CN110311660B - 一种自适应抗单粒子翻转的d触发器 - Google Patents
一种自适应抗单粒子翻转的d触发器 Download PDFInfo
- Publication number
- CN110311660B CN110311660B CN201910592627.3A CN201910592627A CN110311660B CN 110311660 B CN110311660 B CN 110311660B CN 201910592627 A CN201910592627 A CN 201910592627A CN 110311660 B CN110311660 B CN 110311660B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- tube
- pmos
- nmos tube
- nmos
- pmos tube
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/356—Bistable circuits
- H03K3/3562—Bistable circuits of the master-slave type
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
本发明公开了一种自适应抗单粒子翻转的D触发器,D触发器有时钟信号输入端C和数据信号输入端D,第一输出端Q和第二输出端QN;时钟输入电路的输入端与时钟信号输入端C连接,输出端分别与开关控制RC滤波结构型主锁存器和开关控制RC滤波结构型从锁存器连接;SEU监测电路分别与开关控制RC滤波结构型主锁存器及开关控制RC滤波结构型从锁存器连接;开关控制RC滤波结构型主锁存器电路分别与数据信号输入端D和开关控制RC滤波结构型从锁存器连接;开关控制RC滤波结构型从锁存器与输出电路连接;输出电路还分别连接第一输出端Q及第二输出端QN。本发明具有良好的单粒子加固能力,并克服了加固触发器不能应用于高速无辐照环境的局限性。
Description
技术领域
本发明属于D触发器技术领域,具体涉及一种自适应抗单粒子翻转的D触发器。
背景技术
在宇宙空间环境中,集成电路很容易受到高能电离粒子辐射效应的影响。当高能粒子轰击器件内部敏感节点时,会引起逻辑电路输出从1到0或从0到1的翻转,电路功能紊乱,但器件本身并没有损坏,这称之为单粒子翻转(SEU)。在辐照环境下,数字电路中的触发器、锁存器、RAM很容易发生SEU,因此必须考虑对以上单元进行抗单粒子翻转加固设计。触发器的加固设计目前采用三模冗余(TMR)技术,基于C单元的加固方法,双互锁存储单元(Dual interlocked storage cell,DICE)结构等,但以上电路可靠性的提高是以牺牲面积,功耗和速度为代价。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足,提供一种自适应抗单粒子翻转的D触发器,旨在解决抗单粒子翻转D触发器的可靠性和速度问题,使其可以广泛应用于高速无辐照环境和空间环境。
本发明采用以下技术方案:
一种自适应抗单粒子翻转的D触发器,所述D触发器包括:
时钟输入电路、SEU监测电路、开关控制RC滤波结构型主锁存器,开关控制RC滤波结构型从锁存器和输出电路;
D触发器有两个输入端和两个输出端,两个输入端分别为时钟信号输入端C和数据信号输入端D,两个输出端分别为第一输出端Q和第二输出端QN;
时钟输入电路的输入端与时钟信号输入端C连接,输出端分别与开关控制RC滤波结构型主锁存器和开关控制RC滤波结构型从锁存器连接;
SEU监测电路分别与开关控制RC滤波结构型主锁存器及开关控制RC滤波结构型从锁存器连接;
开关控制RC滤波结构型主锁存器电路分别与数据信号输入端D和开关控制RC滤波结构型从锁存器连接;
开关控制RC滤波结构型从锁存器与输出电路连接;
输出电路还分别连接第一输出端Q及第二输出端QN。
具体的,时钟输入电路包括第一PMOS管、第二PMOS管、第一NMOS管和第二NMOS管;且具有一个输入端和两个输出端,输入端为时钟信号输入端C,两个输出端分别为CN和CP;
第一PMOS管、第二PMOS管的衬底接电源,第一NMOS管、第二NMOS管的衬底接地;
第一PMOS管的栅极Pg1连接时钟信号输入端C,源极Ps1接电源,漏极Pd1分别连接第一NMOS管的漏极Nd1、第二PMOS管的栅极Pg2、第二NMOS管的栅极Ng2及CN;第一NMOS管的栅极Ng1连接时钟信号输入端C,源极Ns1接地;第二PMOS管的源极Ps2接电源,漏极Pd2分别连接第二NMOS管的漏极Nd2及CP;第二NMOS管的源极Ns2接地。
具体的,SEU监测电路包括两个同或门和两个反相器,并具有四个输入端和四个输出端,四个输入端分别为A1,B1,A2和B2,四个输出端分别为S1,S1N,S2和S2N;
第一同或门的两个输入端分别连接输入端A1及B1,输出端分别连接第一反相器的输入端及输出端S1;
第一反相器的输出端接输出端S1N;
第二同或门的两个输入端分别连接输入端A2和B2,输出端分别连接第二反相器的输入端及输出端S2;
第二反相器的输出端接输出端S2N。
具体的,开关控制RC滤波结构型主锁存器包括七个输入端和三个输出端,其中,第一个和第二个输入端分别与时钟输入电路的输出端CP连接,第三个和第四个输入端分别与时钟输入电路的输出端CN连接,第五个输入端与数据信号输入端D连接,第六个输入端与SEU监测电路的一个输出端S1连接,第七个输入端与SEU监测电路的另一个输出端S1N连接;三个输出端分别为A1、B1、D1;
开关控制RC滤波结构型主锁存器3包括第三PMOS管、第四PMOS管、第五PMOS管、第六PMOS管、第七PMOS管、第八PMOS管、第九PMOS管、第三NMOS管、第四NMOS管、第五NMOS管、第六NMOS管、第七NMOS管、第八NMOS管、第九NMOS管、电阻R1、开关S1及开关S1N;
