接D,漏极Nd38连接Ns37,源极Ns38接地VSS;第三十九NMOS管的栅极Ng39连接Pg39,并连接Pd38、Nd37、Pd41和Nd40,漏极Nd39连接Pd39,源极Ns39接地VSS;第四十NMOS管的栅极Ng40连接C3,漏极Nd40连接Pd41,并连接Pg39、Ng39、Pd38和Nd37,源极Ns40连接第四十一NMOS管的漏极Nd41;第四十一NMOS管的栅极Ng41连接MO1,漏极Nd41连接Ns40,源极Ns41接地VSS。
第三从锁存器为带纠错功能的锁存器,与第三主锁存器串联,并与第三时钟电路、第一从锁存器、第二从锁存器、检错控制电路和选择器电路连接。第三从锁存器有六个输入端和两个输出端,六个输入端为MO3、C3、CN3、EX、EXN和SO1,两个输出端为SO3、SO3N,SO3和SO3N为一对相反的数据信号。第三从锁存器从第三时钟电路接收信号C3、CN3,从第三主锁存器接收信号MO3,从第一从锁存器接收SO1信号,从检错控制电路接收EX、EXN信号,向选择器电路输出SO3信号。在CK为低电平期间,CN3为高电平、C3为低电平,第三从锁存器处于保存状态,不接收第三主锁存器输出的MO3而是保存上一个CK下降沿采样到的MO3,同时利用检错控制电路产生的信号EX和EXN,以及第一从锁存器的输出信号SO1来保持第三从锁存器输出信号SO3和SO3N的稳定;在CK为高电平期间,CN3为低电平、C3为高电平,第三从锁存器开启并接收第三主锁存器的输出MO3,对MO3进行缓冲处理并输出与MO3同相的SO3和与MO3反相的SO3N。
如图10所示,第三从锁存器由十个PMOS管即第四十二PMOS管、第四十一PMOS管、…、第五十一PMOS管,和十个NMOS管即第四十二NMOS管、第四十一NMOS管、…、第五十一NMOS管组成,第三从锁存器中所有PMOS管的衬底连接电源VDD,所有NMOS管的衬底接地VSS。第四十二PMOS管的栅极Pg42连接MO3,漏极Pd42连接第四十三PMOS管的源极Ps43,源极Ps42连接电源VDD;第四十三PMOS管的栅极Pg43连接CN3,漏极Pd43连接第四十二NMOS管的漏极Nd42,并作为第一从锁存器的一个输出SO3N,源极Ps43连接Pd42;第四十四PMOS管的栅极Pg44连接EX,漏极Pd44连接SO3N,源极Ps44连接第四十四NMOS管的源极Ns44,并连接第四十九PMOS管的栅极Pg49、第四十九NMOS管的栅极Ng49、第五十一PMOS管的漏极Pd51和第五十NMOS管的漏极Nd50;第四十五PMOS管的栅极Pg45连接SO3N,漏极Pd45连接第四十五NMOS管的漏极Nd45,并作为第二从锁存器的一个输出SO3,源极Ps45连接电源VDD;第四十六PMOS管的栅极Pg46连接SO3,漏极Pd46连接第四十七PMOS管的源极Ps47,源极Ps46连接电源VDD;第四十七PMOS管的栅极Pg47连接C3,漏极Pd47连接SO3N,源极Ps47连接Pd46;第四十八PMOS管的栅极Pg48连接EX,漏极Pd48连接SO3,源极Ps48连接第四十八NMOS管的源极Ns48,并连接第四十九PMOS管的漏极Pd49和第四十九NMOS管的漏极Nd49;第四十九PMOS管的栅极连接Ng49,并连接Ps44、Ns44、Pd51和Nd50,漏极Pd49连接Nd49,并连接Ps48和Ns48,源极Ps49连接电源VDD;第五十PMOS管的栅极Pg50连接SO1,漏极Pd50连接第五十一PMOS管的源极Ps51,源极Ps50连接电源VDD;第五十一PMOS管的栅极Pg51连接C3,漏极Pd51连接Nd50,并连接Ps44、Ns44、Pg49、Ng49,源极Ps51连接Pd50。第四十二NMOS管的栅极Ng42连接C3,漏极Nd42连接SO3N,源极Ns42连接第四十三NMOS管的漏极Nd43;第四十三NMOS管的栅极Ng43连接MO3,漏极Nd43连接Ns42,源极Ns43连接地VSS;第四十四NMOS管的栅极Ng44连接EXN,漏极Nd44连接SO3N,源极Ns44连接Ps44,并连接Pg49、Ng49、Pd41和Nd50;第四十五NMOS管的栅极Ng45连接SO3N,漏极Nd45连接SO3,源极Ns45连接地VSS;第四十六NMOS管的栅极Ng46连接CN2,漏极Nd46连接SO3N,源极Ns46连接第四十七NMOS管的漏极Nd47;第四十七NMOS管的栅极Ng47连接SO3,漏极Nd47连接Ns46,源极Ns47连接地VSS;第四十八NMOS管的栅极Ng48连接EXN,漏极Nd48连接SO3,源极Ns48连接Ps48,并连接Pd49和Nd49;第四十九NMOS管的栅极Ng49连接Pg49,并连接Ps44、Ns44、Pd51和Nd50,漏极Nd49连接Pd49,并连接Ps48和Ns48,源极Ns49连接地VSS;第五十NMOS管的栅极Ng50连接CN3,漏极Nd50连接Pd51,并连接Ps44、Ns44、Pg49和Ng49,源极Ns50连接第五十一NMOS管的漏极Nd51;第五十一NMOS管的栅极Ng51连接SO1,漏极Nd51连接Ns50,源极Ns51连接地VSS。
选择器电路与第一从锁存器、第二从锁存器和第三从锁存器相连,在任意时刻选择器电路接收第一从锁存器、第二从锁存器和第三从锁存器的输出SO1、SO2和SO3,对其进行选择判断处理后输出MUX,MUX与SO1、SO2和SO3中任意两个同相的信号反相。选择器电路有三个输入端和一个输出端,输入端为数据信号SO1、SO2和SO3,输出端为数据信号MUX。如图11所示,选择器电路由六个PMOS管即第五十二PMOS管、第五十三PMOS管、…、第五十七PMOS管,和六个NMOS管即第五十二NMOS管、第五十三NMOS管、…、第五十七NMOS管组成。第五十二PMOS管的栅极Pg52连接SO1,漏极Pd52连接第五十三PMOS管的源极Ps53,源极Ps52连接电源VDD;第五十三PMOS管的栅极Pg53连接SO2,漏极Pd53连接第五十二NMOS管的漏极Nd52,并作为选择器电路的输出MUX,源极Ps53连接Pd52;第五十四PMOS管的栅极Pg54连接SO3,漏极Pd54连接第五十五PMOS管的源极Ps55,源极Ps54连接电源VDD;第五十五PMOS管的栅极Pg55连接SO1,漏极Pd55连接第五十四NMOS管的漏极Nd54,并连接MUX,源极Ps55连接Pd54;第五十六PMOS管的栅极Pg56连接SO2,漏极Pd56连接第五十七PMOS管的源极Ps57,源极Ps56连接电源VDD;第五十七PMOS管的栅极Pg57连接SO3,漏极Pd57连接第五十六NMOS管的漏极Nd56,并连接MUX,源极Ps57连接Pd56。第五十二NMOS管的栅极Ng52连接SO2,漏极Nd52连接MUX,源极Ns52连接第五十三NMOS管的漏极Nd53;第五十三NMOS管的栅极Ng53连接SO1,漏极Nd53连接Ns52,源极Ns53连接地VSS;第五十四NMOS管的栅极Ng54连接SO1,漏极Nd54连接MUX,源极Ns54连接第五十五NMOS管的漏极Nd55;第五十五NMOS管的栅极Ng55连接SO3,漏极Nd55连接Ns54,源极Ns55连接地VSS;第五十六NMOS管的栅极Ng56连接SO3,漏极Nd56连接MUX,源极Ns56连接第五十七NMOS管的漏极Nd57;第五十七NMOS管的栅极Ng57连接SO2,漏极Nd57连接Ns56,源极Ns57连接地VSS。
第一反相器电路与选择器电路相连,在任意时刻第一反相器电路都要接收选择器电路的输出MUX,对MUX缓冲处理后输出与MUX反相的Q。第一反相器电路有一个输入端和一个输出端,输入端为MUX,输出端为Q。如图12所示,第一反相器电路由第五十八PMOS管和第五十八NMOS管组成。第五十八PMOS管的栅极Pg58接MUX,漏极Pd58连接第五十八NMOS管的漏极Nd58,并作为第一反相器电路的输出Q,源极Ps58连接电源VDD;第五十八NMOS管的栅极Ng58连接MUX,漏极Nd58连接Pd58,源极Ns58连接地VSS。
第二反相器电路与选择器电路相连,在任意时刻第二反相器电路都要接收选择器电路的输出MUX,对MUX缓冲并输出与MUX同相的QN。第二反相器电路有一个输入端和一个输出端,输入端为MUX,输出端为QN。如图13所示,第二反相器电路由两个PMOS管和两个NMOS管组成。第五十九PMOS管的栅极Pg59连接MUX,漏极Pd59连接第五十九NMOS管的漏极Nd59,并连接第六十PMOS管的栅极Pg60和第六十NMOS管的栅极Ng60,源极Ps59连接电源VDD;第六十PMOS管的栅极Pg60连接Ng60,漏极Pd60连接第六十NMOS管的漏极Nd60,并作为第二反相器电路的输出QN,源极Ps60连接电源VDD;第五十九NMOS管的栅极Ng59连接MUX,漏极Nd59连接Pd59,源极Ns59连接地VSS;第六十NMOS管的栅极Ng60连接Pg60,漏极Nd60连接Pd60,源极Ns60连接地VSS。
检错控制电路与第一从锁存器、第二从锁存器、第三从锁存器相连。检错控制电路有四个输入端和两个输出端,输入端为SO1,SO1N,SO2和SO2N,输出端为数据信号EX和EXN,EX和EXN为一对相反的数据信号。检错控制电路从第一从锁存器接收SO1、SO1N信号,从第二从锁存器接收SO2、SO2N信号,向第一从锁存器、第二从锁存器、第三从锁存器输出EX、EXN信号。当SO1和SO1N分别与SO2和SO2N同相时,输出EX为低电平,输出EXN为高电平;当SO1和SO1N分别与SO2和SO2N反相时,输出EX为高电平,输出EXN为低电平。检错控制功能的原理是,当SO1和SO1N分别与SO2和SO2N同相时,判定第一从锁存器和第二从锁存器的输出为正确的输出,利用EX和EXN关闭第一从锁存器和第二从锁存器中SO3对于相对应输出的控制,同时利用EX和EXN开启第三从锁存器中正确输出SO1对于输出SO3和SO3N的控制,以保证SO3和SO3N正确;当SO1和SO1N分别与SO2和SO2N反相时,判定第三从锁存器的输出为正确的输出,利用EX和EXN关闭第三从锁存器中SO1对于输出SO3和SO3N的控制,同时利用EX和EXN开启第一从锁存器和第二从锁存器中正确输出SO3对于相对应输出的控制。
如图14所示,检错控制电路由三个PMOS管和三个NMOS管组成。第六十一PMOS管的栅极Pg61连接SO1,漏极Pd61连接第六十二PMOS的漏极Pd62,并作为检错控制电路的输出端之一EXN,源极Ps61连接SO2N;第六十二PMOS管的栅极Pg62连接SO1N,漏极Pd62连接Pd61,源极Ps62连接SO2;第六十三PMOS管的栅极Pg63连接EXN,漏极Pd63连接第六十三NMOS管的漏极Nd63,并作为检错控制电路的另一个输出端EX,源极Ps63连接电源VDD;第六十一NMOS管的栅极Ng61连接SO1N,漏极Nd61连接第六十二NMOS管的漏极Nd62,并连接EXN,源极Ns61连接SO2N;第六十二NMOS管的栅极Ng62连接SO1,漏极Nd62连接Nd61,源极Ns62连接SO2;第六十三NMOS管的栅极Ng63连接EXN,漏极Nd63连接Pd63,源极Ns63连接地VSS。
本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器工作过程如下:
本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器的基本结构是三模冗余结构。第一时钟电路、第一主锁存器和第一从锁存器构成第一基本D触发器;第二时钟电路、第二主锁存器和第二从锁存器构成第二基本D触发器;第三时钟电路、第三主锁存器和第三从锁存器构成第三基本D触发器。第一时钟电路接收CK,对其进行缓冲后分别产生与CK反相的CN1和与CK同相的C1,并且把CN1和C1传入到第一主锁存器和第一从锁存器。在CK为低电平期间,CN1为高电平、C1为低电平,第一主锁存器开启,接收D并对其进行缓冲处理后输出与D同相的MO1,第一从锁存器处于保存状态,不接收第一主锁存器输出的MO1而是保存上一个CK下降沿采样到的MO1,同时利用检错控制电路产生的信号EX和EXN,以及第三从锁存器的输出信号SO3来保持第一从锁存器输出信号SO1和SO1N的稳定;在CK为高电平期间,CN1为低电平、C1为高电平,第一主锁存器处于保存状态,保存前一个CK上升沿采样到的D并输出与D同相的MO1,第一从锁存器开启并接收第一主锁存器的输出MO1,对MO1进行缓冲处理并输出与MO1同相的SO1和与MO1反相的SO1N。
第二时钟电路接收CK,对其进行缓冲后分别产生与CK反相的CN2和与CK同相的C2,并且把CN2和C2传入到第二主锁存器和第二从锁存器。在CK为低电平期间,CN2为高电平、C2为低电平,第二主锁存器开启,接收D并对其进行缓冲处理后输出与D同相的MO2,第二从锁存器处于保存状态,不接收第二主锁存器输出的MO2而是保存上一个CK下降沿采样到的MO2,同时利用检错控制电路产生的信号EX和EXN,以及第三从锁存器的输出信号SO3来保持第二从锁存器输出信号SO2和SO2N的稳定;在CK为高电平期间,CN2为低电平、C2为高电平,第二主锁存器处于保存状态,保存前一个CK上升沿采样到的D并输出与D同相的MO2,第二从锁存器开启并接收第二主锁存器的输出MO2,对MO2进行缓冲处理并输出与MO2同相的SO2和与MO2反相的SO2N。
第三时钟电路接收CK,对其进行缓冲后分别产生与CK反相的CN3和与CK同相的C3,并且把CN3和C3传入到第三主锁存器和第三从锁存器。在CK为低电平期间,CN3为高电平、C3为低电平,第三主锁存器开启,接收D并对其进行缓冲处理后输出与D同相的MO3,第三从锁存器处于保存状态,不接收第三主锁存器输出的MO3而是保存上一个CK下降沿采样到的MO3,同时利用检错控制电路产生的信号EX和EXN,以及第一从锁存器的输出信号SO1来保持第三从锁存器输出信号SO3和SO3N的稳定;在CK为高电平期间,CN3为低电平、C3为高电平,第三主锁存器处于保存状态,保存前一个CK上升沿采样到的D并输出与D同相的MO3,第三从锁存器开启并接收第三主锁存器的输出MO3,对MO3进行缓冲处理并输出与MO3同相的SO3和与MO3反相的SO3N。
在任意时刻,检错控制电路都要接收第一从锁存器的输出SO1和SO1N,以及第二从锁存器的输出SO2和SO2N,当SO1和SO1N分别与SO2和SO2N同相时,输出EX为低电平,输出EXN为高电平;当SO1和SO1N分别与SO2和SO2N反相时,输出EX为高电平,输出EXN为低电平。检错控制功能的原理是,当SO1和SO1N分别与SO2和SO2N同相时,判定第一从锁存器和第二从锁存器的输出为正确的输出,利用EX和EXN关闭第一从锁存器和第二从锁存器中SO3对于相对应输出的控制,同时利用EX和EXN开启第三从锁存器中正确输出SO1对于输出SO3和SO3N的控制,以保证SO3和SO3N正确;当SO1和SO1N分别与SO2和SO2N反相时,判定第三从锁存器的输出为正确的输出,利用EX和EXN关闭第三从锁存器中SO1对于输出SO3和SO3N的控制,同时利用EX和EXN开启第一从锁存器和第二从锁存器中正确输出SO3对于相对应输出的控制。
在任意时刻选择器电路接收第一从锁存器、第二从锁存器和第三从锁存器的输出SO1、SO2和SO3,对其进行选择判断处理后输出MUX,MUX与SO1、SO2和SO3中任意两个同相的信号反相。
在任意时刻第一反相器电路都要接收选择器电路的输出MUX,对MUX缓冲处理后输出与MUX反相的Q;在任意时刻第二反相器电路都要接收选择器电路的输出MUX,对MUX缓冲并输出与MUX同相的QN。
采用本发明可以达到以下有益效果:
本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器的抗单粒子翻转能力优于传统未加固的D触发器、时间采样加固的D触发器和传统三模冗余加固的D触发器。本发明在传统三模冗余加固的D触发器结构的基础上,设计了检错控制电路对三模冗余结构中的三个基本触发器的输出进行控制,保证在任意时刻选择器都能判定得出正确的输出。该检错电路对于时钟CK长时间保持在低电平状态的情况尤为有效,因为CK为低电平时,所有基本触发器的从锁存器处于保持状态,此状态时间过长时,有可能导致三个基本触发器的输出依次发生单粒子翻转,从而最终导致选择器得出错误输出。检错控制电路能在三个基本触发器的其中一个输出发生翻转时,立刻对其进行恢复,避免了翻转的累积,从而避免了翻转累积引起的单粒子翻转,进一步提高了本发明的抗单粒子翻转能力。本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器适合用于抗单粒子翻转加固集成电路的标准单元库,应用于航空、航天等领域。
附图说明
图1为本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器逻辑结构示意图;
图2为本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器中第一时钟电路结构示意图;
图3为本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器中第一主锁存器结构示意图;
图4为本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器中第一从锁存器结构示意图;
图5为本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器中第二时钟电路结构示意图;
图6为本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器中第二主锁存器结构示意图;
图7为本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器中第二从锁存器结构示意图;
图8为本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器中第三时钟电路结构示意图;
图9为本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器中第三主锁存器结构示意图;
图10为本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器中第三从锁存器结构示意图;
图11为本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器中选择器电路结构示意图;
图12为本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器中第一反相器电路结构示意图;
图13为本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器中第二反相器电路结构示意图;
图14为本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器中检错控制电路结构示意图。
具体实施方式
图1为本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器逻辑结构示意图。本发明由第一时钟电路(如图2所示)、第一主锁存器(如图3所示)、第一从锁存器(如图4所示);第二时钟电路(如图5所示)、第二主锁存器(如图6所示)、第二从锁存器(如图7所示);第三时钟电路(如图8所示)、第三主锁存器(如图9所示)、第三从锁存器(如图10所示);选择器电路(如图11所示)、第一反相器电路(如图12所示)、第二反相器电路(如图13所示);以及检错控制电路(如图14所示)组成。
本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器有两个输入端和两个输出端。两个输入端分别是CK即时钟信号输入端和D即数据信号输入端;两个输出端分别是Q和QN,Q和QN输出一对相反的数据信号。
第一时钟电路与第一主锁存器和第一从锁存器相连,第一时钟电路有一个输入端和两个输出端,输入端为CK,输出端为C1、CN1,C1和CN1为一对相反的时钟信号。第一时钟电路接收CK,第一级反相器和第二级反相器对CK进行缓冲后产生与CK反相的CN1和与CK同相的C1,并且把CN1和C1传入到第一主锁存器和第一从锁存器。
如图2所示,第一时钟电路为一个两级反相器,由第一级反相器和第二级反相器组成;第一级反相器由第一PMOS管和第一NMOS管组成,第一PMOS管的栅极Pg1连接CK,漏极Pd1连接第一NMOS管的漏极Nd1、Pg2、Ng2,并作为第一时钟电路的一个输出端CN1。第一NMOS管的栅极Ng1连接CK,漏极Nd1连接Pd1、Pg2、Ng2;第二级反相器由第二PMOS管和第二NMOS管组成,第二PMOS管的栅极Pg2连接CN1、Pd1、Nd1,漏极Pd2连接第二NMOS管的漏极Nd2,并作为时钟电路的另一个输出端C1。第二NMOS管的栅极Ng2连接CN1、Pd1、Nd1,漏极Nd2连接Pd2。第一PMOS管和第二PMOS管的衬底连接电源VDD,源极Ps1、Ps2连接电源VDD;第一NMOS管和第二NMOS管的衬底接地VSS,源极Ns1、Ns2也接地VSS。
第一主锁存器为普通锁存器,和第一从锁存器串联,并与第一时钟电路连接。第一主锁存器有三个输入端和一个输出端,三个输入端为D、C1、CN1,一个输出端为数据信号MO1。第一主锁存器从第一时钟电路接收时钟信号C1、CN1,从输入端接收数据信号D,向第一从锁存器输出数据信号MO1。在CK为低电平期间,CN1为高电平、C1为低电平,第一主锁存器开启,接收D并对其进行缓冲处理后输出与D同相的MO1;在CK为高电平期间,CN1为低电平、C1为高电平,第一主锁存器处于保存状态,保存前一个CK上升沿采样到的D并输出与D同相的MO1。
如图3所示,第一主锁存器由5个PMOS管即第三PMOS管、第四PMOS管、…、第七PMOS管,和5个NMOS管即第三NMOS管、第四NMOS管、…、第七NMOS管组成,第一主锁存器中所有PMOS管的衬底连接电源VDD,所有NMOS管的衬底接地VSS。第三PMOS管的栅极Pg3连接D,漏极Pd3连接第四PMOS管的源极Ps4,源极Ps3连接电源VDD;第四PMOS管的栅极Pg4连接C1,漏极Pd4连接第三NMOS管的漏极Nd3,并连接第五PMOS管的栅极Pg5、第五NMOS管的栅极Ng5、第七PMOS管的漏极Pd7和第六NMOS管的漏极Nd6,源极Ps4连接Pd3;第五PMOS管的栅极Pg5连接Ng5,并连接Pd4、Nd3、Pd7和Nd6,漏极Pd5连接第五NMOS管的漏极Nd5、Ng7、Pg6,并作为第一主锁存器的输出MO1,源极Ps5连接电源VDD;第六PMOS管的栅极Pg6连接Pd5、Nd5、Ng7、MO1,漏极Pd6连接第七PMOS管的源极Ps7,源极Ps6连接电源VDD;第七PMOS管的栅极Pg7连接CN1,漏极Pd7连接Nd6,并连接Pg5、Ng5、Pd4和Nd3,源极Ps7连接Pd6。第三NMOS管的栅极Ng3连接CN1,漏极Nd3连接Pd4,并连接Pg5、Ng5、Pd7和Nd6,源极Ns3连接第四NMOS管的漏极Nd4;第四NMOS管的栅极Ng4连接D,漏极Nd4连接Ns3,源极Ns4接地VSS;第五NMOS管的栅极Ng5连接Pg5,并连接Pd4、Nd3、Pd7和Nd6,漏极Nd5连接Pd5,源极Ns5接地VSS;第六NMOS管的栅极Ng6连接C1,漏极Nd6连接Pd7,并连接Pg5、Ng5、Pd4和Nd3,源极Ns6连接第七NMOS管的漏极Nd7;第七NMOS管的栅极Ng7连接Pd5、Nd5、Pg6、MO1,漏极Nd7连接Ns6,源极Ns7接地VSS。
第一从锁存器为带纠错功能的锁存器。第一从锁存器与第一主锁存器串联,并与第一时钟电路、检错控制电路和选择器电路连接。第一从锁存器有六个输入端和两个输出端,六个输入端为MO1、C1、CN1、EX、EXN和SO3,两个输出端为数据信号SO1、SO1N,SO1和SO1N为一对相反的数据信号。第一从锁存器从第一时钟电路接收时钟信号C1、CN1,从第一主锁存器接收数据信号MO1,从第三从锁存器接收SO3信号,从检错控制电路接收EX、EXN信号,向检错控制电路输出信号SO1、SO1N,向选择器电路输出SO1信号。在CK为低电平期间,CN1为高电平、C1为低电平,第一从锁存器处于保存状态,不接收第一主锁存器输出的MO1而是保存上一个CK下降沿采样到的MO1,同时利用检错控制电路产生的信号EX和EXN,以及第三从锁存器的输出信号SO3来保持第一从锁存器输出信号SO1和SO1N的稳定;在CK为高电平期间,CN1为低电平、C1为高电平,第一从锁存器开启并接收第一主锁存器的输出MO1,对MO1进行缓冲处理并输出与MO1同相的SO1和与MO1反相的SO1N。
如图4所示,第一从锁存器由十个PMOS管即第八PMOS管、第九PMOS管、…、第十七PMOS管,和十个NMOS管即第八NMOS管、第九NMOS管、…、第十七NMOS管组成,第一从锁存器中所有PMOS管的衬底连接电源VDD,所有NMOS管的衬底接地VSS。第八PMOS管的栅极Pg8连接MO1,漏极Pd8连接第九PMOS管的源极Ps9,源极Ps8连接电源VDD;第九PMOS管的栅极Pg9连接CN1,漏极Pd9连接第八NMOS管的漏极Nd8、Pd10、Nd10、Pd13、Nd12、Pg11、Ng11,并作为第一从锁存器的一个输出SO1N,源极Ps9连接Pd8;第十PMOS管的栅极Pg10连接EXN,漏极Pd10连接SO1N、Nd8、Pd9、Nd10、Pd13、Nd12、Pg11、Ng11,源极Ps10连接第十NMOS管的源极Ns10,并连接第十五PMOS管的栅极Pg15、第十五NMOS管的栅极Ng15、第十七PMOS管的漏极Pd17和第十六NMOS管的漏极Nd16;第十一PMOS管的栅极Pg11连接SO1N、Pd9、Nd8、Ng11、Pd10、Nd10、Pd13、Nd12,漏极Pd11连接第十一NMOS管的漏极Nd11、Pg12、Ng13、Pd14、Nd14,并作为第一从锁存器的一个输出SO1,源极Ps11连接电源VDD;第十二PMOS管的栅极Pg12连接SO1、Nd11、Pd11、Ng13、Pd14、Nd14,漏极Pd12连接第十三PMOS管的源极Ps13,源极Ps12连接电源VDD;第十三PMOS管的栅极Pg13连接C1,漏极Pd13连接SO1N、Nd12、Pg9、Nd8、Pd10、Nd10、Pg11、Ng11,源极Ps13连接Pd12;第十四PMOS管的栅极Pg14连接EXN,漏极Pd14连接SO1、Pd11、Nd11、Pg12、Ng13,源极Ps14连接第十四NMOS管的源极Ns14,并连接第十五PMOS管的漏极Pd15和第十五NMOS管的漏极Nd15;第十五PMOS管的栅极连接Ng15,并连接Ps10、Ns10、Pd17和Nd16,漏极Pd15连接Nd15,并连接Ps14和Ns14,源极Ps15连接电源VDD;第十六PMOS管的栅极Pg16连接SO3,漏极Pd16连接第十七PMOS管的源极Ps17,源极Ps16连接电源VDD;第十七PMOS管的栅极Pg17连接C1,漏极Pd17连接Nd16,并连接Ps10、Ns10、Pg15、Ng15,源极Ps17连接Pd16。第八NMOS管的栅极Ng8连接C1,漏极Nd8连接SO1N、Pd9、Pd10、Nd10、Pd13、Nd12、Pg11、Ng11,源极Ns8连接第九NMOS管的漏极Nd9;第九NMOS管的栅极Ng9连接MO1,漏极Nd9连接Ns8,源极Ns9连接地VSS;第十NMOS管的栅极Ng10连接EX,漏极Nd10连接SO1N、Pd9、Pd10、Nd8、Pd13、Nd12、Pg11、Ng11,源极Ns10连接Ps10,并连接Pg15、Ng15、Pd17和Nd16;第十一NMOS管的栅极Ng11连接SO1N、Pd9、Nd8、Pd10、Nd10、Pd13、Nd12、Pg11,漏极Nd11连接SO1、Pd11、Pg12、Ng13、Pd14、Nd14,源极Ns11连接地VSS;第十二NMOS管的栅极Ng12连接CN1,漏极Nd12连接SO1N、Pd9、Nd8、Pd10、Nd10、Pd13、Ng11、Pg11,源极Ns12连接第十三NMOS管的漏极Nd13;第十三NMOS管的栅极Ng13连接SO1、Pg12、Pd11、Nd11、Pd14、Nd14,漏极Nd13连接Ns12,源极Ns13连接地VSS;第十四NMOS管的栅极Ng14连接EX,漏极Nd14连接SO1、Pg12、Pd11、Nd11、Pd14、Ng13,源极Ns14连接Ps14,并连接Pd15和Nd15;第十五NMOS管的栅极Ng15连接Pg15,并连接Ps10、Ns10、Pd17和Nd16,漏极Nd15连接Pd15,并连接Ps14和Ns14,源极Ns15连接地VSS;第十六NMOS管的栅极Ng16连接CN1,漏极Nd16连接Pd17,并连接Ps10、Ns10、Pg15和Ng15,源极Ns16连接第十七NMOS管的漏极Nd17;第十七NMOS管的栅极Ng17连接SO3,漏极Nd17连接Ns16,源极Ns17连接地VSS。
第二时钟电路与第二主锁存器、第二从锁存器相连。第二时钟电路有一个输入端和两个输出端,输入端为时钟信号CK,输出端为时钟信号C2、CN2,C2和CN2为一对相反的时钟信号。第二时钟电路从输入端接收CK,对CK进行缓冲后分别产生与CK反相的CN2和与CK同相的C2,并且把CN2和C2传入到第二主锁存器和第二从锁存器。
如图5所示,第二时钟电路为一个两级反相器,由第三级反相器和第四级反相器组成;第三级反相器由第十八PMOS管和第十八NMOS管组成,第十八PMOS管的栅极Pg18连接CK,漏极Pd18连接第十八NMOS管的漏极Nd18、Pg19、Ng19,并作为第二时钟电路的一个输出端CN2;第十八NMOS管的栅极Ng18连接CK,漏极Nd18连接Pd18、Pg19、Ng19。第四级反相器由第十九PMOS管和第十九NMOS管组成,第十九PMOS管的栅极Pg19连接CN2、Pd18、Nd18、Ng19,漏极Pd19连接第十九NMOS管的漏极Nd19,并作为时钟电路的另一个输出端C2;第十九NMOS管的栅极Ng19连接CN2、Pd18、Nd18、Pg19,漏极Nd19连接Pd19。第十八PMOS管和第十九PMOS管的衬底连接电源VDD,源极Ps18、Ps19连接电源VDD;第十八NMOS管和第十九NMOS管的衬底接地VSS,源极Ns18、Ns19也接地VSS。
第二主锁存器为普通锁存器,第二主锁存器和第二从锁存器串联,与第二时钟电路连接。第二主锁存器有三个输入端和一个输出端,三个输入端为D、C2、CN2,一个输出端为数据信号MO2。第二主锁存器从第二时钟电路接收时钟信号C2、CN2,从输入端接收数据信号D,向第二从锁存器输出数据信号MO2。在CK为低电平期间,CN2为高电平、C2为低电平,第二主锁存器开启,接收D并对其进行缓冲处理后输出与D同相的MO2;在CK为高电平期间,CN2为低电平、C2为高电平,第二主锁存器处于保存状态,保存前二个CK上升沿采样到的D并输出与D同相的MO2。
如图6所示,第二主锁存器由五个PMOS管即第二十PMOS管、第二十一PMOS管、…、第二十四PMOS管,和五个NMOS管即第二十NMOS管、第二十一NMOS管、…、第二十四NMOS管组成,第二主锁存器中所有PMOS管的衬底连接电源VDD,所有NMOS管的衬底接地VSS。第二十PMOS管的栅极Pg20连接D,漏极Pd20连接第二十一PMOS管的源极Ps21,源极Ps20连接电源VDD;第二十一PMOS管的栅极Pg21连接C2,漏极Pd21连接第二十NMOS管的漏极Nd20,并连接第二十二PMOS管的栅极Pg22、第二十二NMOS管的栅极Ng22、第二十四PMOS管的漏极Pd24和第二十三NMOS管的漏极Nd23,源极Ps21连接Pd20;第二十二PMOS管的栅极Pg22连接Ng22,并连接Pd21、Nd20、Pd24和Nd23,漏极Pd22连接第二十二NMOS管的漏极Nd22、Ng24、Pg23,并作为第二主锁存器的输出MO2,源极Ps22连接电源VDD;第二十三PMOS管的栅极Pg23连接MO2、Pd22、Nd22、Ng24,漏极Pd23连接第二十四PMOS管的源极Ps24,源极Ps23连接电源VDD;第二十四PMOS管的栅极Pg24连接CN2,漏极Pd24连接Nd23,并连接Pg22、Ng22、Pd21和Nd20,源极Ps24连接Pd23。第二十NMOS管的栅极Ng20连接CN2,漏极Nd20连接Pd21,并连接Pg22、Ng22、Pd24和Nd23,源极Ns20连接第二十一NMOS管的漏极Nd21;第二十一NMOS管的栅极Ng21连接D,漏极Nd21连接Ns20,源极Ns21接地VSS;第二十二NMOS管的栅极Ng22连接Pg22,并连接Pd21、Nd20、Pd24和Nd23,漏极Nd22连接Pd22、Pg23、Ng24,源极Ns22接地VSS;第二十三NMOS管的栅极Ng23连接C2,漏极Nd23连接Pd24,并连接Pg22、Ng22、Pd21和Nd20,源极Ns23连接第二十四NMOS管的漏极Nd24;第二十四NMOS管的栅极Ng24连接MO2、Pg23、Pd22、Ns22,漏极Nd24连接Ns23,源极Ns24接地VSS。
第二从锁存器为带纠错功能的锁存器。第二从锁存器与第二主锁存器串联,并与第二时钟电路、检错控制电路和选择器电路连接。第二从锁存器有六个输入端和两个输出端,六个输入端为MO2、C2、CN2、EX、EXN和SO3,两个输出端为SO2、SO2N,SO2和SO2N为一对相反的数据信号。第二从锁存器从第二时钟电路接收信号C2、CN2,从第二主锁存器接收信号MO2,从第三从锁存器接收SO3信号,从检错控制电路接收EX、EXN信号,向检错控制电路输出信号SO2、SO2N,向选择器电路输出SO2信号。在CK为低电平期间,CN2为高电平、C2为低电平,第二从锁存器处于保存状态,不接收第二主锁存器输出的MO2而是保存上二个CK下降沿采样到的MO2,同时利用检错控制电路产生的信号EX和EXN,以及第三从锁存器的输出信号SO3来保持第二从锁存器输出信号SO2和SO2N的稳定;在CK为高电平期间,CN2为低电平、C2为高电平,第二从锁存器开启并接收第二主锁存器的输出MO2,对MO2进行缓冲处理并输出与MO2同相的SO2和与MO2反相的SO2N。