第三PMOS管、第四PMOS管、第五PMOS管、第六PMOS管、第七PMOS管、第八PMOS管、第九PMOS管的衬底接电源,第三NMOS管、第四NMOS管、第五NMOS管、第六NMOS管、第七NMOS管、第八NMOS管、第九NMOS管的衬底接地;
第三PMOS管的栅极Pg3连接数据信号输入端D,源极Ps3接电源,漏极Pd3连接第四PMOS管的源极Ps4;第四PMOS管的栅极Pg4连接CP,漏极Pd4分别连接第三NMOS管的漏极Nd3、第五PMOS管的栅极Pg5、第五NMOS管的栅极Ng5、第七PMOS管的漏极Pd7、第六NMOS管的漏极Nd6及输出端A1;第三NMOS管的栅极Ng3连接时钟输入电路的输出端CN,源极Ns3连接第四NMOS管的漏极Nd4;第四NMOS管的栅极连接数据信号输入端D,源极Ns4接地;第五PMOS管的源极Ps5接电源,漏极Pd5分别连接第五NMOS管的漏极Nd5、电阻R1的正端、开关S1的一端及输出端B1;第五NMOS管的源极Ps5接地;第六PMOS管的栅极Pg6连接电阻R1的负端,源极Ps6接电源,漏极Pd6连接PMOS管的源极Ps7;第七PMOS管的栅极Pg7连接CN;第六NMOS管的栅极Ng6连接CP,源极Ns6连接第七NMOS管的漏极Nd7;第七NMOS管的栅极Ng7连接R1的负端,源极Ns7接地;开关S1另一端分别连接R1的负端、开关S1N的一端及输出端D1;开关S1N的另一端分别连接第八PMOS管的栅极Pg8、第九PMOS管的栅极Pg9、第八NMOS管的栅极Ng8及第九NMOS管的栅极Ng9;第八PMOS管的源极Ps8接电源,漏极Pd8接电源;第九PMOS管的源极Ps9接电源,漏极Pd9接电源;第八NMOS管的源极Ns8接地,漏极Nd8接地;第九NMOS管的源极Ns9接地,漏极Nd9接地。
具体的,开关控制RC滤波结构型从锁存器包括七个输入端和三个输出端,其中,第一个和第二个输入端分别与时钟输入电路的输出端CP连接,第三个和第四个输入端分别与时钟输入电路的输出端CN连接,第五个输入端与开关控制RC滤波结构型主锁存器的一个输出端D1连接,第六个输入端与SEU监测电路的一个输出端S2连接,第七个输入端与SEU监测电路的另一个输出端S2N连接;三个输出端分别为A2、B2、D2;
开关控制RC滤波结构型从锁存器包括第十PMOS管、第十一PMOS管、第十二PMOS管、第十三PMOS管、第十四PMOS管、第十五PMOS管、第十六PMOS管、第十NMOS管、第十一NMOS管、第十二NMOS管、第十三NMOS管、第十四NMOS管、第十五NMOS管、第十六NMOS管、电阻R2、开关S2及开关S2N;
第十PMOS管、第十一PMOS管、第十二PMOS管、第十三PMOS管、第十四PMOS管、第十五PMOS管、第十六PMOS管的衬底接电源,第十NMOS管、第十一NMOS管、第十二NMOS管、第十三NMOS管、第十四NMOS管、第十五NMOS管、第十六NMOS管的衬底接地;
第十PMOS管的栅极Pg10连接开关控制RC滤波结构型主锁存器的一个输出端D1,源极Ps10接电源,漏极Pd10连接第十一PMOS管的源极Ps11;第十一PMOS管的栅极Pg11连接时钟输入电路的输出端CN,漏极Pd11分别连接第十NMOS管的漏极Nd10、第十二PMOS管的栅极Pg12、第十二NMOS管的栅极Ng12、第十四PMOS管的漏极Pd14、第十三NMOS管的漏极Nd13及SEU监测电路的输入端A2;第十NMOS管的栅极Ng10连接时钟输入电路的输出端CP,源极Ns10连接第十一NMOS管的漏极Nd11;第十一NMOS管的栅极Ng11连接开关控制RC滤波结构型主锁存器的输出端D1,源极Ns11接地;第十二PMOS管的源极Ps12接电源,漏极Pd12分别连接第十二NMOS管的漏极Nd12、电阻R2的正端、开关S2的一端及SEU监测电路的输入端B2;第十二NMOS管的源极接地;第十三PMOS管的栅极Pg13连接电阻R2的负端,源极Ps13接电源,漏极Pd13连接第十四PMOS管的源极Ps14;第十四PMOS管的栅极Pg14连接时钟输入电路的输出端CP;第十三NMOS管的栅极Ng13连接时钟输入电路的输出端CN,源极Ns13连接第十四NMOS管的漏极Nd14;第十四NMOS管的栅极Ng14连接R2的负端,源极Ns14接地;开关S2另一端分别连接R2负端、开关S2N的一端及输出端D2;开关S2N的另一端分别连接第十五PMOS管的栅极Pg15,第十六PMOS管的栅极Pg16,第十五NMOS管的栅极Ng15及第十六NMOS管的栅极Ng16;第十五PMOS管的源极Ps15接电源,漏极Pd15接电源;第十六PMOS管的源极Ps16接电源,漏极Pd16接电源;第十五NMOS管的源极Ns15接地,漏极Nd15接地;第十六NMOS管的源极Ns16接地,漏极Nd16接地。
具体的,输出电路有一个输入端和两个输出端,一个输入端连接开关控制RC滤波结构型从锁存器的输出端D2,两个输出端分别为第一输出端Q和第二输出端QN;
输出电路包括第十七PMOS管、第十八PMOS管、第十九PMOS管、第二十PMOS管、第二十一PMOS管、第十七NMOS管、第十八NMOS管、第十九NMOS管、第二十NMOS管和第二十一NMOS管;
第十七PMOS管、第十八PMOS管、第十九PMOS管、第二十PMOS管、第二十一PMOS管的衬底接电源,第十七NMOS管、第十八NMOS管、第十九NMOS管、第二十NMOS管、第二十一NMOS管的衬底接地;
第十七PMOS管的栅极Pg17连接开关控制RC滤波结构型从锁存器的输出端D2,源极Ps17接电源,漏极Pd17分别连接第十七NMOS管的漏极Nd17、第十八PMOS管的栅极Pg18及第十八NMOS管的栅极Ng18;第十七NMOS管的栅极Ng17连接开关控制RC滤波结构型从锁存器的输出端D2,源极Ns17接地;第十八PMOS管的源极Ps18接电源,漏极Pd18分别连接第十八NMOS管的漏极Nd18及第一输出端Q;第十八NMOS管的源极Ns18接地;