如图7所示,第二从锁存器由十个PMOS管即第二十五PMOS管、第二十六PMOS管、…、第三十四PMOS管,和十个NMOS管即第二十五NMOS管、第二十六NMOS管、…、第三十四NMOS管组成,第二从锁存器中所有PMOS管的衬底连接电源VDD,所有NMOS管的衬底接地VSS。第二十五PMOS管的栅极Pg25连接MO2,漏极Pd25连接第二十六PMOS管的源极Ps26,源极Ps25连接电源VDD;第二十六PMOS管的栅极Pg26连接CN2,漏极Pd26连接第二十五NMOS管的漏极Nd25、Pd27、Nd27、Pg28、Ng28、Pd30、Nd29,并作为第二从锁存器的一个输出SO2N,源极Ps26连接Pd25;第二十七PMOS管的栅极Pg27连接EXN,漏极Pd27连接SO2N、Nd25、Pd26、Nd27、Pg28、Ng28、Pd30、Nd29,源极Ps27连接第二十七NMOS管的源极Ns27,并连接第三十二PMOS管的栅极Pg32、第三十二NMOS管的栅极Ng32、第三十四PMOS管的漏极Pd34和第三十三NMOS管的漏极Nd33;第二十八PMOS管的栅极Pg28连接SO2N、Nd25、Pd26、Pd27、Nd27、Ng28、Pd30、Nd29,漏极Pd28连接第二十八NMOS管的漏极Nd28、Pg29、Ng30、Pd31、Nd31,并作为第二从锁存器的一个输出SO2,源极Ps28连接电源VDD;第二十九PMOS管的栅极Pg29连接SO2、Pd28、Nd28、Ng30、Pd31、Nd31,漏极Pd29连接第三十PMOS管的源极Ps30,源极Ps29连接电源VDD;第三十PMOS管的栅极Pg30连接C2,漏极Pd30连接SO2N、Pd26、Nd25、Pd27、Nd27、Pg28、Ng28、Nd29,源极Ps30连接Pd29;第三十一PMOS管的栅极Pg31连接EXN,漏极Pd31连接SO2、Pd28、Nd28、Pg29、Ng30、Nd31,源极Ps31连接第三十一NMOS管的源极Ns31,并连接第三十二PMOS管的漏极Pd32和第三十二NMOS管的漏极Nd32;第三十二PMOS管的栅极连接Ng32,并连接Ps27、Ns27、Pd34和Nd33、Ng32,漏极Pd32连接Nd32,并连接Ps31和Ns31,源极Ps32连接电源VDD;第三十三PMOS管的栅极Pg33连接SO3,漏极Pd33连接第三十四PMOS管的源极Ps34,源极Ps33连接电源VDD;第三十四PMOS管的栅极Pg34连接C2,漏极Pd34连接Nd33,并连接Ps27、Ns27、Pg32、Ng32,源极Ps34连接Pd33。第二十五NMOS管的栅极Ng25连接C2,漏极Nd25连接SO2N、Pd26、Pd27、Nd27、Pg28、Ng28、Pd30、Nd29,源极Ns25连接第二十六NMOS管的漏极Nd26;第二十六NMOS管的栅极Ng26连接MO2,漏极Nd26连接Ns25,源极Ns26连接地VSS;第二十七NMOS管的栅极Ng27连接EX,漏极Nd27连接SO2N、Pd26、Nd25、Pd27、Pg28、Ng28、Pd30、Nd29,源极Ns27连接Ps27,并连接Pg32、Ng32、Pd34和Nd33;第二十八NMOS管的栅极Ng28连接SO2N、Pd26、Nd25、Pd27、Nd27、Pg28、Pd30、Nd29,漏极Nd28连接SO2、Pd28、Pg29、Ng30、Pd31、Nd31,源极Ns28连接地VSS;第二十九NMOS管的栅极Ng29连接CN2,漏极Nd29连接SO2N、Pd26、Nd25、Pd27、Nd27、Pg28、Ng28、Pd30,源极Ns29连接第三十NMOS管的漏极Nd30;第三十NMOS管的栅极Ng30连接SO2、Pd28、Nd28、Pg29、Pd31、Nd31,漏极Nd30连接Ns29,源极Ns30连接地VSS;第三十一NMOS管的栅极Ng31连接EX,漏极Nd31连接SO2、Pd28、Nd28、Pg29、Ng30、Pd31,源极Ns31连接Ps31,并连接Pd32和Nd32;第三十二NMOS管的栅极Ng32连接Pg32,并连接Ps27、Ns27、Pd34和Nd33,漏极Nd32连接Pd32,并连接Ps31和Ns31,源极Ns32连接地VSS;第三十三NMOS管的栅极Ng33连接CN2,漏极Nd33连接Pd34,并连接Ps27、Ns27、Pg32和Ng32,源极Ns33连接第三十四NMOS管的漏极Nd34;第三十四NMOS管的栅极Ng34连接SO3,漏极Nd34连接Ns33,源极Ns34连接地VSS。
第三时钟电路与第三主锁存器、第三从锁存器相连。第三时钟电路有一个输入端和两个输出端,输入端为CK,输出端为C3、CN3,C3和CN3为一对相反的数据信号。第三时钟电路接收CK,第五级反相器和第六级反相器对CK进行缓冲后产生与CK反相的CN3和与CK同相的C3,并且把CN3和C3传入到第三主锁存器和第三从锁存器。
如图8所示,第三时钟电路为一个两级反相器,由第五级反相器和第六级反相器组成;第五级反相器由第三十五PMOS管和第三十五NMOS管组成,第三十五PMOS管的栅极Pg35连接CK,漏极Pd35连接第三十五NMOS管的漏极Nd35、Pg36、Ng36,并作为第二时钟电路的一个输出端CN3;第三十五NMOS管的栅极Ng35连接CK,漏极Nd35连接Pd35、Pg36、Ng36。第六级反相器由第三十六PMOS管和第三十六NMOS管组成,第三十六PMOS管的栅极Pg36连接CN3、Pd35、Nd35、Ng36,漏极Pd36连接第三十六NMOS管的漏极Nd36,并作为时钟电路的另一个输出端C3;第三十六NMOS管的栅极Ng36连接CN3、Pd35、Nd35、Ng36,漏极Nd36连接Pd36。第三十五PMOS管和第三十六PMOS管的衬底连接电源VDD,源极Ps35、Ps36连接电源VDD;第三十五NMOS管和第三十六NMOS管的衬底接地VSS,源极Ns35、Ns36也接地VSS。第三时钟电路接收CK,对其进行缓冲后分别产生与CK反相的CN3和与CK同相的C3,并且把CN3和C3传入到第三主锁存器和第三从锁存器。
第三主锁存器为普通锁存器,与第三从锁存器串联,并与第三时钟电路连接。第三主锁存器有三个输入端和一个输出端,三个输入端为D、C3、CN3,一个输出端为数据信号MO3。第三主锁存器从第三时钟电路接收时钟信号C3、CN3,从输入端接收数据信号D,向第三从锁存器输出数据信号MO3。在CK为低电平期间,CN3为高电平、C3为低电平,第三主锁存器开启,接收D并对其进行缓冲处理后输出与D同相的MO3;在CK为高电平期间,CN3为低电平、C3为高电平,第三主锁存器处于保存状态,保存前三个CK上升沿采样到的D并输出与D同相的MO3。
如图9所示,第三主锁存器由五个PMOS管即第三十七PMOS管、第三十八PMOS管、…、第四十一PMOS管,和五个NMOS管即第三十七NMOS管、第三十八NMOS管、…、第四十一NMOS管组成,第三主锁存器中所有PMOS管的衬底连接电源VDD,所有NMOS管的衬底接地VSS。第三十七PMOS管的栅极Pg37连接D,漏极Pd37连接第三十八PMOS管的源极Ps38,源极Ps37连接电源VDD;第三十八PMOS管的栅极Pg38连接C3,漏极Pd38连接第三十七NMOS管的漏极Nd37,并连接第三十九PMOS管的栅极Pg39、第三十九NMOS管的栅极Ng39、第四十一PMOS管的漏极Pd41和第四十NMOS管的漏极Nd40,源极Ps38连接Pd37;第三十九PMOS管的栅极Pg39连接Ng39,并连接Pd38、Nd37、Pd41和Nd40,漏极Pd39连接第三十九NMOS管的漏极Nd39、Pg40、Ng41,并作为第二主锁存器的输出MO3,源极Ps39连接电源VDD;第四十PMOS管的栅极Pg40连接MO3、Pd39、Nd39、Ng41,漏极Pd40连接第四十一PMOS管的源极Ps41,源极Ps40连接电源VDD;第四十一PMOS管的栅极Pg41连接CN3,漏极Pd41连接Nd40,并连接Pg39、Ng39、Pd38和Nd37,源极Ps41连接Pd40。第三十七NMOS管的栅极Ng37连接CN3,漏极Nd37连接Pd38,并连接Pg39、Ng39、Pd41和Nd40,源极Ns37连接第三十八NMOS管的漏极Nd38;第三十八NMOS管的栅极Ng38连接D,漏极Nd38连接Ns37,源极Ns38接地VSS;第三十九NMOS管的栅极Ng39连接Pg39,并连接Pd38、Nd37、Pd41和Nd40,漏极Nd39连接Pd39,源极Ns39接地VSS;第四十NMOS管的栅极Ng40连接C3,漏极Nd40连接Pd41,并连接Pg39、Ng39、Pd38和Nd37,源极Ns40连接第四十一NMOS管的漏极Nd41;第四十一NMOS管的栅极Ng41连接MO1,漏极Nd41连接Ns40,源极Ns41接地VSS。
第三从锁存器为带纠错功能的锁存器,与第三主锁存器串联,并与第三时钟电路、第一从锁存器、第二从锁存器、检错控制电路和选择器电路连接。第三从锁存器有六个输入端和两个输出端,六个输入端为MO3、C3、CN3、EX、EXN和SO1,两个输出端为SO3、SO3N,SO3和SO3N为一对相反的数据信号。第三从锁存器从第三时钟电路接收信号C3、CN3,从第三主锁存器接收信号MO3,从第一从锁存器接收SO1信号,从检错控制电路接收EX、EXN信号,向选择器电路输出SO3信号。在CK为低电平期间,CN3为高电平、C3为低电平,第三从锁存器处于保存状态,不接收第三主锁存器输出的MO3而是保存上一个CK下降沿采样到的MO3,同时利用检错控制电路产生的信号EX和EXN,以及第一从锁存器的输出信号SO1来保持第三从锁存器输出信号SO3和SO3N的稳定;在CK为高电平期间,CN3为低电平、C3为高电平,第三从锁存器开启并接收第三主锁存器的输出MO3,对MO3进行缓冲处理并输出与MO3同相的SO3和与MO3反相的SO3N。
如图10所示,第三从锁存器由十个PMOS管即第四十二PMOS管、第四十一PMOS管、…、第五十一PMOS管,和十个NMOS管即第四十二NMOS管、第四十一NMOS管、…、第五十一NMOS管组成,第三从锁存器中所有PMOS管的衬底连接电源VDD,所有NMOS管的衬底接地VSS。第四十二PMOS管的栅极Pg42连接MO3,漏极Pd42连接第四十三PMOS管的源极Ps43,源极Ps42连接电源VDD;第四十三PMOS管的栅极Pg43连接CN3,漏极Pd43连接第四十二NMOS管的漏极Nd42,并作为第一从锁存器的一个输出SO3N,源极Ps43连接Pd42;第四十四PMOS管的栅极Pg44连接EX,漏极Pd44连接SO3N,源极Ps44连接第四十四NMOS管的源极Ns44,并连接第四十九PMOS管的栅极Pg49、第四十九NMOS管的栅极Ng49、第五十一PMOS管的漏极Pd51和第五十NMOS管的漏极Nd50;第四十五PMOS管的栅极Pg45连接SO3N,漏极Pd45连接第四十五NMOS管的漏极Nd45,并作为第二从锁存器的一个输出SO3,源极Ps45连接电源VDD;第四十六PMOS管的栅极Pg46连接SO3,漏极Pd46连接第四十七PMOS管的源极Ps47,源极Ps46连接电源VDD;第四十七PMOS管的栅极Pg47连接C3,漏极Pd47连接SO3N,源极Ps47连接Pd46;第四十八PMOS管的栅极Pg48连接EX,漏极Pd48连接SO3,源极Ps48连接第四十八NMOS管的源极Ns48,并连接第四十九PMOS管的漏极Pd49和第四十九NMOS管的漏极Nd49;第四十九PMOS管的栅极连接Ng49,并连接Ps44、Ns44、Pd51和Nd50,漏极Pd49连接Nd49,并连接Ps48和Ns48,源极Ps49连接电源VDD;第五十PMOS管的栅极Pg50连接SO1,漏极Pd50连接第五十一PMOS管的源极Ps51,源极Ps50连接电源VDD;第五十一PMOS管的栅极Pg51连接C3,漏极Pd51连接Nd50,并连接Ps44、Ns44、Pg49、Ng49,源极Ps51连接Pd50。第四十二NMOS管的栅极Ng42连接C3,漏极Nd42连接SO3N,源极Ns42连接第四十三NMOS管的漏极Nd43;第四十三NMOS管的栅极Ng43连接MO3,漏极Nd43连接Ns42,源极Ns43连接地VSS;第四十四NMOS管的栅极Ng44连接EXN,漏极Nd44连接SO3N,源极Ns44连接Ps44,并连接Pg49、Ng49、Pd41和Nd50;第四十五NMOS管的栅极Ng45连接SO3N,漏极Nd45连接SO3,源极Ns45连接地VSS;第四十六NMOS管的栅极Ng46连接CN2,漏极Nd46连接SO3N,源极Ns46连接第四十七NMOS管的漏极Nd47;第四十七NMOS管的栅极Ng47连接SO3,漏极Nd47连接Ns46,源极Ns47连接地VSS;第四十八NMOS管的栅极Ng48连接EXN,漏极Nd48连接SO3,源极Ns48连接Ps48,并连接Pd49和Nd49;第四十九NMOS管的栅极Ng49连接Pg49,并连接Ps44、Ns44、Pd51和Nd50,漏极Nd49连接Pd49,并连接Ps48和Ns48,源极Ns49连接地VSS;第五十NMOS管的栅极Ng50连接CN3,漏极Nd50连接Pd51,并连接Ps44、Ns44、Pg49和Ng49,源极Ns50连接第五十一NMOS管的漏极Nd51;第五十一NMOS管的栅极Ng51连接SO1,漏极Nd51连接Ns50,源极Ns51连接地VSS。