第十九PMOS管的栅极Pg19连接开关控制RC滤波结构型从锁存器的输出端D2,源极Ps19接电源,漏极Pd19分别连接第十九NMOS管的漏极Nd19、第二十PMOS管的栅极Pg20及第二十NMOS管的栅极Ng20;第十九NMOS管的栅极Ng19连接开关控制RC滤波结构型从锁存器的输出端D2,源极Ns19接地;第二十PMOS管的源极Ps20接电源,漏极Pd20分别连接第二十NMOS管的漏极Nd20、第二十一PMOS管的栅极Pg21及第二十一NMOS管的栅极Ng21;第二十NMOS管的源极Ns20接地;第二十一PMOS管的源极Ps21接电源,漏极Pd21分别连接第二十一NMOS管的漏极Nd21及第二输出端QN;第二十一NMOS管的源极Ns21接地。
与现有技术相比,本发明至少具有以下有益效果:
本发明一种自适应抗单粒子翻转的D触发器,通过SEU监测电路判断D触发器是否发生单粒子翻转,若监测到SEU则自动引入RC滤波结构将触发器配置为抗单粒子翻转D触发器,若未监测到SEU则将触发器配置为常用主从D触发器,可实现单粒子翻转监测和电路抗辐射加固于一体,且能根据监测结果选择不同类型D触发器,使其可以广泛应用于高速无辐照环境和空间环境。
进一步的,时钟输入电路产生D触发器的时钟信号及其反信号,作为电路中带控制信号的反相器的控制信号。
进一步的,SEU监测电路用于监测D触发器中敏感节点,并根据敏感节点的逻辑值判断D触发器是否发生单粒子翻转。
进一步的,开关控制RC滤波结构型主锁存器通过SEU监测电路判断主锁存器是否发生单粒子翻转,若监测到SEU则自动引入RC滤波结构将主锁存器配置为抗单粒子翻转主锁存器,若未监测到SEU则将主锁存器配置为常用主锁存器。
进一步的,开关控制RC滤波结构型从锁存器通过SEU监测电路判断从锁存器是否发生单粒子翻转,若监测到SEU则自动引入RC滤波结构将从锁存器配置为抗单粒子翻转从锁存器,若未监测到SEU则将从锁存器配置为常用从锁存器。
进一步的,输出电路则缓冲输出D触发器输入信号及其反信号。
综上所述,本发明具有良好的单粒子加固能力,克服了加固触发器不能应用于高速无辐照环境的局限性。
下面通过附图和实施例,对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
图1为本发明自适应抗单粒子翻转的D触发器的结构示意图;
图2为本发明自适应抗单粒子翻转的D触发器中时钟输入电路的电路结构示意图;
图3为本发明自适应抗单粒子翻转的D触发器中SEU监测电路的电路结构示意图;
图4为本发明自适应抗单粒子翻转的D触发器中开关控制RC滤波结构型主锁存器的电路结构示意图;
图5为本发明自适应抗单粒子翻转的D触发器中开关控制RC滤波结构型从锁存器的电路结构示意图;
图6为本发明自适应抗单粒子翻转的D触发器中输出电路的电路结构示意图;
图7为本发明D触发器B1节点监测到SEU的仿真波形;
图8为通用触发器在B1节点监测到SEU的仿真波形;
图9为本发明D触发器在电路中敏感节点没有监测到SEU的仿真波形。
其中,1.时钟输入电路;2.SEU监测电路;3.开关控制RC滤波结构型主锁存器;4.开关控制RC滤波结构型从锁存器;5.输出电路。
具体实施方式
在本发明的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
本发明提供了一种自适应抗单粒子翻转的D触发器,通过SEU监测电路判断D触发器是否发生单粒子翻转,若监测到SEU则自动引入RC滤波结构将触发器配置为抗单粒子翻转D触发器,若未监测到SEU则将触发器配置为常用主从D触发器。
请参阅图1,本发明一种自适应抗单粒子翻转的D触发器,包括时钟输入电路1、SEU监测电路2、开关控制RC滤波结构型主锁存器3,开关控制RC滤波结构型从锁存器4和输出电路5。
该D触发器有两个输入端和两个输出端,两个输入端分别为时钟信号输入端C和数据信号输入端D,两个输出端分别为第一输出端Q和第二输出端QN。其中,时钟信号输入端C输入的时钟信号为CLK,数据信号输入端D输入的数据信号为DIN。
时钟输入电路1分别与时钟信号输入端C、开关控制RC滤波结构型主锁存器3及开关控制RC滤波结构型从锁存器4连接;SEU监测电路2分别与开关控制RC滤波结构型主锁存器3及开关控制RC滤波结构型从锁存器4连接;开关控制RC滤波结构型主锁存器电路3分别与数据信号输入端D及开关控制RC滤波结构型从锁存器4连接;开关控制RC滤波结构型从锁存器4与输出电路5连接;输出电路与第一输出端Q及第二输出端QN连接。
请参阅图2,时钟输入电路1具体包括:
一个输入端和两个输出端,一个输入端为时钟信号输入端C,两个输出端分别为CN和CP。
该时钟输入电路由第一PMOS管、第二PMOS管、第一NMOS管及第二NMOS管组成。
第一PMOS管、第二PMOS管的衬底接电源VDD,第一NMOS管、第二NMOS管的衬底接地GND。
第一PMOS管的栅极Pg1连接时钟信号输入端C,源极Ps1接电源VDD,漏极Pd1分别连接第一NMOS管的漏极Nd1、第二PMOS管的栅极Pg2、第二NMOS管的栅极Ng2及CN;第一NMOS管的栅极Ng1连接时钟信号输入端C,源极Ns1接地GND;第二PMOS管的源极Ps2接电源VDD,漏极Pd2分别连接第二NMOS管的漏极Nd2及CP;第二NMOS管的源极Ns2接地GND。
该电路结构可产生一个与时钟信号输入端C逻辑状态相反和相同的输出信号CN、CP。
请参阅图3,SEU监测电路2具体包括:
四个输入端和四个输出端,四个输入端分别为A1,B1,A2和B2,四个输出端分别为S1,S1N,S2和S2N。
SEU监测电路由两个同或门和两个反相器组成。
第一同或门的两个输入端分别连接A1及B1,输出端分别连接第一反相器的输入端和S1;
第一反相器的输出端接S1N;
第二同或门的两个输入端分别连接A2和B2,输出端分别连接第二反相器的输入端和S2;
第二反相器的输出端接S2N。
该SEU监测电路监测D触发器内部敏感节点A1、B1、A2、B2,当监测到敏感节点A1和敏感节点B1在很短时间内逻辑状态相同时,或敏感节点A2和敏感节点B2在很短时间内逻辑状态相同时,则D触发器发生SEU;当监测到敏感节点A1和敏感节点B1逻辑状态相反,且敏感节点A2和敏感节点B2逻辑状态相反时,则D触发器未发生SEU。
请参阅图4,开关控制RC滤波结构型主锁存器3具体包括:
七个输入和三个输出端,其中,两个输入端分别与CP连接,两个输入端分别与CN连接,一个输入端与数据信号输入端D连接,一个输入端与S1连接,一个输入端与S1N连接,三个输出端分别为A1、B1、D1。
开关控制RC滤波结构型主锁存器由第三PMOS管、第四PMOS管、第五PMOS管、第六PMOS管、第七PMOS管、第八PMOS管、第九PMOS管、第三NMOS管、第四NMOS管、第五NMOS管、第六NMOS管、第七NMOS管、第八NMOS管、第九NMOS管、电阻R1、开关S1及开关S1N组成。
第三PMOS管、第四PMOS管、第五PMOS管、第六PMOS管、第七PMOS管、第八PMOS管、第九PMOS管的衬底接电源VDD,第三NMOS管、第四NMOS管、第五NMOS管、第六NMOS管、第七NMOS管、第八NMOS管、第九NMOS管的衬底接地GND。
第三PMOS管的栅极Pg3连接数据信号输入端D,源极Ps3接电源VDD,漏极Pd3连接第四PMOS管的源极Ps4;第四PMOS管的栅极Pg4连接CP,漏极Pd4分别连接第三NMOS管的漏极Nd3、第五PMOS管的栅极Pg5、第五NMOS管的栅极Ng5、第七PMOS管的漏极Pd7、第六NMOS管的漏极Nd6及A1;第三NMOS管的栅极Ng3连接CN,源极Ns3连接第四NMOS管的漏极Nd4;第四NMOS管的栅极连接数据信号输入端D,源极Ns4接地GND;第五PMOS管的源极Ps5接电源VDD,漏极Pd5分别连接第五NMOS管的漏极Nd5、电阻R1的正端、开关S1的一端及B1;第五NMOS管的源极接地GND;第六PMOS管的栅极Pg6连接电阻R1的负端,源极Ps6接电源VDD,漏极Pd6连接PMOS管的源极Ps7;第七PMOS管的栅极Pg7连接CN;第六NMOS管的栅极Ng6连接CP,源极Ns6连接所述第七NMOS管的漏极Nd7;第七NMOS管的栅极Ng7连接R1的负端;源极Ns7接地GND;开关S1另一端接R1负端、开关S1N的一端及D1;开关S1N的另一端分别连接第八PMOS管的栅极Pg8,第九PMOS管的栅极Pg9,第八NMOS管的栅极Ng8及第九NMOS管的栅极Ng9;第八PMOS管的源极Ps8接电源VDD,漏极Pd8接电源VDD;第九PMOS管的源极Ps9接电源VDD,漏极Pd9接电源VDD;第八NMOS管的源极Ns8接地GND,漏极Nd8接地GND;第九NMOS管的源极Ns9接地GND,漏极Nd9接地GND。
在该开关控制RC滤波结构型主锁存器中,第三PMOS管、第四PMOS管、第五PMOS管、第六PMOS管、第七PMOS管、第三NMOS管、第四NMOS管、第五NMOS管、第六NMOS管、第七NMOS管构成第一主锁存器,第八PMOS管、第九PMOS管、第八NMOS管、第九NMOS管构成第一MOS电容。当SEU监测电路监测到SEU时,R1上的开关S1断开,第一MOS电容的开关S1N闭合,将RC滤波结构引入到第一主锁存器中,可滤除掉高能粒子对敏感节点的影响,该开关控制RC滤波结构型主锁存器工作在加固模式;当SEU监测电路未监测到SEU时,R1上的开关S1闭合,第一MOS电容的开关S1N断开,第一主锁存器中无RC滤波结构,该开关控制RC滤波结构型主锁存器工作在正常模式。
请参阅图5,开关控制RC滤波结构型从锁存器4具体包括:
七个输入和三个输出端,其中,两个输入端分别与CP连接,两个输入端分别与CN连接,一个输入端与D1连接,一个输入端与S2连接,一个输入端与S2N连接;三个输出端分别为A2、B2、D2。
开关控制RC滤波结构型从锁存器由第十PMOS管、第十一PMOS管、第十二PMOS管、第十三PMOS管、第十四PMOS管、第十五PMOS管、第十六PMOS管、第十NMOS管、第十一NMOS管、第十二NMOS管、第十三NMOS管、第十四NMOS管、第十五NMOS管、第十六NMOS管、电阻R2、开关S2及开关S2N组成。
第十PMOS管、第十一PMOS管、第十二PMOS管、第十三PMOS管、第十四PMOS管、第十五PMOS管、第十六PMOS管的衬底接电源VDD,第十NMOS管、第十一NMOS管、第十二NMOS管、第十三NMOS管、第十四NMOS管、第十五NMOS管、第十六NMOS管的衬底接地GND。
第十PMOS管的栅极Pg10连接D1,源极Ps10接电源VDD,漏极Pd10连接第十一PMOS管的源极Ps11;第十一PMOS管的栅极Pg11连接CN,漏极Pd11分别连接第十NMOS管的漏极Nd10、第十二PMOS管的栅极Pg12、第十二NMOS管的栅极Ng12、第十四PMOS管的漏极Pd14、第十三NMOS管的漏极Nd13及A2;第十NMOS管的栅极Ng10连接CP,源极Ns10连接第十一NMOS管的漏极Nd11;第十一NMOS管的栅极Ng11连接D1,源极Ns11接地GND;第十二PMOS管的源极Ps12接电源VDD,漏极Pd12分别连接第十二NMOS管的漏极Nd12、电阻R2的正端、开关S2的一端及B2;第十二NMOS管的源极Ns12接地GND;第十三PMOS管的栅极Pg13连接电阻R2的负端,源极Ps13接电源VDD,漏极Pd13连接第十四PMOS管的源极Ps14;第十四PMOS管的栅极Pg14连接CP;第十三NMOS管的栅极Ng13连接CN,源极Ns13连接第十四NMOS管的漏极Nd14;第十四NMOS管的栅极Ng14连接R2的负端;源极Ns14接地GND;开关S2另一端接R2负端、开关S2N的一端及D2;开关S2N的另一端分别连接第十五PMOS管的栅极Pg15,第十六PMOS管的栅极Pg16,第十五NMOS管的栅极Ng15及第十六NMOS管的栅极Ng16;第十五PMOS管的源极Ps15接电源VDD,漏极Pd15接电源VDD;第十六PMOS管的源极Ps16接电源VDD,漏极Pd16接电源VDD;第十五NMOS管的源极Ns15接地GND,漏极Nd15接地GND;第十六NMOS管的源极Ns16接地GND,漏极Nd16接地GND。