选择器电路与第一从锁存器、第二从锁存器和第三从锁存器相连,在任意时刻选择器电路接收第一从锁存器、第二从锁存器和第三从锁存器的输出SO1、SO2和SO3,对其进行选择判断处理后输出MUX,MUX与SO1、SO2和SO3中任意两个同相的信号反相。选择器电路有三个输入端和一个输出端,输入端为数据信号SO1、SO2和SO3,输出端为数据信号MUX。如图11所示,选择器电路由六个PMOS管即第五十二PMOS管、第五十三PMOS管、…、第五十七PMOS管,和六个NMOS管即第五十二NMOS管、第五十三NMOS管、…、第五十七NMOS管组成。第五十二PMOS管的栅极Pg52连接SO1,漏极Pd52连接第五十三PMOS管的源极Ps53,源极Ps52连接电源VDD;第五十三PMOS管的栅极Pg53连接SO2,漏极Pd53连接第五十二NMOS管的漏极Nd52,并作为选择器电路的输出MUX,源极Ps53连接Pd52;第五十四PMOS管的栅极Pg54连接SO3,漏极Pd54连接第五十五PMOS管的源极Ps55,源极Ps54连接电源VDD;第五十五PMOS管的栅极Pg55连接SO1,漏极Pd55连接第五十四NMOS管的漏极Nd54,并连接MUX,源极Ps55连接Pd54;第五十六PMOS管的栅极Pg56连接SO2,漏极Pd56连接第五十七PMOS管的源极Ps57,源极Ps56连接电源VDD;第五十七PMOS管的栅极Pg57连接SO3,漏极Pd57连接第五十六NMOS管的漏极Nd56,并连接MUX,源极Ps57连接Pd56。第五十二NMOS管的栅极Ng52连接SO2,漏极Nd52连接MUX,源极Ns52连接第五十三NMOS管的漏极Nd53;第五十三NMOS管的栅极Ng53连接SO1,漏极Nd53连接Ns52,源极Ns53连接地VSS;第五十四NMOS管的栅极Ng54连接SO1,漏极Nd54连接MUX,源极Ns54连接第五十五NMOS管的漏极Nd55;第五十五NMOS管的栅极Ng55连接SO3,漏极Nd55连接Ns54,源极Ns55连接地VSS;第五十六NMOS管的栅极Ng56连接SO3,漏极Nd56连接MUX,源极Ns56连接第五十七NMOS管的漏极Nd57;第五十七NMOS管的栅极Ng57连接SO2,漏极Nd57连接Ns56,源极Ns57连接地VSS。
第一反相器电路与选择器电路相连,在任意时刻第一反相器电路都要接收选择器电路的输出MUX,对MUX缓冲处理后输出与MUX反相的Q。第一反相器电路有一个输入端和一个输出端,输入端为MUX,输出端为Q。如图12所示,第一反相器电路由第五十八PMOS管和第五十八NMOS管组成。第五十八PMOS管的栅极Pg58接MUX,漏极Pd58连接第五十八NMOS管的漏极Nd58,并作为第一反相器电路的输出Q,源极Ps58连接电源VDD;第五十八NMOS管的栅极Ng58连接MUX,漏极Nd58连接Pd58,源极Ns58连接地VSS。
第二反相器电路与选择器电路相连,在任意时刻第二反相器电路都要接收选择器电路的输出MUX,对MUX缓冲并输出与MUX同相的QN。第二反相器电路有一个输入端和一个输出端,输入端为MUX,输出端为QN。如图13所示,第二反相器电路由两个PMOS管和两个NMOS管组成。第五十九PMOS管的栅极Pg59连接MUX,漏极Pd59连接第五十九NMOS管的漏极Nd59,并连接第六十PMOS管的栅极Pg60和第六十NMOS管的栅极Ng60,源极Ps59连接电源VDD;第六十PMOS管的栅极Pg60连接Ng60,漏极Pd60连接第六十NMOS管的漏极Nd60,并作为第二反相器电路的输出QN,源极Ps60连接电源VDD;第五十九NMOS管的栅极Ng59连接MUX,漏极Nd59连接Pd59,源极Ns59连接地VSS;第六十NMOS管的栅极Ng60连接Pg60,漏极Nd60连接Pd60,源极Ns60连接地VSS。
检错控制电路与第一从锁存器、第二从锁存器、第三从锁存器相连。检错控制电路有四个输入端和两个输出端,输入端为SO1,SO1N,SO2和SO2N,输出端为数据信号EX和EXN,EX和EXN为一对相反的数据信号。检错控制电路从第一从锁存器接收SO1、SO1N信号,从第二从锁存器接收SO2、SO2N信号,向第一从锁存器、第二从锁存器、第三从锁存器输出EX、EXN信号。当SO1和SO1N分别与SO2和SO2N同相时,输出EX为低电平,输出EXN为高电平;当SO1和SO1N分别与SO2和SO2N反相时,输出EX为高电平,输出EXN为低电平。检错控制功能的原理是,当SO1和SO1N分别与SO2和SO2N同相时,判定第一从锁存器和第二从锁存器的输出为正确的输出,利用EX和EXN关闭第一从锁存器和第二从锁存器中SO3对于相对应输出的控制,同时利用EX和EXN开启第三从锁存器中正确输出SO1对于输出SO3和SO3N的控制,以保证SO3和SO3N正确;当SO1和SO1N分别与SO2和SO2N反相时,判定第三从锁存器的输出为正确的输出,利用EX和EXN关闭第三从锁存器中SO1对于输出SO3和SO3N的控制,同时利用EX和EXN开启第一从锁存器和第二从锁存器中正确输出SO3对于相对应输出的控制。
如图14所示,检错控制电路由三个PMOS管和三个NMOS管组成。第六十一PMOS管的栅极Pg61连接SO1,漏极Pd61连接第六十二PMOS的漏极Pd62,并作为检错控制电路的输出端之一EXN,源极Ps61连接SO2N;第六十二PMOS管的栅极Pg62连接SO1N,漏极Pd62连接Pd61,源极Ps62连接SO2;第六十三PMOS管的栅极Pg63连接EXN,漏极Pd63连接第六十三NMOS管的漏极Nd63,并作为检错控制电路的另一个输出端EX,源极Ps63连接电源VDD;第六十一NMOS管的栅极Ng61连接SO1N,漏极Nd61连接第六十二NMOS管的漏极Nd62,并连接EXN,源极Ns61连接SO2N;第六十二NMOS管的栅极Ng62连接SO1,漏极Nd62连接Nd61,源极Ns62连接SO2;第六十三NMOS管的栅极Ng63连接EXN,漏极Nd63连接Pd63,源极Ns63连接地VSS。
北京原子能研究院H-13串列加速器可以产生LET值分别为2.88MeV·cm2/mg、8.62MeV·cm2/mg、12.6MeV·cm2/mg和17.0MeV·cm2/mg的四种地面重离子辐照测试环境。将处于正常工作状态的传统未加固的D触发器、传统冗余加固的D触发器、时间采样加固的D触发器和本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器置于北京原子能研究院H-13串列加速器产生的LET值分别为2.88MeV·cm2/mg、8.62MeV·cm2/mg、12.6MeV·cm2/mg和17.0MeV·cm2/mg的地面重离子辐照测试环境中,观察各D触发器是否发生单粒子翻转,得到各D触发器发生单粒子翻转需要的最低LET值数据。表1为使用北京原子能研究院H-13串列加速器进行的地面重粒子辐照测试得到的传统未加固的D触发器、传统冗余加固的D触发器、时间采样加固的D触发器和本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器发生单粒子翻转需要的最低LET值数据。传统未加固的D触发器在LET值为2.88MeV·cm2/mg、8.62MeV·cm2/mg、12.6MeV·cm2/mg和17.0MeV·cm2/mg的地面重离子辐照测试环境工作时均发生单粒子翻转,传统冗余加固的D触发器在LET值为12.6MeV·cm2/mg和17.0MeV·cm2/mg的地面重离子辐照测试环境工作时发生单粒子翻转,时间采样加固的D触发器在LET值为8.62MeV·cm2/mg、12.6MeV·cm2/mg和17.0MeV·cm2/mg的地面重离子辐照测试环境工作时发生单粒子翻转,本发明带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器仅在LET值为17.0MeV·cm2/mg的地面重离子辐照测试环境工作时发生单粒子翻转。从此表可以看出,本发明发生单粒子翻转需要的最低LET值比传统未加固的D触发器提高343%,比传统冗余加固的D触发器提高35%,比时间采样加固的D触发器提高97%,故本发明的抗单粒子翻转能力优于传统未加固的D触发器、时间采样加固的D触发器和传统冗余加固的D触发器,适合用于抗单粒子翻转加固集成电路的标准单元库,应用于航空、航天等领域。
表1

Claims (1)

1.带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余D触发器,其特征在于,包括第一时钟电路、第一主锁存器、第一从锁存器,第二时钟电路、第二主锁存器、第二从锁存器,第三时钟电路、第三主锁存器、第三从锁存器,选择器电路、第一反相器电路、第二反相器电路,以及检错控制电路;包含两个输入端和两个输出端;两个输入端分别是CK即时钟信号输入端和D即数据信号输入端;两个输出端分别是Q和QN,Q和QN输出一对相反的数据信号;
第一时钟电路与第一主锁存器和第一从锁存器相连,第一时钟电路有一个输入端和两个输出端,输入端为CK,输出端为C1、CN1,C1和CN1为一对相反的时钟信号;第一时钟电路为一个两级反相器,由第一级反相器和第二级反相器组成;第一级反相器由第一PMOS管和第一NMOS管组成,第一PMOS管的栅极Pg1连接CK,漏极Pd1连接第一NMOS管的漏极Nd1、Pg2、Ng2,并作为第一时钟电路的一个输出端CN1;第一NMOS管的栅极Ng1连接CK,漏极Nd1连接Pd1、Pg2、Ng2;第二级反相器由第二PMOS管和第二NMOS管组成,第二PMOS管的栅极Pg2连接CN1、Pd1、Nd1,漏极Pd2连接第二NMOS管的漏极Nd2,并作为时钟电路的另一个输出端C1;第二NMOS管的栅极Ng2连接CN1、Pd1、Nd1,漏极Nd2连接Pd2;第一PMOS管和第二PMOS管的衬底连接电源VDD,源极Ps1、Ps2连接电源VDD;第一NMOS管和第二NMOS管的衬底接地VSS,源极Ns1、Ns2也接地VSS;第一时钟电路接收CK,第一级反相器和第二级反相器对CK进行缓冲后产生与CK反相的CN1和与CK同相的C1,并且把CN1和C1传入到第一主锁存器和第一从锁存器;
第一主锁存器为普通锁存器,和第一从锁存器串联,并与第一时钟电路连接;第一主锁存器有三个输入端和一个输出端,三个输入端为D、C1、CN1,一个输出端为数据信号MO1;第一主锁存器由5个PMOS管即第三PMOS管、第四PMOS管、…、第七PMOS管,和5个NMOS管即第三NMOS管、第四NMOS管、…、第七NMOS管组成,第一主锁存器中所有PMOS管的衬底连接电源VDD,所有NMOS管的衬底接地VSS;第三PMOS管的栅极Pg3连接D,漏极Pd3连接第四PMOS管的源极Ps4,源极Ps3连接电源VDD;第四PMOS管的栅极Pg4连接C1,漏极Pd4连接第三NMOS管的漏极Nd3,并连接第五PMOS管的栅极Pg5、第五NMOS管的栅极Ng5、第七PMOS管的漏极Pd7和第六NMOS管的漏极Nd6,源极Ps4连接Pd3;第五PMOS管的栅极Pg5连接Ng5,并连接Pd4、Nd3、Pd7和Nd6,漏极Pd5连接第五NMOS管的漏极Nd5、Ng7、Pg6,并作为第一主锁存器的输出MO1,源极Ps5连接电源VDD;第六PMOS管的栅极Pg6连接Pd5、Nd5、Ng7、MO1,漏极Pd6连接第七PMOS管的源极Ps7,源极Ps6连接电源VDD;第七PMOS管的栅极Pg7连接CN1,漏极Pd7连接Nd6,并连接Pg5、Ng5、Pd4和Nd3,源极Ps7连接Pd6;第三NMOS管的栅极Ng3连接CN1,漏极Nd3连接Pd4,并连接Pg5、Ng5、Pd7和Nd6,源极Ns3连接第四NMOS管的漏极Nd4;第四NMOS管的栅极Ng4连接D,漏极Nd4连接Ns3,源极Ns4接地VSS;第五NMOS管的栅极Ng5连接Pg5,并连接Pd4、Nd3、Pd7和Nd6,漏极Nd5连接Pd5,源极Ns5接地VSS;第六NMOS管的栅极Ng6连接C1,漏极Nd6连接Pd7,并连接Pg5、Ng5、Pd4和Nd3,源极Ns6连接第七NMOS管的漏极Nd7;第七NMOS管的栅极Ng7连接Pd5、Nd5、Pg6、MO1,漏极Nd7连接Ns6,源极Ns7接地VSS;第一主锁存器从第一时钟电路接收时钟信号C1、CN1,从输入端接收数据信号D,向第一从锁存器输出数据信号MO1;在CK为低电平期间,CN1为高电平、C1为低电平,第一主锁存器开启,接收D并对其进行缓冲处理后输出与D同相的MO1;在CK为高电平期间,CN1为低电平、C1为高电平,第一主锁存器处于保存状态,保存前一个CK上升沿采样到的D并输出与D同相的MO1;
第一从锁存器为带纠错功能的锁存器;第一从锁存器与第一主锁存器串联,并与第一时钟电路、检错控制电路和选择器电路连接;第一从锁存器有六个输入端和两个输出端,六个输入端为MO1、C1、CN1、EX、EXN和SO3,两个输出端为数据信号SO1、SO1N,SO1和SO1N为一对相反的数据信号;第一从锁存器由十个PMOS管即第八PMOS管、第九PMOS管、…、第十七PMOS管,和十个NMOS管即第八NMOS管、第九NMOS管、…、第十七NMOS管组成,第一从锁存器中所有PMOS管的衬底连接电源VDD,所有NMOS管的衬底接地VSS;第八PMOS管的栅极Pg8连接MO1,漏极Pd8连接第九PMOS管的源极Ps9,源极Ps8连接电源VDD;第九PMOS管的栅极Pg9连接CN1,漏极Pd9连接第八NMOS管的漏极Nd8、Pd10、Nd10、Pd13、Nd12、Pg11、Ng11,并作为第一从锁存器的一个输出SO1N,源极Ps9连接Pd8;第十PMOS管的栅极Pg10连接EXN,漏极Pd10连接SO1N、Nd8、Pd9、Nd10、Pd13、Nd12、Pg11、Ng11,源极Ps10连接第十NMOS管的源极Ns10,并连接第十五PMOS管的栅极Pg15、第十五NMOS管的栅极Ng15、第十七PMOS管的漏极Pd17和第十六NMOS管的漏极Nd16;第十一PMOS管的栅极Pg11连接SO1N、Pd9、Nd8、Ng11、Pd10、Nd10、Pd13、Nd12,漏极Pd11连接第十一NMOS管的漏极Nd11、Pg12、Ng13、Pd14、Nd14,并作为第一从锁存器的一个输出SO1,源极Ps11连接电源VDD;第十二PMOS管的栅极Pg12连接SO1、Nd11、Pd11、Ng13、Pd14、Nd14,漏极Pd12连接第十三PMOS管的源极Ps13,源极Ps12连接电源VDD;第十三PMOS管的栅极Pg13连接C1,漏极Pd13连接SO1N、Nd12、Pg9、Nd8、Pd10、Nd10、Pg11、Ng11,源极Ps13连接Pd12;第十四PMOS管的栅极Pg14连接EXN,漏极Pd14连接SO1、Pd11、Nd11、Pg12、Ng13,源极Ps14连接第十四NMOS管的源极Ns14,并连接第十五PMOS管的漏极Pd15和第十五NMOS管的漏极Nd15;第十五PMOS管的栅极连接Ng15,并连接Ps10、Ns10、Pd17和Nd16,漏极Pd15连接Nd15,并连接Ps14和Ns14,源极Ps15连接电源VDD;第十六PMOS管的栅极Pg16连接SO3,漏极Pd16连接第十七PMOS管的源极Ps17,源极Ps16连接电源VDD;第十七PMOS管的栅极Pg17连接C1,漏极Pd17连接Nd16,并连接Ps10、Ns10、Pg15、Ng15,源极Ps17连接Pd16;第八NMOS管的栅极Ng8连接C1,漏极Nd8连接SO1N、Pd9、Pd10、Nd10、Pd13、Nd12、Pg11、Ng11,源极Ns8连接第九NMOS管的漏极Nd9;第九NMOS管的栅极Ng9连接MO1,漏极Nd9连接Ns8,源极Ns9连接地VSS;第十NMOS管的栅极Ng10连接EX,漏极Nd10连接SO1N、Pd9、Pd10、Nd8、Pd13、Nd12、Pg11、Ng11,源极Ns10连接Ps10,并连接Pg15、Ng15、Pd17和Nd16;第十一NMOS管的栅极Ng11连接SO1N、Pd9、Nd8、Pd10、Nd10、Pd13、Nd12、Pg11,漏极Nd11连接SO1、Pd11、Pg12、Ng13、Pd14、Nd14,源极Ns11连接地VSS;第十二NMOS管的栅极Ng12连接CN1,漏极Nd12连接SO1N、Pd9、Nd8、Pd10、Nd10、Pd13、Ng11、Pg11,源极Ns12连接第十三NMOS管的漏极Nd13;第十三NMOS管的栅极Ng13连接SO1、Pg12、Pd11、Nd11、Pd14、Nd14,漏极Nd13连接Ns12,源极Ns13连接地VSS;第十四NMOS管的栅极Ng14连接EX,漏极Nd14连接SO1、Pg12、Pd11、Nd11、Pd14、Ng13,源极Ns14连接Ps14,并连接Pd15和Nd15;第十五NMOS管的栅极Ng15连接Pg15,并连接Ps10、Ns10、Pd17和Nd16,漏极Nd15连接Pd15,并连接Ps14和Ns14,源极Ns15连接地VSS;第十六NMOS管的栅极Ng16连接CN1,漏极Nd16连接Pd17,并连接Ps10、Ns10、Pg15和Ng15,源极Ns16连接第十七NMOS管的漏极Nd17;第十七NMOS管的栅极Ng17连接SO3,漏极Nd17连接Ns16,源极Ns17连接地VSS;第一从锁存器从第一时钟电路接收时钟信号C1、CN1,从第一主锁存器接收数据信号MO1,从第三从锁存器接收SO3信号,从检错控制电路接收EX、EXN信号,向检错控制电路输出信号SO1、SO1N,向选择器电路输出SO1信号;在CK为低电平期间,CN1为高电平、C1为低电平,第一从锁存器处于保存状态,不接收第一主锁存器输出的MO1而是保存上一个CK下降沿采样到的MO1,同时利用检错控制电路产生的信号EX和EXN,以及第三从锁存器的输出信号SO3来保持第一从锁存器输出信号SO1和SO1N的稳定;在CK为高电平期间,CN1为低电平、C1为高电平,第一从锁存器开启并接收第一主锁存器的输出MO1,对MO1进行缓冲处理并输出与MO1同相的SO1和与MO1反相的SO1N;
第二时钟电路与第二主锁存器、第二从锁存器相连;第二时钟电路有一个输入端和两个输出端,输入端为时钟信号CK,输出端为时钟信号C2、CN2,C2和CN2为一对相反的时钟信号;第二时钟电路为一个两级反相器,由第三级反相器和第四级反相器组成,第三级反相器由第十八PMOS管和第十八NMOS管组成,第十八PMOS管的栅极Pg18连接CK,漏极Pd18连接第十八NMOS管的漏极Nd18、Pg19、Ng19,并作为第二时钟电路的一个输出端CN2;第十八NMOS管的栅极Ng18连接CK,漏极Nd18连接Pd18、Pg19、Ng19;第四级反相器由第十九PMOS管和第十九NMOS管组成,第十九PMOS管的栅极Pg19连接CN2、Pd18、Nd18、Ng19,漏极Pd19连接第十九NMOS管的漏极Nd19,并作为时钟电路的另一个输出端C2;第十九NMOS管的栅极Ng19连接CN2、Pd18、Nd18、Pg19,漏极Nd19连接Pd19;第十八PMOS管和第十九PMOS管的衬底连接电源VDD,源极Ps18、Ps19连接电源VDD;第十八NMOS管和第十九NMOS管的衬底接地VSS,源极Ns18、Ns19也接地VSS;第二时钟电路从输入端接收CK,对CK进行缓冲后分别产生与CK反相的CN2和与CK同相的C2,并且把CN2和C2传入到第二主锁存器和第二从锁存器;
第二主锁存器为普通锁存器,第二主锁存器和第二从锁存器串联,与第二时钟电路连接;第二主锁存器有三个输入端和一个输出端,三个输入端为D、C2、CN2,一个输出端为数据信号MO2;第二主锁存器由五个PMOS管即第二十PMOS管、第二十一PMOS管、…、第二十四PMOS管,和五个NMOS管即第二十NMOS管、第二十一NMOS管、…、第二十四NMOS管组成,第二主锁存器中所有PMOS管的衬底连接电源VDD,所有NMOS管的衬底接地VSS;第二十PMOS管的栅极Pg20连接D,漏极Pd20连接第二十一PMOS管的源极Ps21,源极Ps20连接电源VDD;第二十一PMOS管的栅极Pg21连接C2,漏极Pd21连接第二十NMOS管的漏极Nd20,并连接第二十二PMOS管的栅极Pg22、第二十二NMOS管的栅极Ng22、第二十四PMOS管的漏极Pd24和第二十三NMOS管的漏极Nd23,源极Ps21连接Pd20;第二十二PMOS管的栅极Pg22连接Ng22,并连接Pd21、Nd20、Pd24和Nd23,漏极Pd22连接第二十二NMOS管的漏极Nd22、Ng24、Pg23,并作为第二主锁存器的输出MO2,源极Ps22连接电源VDD;第二十三PMOS管的栅极Pg23连接MO2、Pd22、Nd22、Ng24,漏极Pd23连接第二十四PMOS管的源极Ps24,源极Ps23连接电源VDD;第二十四PMOS管的栅极Pg24连接CN2,漏极Pd24连接Nd23,并连接Pg22、Ng22、Pd21和Nd20,源极Ps24连接Pd23;第二十NMOS管的栅极Ng20连接CN2,漏极Nd20连接Pd21,并连接Pg22、Ng22、Pd24和Nd23,源极Ns20连接第二十一NMOS管的漏极Nd21;第二十一NMOS管的栅极Ng21连接D,漏极Nd21连接Ns20,源极Ns21接地VSS;第二十二NMOS管的栅极Ng22连接Pg22,并连接Pd21、Nd20、Pd24和Nd23,漏极Nd22连接Pd22、Pg23、Ng24,源极Ns22接地VSS;第二十三NMOS管的栅极Ng23连接C2,漏极Nd23连接Pd24,并连接Pg22、Ng22、Pd21和Nd20,源极Ns23连接第二十四NMOS管的漏极Nd24;第二十四NMOS管的栅极Ng24连接MO2、Pg23、Pd22、Ns22,漏极Nd24连接Ns23,源极Ns24接地VSS;第二主锁存器从第二时钟电路接收时钟信号C2、CN2,从输入端接收数据信号D,向第二从锁存器输出数据信号MO2;在CK为低电平期间,CN2为高电平、C2为低电平,第二主锁存器开启,接收D并对其进行缓冲处理后输出与D同相的MO2;在CK为高电平期间,CN2为低电平、C2为高电平,第二主锁存器处于保存状态,保存前二个CK上升沿采样到的D并输出与D同相的MO2;