该开关控制RC滤波结构型从锁存器与前述开关控制RC滤波结构型主锁存器工作原理基本相同,在此不再赘述。
请参阅图6,输出电路5具体包括:
一个输入和两个输出端,一个输入端连接D2,两个输出端分别为第一输出端Q和第二输出端QN。
输出电路由第十七PMOS管、第十八PMOS管、第十九PMOS管、第二十PMOS管、第二十一PMOS管、第十七NMOS管、第十八NMOS管、第十九NMOS管、第二十NMOS管、第二十一NMOS管组成。
第十七PMOS管、第十八PMOS管、第十九PMOS管、第二十PMOS管、第二十一PMOS管的衬底接电源VDD,所述第十七NMOS管、第十八NMOS管、第十九NMOS管、第二十NMOS管、第二十一NMOS管的衬底接地GND。
第十七PMOS管的栅极Pg17连接D2,源极Ps17接电源VDD,漏极Pd17分别连接第十七NMOS管的漏极Nd17、第十八PMOS管的栅极Pg18及第十八NMOS管的栅极Ng18;第十七NMOS管的栅极Ng17连接D2,源极Ns17接地GND;第十八PMOS管的源极Ps18接电源VDD,漏极Pd18分别连接第十八NMOS管的漏极Nd18及第一输出端Q;第十八NMOS管的源极Ns18接地GND。
第十九PMOS管的栅极Pg19连接D2,源极Ps19接电源VDD,漏极Pd19分别连接第十九NMOS管的漏极Nd19、第二十PMOS管的栅极Pg20及第二十NMOS管的栅极Ng20;第十九NMOS管的栅极Ng19连接D2,源极Ns19接地GND;第二十PMOS管的源极Ps20接电源VDD,漏极Pd20分别连接第二十NMOS管的漏极Nd20、第二十一PMOS管的栅极Pg21及第二十一NMOS管的栅极Ng21;第二十NMOS管的源极Ns20接地GND;第二十一个PMOS管的源极Ps21接电源VDD,漏极Pd21分别连接第二十一NMOS管的漏极Nd21及第二输出端QN;第二十一NMOS管的源极Ns21接地GND。
该输出电路完成输出缓冲,输出相位相反的两个信号。
请参阅图7,给出了在本发明D触发器B1节点监测到SEU的仿真波形,从图中可以看出由于RC低通滤波结构的引入,保证了触发器输出端并没有发生错误翻转,为了对比起见,给出了通用触发器在B1节点监测到SEU的仿真波形,如图8所示,由于通用触发器无抗辐照加固结构,粒子轰击后,引起触发器输出端Q的输出波形发生错误翻转。请参阅图9,给出了在本发明D触发器在电路中敏感节点没有监测到SEU的仿真波形,从图中可以看出触发器输出正常,且没有启动RC滤波结构。
本发明提供的自适应抗单粒子翻转的D触发器,相较于现有技术,通过SEU监测电路判断D触发器是否发生单粒子翻转,若监测到SEU则自动引入RC滤波结构将触发器配置为抗单粒子翻转D触发器,若未监测到SEU则将触发器配置为常用主从D触发器。
以上内容仅为说明本发明的技术思想,不能以此限定本发明的保护范围,凡是按照本发明提出的技术思想,在技术方案基础上所做的任何改动,均落入本发明权利要求书的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种自适应抗单粒子翻转的D触发器,其特征在于,所述D触发器包括:
时钟输入电路(1)、SEU监测电路(2)、开关控制RC滤波结构型主锁存器(3),开关控制RC滤波结构型从锁存器(4)和输出电路(5);
D触发器有两个输入端和两个输出端,两个输入端分别为时钟信号输入端C和数据信号输入端D,两个输出端分别为第一输出端Q和第二输出端QN;
时钟输入电路(1)的输入端与时钟信号输入端C连接,输出端分别与开关控制RC滤波结构型主锁存器(3)和开关控制RC滤波结构型从锁存器(4)连接;
SEU监测电路(2)分别与开关控制RC滤波结构型主锁存器(3)及开关控制RC滤波结构型从锁存器(4)连接;
开关控制RC滤波结构型主锁存器电路(3)分别与数据信号输入端D和开关控制RC滤波结构型从锁存器(4)连接;
开关控制RC滤波结构型从锁存器(4)与输出电路(5)连接;
输出电路(5)还分别连接第一输出端Q及第二输出端QN;
开关控制RC滤波结构型主锁存器(3)包括七个输入端和三个输出端,其中,第一个和第二个输入端分别与时钟输入电路(1)的输出端CP连接,第三个和第四个输入端分别与时钟输入电路(1)的输出端CN连接,第五个输入端与数据信号输入端D连接,第六个输入端与SEU监测电路(2)的一个输出端S1连接,第七个输入端与SEU监测电路(2)的另一个输出端S1N连接;三个输出端分别为A1、B1、D1;
开关控制RC滤波结构型从锁存器(4)包括七个输入端和三个输出端,其中,第一个和第二个输入端分别与时钟输入电路(1)的输出端CP连接,第三个和第四个输入端分别与时钟输入电路(1)的输出端CN连接,第五个输入端与开关控制RC滤波结构型主锁存器(3)的一个输出端D1连接,第六个输入端与SEU监测电路(2)的一个输出端S2连接,第七个输入端与SEU监测电路(2)的另一个输出端S2N连接;三个输出端分别为A2、B2、D2;
输出电路(5)有一个输入端和两个输出端,一个输入端连接开关控制RC滤波结构型从锁存器(4)的输出端D2,两个输出端分别为第一输出端Q和第二输出端QN。
2.根据权利要求1所述的自适应抗单粒子翻转的D触发器,其特征在于,时钟输入电路(1)包括第一PMOS管、第二PMOS管、第一NMOS管和第二NMOS管;且具有一个输入端和两个输出端,输入端为时钟信号输入端C,两个输出端分别为CN和CP;
第一PMOS管、第二PMOS管的衬底接电源,第一NMOS管、第二NMOS管的衬底接地;
第一PMOS管的栅极Pg1连接时钟信号输入端C,源极Ps1接电源,漏极Pd1分别连接第一NMOS管的漏极Nd1、第二PMOS管的栅极Pg2、第二NMOS管的栅极Ng2及CN;第一NMOS管的栅极Ng1连接时钟信号输入端C,源极Ns1接地;第二PMOS管的源极Ps2接电源,漏极Pd2分别连接第二NMOS管的漏极Nd2及CP;第二NMOS管的源极Ns2接地。
3.根据权利要求1所述的自适应抗单粒子翻转的D触发器,其特征在于,SEU监测电路(2)包括两个同或门和两个反相器,并具有四个输入端和四个输出端,四个输入端分别为A1,B1,A2和B2,四个输出端分别为S1,S1N,S2和S2N;
第一同或门的两个输入端分别连接输入端A1及B1,输出端分别连接第一反相器的输入端及输出端S1;
第一反相器的输出端接输出端S1N;
第二同或门的两个输入端分别连接输入端A2和B2,输出端分别连接第二反相器的输入端及输出端S2;
第二反相器的输出端接输出端S2N。
4.根据权利要求1所述的自适应抗单粒子翻转的D触发器,其特征在于,开关控制RC滤波结构型主锁存器3包括第三PMOS管、第四PMOS管、第五PMOS管、第六PMOS管、第七PMOS管、第八PMOS管、第九PMOS管、第三NMOS管、第四NMOS管、第五NMOS管、第六NMOS管、第七NMOS管、第八NMOS管、第九NMOS管、电阻R1、开关S1及开关S1N;
第三PMOS管、第四PMOS管、第五PMOS管、第六PMOS管、第七PMOS管、第八PMOS管、第九PMOS管的衬底接电源,第三NMOS管、第四NMOS管、第五NMOS管、第六NMOS管、第七NMOS管、第八NMOS管、第九NMOS管的衬底接地;
第三PMOS管的栅极Pg3连接数据信号输入端D,源极Ps3接电源,漏极Pd3连接第四PMOS管的源极Ps4;第四PMOS管的栅极Pg4连接CP,漏极Pd4分别连接第三NMOS管的漏极Nd3、第五PMOS管的栅极Pg5、第五NMOS管的栅极Ng5、第七PMOS管的漏极Pd7、第六NMOS管的漏极Nd6及输出端A1;第三NMOS管的栅极Ng3连接时钟输入电路(1)的输出端CN,源极Ns3连接第四NMOS管的漏极Nd4;第四NMOS管的栅极连接数据信号输入端D,源极Ns4接地;第五PMOS管的源极Ps5接电源,漏极Pd5分别连接第五NMOS管的漏极Nd5、电阻R1的正端、开关S1的一端及输出端B1;第五NMOS管的源极Ps5接地;第六PMOS管的栅极Pg6连接电阻R1的负端,源极Ps6接电源,漏极Pd6连接PMOS管的源极Ps7;第七PMOS管的栅极Pg7连接CN;第六NMOS管的栅极Ng6连接CP,源极Ns6连接第七NMOS管的漏极Nd7;第七NMOS管的栅极Ng7连接R1的负端,源极Ns7接地;开关S1另一端分别连接R1的负端、开关S1N的一端及输出端D1;开关S1N的另一端分别连接第八PMOS管的栅极Pg8、第九PMOS管的栅极Pg9、第八NMOS管的栅极Ng8及第九NMOS管的栅极Ng9;第八PMOS管的源极Ps8接电源,漏极Pd8接电源;第九PMOS管的源极Ps9接电源,漏极Pd9接电源;第八NMOS管的源极Ns8接地,漏极Nd8接地;第九NMOS管的源极Ns9接地,漏极Nd9接地。
5.根据权利要求1所述的自适应抗单粒子翻转的D触发器,其特征在于,开关控制RC滤波结构型从锁存器(4)包括第十PMOS管、第十一PMOS管、第十二PMOS管、第十三PMOS管、第十四PMOS管、第十五PMOS管、第十六PMOS管、第十NMOS管、第十一NMOS管、第十二NMOS管、第十三NMOS管、第十四NMOS管、第十五NMOS管、第十六NMOS管、电阻R2、开关S2及开关S2N;
第十PMOS管、第十一PMOS管、第十二PMOS管、第十三PMOS管、第十四PMOS管、第十五PMOS管、第十六PMOS管的衬底接电源,第十NMOS管、第十一NMOS管、第十二NMOS管、第十三NMOS管、第十四NMOS管、第十五NMOS管、第十六NMOS管的衬底接地;
第十PMOS管的栅极Pg10连接开关控制RC滤波结构型主锁存器(3)的一个输出端D1,源极Ps10接电源,漏极Pd10连接第十一PMOS管的源极Ps11;第十一PMOS管的栅极Pg11连接时钟输入电路(1)的输出端CN,漏极Pd11分别连接第十NMOS管的漏极Nd10、第十二PMOS管的栅极Pg12、第十二NMOS管的栅极Ng12、第十四PMOS管的漏极Pd14、第十三NMOS管的漏极Nd13及SEU监测电路(2)的输入端A2;第十NMOS管的栅极Ng10连接时钟输入电路(1)的输出端CP,源极Ns10连接第十一NMOS管的漏极Nd11;第十一NMOS管的栅极Ng11连接开关控制RC滤波结构型主锁存器(3)的输出端D1,源极Ns11接地;第十二PMOS管的源极Ps12接电源,漏极Pd12分别连接第十二NMOS管的漏极Nd12、电阻R2的正端、开关S2的一端及SEU监测电路(2)的输入端B2;第十二NMOS管的源极接地;第十三PMOS管的栅极Pg13连接电阻R2的负端,源极Ps13接电源,漏极Pd13连接第十四PMOS管的源极Ps14;第十四PMOS管的栅极Pg14连接时钟输入电路(1)的输出端CP;第十三NMOS管的栅极Ng13连接时钟输入电路(1)的输出端CN,源极Ns13连接第十四NMOS管的漏极Nd14;第十四NMOS管的栅极Ng14连接R2的负端,源极Ns14接地;开关S2另一端分别连接R2负端、开关S2N的一端及输出端D2;开关S2N的另一端分别连接第十五PMOS管的栅极Pg15,第十六PMOS管的栅极Pg16,第十五NMOS管的栅极Ng15及第十六NMOS管的栅极Ng16;第十五PMOS管的源极Ps15接电源,漏极Pd15接电源;第十六PMOS管的源极Ps16接电源,漏极Pd16接电源;第十五NMOS管的源极Ns15接地,漏极Nd15接地;第十六NMOS管的源极Ns16接地,漏极Nd16接地。
6.根据权利要求1所述的自适应抗单粒子翻转的D触发器,其特征在于,
输出电路(5)包括第十七PMOS管、第十八PMOS管、第十九PMOS管、第二十PMOS管、第二十一PMOS管、第十七NMOS管、第十八NMOS管、第十九NMOS管、第二十NMOS管和第二十一NMOS管;