第二从锁存器为带纠错功能的锁存器;第二从锁存器与第二主锁存器串联,并与第二时钟电路、检错控制电路和选择器电路连接;第二从锁存器有六个输入端和两个输出端,六个输入端为MO2、C2、CN2、EX、EXN和SO3,两个输出端为SO2、SO2N,SO2和SO2N为一对相反的数据信号;第二从锁存器由十个PMOS管即第二十五PMOS管、第二十六PMOS管、…、第三十四PMOS管,和十个NMOS管即第二十五NMOS管、第二十六NMOS管、…、第三十四NMOS管组成,第二从锁存器中所有PMOS管的衬底连接电源VDD,所有NMOS管的衬底接地VSS;第二十五PMOS管的栅极Pg25连接MO2,漏极Pd25连接第二十六PMOS管的源极Ps26,源极Ps25连接电源VDD;第二十六PMOS管的栅极Pg26连接CN2,漏极Pd26连接第二十五NMOS管的漏极Nd25、Pd27、Nd27、Pg28、Ng28、Pd30、Nd29,并作为第二从锁存器的一个输出SO2N,源极Ps26连接Pd25;第二十七PMOS管的栅极Pg27连接EXN,漏极Pd27连接SO2N、Nd25、Pd26、Nd27、Pg28、Ng28、Pd30、Nd29,源极Ps27连接第二十七NMOS管的源极Ns27,并连接第三十二PMOS管的栅极Pg32、第三十二NMOS管的栅极Ng32、第三十四PMOS管的漏极Pd34和第三十三NMOS管的漏极Nd33;第二十八PMOS管的栅极Pg28连接SO2N、Nd25、Pd26、Pd27、Nd27、Ng28、Pd30、Nd29,漏极Pd28连接第二十八NMOS管的漏极Nd28、Pg29、Ng30、Pd31、Nd31,并作为第二从锁存器的一个输出SO2,源极Ps28连接电源VDD;第二十九PMOS管的栅极Pg29连接SO2、Pd28、Nd28、Ng30、Pd31、Nd31,漏极Pd29连接第三十PMOS管的源极Ps30,源极Ps29连接电源VDD;第三十PMOS管的栅极Pg30连接C2,漏极Pd30连接SO2N、Pd26、Nd25、Pd27、Nd27、Pg28、Ng28、Nd29,源极Ps30连接Pd29;第三十一PMOS管的栅极Pg31连接EXN,漏极Pd31连接SO2、Pd28、Nd28、Pg29、Ng30、Nd31,源极Ps31连接第三十一NMOS管的源极Ns31,并连接第三十二PMOS管的漏极Pd32和第三十二NMOS管的漏极Nd32;第三十二PMOS管的栅极连接Ng32,并连接Ps27、Ns27、Pd34和Nd33、Ng32,漏极Pd32连接Nd32,并连接Ps31和Ns31,源极Ps32连接电源VDD;第三十三PMOS管的栅极Pg33连接SO3,漏极Pd33连接第三十四PMOS管的源极Ps34,源极Ps33连接电源VDD;第三十四PMOS管的栅极Pg34连接C2,漏极Pd34连接Nd33,并连接Ps27、Ns27、Pg32、Ng32,源极Ps34连接Pd33;第二十五NMOS管的栅极Ng25连接C2,漏极Nd25连接SO2N、Pd26、Pd27、Nd27、Pg28、Ng28、Pd30、Nd29,源极Ns25连接第二十六NMOS管的漏极Nd26;第二十六NMOS管的栅极Ng26连接MO2,漏极Nd26连接Ns25,源极Ns26连接地VSS;第二十七NMOS管的栅极Ng27连接EX,漏极Nd27连接SO2N、Pd26、Nd25、Pd27、Pg28、Ng28、Pd30、Nd29,源极Ns27连接Ps27,并连接Pg32、Ng32、Pd34和Nd33;第二十八NMOS管的栅极Ng28连接SO2N、Pd26、Nd25、Pd27、Nd27、Pg28、Pd30、Nd29,漏极Nd28连接SO2、Pd28、Pg29、Ng30、Pd31、Nd31,源极Ns28连接地VSS;第二十九NMOS管的栅极Ng29连接CN2,漏极Nd29连接SO2N、Pd26、Nd25、Pd27、Nd27、Pg28、Ng28、Pd30,源极Ns29连接第三十NMOS管的漏极Nd30;第三十NMOS管的栅极Ng30连接SO2、Pd28、Nd28、Pg29、Pd31、Nd31,漏极Nd30连接Ns29,源极Ns30连接地VSS;第三十一NMOS管的栅极Ng31连接EX,漏极Nd31连接SO2、Pd28、Nd28、Pg29、Ng30、Pd31,源极Ns31连接Ps31,并连接Pd32和Nd32;第三十二NMOS管的栅极Ng32连接Pg32,并连接Ps27、Ns27、Pd34和Nd33,漏极Nd32连接Pd32,并连接Ps31和Ns31,源极Ns32连接地VSS;第三十三NMOS管的栅极Ng33连接CN2,漏极Nd33连接Pd34,并连接Ps27、Ns27、Pg32和Ng32,源极Ns33连接第三十四NMOS管的漏极Nd34;第三十四NMOS管的栅极Ng34连接SO3,漏极Nd34连接Ns33,源极Ns34连接地VSS;第二从锁存器从第二时钟电路接收信号C2、CN2,从第二主锁存器接收信号MO2,从第三从锁存器接收SO3信号,从检错控制电路接收EX、EXN信号,向检错控制电路输出信号SO2、SO2N,向选择器电路输出SO2信号;在CK为低电平期间,CN2为高电平、C2为低电平,第二从锁存器处于保存状态,不接收第二主锁存器输出的MO2而是保存上二个CK下降沿采样到的MO2,同时利用检错控制电路产生的信号EX和EXN,以及第三从锁存器的输出信号SO3来保持第二从锁存器输出信号SO2和SO2N的稳定;在CK为高电平期间,CN2为低电平、C2为高电平,第二从锁存器开启并接收第二主锁存器的输出MO2,对MO2进行缓冲处理并输出与MO2同相的SO2和与MO2反相的SO2N;
第三时钟电路与第三主锁存器、第三从锁存器相连;第三时钟电路有一个输入端和两个输出端,输入端为CK,输出端为C3、CN3,C3和CN3为一对相反的数据信号;第三时钟电路为一个两级反相器,由第五级反相器和第六级反相器组成,第五级反相器由第三十五PMOS管和第三十五NMOS管组成,第三十五PMOS管的栅极Pg35连接CK,漏极Pd35连接第三十五NMOS管的漏极Nd35、Pg36、Ng36,并作为第二时钟电路的一个输出端CN3;第三十五NMOS管的栅极Ng35连接CK,漏极Nd35连接Pd35、Pg36、Ng36;第六级反相器由第三十六PMOS管和第三十六NMOS管组成,第三十六PMOS管的栅极Pg36连接CN3、Pd35、Nd35、Ng36,漏极Pd36连接第三十六NMOS管的漏极Nd36,并作为时钟电路的另一个输出端C3;第三十六NMOS管的栅极Ng36连接CN3、Pd35、Nd35、Ng36,漏极Nd36连接Pd36;第三十五PMOS管和第三十六PMOS管的衬底连接电源VDD,源极Ps35、Ps36连接电源VDD;第三十五NMOS管和第三十六NMOS管的衬底接地VSS,源极Ns35、Ns36也接地VSS;第三时钟电路接收CK,对其进行缓冲后分别产生与CK反相的CN3和与CK同相的C3,并且把CN3和C3传入到第三主锁存器和第三从锁存器;第三时钟电路接收CK,第五级反相器和第六级反相器对CK进行缓冲后产生与CK反相的CN3和与CK同相的C3,并且把CN3和C3传入到第三主锁存器和第三从锁存器;
第三主锁存器为普通锁存器,与第三从锁存器串联,并与第三时钟电路连接;第三主锁存器有三个输入端和一个输出端,三个输入端为D、C3、CN3,一个输出端为数据信号MO3;第三主锁存器由五个PMOS管即第三十七PMOS管、第三十八PMOS管、…、第四十一PMOS管,和五个NMOS管即第三十七NMOS管、第三十八NMOS管、…、第四十一NMOS管组成,第三主锁存器中所有PMOS管的衬底连接电源VDD,所有NMOS管的衬底接地VSS;第三十七PMOS管的栅极Pg37连接D,漏极Pd37连接第三十八PMOS管的源极Ps38,源极Ps37连接电源VDD;第三十八PMOS管的栅极Pg38连接C3,漏极Pd38连接第三十七NMOS管的漏极Nd37,并连接第三十九PMOS管的栅极Pg39、第三十九NMOS管的栅极Ng39、第四十一PMOS管的漏极Pd41和第四十NMOS管的漏极Nd40,源极Ps38连接Pd37;第三十九PMOS管的栅极Pg39连接Ng39,并连接Pd38、Nd37、Pd41和Nd40,漏极Pd39连接第三十九NMOS管的漏极Nd39、Pg40、Ng41,并作为第二主锁存器的输出MO3,源极Ps39连接电源VDD;第四十PMOS管的栅极Pg40连接MO3、Pd39、Nd39、Ng41,漏极Pd40连接第四十一PMOS管的源极Ps41,源极Ps40连接电源VDD;第四十一PMOS管的栅极Pg41连接CN3,漏极Pd41连接Nd40,并连接Pg39、Ng39、Pd38和Nd37,源极Ps41连接Pd40;第三十七NMOS管的栅极Ng37连接CN3,漏极Nd37连接Pd38,并连接Pg39、Ng39、Pd41和Nd40,源极Ns37连接第三十八NMOS管的漏极Nd38;第三十八NMOS管的栅极Ng38连接D,漏极Nd38连接Ns37,源极Ns38接地VSS;第三十九NMOS管的栅极Ng39连接Pg39,并连接Pd38、Nd37、Pd41和Nd40,漏极Nd39连接Pd39,源极Ns39接地VSS;第四十NMOS管的栅极Ng40连接C3,漏极Nd40连接Pd41,并连接Pg39、Ng39、Pd38和Nd37,源极Ns40连接第四十一NMOS管的漏极Nd41;第四十一NMOS管的栅极Ng41连接MO1,漏极Nd41连接Ns40,源极Ns41接地VSS;第三主锁存器从第三时钟电路接收时钟信号C3、CN3,从输入端接收数据信号D,向第三从锁存器输出数据信号MO3;在CK为低电平期间,CN3为高电平、C3为低电平,第三主锁存器开启,接收D并对其进行缓冲处理后输出与D同相的MO3;在CK为高电平期间,CN3为低电平、C3为高电平,第三主锁存器处于保存状态,保存前三个CK上升沿采样到的D并输出与D同相的MO3;
第三从锁存器为带纠错功能的锁存器,与第三主锁存器串联,并与第三时钟电路、第一从锁存器、第二从锁存器、检错控制电路和选择器电路连接;第三从锁存器有六个输入端和两个输出端,六个输入端为MO3、C3、CN3、EX、EXN和SO1,两个输出端为SO3、SO3N,SO3和SO3N为一对相反的数据信号;第三从锁存器由十个PMOS管即第四十二PMOS管、第四十一PMOS管、…、第五十一PMOS管,和十个NMOS管即第四十二NMOS管、第四十一NMOS管、…、第五十一NMOS管组成,第三从锁存器中所有PMOS管的衬底连接电源VDD,所有NMOS管的衬底接地VSS;第四十二PMOS管的栅极Pg42连接MO3,漏极Pd42连接第四十三PMOS管的源极Ps43,源极Ps42连接电源VDD;第四十三PMOS管的栅极Pg43连接CN3,漏极Pd43连接第四十二NMOS管的漏极Nd42,并作为第一从锁存器的一个输出SO3N,源极Ps43连接Pd42;第四十四PMOS管的栅极Pg44连接EX,漏极Pd44连接SO3N,源极Ps44连接第四十四NMOS管的源极Ns44,并连接第四十九PMOS管的栅极Pg49、第四十九NMOS管的栅极Ng49、第五十一PMOS管的漏极Pd51和第五十NMOS管的漏极Nd50;第四十五PMOS管的栅极Pg45连接SO3N,漏极Pd45连接第四十五NMOS管的漏极Nd45,并作为第二从锁存器的一个输出SO3,源极Ps45连接电源VDD;第四十六PMOS管的栅极Pg46连接SO3,漏极Pd46连接第四十七PMOS管的源极Ps47,源极Ps46连接电源VDD;第四十七PMOS管的栅极Pg47连接C3,漏极Pd47连接SO3N,源极Ps47连接Pd46;第四十八PMOS管的栅极Pg48连接EX,漏极Pd48连接SO3,源极Ps48连接第四十八NMOS管的源极Ns48,并连接第四十九PMOS管的漏极Pd49和第四十九NMOS管的漏极Nd49;第四十九PMOS管的栅极连接Ng49,并连接Ps44、Ns44、Pd51和Nd50,漏极Pd49连接Nd49,并连接Ps48和Ns48,源极Ps49连接电源VDD;第五十PMOS管的栅极Pg50连接SO1,漏极Pd50连接第五十一PMOS管的源极Ps51,源极Ps50连接电源VDD;第五十一PMOS管的栅极Pg51连接C3,漏极Pd51连接Nd50,并连接Ps44、Ns44、Pg49、Ng49,源极Ps51连接Pd50;第四十二NMOS管的栅极Ng42连接C3,漏极Nd42连接SO3N,源极Ns42连接第四十三NMOS管的漏极Nd43;第四十三NMOS管的栅极Ng43连接MO3,漏极Nd43连接Ns42,源极Ns43连接地VSS;第四十四NMOS管的栅极Ng44连接EXN,漏极Nd44连接SO3N,源极Ns44连接Ps44,并连接Pg49、Ng49、Pd41和Nd50;第四十五NMOS管的栅极Ng45连接SO3N,漏极Nd45连接SO3,源极Ns45连接地VSS;第四十六NMOS管的栅极Ng46连接CN2,漏极Nd46连接SO3N,源极Ns46连接第四十七NMOS管的漏极Nd47;第四十七NMOS管的栅极Ng47连接SO3,漏极Nd47连接Ns46,源极Ns47连接地VSS;第四十八NMOS管的栅极Ng48连接EXN,漏极Nd48连接SO3,源极Ns48连接Ps48,并连接Pd49和Nd49;第四十九NMOS管的栅极Ng49连接Pg49,并连接Ps44、Ns44、Pd51和Nd50,漏极Nd49连接Pd49,并连接Ps48和Ns48,源极Ns49连接地VSS;第五十NMOS管的栅极Ng50连接CN3,漏极Nd50连接Pd51,并连接Ps44、Ns44、Pg49和Ng49,源极Ns50连接第五十一NMOS管的漏极Nd51;第五十一NMOS管的栅极Ng51连接SO1,漏极Nd51连接Ns50,源极Ns51连接地VSS;第三从锁存器从第三时钟电路接收信号C3、CN3,从第三主锁存器接收信号MO3,从第一从锁存器接收SO1信号,从检错控制电路接收EX、EXN信号,向选择器电路输出SO3信号;在CK为低电平期间,CN3为高电平、C3为低电平,第三从锁存器处于保存状态,不接收第三主锁存器输出的MO3而是保存上一个CK下降沿采样到的MO3,同时利用检错控制电路产生的信号EX和EXN,以及第一从锁存器的输出信号SO1来保持第三从锁存器输出信号SO3和SO3N的稳定;在CK为高电平期间,CN3为低电平、C3为高电平,第三从锁存器开启并接收第三主锁存器的输出MO3,对MO3进行缓冲处理并输出与MO3同相的SO3和与MO3反相的SO3N;
选择器电路与第一从锁存器、第二从锁存器和第三从锁存器相连,在任意时刻选择器电路接收第一从锁存器、第二从锁存器和第三从锁存器的输出SO1、SO2和SO3,对其进行选择判断处理后输出MUX,MUX与SO1、SO2和SO3中任意两个同相的信号反相;选择器电路有三个输入端和一个输出端,输入端为数据信号SO1、SO2和SO3,输出端为数据信号MUX;选择器电路由六个PMOS管即第五十二PMOS管、第五十三PMOS管、…、第五十七PMOS管,和六个NMOS管即第五十二NMOS管、第五十三NMOS管、…、第五十七NMOS管组成;第五十二PMOS管的栅极Pg52连接SO1,漏极Pd52连接第五十三PMOS管的源极Ps53,源极Ps52连接电源VDD;第五十三PMOS管的栅极Pg53连接SO2,漏极Pd53连接第五十二NMOS管的漏极Nd52,并作为选择器电路的输出MUX,源极Ps53连接Pd52;第五十四PMOS管的栅极Pg54连接SO3,漏极Pd54连接第五十五PMOS管的源极Ps55,源极Ps54连接电源VDD;第五十五PMOS管的栅极Pg55连接SO1,漏极Pd55连接第五十四NMOS管的漏极Nd54,并连接MUX,源极Ps55连接Pd54;第五十六PMOS管的栅极Pg56连接SO2,漏极Pd56连接第五十七PMOS管的源极Ps57,源极Ps56连接电源VDD;第五十七PMOS管的栅极Pg57连接SO3,漏极Pd57连接第五十六NMOS管的漏极Nd56,并连接MUX,源极Ps57连接Pd56;第五十二NMOS管的栅极Ng52连接SO2,漏极Nd52连接MUX,源极Ns52连接第五十三NMOS管的漏极Nd53;第五十三NMOS管的栅极Ng53连接SO1,漏极Nd53连接Ns52,源极Ns53连接地VSS;第五十四NMOS管的栅极Ng54连接SO1,漏极Nd54连接MUX,源极Ns54连接第五十五NMOS管的漏极Nd55;第五十五NMOS管的栅极Ng55连接SO3,漏极Nd55连接Ns54,源极Ns55连接地VSS;第五十六NMOS管的栅极Ng56连接SO3,漏极Nd56连接MUX,源极Ns56连接第五十七NMOS管的漏极Nd57;第五十七NMOS管的栅极Ng57连接SO2,漏极Nd57连接Ns56,源极Ns57连接地VSS;
第一反相器电路与选择器电路相连,在任意时刻第一反相器电路都要接收选择器电路的输出MUX,对MUX缓冲处理后输出与MUX反相的Q;第一反相器电路有一个输入端和一个输出端,输入端为MUX,输出端为Q;第一反相器电路由第五十八PMOS管和第五十八NMOS管组成;第五十八PMOS管的栅极Pg58接MUX,漏极Pd58连接第五十八NMOS管的漏极Nd58,并作为第一反相器电路的输出Q,源极Ps58连接电源VDD;第五十八NMOS管的栅极Ng58连接MUX,漏极Nd58连接Pd58,源极Ns58连接地VSS;
第二反相器电路与选择器电路相连,在任意时刻第二反相器电路都要接收选择器电路的输出MUX,对MUX缓冲并输出与MUX同相的QN;第二反相器电路有一个输入端和一个输出端,输入端为MUX,输出端为QN;第二反相器电路由两个PMOS管和两个NMOS管组成;第五十九PMOS管的栅极Pg59连接MUX,漏极Pd59连接第五十九NMOS管的漏极Nd59,并连接第六十PMOS管的栅极Pg60和第六十NMOS管的栅极Ng60,源极Ps59连接电源VDD;第六十PMOS管的栅极Pg60连接Ng60,漏极Pd60连接第六十NMOS管的漏极Nd60,并作为第二反相器电路的输出QN,源极Ps60连接电源VDD;第五十九NMOS管的栅极Ng59连接MUX,漏极Nd59连接Pd59,源极Ns59连接地VSS;第六十NMOS管的栅极Ng60连接Pg60,漏极Nd60连接Pd60,源极Ns60连接地VSS;
检错控制电路与第一从锁存器、第二从锁存器、第三从锁存器相连;检错控制电路有四个输入端和两个输出端,输入端为SO1,SO1N,SO2和SO2N,输出端为数据信号EX和EXN,EX和EXN为一对相反的数据信号;检错控制电路从第一从锁存器接收SO1、SO1N信号,从第二从锁存器接收SO2、SO2N信号,向第一从锁存器、第二从锁存器、第三从锁存器输出EX、EXN信号;当SO1和SO1N分别与SO2和SO2N同相时,输出EX为低电平,输出EXN为高电平;当SO1和SO1N分别与SO2和SO2N反相时,输出EX为高电平,输出EXN为低电平;检错控制功能的原理是,当SO1和SO1N分别与SO2和SO2N同相时,判定第一从锁存器和第二从锁存器的输出为正确的输出,利用EX和EXN关闭第一从锁存器和第二从锁存器中SO3对于相对应输出的控制,同时利用EX和EXN开启第三从锁存器中正确输出SO1对于输出SO3和SO3N的控制,以保证SO3和SO3N正确;当SO1和SO1N分别与SO2和SO2N反相时,判定第三从锁存器的输出为正确的输出,利用EX和EXN关闭第三从锁存器中SO1对于输出SO3和SO3N的控制,同时利用EX和EXN开启第一从锁存器和第二从锁存器中正确输出SO3对于相对应输出的控制;
检错控制电路由三个PMOS管和三个NMOS管组成;第六十一PMOS管的栅极Pg61连接SO1,漏极Pd61连接第六十二PMOS的漏极Pd62,并作为检错控制电路的输出端之一EXN,源极Ps61连接SO2N;第六十二PMOS管的栅极Pg62连接SO1N,漏极Pd62连接Pd61,源极Ps62连接SO2;第六十三PMOS管的栅极Pg63连接EXN,漏极Pd63连接第六十三NMOS管的漏极Nd63,并作为检错控制电路的另一个输出端EX,源极Ps63连接电源VDD;第六十一NMOS管的栅极Ng61连接SO1N,漏极Nd61连接第六十二NMOS管的漏极Nd62,并连接EXN,源极Ns61连接SO2N;第六十二NMOS管的栅极Ng62连接SO1,漏极Nd62连接Nd61,源极Ns62连接SO2;第六十三NMOS管的栅极Ng63连接EXN,漏极Nd63连接Pd63,源极Ns63连接地VSS。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109217864B (zh) * 2017-06-30 2022-04-15 龙芯中科技术股份有限公司 触发器及芯片
CN108847842B (zh) * 2018-06-05 2022-02-11 西安微电子技术研究所 一种具有自刷新功能的抗单粒子翻转效应异步分频电路
CN109766226A (zh) * 2018-12-28 2019-05-17 上海微阱电子科技有限公司 一种多层次设计实现多模冗余投票功能的数字电路
CN110311656B (zh) * 2019-07-03 2023-01-31 西安微电子技术研究所 一种自适应抗单粒子翻转的异步复位和置位d触发器
CN110190833B (zh) * 2019-07-03 2023-02-07 西安微电子技术研究所 一种抗单粒子翻转的自检测自恢复同步复位d触发器
CN110311660B (zh) * 2019-07-03 2023-02-24 西安微电子技术研究所 一种自适应抗单粒子翻转的d触发器
CN111082797B (zh) * 2019-11-08 2021-11-12 大连理工大学 Tmr_5dff结构的三模冗余抗辐照加固单元电路及其应用

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102394602A (zh) * 2011-10-21 2012-03-28 中国人民解放军国防科学技术大学 一种抗单粒子翻转可置位和复位的扫描结构d触发器
CN103825586A (zh) * 2013-12-11 2014-05-28 中国人民解放军国防科学技术大学 抗单粒子翻转和单粒子瞬态的可置复位扫描结构d触发器

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004072426A (ja) * 2002-08-06 2004-03-04 Renesas Technology Corp マスタースレーブフリップフロップ回路

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102394602A (zh) * 2011-10-21 2012-03-28 中国人民解放军国防科学技术大学 一种抗单粒子翻转可置位和复位的扫描结构d触发器
CN103825586A (zh) * 2013-12-11 2014-05-28 中国人民解放军国防科学技术大学 抗单粒子翻转和单粒子瞬态的可置复位扫描结构d触发器

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