第十七PMOS管、第十八PMOS管、第十九PMOS管、第二十PMOS管、第二十一PMOS管的衬底接电源,第十七NMOS管、第十八NMOS管、第十九NMOS管、第二十NMOS管、第二十一NMOS管的衬底接地;
第十七PMOS管的栅极Pg17连接开关控制RC滤波结构型从锁存器(4)的输出端D2,源极Ps17接电源,漏极Pd17分别连接第十七NMOS管的漏极Nd17、第十八PMOS管的栅极Pg18及第十八NMOS管的栅极Ng18;第十七NMOS管的栅极Ng17连接开关控制RC滤波结构型从锁存器(4)的输出端D2,源极Ns17接地;第十八PMOS管的源极Ps18接电源,漏极Pd18分别连接第十八NMOS管的漏极Nd18及第一输出端Q;第十八NMOS管的源极Ns18接地;
第十九PMOS管的栅极Pg19连接开关控制RC滤波结构型从锁存器(4)的输出端D2,源极Ps19接电源,漏极Pd19分别连接第十九NMOS管的漏极Nd19、第二十PMOS管的栅极Pg20及第二十NMOS管的栅极Ng20;第十九NMOS管的栅极Ng19连接开关控制RC滤波结构型从锁存器(4)的输出端D2,源极Ns19接地;第二十PMOS管的源极Ps20接电源,漏极Pd20分别连接第二十NMOS管的漏极Nd20、第二十一PMOS管的栅极Pg21及第二十一NMOS管的栅极Ng21;第二十NMOS管的源极Ns20接地;第二十一PMOS管的源极Ps21接电源,漏极Pd21分别连接第二十一NMOS管的漏极Nd21及第二输出端QN;第二十一NMOS管的源极Ns21接地。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910592627.3A CN110311660B (zh) | 2019-07-03 | 2019-07-03 | 一种自适应抗单粒子翻转的d触发器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910592627.3A CN110311660B (zh) | 2019-07-03 | 2019-07-03 | 一种自适应抗单粒子翻转的d触发器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN110311660A CN110311660A (zh) | 2019-10-08 |
CN110311660B true CN110311660B (zh) | 2023-02-24 |
Family
ID=68079638
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201910592627.3A Active CN110311660B (zh) | 2019-07-03 | 2019-07-03 | 一种自适应抗单粒子翻转的d触发器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN110311660B (zh) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112234954B (zh) * | 2020-09-24 | 2023-08-29 | 北京时代民芯科技有限公司 | 一种节点反馈的单粒子翻转加固触发器电路结构 |
CN115694434B (zh) * | 2022-10-26 | 2024-02-06 | 上海类比半导体技术有限公司 | 一种触发器、半导体器件和芯片 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102394597A (zh) * | 2011-10-21 | 2012-03-28 | 中国人民解放军国防科学技术大学 | 抗单粒子翻转的d触发器 |
CN102394599A (zh) * | 2011-10-21 | 2012-03-28 | 中国人民解放军国防科学技术大学 | 抗单粒子翻转可置位和复位的扫描结构d触发器 |
CN104502750A (zh) * | 2014-12-05 | 2015-04-08 | 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 | 一种触发器单元单粒子翻转效应实验验证电路 |
CN105634454A (zh) * | 2016-02-26 | 2016-06-01 | 北京时代民芯科技有限公司 | 一种适用于宇航用sram型fpga的单粒子加固的上电复位电路 |
CN105790734A (zh) * | 2016-03-31 | 2016-07-20 | 中国人民解放军国防科学技术大学 | 带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余d触发器 |
CN106712743A (zh) * | 2017-01-12 | 2017-05-24 | 深圳大学 | 一种抗单粒子翻转的同步复位d触发器 |
CN106788340A (zh) * | 2017-01-12 | 2017-05-31 | 深圳大学 | 一种抗单粒子翻转的同步置位d触发器 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6377097B1 (en) * | 2000-03-13 | 2002-04-23 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Method and apparatus for reducing the vulnerability of latches to single event upsets |
US6696874B2 (en) * | 2002-07-23 | 2004-02-24 | Bae Systems, Information And Electronic Systems Integration, Inc. | Single-event upset immune flip-flop circuit |
US8171386B2 (en) * | 2008-03-27 | 2012-05-01 | Arm Limited | Single event upset error detection within sequential storage circuitry of an integrated circuit |
US7733144B2 (en) * | 2008-05-29 | 2010-06-08 | International Business Machines Corporation | Radiation hardened CMOS master latch with redundant clock input circuits and design structure therefor |
-
2019
- 2019-07-03 CN CN201910592627.3A patent/CN110311660B/zh active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102394597A (zh) * | 2011-10-21 | 2012-03-28 | 中国人民解放军国防科学技术大学 | 抗单粒子翻转的d触发器 |
CN102394599A (zh) * | 2011-10-21 | 2012-03-28 | 中国人民解放军国防科学技术大学 | 抗单粒子翻转可置位和复位的扫描结构d触发器 |
CN104502750A (zh) * | 2014-12-05 | 2015-04-08 | 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 | 一种触发器单元单粒子翻转效应实验验证电路 |
CN105634454A (zh) * | 2016-02-26 | 2016-06-01 | 北京时代民芯科技有限公司 | 一种适用于宇航用sram型fpga的单粒子加固的上电复位电路 |
CN105790734A (zh) * | 2016-03-31 | 2016-07-20 | 中国人民解放军国防科学技术大学 | 带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余d触发器 |
CN106712743A (zh) * | 2017-01-12 | 2017-05-24 | 深圳大学 | 一种抗单粒子翻转的同步复位d触发器 |
CN106788340A (zh) * | 2017-01-12 | 2017-05-31 | 深圳大学 | 一种抗单粒子翻转的同步置位d触发器 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
一种抗单粒子翻转容错异步收发器电路设计;杨海波等;《核电子学与探测技术》;20140720(第07期);全文 * |
改进DICE结构的D触发器抗SEU设计;孙敬等;《电子与封装》;20160820(第08期);全文 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN110311660A (zh) | 2019-10-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN110190833B (zh) | 一种抗单粒子翻转的自检测自恢复同步复位d触发器 | |
CN106505976B (zh) | 一种抗单粒子翻转的d触发器 | |
CN110311660B (zh) | 一种自适应抗单粒子翻转的d触发器 | |
CN106788340B (zh) | 一种抗单粒子翻转的同步置位d触发器 | |
CN102394602B (zh) | 一种抗单粒子翻转可置位和复位的扫描结构d触发器 | |
CN102361442B (zh) | 抗单粒子翻转的可复位d触发器 | |
CN102394598B (zh) | 抗单粒子翻转的可同步复位d触发器 | |
CN102394595A (zh) | 抗单粒子翻转的可置位和复位d触发器 | |
CN105790734A (zh) | 带自纠检错的抗单粒子翻转的三模冗余d触发器 | |
CN110311656B (zh) | 一种自适应抗单粒子翻转的异步复位和置位d触发器 | |
CN106712743B (zh) | 一种抗单粒子翻转的同步复位d触发器 | |
CN106788380B (zh) | 一种抗单粒子翻转的异步置位d触发器 | |
CN102394597B (zh) | 抗单粒子翻转的d触发器 | |
CN102361440B (zh) | 抗单粒子翻转可同步复位的扫描结构d触发器 | |
CN103825582A (zh) | 抗单粒子翻转和单粒子瞬态的d触发器 | |
CN102361441B (zh) | 抗单粒子翻转可置位的扫描结构d触发器 | |
CN102394596B (zh) | 抗单粒子翻转的可置位d触发器 | |
CN108418578B (zh) | 一种抗单粒子加固的分频器电路 | |
CN102361443B (zh) | 抗单粒子翻转可复位的扫描结构d触发器 | |
CN103825579A (zh) | 抗单粒子翻转和单粒子瞬态的可复位d触发器 | |
CN102394599B (zh) | 抗单粒子翻转可置位和复位的扫描结构d触发器 | |
CN106059540B (zh) | D触发器 | |
CN103825581B (zh) | 抗单粒子翻转和单粒子瞬态的可置位d触发器 | |
CN106788341B (zh) | 一种抗单粒子翻转的异步复位d触发器 | |
CN103825584A (zh) | 抗单粒子翻转和单粒子瞬态的可置位和复位d触发器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |